JPS63117239A - ウルトラフイルタおよびマイクロフイルタの細孔サイズ測定用マイクロ試験体製造方法ならびにこれによつて製造された試験体 - Google Patents
ウルトラフイルタおよびマイクロフイルタの細孔サイズ測定用マイクロ試験体製造方法ならびにこれによつて製造された試験体Info
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- JPS63117239A JPS63117239A JP62249101A JP24910187A JPS63117239A JP S63117239 A JPS63117239 A JP S63117239A JP 62249101 A JP62249101 A JP 62249101A JP 24910187 A JP24910187 A JP 24910187A JP S63117239 A JPS63117239 A JP S63117239A
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- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
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- G01N15/088—Investigating volume, surface area, size or distribution of pores; Porosimetry
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特許請求の範囲第１項によるウルトラフィルタ
およびマイクロフィルタにおける細孔サイズ測定用マイ
クロ試験体製造方法、ならびにこれによって製造された
特許請求の範囲第１８項による試験体に関する。
およびマイクロフィルタにおける細孔サイズ測定用マイ
クロ試験体製造方法、ならびにこれによって製造された
特許請求の範囲第１８項による試験体に関する。
細孔サイズ１（１０人から１０−までの範囲のウルトラ
フィルタおよびマイクロフィルタは従来、特定の大きさ
の蛋白質およびバクテリアを用いるか、あるいはポリス
チロールその他の可塑性物質を用いて測定される。この
ような試験体は極めて複雑で高価な選択または製作のプ
ロセスを必要とし、著しい熱的および化学的不安定性を
有している。走査電子′ｉａ微鏡における作業条件では
すでに、このような試験体の大部分が使用できない。
フィルタおよびマイクロフィルタは従来、特定の大きさ
の蛋白質およびバクテリアを用いるか、あるいはポリス
チロールその他の可塑性物質を用いて測定される。この
ような試験体は極めて複雑で高価な選択または製作のプ
ロセスを必要とし、著しい熱的および化学的不安定性を
有している。走査電子′ｉａ微鏡における作業条件では
すでに、このような試験体の大部分が使用できない。
本発明の根底となる課題は、均等な丸い形を有し、直径
での狭い公差を備え、化学的および熱的に安定している
試験体を簡単な方法で製作することにある。
での狭い公差を備え、化学的および熱的に安定している
試験体を簡単な方法で製作することにある。
本発明はこの課題を特許請求の範囲第１項から第１７項
までの特徴部分によって解決する。
までの特徴部分によって解決する。
ガラス・石英または金属からなる異なる直径の球の通常
の混合物を当初材料として使用することにより、希望の
サイズで狭い直径公差をもつ試験体が選別によって容易
に製作される。選別のためにはその細孔サイズが狭い公
差を有する細孔マスクが使用される。狭い公差の細孔開
口部をもつ幾つかの細孔マスクをこれらの球が通過する
ことにより、数−の試験体をかなり大量に比較的筒車に
また迅速に製作することができる。
の混合物を当初材料として使用することにより、希望の
サイズで狭い直径公差をもつ試験体が選別によって容易
に製作される。選別のためにはその細孔サイズが狭い公
差を有する細孔マスクが使用される。狭い公差の細孔開
口部をもつ幾つかの細孔マスクをこれらの球が通過する
ことにより、数−の試験体をかなり大量に比較的筒車に
また迅速に製作することができる。
本発明のその他の構成は特許請求の範囲第２項以下から
明らかとなる。
明らかとなる。
本発明を以下、図面に示した実施例を用いてさらに詳細
に説明する。
に説明する。
１（１０人から１０−までの範囲の細孔サイズの決定の
ために試験体１が使用される。試験体としては市販のガ
ラス・石英あるいは金属の小球が用いられる。これらは
