JPS6312178A - 圧力検出器 - Google Patents
圧力検出器Info
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- JPS6312178A JPS6312178A JP15664886A JP15664886A JPS6312178A JP S6312178 A JPS6312178 A JP S6312178A JP 15664886 A JP15664886 A JP 15664886A JP 15664886 A JP15664886 A JP 15664886A JP S6312178 A JPS6312178 A JP S6312178A
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Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は圧力検出器に関し、特に内燃機関の燃焼室の如
き高温雰囲気の高圧を精度良く測定するに適した圧力検
出器に関する。
き高温雰囲気の高圧を精度良く測定するに適した圧力検
出器に関する。
[従来の技術]
圧力検出器の一般的構造としてはハウジングに受圧用ダ
イヤフラムを保持せしめてこれに歪ゲージを付設したも
のが多用されている。歪ゲージとしては従来は金属歪ゲ
ージが使用されてきたが、近年では直線性に優れ、かつ
高感度な出力が得られ、また小型化が可能な半導体歪ゲ
ージが注目されている。
イヤフラムを保持せしめてこれに歪ゲージを付設したも
のが多用されている。歪ゲージとしては従来は金属歪ゲ
ージが使用されてきたが、近年では直線性に優れ、かつ
高感度な出力が得られ、また小型化が可能な半導体歪ゲ
ージが注目されている。
かかる半導体歪ゲージとしては、シリコン(Si)単結
晶基板の表面にポロン(B)等の不純物をドープして半
導体歪ゲージ素子としたものが良く知られている。
晶基板の表面にポロン(B)等の不純物をドープして半
導体歪ゲージ素子としたものが良く知られている。
[発明が解決しようとする問題点]
ところで、上記半導体歪ゲージ素子は従来の金属歪ゲー
ジに比して上)ホの如き長所を有するもので必るが、P
N接合構造を有するため高温雰囲気においてはリーク電
流の発生により、その使用が比較的低温(約150’C
)に限られていた。
ジに比して上)ホの如き長所を有するもので必るが、P
N接合構造を有するため高温雰囲気においてはリーク電
流の発生により、その使用が比較的低温(約150’C
)に限られていた。
これに対して、米国特許第3,858,150号には単
結晶シリコン基板上に絶縁膜を介して多結晶シリコン層
を形成し、該シリコン層に不純物をドープして半導体歪
ゲージ素子を形成した圧力検出器が開示されており、こ
れによれば、PN接合構造を有ざないため、より高温域
での圧力測定が可能である。
結晶シリコン基板上に絶縁膜を介して多結晶シリコン層
を形成し、該シリコン層に不純物をドープして半導体歪
ゲージ素子を形成した圧力検出器が開示されており、こ
れによれば、PN接合構造を有ざないため、より高温域
での圧力測定が可能である。
しかしながら、ここに開示された圧力検出器は単結晶シ
リコン基板の中心部をエツチングにより薄肉として受圧
用ダイヤフラムとする構造であり、比較的低圧(約30
に3/cti)を測定する用途にしか使用できないとい
う問題点があった。
リコン基板の中心部をエツチングにより薄肉として受圧
用ダイヤフラムとする構造であり、比較的低圧(約30
に3/cti)を測定する用途にしか使用できないとい
う問題点があった。
内燃渫関の燃焼圧を測定するには高温雰囲気(約500
’C以上)で高圧(ディーゼルエンジン等の場合は最
高圧的100Kg/cffl)を測定する必要があり、
本発明はかかる高温下での高圧測定を精度良く行なうこ
とが可能な圧力検出器を提供することを目的とする。
’C以上)で高圧(ディーゼルエンジン等の場合は最
高圧的100Kg/cffl)を測定する必要があり、
本発明はかかる高温下での高圧測定を精度良く行なうこ
とが可能な圧力検出器を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明の構成を第1図ないし第3図で説明すると、筒状
