JPS63121665A - 薄膜作成装置 - Google Patents

薄膜作成装置

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Publication number
JPS63121665A
JPS63121665A JP26800586A JP26800586A JPS63121665A JP S63121665 A JPS63121665 A JP S63121665A JP 26800586 A JP26800586 A JP 26800586A JP 26800586 A JP26800586 A JP 26800586A JP S63121665 A JPS63121665 A JP S63121665A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
thin film
gas
cvd method
chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26800586A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Fujii
謙一 藤井
Hideaki Komoda
英明 菰田
Toru Hori
徹 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP26800586A priority Critical patent/JPS63121665A/ja
Publication of JPS63121665A publication Critical patent/JPS63121665A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は薄膜作成装置に関する。
従来の技術 従来、原料ガスを処理室内に送り込み、前記処理室内に
配置した基板上に、前記ガスを反応分解させて薄膜を形
成させる方法は気相化学成長法(以下CVD法と称する
が、Chemical  VaporDeposi L
ion法の略である)として知られており、ガスを分解
させる方法の相違により、熱CVD。
光CVD、プラズマCVD、電子サイクロトロン共鳴プ
ラズマCVDなどがある。近年の傾向とし、なるぺ(低
い基板温度で良質な薄膜を作成するという要望が強くな
っている。
以下図面を参照しながら、従来の薄膜作成装置の例につ
いて説明する。第21)1mは光CVD装置の一例であ
る。
光al!14を反応処理室5の外部に設け、光透過窓3
を通過させて基板支持台2の上の基板1に光を照射し、
導入したガスを分解させて基板1上に薄膜を作成する。
第3図は電子サイクロトロン共鳴(以下ECRと称する
が、EIechron CycIotron Re5o
nanceの略である)によるプラズマを利用したCV
D装置の一例である。マイクロ波発振器9から出て導波
管8を経由してマイクロ波透過窓7を通過したマイクロ
波は磁場発生器6による磁界の存在するイオン化室13
の中でイオン化用ガス導入口10より導入されたガスと
反応してECRプラズマを発生させる。イオン引出し窓
12を通って反応処理室5に進入したイオンシャワーは
反応ガス導入口1)より導入されたガスと反応して基板
】の上に薄膜を成長させる。(例えば、日本応用物理学
会誌22巻、1983年、L210.松属、菊地)発明
が解決しようとする問題点 上記した光CVD法あるいはECRプラズマCVD法は
熱CVD法に比較してより低い基板温度での薄膜作成を
可能とするが、光CVD法では成膜速度が相対的に低い
という問題点があり、−方ECRプラズマCVD法では
成膜速度は十分に速いが基板の表面付近でガス状態から
固相へと変化する際の反応を制御する方法が十分ではな
いといえる。
本発明は上記問題点に鑑み、良質の薄膜を高速かつ低い
基板温度で作成する薄膜作成装置を提供するものである
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の薄膜作成装置は光
CVD法とECRプラズマCVD法とを併用し、ECR
プラズマを発生して基板に照射する系と、前記基板に光
を照射する系とを備えるという構成をとっている。
作用 本発明は上記した構成によって、光の持つエネルギーと
ECRプラズマの持つエネルギーを有効に同時利用する
ため、光CVD法あるいはECRプラズマCVD法を単
独で用いる場合に比べより優れた薄膜を作成することが
でき、基板温度、成膜速度などの点においてより有利な
条件でFit膜を作成することが可能となる。
実施例 以下本発明の一実施例の薄膜作成装置について、図面を
参照しながら説明する。第1図は本発明の一実施例の薄
膜作成装置の構成図であり、光透過窓3を通して光源4
から発生する光を基板1に照射できるようになっている
。なお基板1の角度および光源4の入射方向は可変でき
るようになっている。
本実施例では、マイクロ波発振器9の周波数は2.54
CIIzとし、イオン化用ガス導入口10からは水素ま
たは窒素を導入し、反応ガス導入口1)より水素をキャ
リアガスとしたガス状のフェロセン(ビスシクロペンタ
ジェニル鉄、化学式ハC2H5F e  C2H5)を
導入し、基板1にガラス板を用い、光源4には、最大連