第１図から明らかなように、最初は約０．０１．ｃｍか
らの直径を有している。
ために試験体１が使用される。試験体としては市販のガ
ラス・石英あるいは金属の小球が用いられる。これらは
第１図から明らかなように、最初は約０．０１．ｃｍか
らの直径を有している。
試験体１はバクテリア・蛋白質またはポリマーから形成
することもできる。試験体１はガラス・石英あるいは金
属球の選別によって形成されるため、試験体１はほぼ同
じ直径を備えている。
することもできる。試験体１はガラス・石英あるいは金
属球の選別によって形成されるため、試験体１はほぼ同
じ直径を備えている。
このためにたとえば第１図によれば極めて種々な直径の
混合であるガラス・石英または金属の小球は、先ず平坦
な細孔マスク２を通されるが、この細孔マスクは第２図
のように被覆しない金属またはプラスチックのｍ物から
なっていてもよい、この細孔マスク２はほぼ同じサイズ
の細孔３を偏見ている。細孔マスク２は最低８ｐまでは
市販されている。第２図による細孔マスク２を用いて第
１図のような小球の予備選別が行われる。
混合であるガラス・石英または金属の小球は、先ず平坦
な細孔マスク２を通されるが、この細孔マスクは第２図
のように被覆しない金属またはプラスチックのｍ物から
なっていてもよい、この細孔マスク２はほぼ同じサイズ
の細孔３を偏見ている。細孔マスク２は最低８ｐまでは
市販されている。第２図による細孔マスク２を用いて第
１図のような小球の予備選別が行われる。
第１図による球の以後の選別は第３図および第４図によ
る平坦な細孔マスク４と５を用いて行われる。この細孔
マスク４と５の細孔３のサイズは、細孔マスク４．５の
金属またはプラスチックの織物の上に化学的にまたは電
気めっきにより塗布を行うことによって縮小している。
る平坦な細孔マスク４と５を用いて行われる。この細孔
マスク４と５の細孔３のサイズは、細孔マスク４．５の
金属またはプラスチックの織物の上に化学的にまたは電
気めっきにより塗布を行うことによって縮小している。
細孔３をこの塗布によって細孔の完全閉鎖まで縮小し、
次いで腐食過程によって除去して一定の極めて小さいサ
イズの細孔を再び形成することも可能である。
次いで腐食過程によって除去して一定の極めて小さいサ
イズの細孔を再び形成することも可能である。
細孔マスク２．４．５を通過したガラス・石英または金
属の小球は、はぼ同じ直径の試験体１を形成する０球直
径の測定は光学式または走査式の電子顕微鏡によって行
われる。
属の小球は、はぼ同じ直径の試験体１を形成する０球直
径の測定は光学式または走査式の電子顕微鏡によって行
われる。
一定の同じサイズを持つこの試験体１を使用して、試験
されるフィルタの細孔サイズを確認することができる。
されるフィルタの細孔サイズを確認することができる。
細孔マスク２．４．５の細孔サイズは直径が約０．０１
ｕの最小の球ももはや通過できないまで縮小することが
できる。
ｕの最小の球ももはや通過できないまで縮小することが
できる。
細孔マスク２．４．５は金属またはプラスクックの織物
の代わりに、金属またはプラスチックのフォイルからな
っていてもよく、これが核電子、イオン、硬Ｘ線その他
の波長の短い強力な電磁波によって穿孔しあるいはスリ
ットを開けられる。
の代わりに、金属またはプラスチックのフォイルからな
っていてもよく、これが核電子、イオン、硬Ｘ線その他
の波長の短い強力な電磁波によって穿孔しあるいはスリ
ットを開けられる。
この場合も穿孔した面を化学的または電気めっきの方法
により完全に閉鎖することができ、望ましい範囲で光化
学反応または腐食によって細孔を再び開くことができる
。
により完全に閉鎖することができ、望ましい範囲で光化
学反応または腐食によって細孔を再び開くことができる
。
このようにして製作された複数の細孔マスク２．４．５
により、直線順序でのサイズ配列が生じる。極端な場合
、これらの細孔マスクを通すことにより、０．Ｏｂｓの
直径差をもつ小球を選別することができる。
により、直線順序でのサイズ配列が生じる。極端な場合
、これらの細孔マスクを通すことにより、０．Ｏｂｓの
直径差をもつ小球を選別することができる。
たとえばある細孔マスクが最大０．７２．ｃｓの通路の
細孔を、次に大きい細孔マスクが０．７３−の通路の細
孔を有している場合、種々な直径をもつ第１図による小
球を通すことにより、最低直径０．７２声、最大直径０
．．７３虜をもつ試験体としての球を選別することがで
きる。
細孔を、次に大きい細孔マスクが０．７３−の通路の細
孔を有している場合、種々な直径をもつ第１図による小