センシングボデー2の先端開口21には耐熱性かつ強度
の大きい材料よりなる受圧ダイヤフラム1が保持せしめ
てあり、受圧ダイヤフラム1の受圧面の反対面には多結
晶シリコン層12を形成しこれに不純物をドープして歪
ゲージ素子12a、12b、12c、12dとしである
。
センシングボデー2の先端開口21には耐熱性かつ強度
の大きい材料よりなる受圧ダイヤフラム1が保持せしめ
てあり、受圧ダイヤフラム1の受圧面の反対面には多結
晶シリコン層12を形成しこれに不純物をドープして歪
ゲージ素子12a、12b、12c、12dとしである
。
[作用、効果]
燃焼圧が受圧ダイヤフラムに作用すると圧力に応じて変
形し、変形歪に応じた出力信号が歪ゲージ素子より得ら
れる。
形し、変形歪に応じた出力信号が歪ゲージ素子より得ら
れる。
この場合、上記受圧ダイヤフラムは耐熱性かつ強度の大
きい材料により構成されているから、高温高圧の燃焼圧
が作用しても劣下ないし破損することなく圧力に応じて
変形する。
きい材料により構成されているから、高温高圧の燃焼圧
が作用しても劣下ないし破損することなく圧力に応じて
変形する。
受圧ダイヤフラムに付設する歪ゲージ素子は、多結晶シ
リコン層に不純物をドープして形成されるから、PN接
合部を有さず、したがって高温でも高精度かつ高感度の
出力信号を得ることができる。
リコン層に不純物をドープして形成されるから、PN接
合部を有さず、したがって高温でも高精度かつ高感度の
出力信号を得ることができる。
[実施例]
第4図には圧力検出器の全体構造を示す。圧力検出器は
筒状ハウジング3を有し、該ハウジング3の小径の下半
部外周には取付用ネジ部3aが形成され、大径の上半部
外周は六角面としである。
筒状ハウジング3を有し、該ハウジング3の小径の下半
部外周には取付用ネジ部3aが形成され、大径の上半部
外周は六角面としである。
上記ハウジング3の先端開口には先端閉鎖の筒状センシ
ングボデー2が溶接接続しである。センシングボデー2
の閉鎖端面には中心に圧力導入孔21が設けてあり、セ
ンシングボデー2内には上記導入孔21を閉鎖するよう
に受圧ダイヤフラム1が設けである。その詳細を第1図
に示す。
ングボデー2が溶接接続しである。センシングボデー2
の閉鎖端面には中心に圧力導入孔21が設けてあり、セ
ンシングボデー2内には上記導入孔21を閉鎖するよう
に受圧ダイヤフラム1が設けである。その詳細を第1図
に示す。
図において、センシングボデー2は熱膨張率の小さい例
えばFe−Ni−Co系合金ないしNi−cr−w系合
金よりなる。受圧ダイヤフラム1は200〜500/、
(m厚のセラミック基板よりなり、これはSi3N4お
よびA、l)203を同一モル比で混合してシート状に
した後、ホットプレスで焼成したものである。上記ダイ
ヤフラム1は圧力導入孔21に対応する部分以外をセン
シングボデー2の内周底面に接合してあり、接合層はダ
イヤフラム1側より20〜40μm厚のMOメタライズ
層41.1〜3μm厚のNiメッキ層42、およびAc
tろう付層43よりなる。
えばFe−Ni−Co系合金ないしNi−cr−w系合
金よりなる。受圧ダイヤフラム1は200〜500/、
(m厚のセラミック基板よりなり、これはSi3N4お
よびA、l)203を同一モル比で混合してシート状に
した後、ホットプレスで焼成したものである。上記ダイ
ヤフラム1は圧力導入孔21に対応する部分以外をセン
シングボデー2の内周底面に接合してあり、接合層はダ
イヤフラム1側より20〜40μm厚のMOメタライズ
層41.1〜3μm厚のNiメッキ層42、およびAc
tろう付層43よりなる。
上記受圧ダイヤフラム1の基板上面には、第2図、第3
図に示す如く、全面にAg2O3あるいはSiO2から
なる中間層11が0.3〜1.0μm厚で蒸着必るいは
スパッタ等により形成してあり、この上に減圧CVD等
により約1μm厚で多結晶シリコン層12が形成しであ
る。該多結晶シリコン@12にはボロン(B)を熱拡散
によりドープし、これをドライエッチによってパターン
ニングして歪ゲージ素子12a、12b、12c、12
dを形成する。
図に示す如く、全面にAg2O3あるいはSiO2から
なる中間層11が0.3〜1.0μm厚で蒸着必るいは
スパッタ等により形成してあり、この上に減圧CVD等
により約1μm厚で多結晶シリコン層12が形成しであ