続出力50W、波長10.6μの002レーザーあるい
は最大平均出力0.5W、波長193nmのArF!キ
シマレーザーを用いた。成膜時の反応処理室5の真空度
は3×10°2〜3X10’Paである。
比較参照のため、光を全く照射しない場合も他の条件を
同一にして薄膜作成を行った。第−表は光源とイオン化
室13に導入するガスの種類を変えた場合に作成できた
膜について示したものである。
(以 下 余 白) 第−表 第一表に示すように、光を照射しない場合には、原料の
フェロセンがポリマー状になった絶縁性の薄膜しか出来
ないが、CO2レーザ−、あるいはArFエキシマレー
ザ−を照射した場合には、金属膜のFe−C化合物薄膜
、あるいはFe−N−C化合物薄膜が形成できる。なお
、膜構造の決定は、電気抵抗の測定、X線回折、オージ
ェ電子分光を行った結果から判断したものである。
以上のように本実施例によれば、ECRプラズマと光の
エネルギーを組み合せて用いることにより、どちらか一
方のみの場合に比べて、より優れた特性の薄膜を作成す
ることができる。
なお、上記実施例において光源4としてはCO2レーザ
ーあるいはArFエキシマレーザ−を用いたが、レーザ
ーのようなコヒーレント光源でなく、低圧水銀ランプや
重水素ランプなどのインコヒーレントな光源であっても
良い。
発明の効果 以上のように本発明では、電子サイクロトロン共鳴プラ
ズマを発生して基板に照射する系と、前記基板に光を照
射する系を備えているため、従来にない優れた特性の薄
膜を作成したり、基板温度。
成膜速度などの点においてより有利な条件で薄膜を作成
することが可能となる。 ′
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の薄膜作成装置の構成図、第
2図は従来の光CVD法による薄膜作成装置の構成図、
第3図は従来のECRプラズマCVD法による薄膜作成
装置の構成図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・基板支持台、3・
・・・・・光透過窓、4・・・・・・光源、5・・・・
・・反応処理室、6・・・・・・磁場発生器、7・・・
・・・マイクロ波透過窓、8・・・・・・導波管、9・
・・・・・マイクロ波発振器、lO・・・・・・イオン
化用ガス導入口、1)・・・・・・反応ガス導入口、1
2・・・・・・イオン引出し窓、13・・・・・・イオ
ン化室。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第1図 第 2 図 第3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)気体を導入する系と、残留ガスを真空排気する系
    と、電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生して基板に
    照射する系と、前記基板に光を照射する系とを備え、導
    入した気体を分解して前記基板上に薄膜を形成すること
    を特徴とする薄膜作成装置。
  2. (2)光源としてレーザーを用いることを特徴とする特
    許請求の範囲第(1)項記載の薄膜作成装置。
JP26800586A 1986-11-11 1986-11-11 薄膜作成装置 Pending JPS63121665A (ja)

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JP26800586A JPS63121665A (ja) 1986-11-11 1986-11-11 薄膜作成装置

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JP26800586A JPS63121665A (ja) 1986-11-11 1986-11-11 薄膜作成装置

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Publication Number Publication Date
JPS63121665A true JPS63121665A (ja) 1988-05-25

Family

ID=17452585

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26800586A Pending JPS63121665A (ja) 1986-11-11 1986-11-11 薄膜作成装置

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JP (1) JPS63121665A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104975274A (zh) * 2015-07-15 2015-10-14 武汉工程大学 一种激光微波磁场共同增强的化学气相沉积设备

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104975274A (zh) * 2015-07-15 2015-10-14 武汉工程大学 一种激光微波磁场共同增强的化学气相沉积设备

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