球を通すことにより、最低直径０．７２声、最大直径０
．．７３虜をもつ試験体としての球を選別することがで
きる。
試験体１の精度は従って試験体１自体の製作過程には左
右されるのでなく、そのような精度は実施不可能であろ
うが、その組成が偶然に行われる小球の任意の混合物か
らの選別に達した試験体によって決定される。この混合
物にはしかし種々な直径をもつ小球が存在している。
右されるのでなく、そのような精度は実施不可能であろ
うが、その組成が偶然に行われる小球の任意の混合物か
らの選別に達した試験体によって決定される。この混合
物にはしかし種々な直径をもつ小球が存在している。
第５図による変化した実施例によれば、試験体ｌが選別
される細孔マスク６は、金属またはプラスチック類のら
せん７からなっていてもよい。細孔マスク６として働く
このらせん７のスリット細孔８は、化学的に、電気めっ
きで、吹きつけあるいはポリマー被覆によってさらに狭
めることができ、最後に指定のスリット間隔に達する。
される細孔マスク６は、金属またはプラスチック類のら
せん７からなっていてもよい。細孔マスク６として働く
このらせん７のスリット細孔８は、化学的に、電気めっ
きで、吹きつけあるいはポリマー被覆によってさらに狭
めることができ、最後に指定のスリット間隔に達する。
らせん７の巻き９のスリット間隔は、らせん７の巻き９
相互の予定の間隙間隔に達するまで、マイクロ調整装置
１０または図示されていないｍｌモータによって伸ばさ
れる。らせん７の伸びを通じて間隙間隔が正確に算出さ
れる。マイクロ調整装置１０はらせん７の上端を固定す
るための保持部１１を含んでいる。これは外ねじ山１２
としての精密ねし山を備えている。保持部１１と調整ナ
ツト１３が共に働き、調整ナツトは固い台架１４に支え
られている。らせん７の下端は保持部１５と固く結合し
ており、この保持部は台架１６と固く結合している。ら
せん７の巻きの間隙間隔のこのような変化により、さら
に混合物からの統一したサイズの試験体１を連続的に選
別することが可能となる。たとえば１から２ｏｌｊｎの
粒子をもつ混合物から、１−の間隔ですべての粒子を選
別することができる。このために当初細孔フィルタとし
て巻き間隔１−のらせん７が使用される。この細孔マス
クにより直径ＩＡｍまたはそれ以下のすべての粒子は分
離される。続いてらせん６またはらせん束がマイクロ調
節装置１０を用いて２ＩＡの巻き間隔に伸ばされる。ワ
イヤ太さ０．２ｍｍでたとえば１０．（１００巻きのら
せん７の場合、伸びは従って１０ｍｍなければならない
であろう。同じようにして混合物がなくなるまで、それ
ぞれ１０ｍｍずつ処理してゆくのである。
相互の予定の間隙間隔に達するまで、マイクロ調整装置
１０または図示されていないｍｌモータによって伸ばさ
れる。らせん７の伸びを通じて間隙間隔が正確に算出さ
れる。マイクロ調整装置１０はらせん７の上端を固定す
るための保持部１１を含んでいる。これは外ねじ山１２
としての精密ねし山を備えている。保持部１１と調整ナ
ツト１３が共に働き、調整ナツトは固い台架１４に支え
られている。らせん７の下端は保持部１５と固く結合し
ており、この保持部は台架１６と固く結合している。ら
せん７の巻きの間隙間隔のこのような変化により、さら
に混合物からの統一したサイズの試験体１を連続的に選
別することが可能となる。たとえば１から２ｏｌｊｎの
粒子をもつ混合物から、１−の間隔ですべての粒子を選
別することができる。このために当初細孔フィルタとし
て巻き間隔１−のらせん７が使用される。この細孔マス
クにより直径ＩＡｍまたはそれ以下のすべての粒子は分
離される。続いてらせん６またはらせん束がマイクロ調
節装置１０を用いて２ＩＡの巻き間隔に伸ばされる。ワ
イヤ太さ０．２ｍｍでたとえば１０．（１００巻きのら
せん７の場合、伸びは従って１０ｍｍなければならない
であろう。同じようにして混合物がなくなるまで、それ
ぞれ１０ｍｍずつ処理してゆくのである。
粒子の混合物はたとえば懸濁液としてらせん７に軸向き
矢印■の方向に供給される。保持部１５はらせん７の底
末端を閉鎖している。従って巻き９の間隙間隔８より小
さい粒子１は、側方に示された矢印方向に出て（る。
矢印■の方向に供給される。保持部１５はらせん７の底
末端を閉鎖している。従って巻き９の間隙間隔８より小
さい粒子１は、側方に示された矢印方向に出て（る。
選別を促進するために供給される混合物への商い圧力が
有利である。この高い圧力はらせん７の中へ混合物を軸
方向に導入する場合には得られない。というのもらせん
７は優れた機械的案内の場合でも曲がったり伸びたりす