る。該多結晶シリコン@12にはボロン(B)を熱拡散
によりドープし、これをドライエッチによってパターン
ニングして歪ゲージ素子12a、12b、12c、12
dを形成する。
上記多結晶シリコン層12上にはPtよりなる電(※パ
ターン13を形成し、各電極パターン13のパッド部1
31を除いて全体を513N4等のパッシベーションt
IA14で覆っである。上記歪ゲージ素子128〜12
dはフルブリッジ回路を構成してあり、歪ゲージ素子1
2a、12cは上記圧力導入孔21の直上に位置してい
る。
ターン13を形成し、各電極パターン13のパッド部1
31を除いて全体を513N4等のパッシベーションt
IA14で覆っである。上記歪ゲージ素子128〜12
dはフルブリッジ回路を構成してあり、歪ゲージ素子1
2a、12cは上記圧力導入孔21の直上に位置してい
る。
上記各パッド部131にはリードピン51(第1図)の
下端がろう付は接続され、各リードピン51はハウジン
グ3(第4図)内を通ってその上端部内に配設したター
ミナル板52に半田付は固定しである。ターミナル板5
2の上方には増幅および温度補償用の信号処理回路を形
成したセラミック基板54が配設され、該基板54はリ
ードピン53により上記ターミナル板52上に支持され
るとともにこれに導通している。ハウジング3の上端開
口にはカバ一体31が覆着してあり、その中心を貫通せ
しめたリード線55の先端は上記基板54上の信号処理
回路に接続されている。
下端がろう付は接続され、各リードピン51はハウジン
グ3(第4図)内を通ってその上端部内に配設したター
ミナル板52に半田付は固定しである。ターミナル板5
2の上方には増幅および温度補償用の信号処理回路を形
成したセラミック基板54が配設され、該基板54はリ
ードピン53により上記ターミナル板52上に支持され
るとともにこれに導通している。ハウジング3の上端開
口にはカバ一体31が覆着してあり、その中心を貫通せ
しめたリード線55の先端は上記基板54上の信号処理
回路に接続されている。
上記構造の圧力検出器はネジ部3aにより燃焼室壁に固
定され、この状態で燃焼圧が圧力導入孔21を経て受圧
ダイヤフラム1に印加されるとこれが変形する。この時
の変形歪に応じて歪ゲージ索子12a、12Gの抵抗値
が変化し、出力信号は信号処理回路を経てリード線55
により取り出される。
定され、この状態で燃焼圧が圧力導入孔21を経て受圧
ダイヤフラム1に印加されるとこれが変形する。この時
の変形歪に応じて歪ゲージ索子12a、12Gの抵抗値
が変化し、出力信号は信号処理回路を経てリード線55
により取り出される。
この際、上記受圧ダイヤフラム1には高圧の燃焼圧が印
加されるが、ダイヤフラム1は充分な強度と耐熱性を有
するセラミックで構成されていることにより、高温によ
る劣化や高圧による破壊を生じることなく圧力に応じて
変形する。この変形歪は、上記ダイヤフラム1上に形成
した歪ゲージ索子12a〜12dで検出される。が、こ
れら歪ゲージ素子12a〜12dは多結晶シリコン層1
2に不純物をドープして形成されているから高温雰囲気
でも素子12a〜12dが破壊することなく高精度に測
定が可能である。
加されるが、ダイヤフラム1は充分な強度と耐熱性を有
するセラミックで構成されていることにより、高温によ
る劣化や高圧による破壊を生じることなく圧力に応じて
変形する。この変形歪は、上記ダイヤフラム1上に形成
した歪ゲージ索子12a〜12dで検出される。が、こ
れら歪ゲージ素子12a〜12dは多結晶シリコン層1
2に不純物をドープして形成されているから高温雰囲気
でも素子12a〜12dが破壊することなく高精度に測
定が可能である。
他の実施例として、センシングボデー2を先端開放とな
して、第5図、第6図に示す如く、開口内に受圧ダイヤ
フラム1を嵌着固定する構造としても良い。すなわち、
第5図において、センシングボデー2の先端部は段付き
に側壁を薄肉となして拡開した開口を形成し、該開口内
にダイヤフラム1のセラミック基板を嵌着して基板上面
周縁をセンシングボデー2の段付面に接合しである。接
合層は上記実施例と同一で、ダイヤフラム1側よりMO
メタライズ層4L N rメッキ層42、Aqろう付は
層43としておる。
して、第5図、第6図に示す如く、開口内に受圧ダイヤ
フラム1を嵌着固定する構造としても良い。すなわち、