ることがあるためである。しかし高い圧力のもとでの混
合物の供給はらせん７またはらせん束の変形なしに半径
方向に行うことができる。この解決策を第５図に破線で
暗示しである。らせん７は被ｙ１１７に囲まれており、
この被覆が圧力下に供給される粒子混合物のための供給
ソケット管１８を備えている。混合物は破線の矢印で暗
示したように外部から半径方向にらせん７の中に流入し
、下方のらせん末端から流出する。
有利である。この高い圧力はらせん７の中へ混合物を軸
方向に導入する場合には得られない。というのもらせん
７は優れた機械的案内の場合でも曲がったり伸びたりす
ることがあるためである。しかし高い圧力のもとでの混
合物の供給はらせん７またはらせん束の変形なしに半径
方向に行うことができる。この解決策を第５図に破線で
暗示しである。らせん７は被ｙ１１７に囲まれており、
この被覆が圧力下に供給される粒子混合物のための供給
ソケット管１８を備えている。混合物は破線の矢印で暗
示したように外部から半径方向にらせん７の中に流入し
、下方のらせん末端から流出する。
軸方向供給の場合も半径方向供給の場合も、一定のサイ
ズの混合物粒子のすべては選別できないため、循環作業
が行われ、選ばれたサイズすべての物体が透過するまで
、混合物は繰り返しらせん７を通り、あるいは外部から
らせんの近くへ通される。
ズの混合物粒子のすべては選別できないため、循環作業
が行われ、選ばれたサイズすべての物体が透過するまで
、混合物は繰り返しらせん７を通り、あるいは外部から
らせんの近くへ通される。
各選別過程の後、混合部の供給が閉止され、透過物が取
り出される。らせん７から巻き９の中に付着した物体の
清掃のため、らせん７は短時間伸ばされ、洗浄または逆
流洗浄によって残りの物体を取り除く。この伸びは再び
マイクロ調整装置１０または調整モータを通じて行われ
る。
り出される。らせん７から巻き９の中に付着した物体の
清掃のため、らせん７は短時間伸ばされ、洗浄または逆
流洗浄によって残りの物体を取り除く。この伸びは再び
マイクロ調整装置１０または調整モータを通じて行われ
る。
細孔マスク２．４．５．６を一層容易に通過できるよう
に、懸濁液の形の小球は高圧あるいは低圧のフィルタ胞
室、チャンバフィルタまたは検流円形フィルタのような
適切な装置を用い、サイズに応じて分離することができ
る。
に、懸濁液の形の小球は高圧あるいは低圧のフィルタ胞
室、チャンバフィルタまたは検流円形フィルタのような
適切な装置を用い、サイズに応じて分離することができ
る。
たとえば調査されるフィルタが湿気で膨潤したり、ある
いはその他の方法で変形するため、すべての試験体１が
懸濁液で使用できるわけではないため、試験体１は乾燥
して濾過するが、あるいはそれぞれの懸濁液から濾過し
て引き続き脱液して乾燥試験体１として使用することが
できる。
いはその他の方法で変形するため、すべての試験体１が
懸濁液で使用できるわけではないため、試験体１は乾燥
して濾過するが、あるいはそれぞれの懸濁液から濾過し
て引き続き脱液して乾燥試験体１として使用することが
できる。
ガラスおよび石英製の試験体１はその高い屈曲率により
、極めて小さい試験体１の僅かな量でも裸眼で水溶液中
に充分識別できる。懸濁液の極端な希釈液はスペクトル
測光器によって可視化することができる。
、極めて小さい試験体１の僅かな量でも裸眼で水溶液中
に充分識別できる。懸濁液の極端な希釈液はスペクトル
測光器によって可視化することができる。
懸濁液はその場合水、油などであってもよい。対応する
液体の選択により様々な種類の公差測定が例えば油圧装
置、内燃機関、ポンプ、軸受などの運転中の機械におい
てすら使用できる。
液体の選択により様々な種類の公差測定が例えば油圧装
置、内燃機関、ポンプ、軸受などの運転中の機械におい
てすら使用できる。
製作された試験体１はエアゾールとして試験されるフィ
ルタに供給することができる。かくして試験体はガスフ
ィルタの試験と監視のためにガスに混ぜることができる
。
ルタに供給することができる。かくして試験体はガスフ
ィルタの試験と監視のためにガスに混ぜることができる
。
場合によっては′！Ａｉ液あるいはエアゾール中での試
験体１の容易な識別は、試験体１が適切な金属選択によ
って磁化されるか、あるいはその他の材料選択で電気的
に荷電されることによって確保することができる。また
完全にあるいは表面を染色しあるいは１桁の人範囲で化
学的に被覆することもできる。
験体１の容易な識別は、試験体１が適切な金属選択によ
って磁化されるか、あるいはその他の材料選択で電気的
に荷電されることによって確保することができる。また
完全にあるいは表面を染色しあるいは１桁の人範囲で化
学的に被覆することもできる。
望ましいのは試験体が球状で滑らかな表面でなければな
らず、このため試験体は平面研削したプレートの超精密
な間隔保持とその平行移動、および展開したフォイルの
超精密な間隔保持にも適している。
らず、このため試験体は平面研削したプレートの超精密
な間隔保持とその平行移動、および展開したフォイルの
超精密な間隔保持にも適している。
図面において第１図は種々なサイズの通常のガラス、石
英または金属小球の図、第２．３．４図は種々な細孔サ
イズをもっ細孔マスクの平面略図、第５図はワイヤを巻
いたらせんの形での変化した細孔マスクの側面図を示す
。 （１）・・−試験体、（２）（４）（５）−・細孔マス
ク、（３）−・−・細孔、 （６） −細孔マスク、
（７）−・−らせん （８） −細孔スリット（９）−
・・巻き。 ＦＩＧ、１
英または金属小球の図、第２．３．４図は種々な細孔サ
イズをもっ細孔マスクの平面略図、第５図はワイヤを巻
いたらせんの形での変化した細孔マスクの側面図を示す
。 （１）・・−試験体、（２）（４）（５）−・細孔マス
ク、（３）−・−・細孔、 （６） −細孔マスク、
（７）−・−らせん （８） −細孔スリット（９）−
・・巻き。 ＦＩＧ、１
Claims (20)
- （１）ウルトラフイルタおよびマイクロフィルタの細孔
サイズ測定用マイクロ試験体製造方法であって、比較的
大きい公差範囲にある直径をもつ丸いガラス、石英ある
いは金属の球が、狭い公差範囲の直径をもつ試験体（１
）の形成のために、予め定めた異なるサイズの細孔（３
）をもつプラスチックまたは金属製の細孔マスク（２、
４、５）を通され、これによって選別されることを特徴
とする方法。 - （２）細品マスク（２、４、５）として使用される金属
またはプラスチックの織物の細孔（３）が化学的なまた
は電気めっきによる金属塗布により希望の細孔サイズに
狭められていることを特徴とする、特許請求の範囲第１
項に記載の方法。 - （３）細孔マスク（２、４、５）が金属またはプラスチ
ックのフォイルから形成されており、これが核電子、イ
オン、硬Ｘ線あるいは大きい強度のその他の波長の短い
電磁波によって穿孔されるかまたはスリットを入れられ
ることを特徴とする、特許請求の範囲第２項に記載の方
法。 - （４）細孔マスク（２、４、５）の細孔（３）が金属塗
装により先ず閉鎖され、続いて腐食により予め定めたサ
イズに開かれることを特徴とする、特許請求の範囲第２
項および第３項に記載の方法。 - （５）細孔マスク（６）として、その細孔スリット（８
）が予め定められた幅である、らせん状に密に巻いた金
属またはプラスチックのワイヤからなるらせん（７）が
使用されることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に
記載の方法。 - （６）らせん（７）がマイクロ調整装置（１０）あるい
は調整モータを通じて徐々に伸ばされ、これによって細
孔スリット（８）が拡大し、種々な大きさの物体の混合
物から試験体（１）の連続的選別を行うことができるこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第５項に記載の方法。 - （７）分離される粒子の混合物が軸方向にらせん（７）
の中へ通され、外向きにらせんから出るか、あるいは半
径方向に外かららせんに接近しその中に通されるかのい
ずれかであることを特徴とする、特許請求の範囲第５項
に記載の方法。 - （８）粒子混合物のらせん（７）への供給が連続的に循
環して行われ、望みのサイズの試験体（１）がすべてら
せん（７）を通って透過してしてまうまで、当初混合物
が当初容器へ戻されることを特徴とする、特許請求の範
囲第５項に記載の方法。 - （９）巻き（９）の間に付着した試験体のらせんが短時
間の伸びと洗浄または逆流洗浄によって清掃されること
を特徴とする、特許請求の範囲第５項に記載の方法。 - （１０）全く異なる直径の大量の球からなる試験体（１
）が、場合によっては懸濁液またはエアゾールの中で複
数の細孔マスクを通ることによって死端濾過または横流
濾過により選別されることを特徴とする、特許請求の範
囲第１項に記載の方法。 - （１１）試験体（１）の選別のために、３桁のÅ範囲ま
での選別が可能なように最大細孔サイズが密接に隣接し
ている細孔マスク（２、４、５、６）が使用されること
を特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の方法。 - （１２）懸濁液に含まれている試験体（１）が選別後に