第5図において、センシングボデー2の先端部は段付き
に側壁を薄肉となして拡開した開口を形成し、該開口内
にダイヤフラム1のセラミック基板を嵌着して基板上面
周縁をセンシングボデー2の段付面に接合しである。接
合層は上記実施例と同一で、ダイヤフラム1側よりMO
メタライズ層4L N rメッキ層42、Aqろう付は
層43としておる。
第6図では、センシングボデー2の先端部を二段の段付
きとなし、内方段付部に受圧ダイヤフラム1を嵌装する
とともに外方段付部にはMCl0等の充填材を充填して
上記ダイヤフラム1を固定している。
きとなし、内方段付部に受圧ダイヤフラム1を嵌装する
とともに外方段付部にはMCl0等の充填材を充填して
上記ダイヤフラム1を固定している。
なお、受圧ダイヤフラムを構成するセラミックを上記各
実施例の如<3!3N4とAg2O3の複合セラミック
とする場合には、AfJ203の混入モル比は20〜6
0%とするのが良い。セラミックとしてはかかる複合セ
ラミック以外に、Si3 N4 、S ! C,AN
203等の単体セラミック、あるいは石英ガラスが使用
できる。さらに、上記受圧ダイヤフラムをFe−Ni−
Co系合金で構成しても良い。
実施例の如<3!3N4とAg2O3の複合セラミック
とする場合には、AfJ203の混入モル比は20〜6
0%とするのが良い。セラミックとしてはかかる複合セ
ラミック以外に、Si3 N4 、S ! C,AN
203等の単体セラミック、あるいは石英ガラスが使用
できる。さらに、上記受圧ダイヤフラムをFe−Ni−
Co系合金で構成しても良い。
ダイヤフラム1と多結晶シリコン層12との間に介在せ
しめた中間層11はA、ll 203 、S i 02
.3i3iQ4等の薄膜からなり、ダイヤフラム1と多
結晶シリコン層12の密着性、およびなじみ性の向上を
図ることができる。ざらに、ダイヤフラム1を5iC1
あるいはFe−Ni−Co系合金等の導電性材料を用い
た場合は、前記中間層が電気絶縁層として作用する。
しめた中間層11はA、ll 203 、S i 02
.3i3iQ4等の薄膜からなり、ダイヤフラム1と多
結晶シリコン層12の密着性、およびなじみ性の向上を
図ることができる。ざらに、ダイヤフラム1を5iC1
あるいはFe−Ni−Co系合金等の導電性材料を用い
た場合は、前記中間層が電気絶縁層として作用する。
第1図ないし第4図は本発明の第1の実施例を示し、第
1図は圧力検出器先端部の拡大断面図、第2図は受圧ダ
イヤフラムの拡大横断面図で、第3図の■−■線断面図
、第3図は受圧ダイヤフラムの平面図、第4図は圧力検
出器の全体断面図、第5図、第6図はそれぞれ本発明の
第2および第3の実施例を示す圧力検出器先端部の拡大
断面図である。 1・・・・・・受圧ダイヤフラム 12・・・・・・多結晶シリコン層 12a、12b、12c、12 d ・−・・−歪ゲー
ジ素子 2・・・・・・センシングボデー 21・・・・・・圧力導入孔(開口) 3・・・・・・ハウジング 第1図 第3図 第4図
1図は圧力検出器先端部の拡大断面図、第2図は受圧ダ
イヤフラムの拡大横断面図で、第3図の■−■線断面図
、第3図は受圧ダイヤフラムの平面図、第4図は圧力検
出器の全体断面図、第5図、第6図はそれぞれ本発明の
第2および第3の実施例を示す圧力検出器先端部の拡大
断面図である。 1・・・・・・受圧ダイヤフラム 12・・・・・・多結晶シリコン層 12a、12b、12c、12 d ・−・・−歪ゲー
ジ素子 2・・・・・・センシングボデー 21・・・・・・圧力導入孔(開口) 3・・・・・・ハウジング 第1図 第3図 第4図
Claims (8)
- (1) 圧力室壁に固定されて先端を圧力室内に臨まし
めた筒状ハウジングには先端開口に耐熱性かつ強度の大
きい材料よりなる受圧ダイヤフラムを保持せしめ、受圧
ダイヤフラムの受圧面の反対面には多結晶シリコン層を
形成しこれに不純物をドープして半導体歪ゲージ素子と
なしたことを特徴とする圧力検出器。 - (2) 上記受圧ダイヤフラムを、Si_3N_4に対
してAl_2O_3をモル比で20〜60%混入した複
合セラミックで構成した特許請求の範囲第1項記載の圧
力検出器。 - (3) 上記受圧ダイヤフラムを、Si_3N_4、S
iC、Al_2O_3の単体セラミック、ないし石英ガ