乾燥され、フィルタ細孔測定のための乾燥試験体として
使用されることを特徴とする、特許請求の範囲第１０項
に記載の方法。 - （１３）懸濁液として水、油などが使用され、公差測定
が運転中の装置および機械で行われることを特徴とする
、特許請求の範囲第１２項に記載の方法。 - （１４）試験体（１）がガラスフィルタの試験と監視の
ためのガスに混ぜられていることを特徴とする、特許請
求の範囲第１項に記載の方法。 - （１５）試験体（１）がその一層容易な捕捉のために磁
化あるいは荷電されていることを特徴とする、特許請求
の範囲第１項に記載の方法。 - （１６）試験体（１）が一層識別し易くするために着色
されるか、あるいは１桁のÅ領域で化学的に被膜される
ことを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の方法
。 - （１７）ガラス・石英あるいは金属の球の代わりに試験
体形成のためにバクテリア、蛋白質あるいはポリマーが
使用されることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に
記載の方法。 - （１８）ほぼ同じマイクロ直径をもつガラス・石英また
は金属の球からなっていることを特徴とする、上記特許
請求の範囲の一つまたは幾つかに記載の試験体。 - （１９）ガラス・石英または金属の球が完全染色、表面
染色または被膜されていることを特徴とする、上記特許
請求の範囲に記載の試験体。 - （２０）選別される試験体がバクテリア、蛋白質または
ポリマーからなっていることを特徴とする、上記特許請
求の範囲の一つまたは幾つかにより製作される試験体。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863636481 DE3636481A1 (de) | 1986-10-27 | 1986-10-27 | Verfahren zur herstellung von mikropruefkoerpern zur porengroessenmessung in ultra- und mikrofiltern sowie hiernach hergestellte pruefkoerper |
| DE3636481.9 | 1986-10-27 | ||
| EP87112351.9 | 1987-08-25 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117239A true JPS63117239A (ja) | 1988-05-21 |
Family
ID=6312541
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62249101A Pending JPS63117239A (ja) | 1986-10-27 | 1987-09-30 | ウルトラフイルタおよびマイクロフイルタの細孔サイズ測定用マイクロ試験体製造方法ならびにこれによつて製造された試験体 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0265620A3 (ja) |
| JP (1) | JPS63117239A (ja) |
| DE (1) | DE3636481A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008196427A (ja) * | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Mazda Motor Corp | 車両の制御装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5753217A (en) * | 1980-08-06 | 1982-03-30 | Girmes Werke Ag | Microfilter and its manufacture |
| JPS61111103A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | マイクロフイルタ−およびその製造方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE712434C (de) * | 1938-01-26 | 1941-10-18 | Siemens & Halske Akt Ges | Verfahren zur Herstellung von reinen Oberflaechenfiltern und Ultrafiltern |
| FR986193A (fr) * | 1948-05-14 | 1951-07-27 | Cornwall Mills Ltd | Appareil perfectionné pour la mesure du calibre des substances granulaires |
| US2693706A (en) * | 1951-09-05 | 1954-11-09 | Frank G Carpenter | Method of and graded spheres for calibration of sieves |
| GB1197782A (en) * | 1967-04-07 | 1970-07-08 | Electric Power Storage Ltd | Improvements relating to the Grading of Particles. |
| CA945941A (en) * | 1969-09-19 | 1974-04-23 | Hamish Small | Separation of particles by size |
| DE2628237A1 (de) * | 1976-06-24 | 1978-01-05 | Gerhard Dipl Ing Dr Ing Kunz | Durchflusskoerper in von fluessigkeiten oder gasen durchstroemten raeumen |
| DE2951376C2 (de) * | 1979-12-20 | 1983-09-15 | Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH, 6100 Darmstadt | Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| DE3332345C2 (de) * | 1983-09-08 | 1986-08-07 | Doduco KG Dr. Eugen Dürrwächter, 7530 Pforzheim | Filtermaterial aus Metallgewebe |
| DD238468A1 (de) * | 1985-06-18 | 1986-08-20 | Akad Wissenschaften Ddr | Kernspurmikrofilter mit integrierterm vorfilter und verfahren zur seiner herstellung |
| US4713975A (en) * | 1986-05-30 | 1987-12-22 | The Dow Chemical Company | Dense star polymers for calibrating/characterizing sub-micron apertures |
-
1986
- 1986-10-27 DE DE19863636481 patent/DE3636481A1/de not_active Withdrawn
-
1987
- 1987-08-25 EP EP87112351A patent/EP0265620A3/de not_active Withdrawn
- 1987-09-30 JP JP62249101A patent/JPS63117239A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5753217A (en) * | 1980-08-06 | 1982-03-30 | Girmes Werke Ag | Microfilter and its manufacture |
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| JP2008196427A (ja) * | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Mazda Motor Corp | 車両の制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3636481A1 (de) | 1988-05-05 |
| EP0265620A3 (de) | 1989-05-10 |
| EP0265620A2 (de) | 1988-05-04 |
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