ラスで構成した特許請求の範囲第1項記載の圧力検出器
。 - (4) 上記受圧ダイヤフラムをFe−Ni−Co系合
金で構成した特許請求の範囲第1項記載の圧力検出器。 - (5) 上記ハウジングの先端開口に先端閉鎖で閉鎖端
面に圧力導入孔を形成した筒状センシングボデーを接続
し、該センシングボデー内に上記圧力導入孔を閉鎖する
ように上記受圧ダイヤフラムを接合してなる特許請求の
範囲第1項記載の圧力検出器。 - (6) 上記ハウジングの先端開口に両端開放の筒状セ
ンシングボデーを接続し、該センシングボデーの先端開
口に上記受圧ダイヤフラムを覆着してなる特許請求の範
囲第1項記載の圧力検出器。 - (7) 上記センシングボデーをFe−Ni−Co系合
金ないしNi−Cr−W系合金で構成した特許請求の範
囲第5項ないし第6項記載の圧力検出器。 - (8) 上記受圧ダイヤフラムと多結晶シリコン層の間
にAl_2O_3、SiO_2、Si_3N_4等から
なる中間層を介在せしめた特許請求の範囲第1項記載の
圧力検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15664886A JPS6312178A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 圧力検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15664886A JPS6312178A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 圧力検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6312178A true JPS6312178A (ja) | 1988-01-19 |
Family
ID=15632250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15664886A Pending JPS6312178A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 圧力検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6312178A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01287437A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-20 | Nippon Denso Co Ltd | 半導体圧力センサ |
EP2783395A1 (en) | 2011-11-23 | 2014-10-01 | S3C, Inc. | Mechanical packaging technique of attaching mems and flex circuit |
JP2016065730A (ja) * | 2014-09-23 | 2016-04-28 | 株式会社デンソー | 物理量センサおよびその製造方法 |
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1986
- 1986-07-03 JP JP15664886A patent/JPS6312178A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01287437A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-20 | Nippon Denso Co Ltd | 半導体圧力センサ |
EP2783395A1 (en) | 2011-11-23 | 2014-10-01 | S3C, Inc. | Mechanical packaging technique of attaching mems and flex circuit |
JP2016065730A (ja) * | 2014-09-23 | 2016-04-28 | 株式会社デンソー | 物理量センサおよびその製造方法 |
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