DE2951376C2 - Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
- Publication number
- DE2951376C2 DE2951376C2 DE2951376A DE2951376A DE2951376C2 DE 2951376 C2 DE2951376 C2 DE 2951376C2 DE 2951376 A DE2951376 A DE 2951376A DE 2951376 A DE2951376 A DE 2951376A DE 2951376 C2 DE2951376 C2 DE 2951376C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- nuclear
- switch
- ions
- tracks
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K5/00—Irradiation devices
- G21K5/04—Irradiation devices with beam-forming means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
- B23K15/08—Removing material, e.g. by cutting, by hole drilling
- B23K15/085—Boring
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B26—HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
- B26F—PERFORATING; PUNCHING; CUTTING-OUT; STAMPING-OUT; SEVERING BY MEANS OTHER THAN CUTTING
- B26F1/00—Perforating; Punching; Cutting-out; Stamping-out; Apparatus therefor
- B26F1/26—Perforating by non-mechanical means, e.g. by fluid jet
- B26F1/31—Perforating by non-mechanical means, e.g. by fluid jet by radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Forests & Forestry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
55
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 sowie eine
Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens nach dem Oberbegriff des Anspruches 2.
Das hier vorgeschlagene Verfahren befaßt sich mit der Herstellung von feinsten Einzellöchern in organischen
Folien, Gläsern sowie dünnen dielektrischen Kristallen. Für bestimmte Zwecke sollen bisher b5
unerreicht feine Löcher bis herab zu 0,01 μη Lochdurchmesser
in reproduzierbarer Weise hergestellt werden. Wünschenswert ist weiterhin ein Verhältnis
zwischen Lochdurchmesser und Lochlänge von bis zu 1 :1000.
Einzeilöcher in Folien lassen sich durch mechanische
Verfahren, mit Laser, mit Elektronenstrahl, durch Fotobzw. Röntgenlithographie sowie mit Hilfe von Faserverbundtechniken
herstellen. Bekannt ist die Herstellung einer Einlochmembran aus unbestrahlten
Glimmerfolien. Hierbei nutzt man die Tatsache aus, daß natürlicher Glimmer einige latente Kernspiiren durch
das in ihm in geringer Konzentration enthaltene spontanspaltende Uran enthält. Nach der Ätzung der
Glimmerfolien wird eine geeignete Kernspur ausgewählt Die nicht benötigten Kernspuren müssen jedoch
anschließend abgedichtet werden.
Sieht man von den übrigen Verfahren ab, deren Loch-Durchmesser- zu Längenverhältnis minimal
1 :100 beträgt, so gestattet lediglich die Kernspurtechnik
die Herstellung von Löchern kleiner als 0,1 .um bei einem Loch-Durchmesser- zu Längenverhäitnis von bis
herab 1 :1000. Die Schwierigkeiten bei der Abdichtung aller übrigen Kernspurlöcher nach Heraussuchen bzw.
Auswählen eines einzigen geeignet plazierten Kernspurlochs sind folgende:
1. Die Lochgröße muß zur Sichtbarmachung ausreichen.
2. Es ist sehr schwierig, einzeln liegende Löcher kleiner als 1 μΐπ licht- oder elektronenmikroskopisch
zu lokalisieren.
3. Es wird eine Mikromanipulation zur Abdichtung der verbleibenden Löcher z. B. mit Klebstoff
benötigt.
4. Beschränkt man sich auf sehr schwach bestrahlte Folien, auf deren gesamte Oberfläche im statistischen
Mittelwert nur ein Loch entfällt, so entsteht aufgrund der statistischen Streuung die Notwendigkeit,
jede einzelne Folie einer Qualitätskontrolle zu unterziehen, um festzustellen, wieviele Löcher
auf der jeweiligen Folie vorliegen.
5. Das Loch kann nicht gezielt auf die Mitte der Folie
bzw. an den geeignetsten Ort der Folie gesetzt werden.
6. Es können nicht gleichzeitig mehrere Einzellochfolien hergestellt werden.
Aus der DE-PS 27 17 400 ist es bei einem Verfahren
der im Oberbegriff des Anspruchs 1 vorausgesetzten Art bekannt, den Strahl eines Schwerionenbeschleunigers
bei Bestrahlimgsversuchen im Laufe des Strahlenganges
auszulenken, um- oder abzublenden, um eine möglichst große Anzahl von parallel laufenden Bestrahlungen
mit der jeweils gewünschten Intensität vornehmen zu können. Dabei wird eine Vorrichtung der im
Oberbegriff des Anspruchs 2 angegebenen bekannten Art eingesetzt. Es ist daraus weiterhin bekannt,
Kernspuren Ätzverfahren zu unterwerfen, um von der reinen Kernspur her zu mechanisch veränderten
Festkörpern zu kommen.
Ausgehend von diesem Stand der Technik ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, das bekannte
Verfahren und die bekannte Vorrichtung zu seiner Durchführung so zu verbessern, daß die erzeugten
Kernspuren bzw. Mikrolöcher in genau vorgegebener Zahl gebildet werden.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt nach der vorliegenden Erfindung bei dem genannten Verfahren
bzw. der Vorrichtung durch die in den kennzeichnenden Teilen des PatentansDruchs I bzw. des Patenten-
Spruchs 2 genannten Maßnahmen.
Das eiTindungsgemäße Verfahren ermöglicht nun die
besonders vorteilhafte serienmäßige Herstellung von Einlochmembranen, z. B. in einem nicht experimentell
genutzten Zweitstrahl bzw. im nicht genutzten Abfallstrahl hinter anderen kernphysikalischen Experimenten.
Weiterhin werden die oben erwähnten Schwierigkeiten umgangen. ,
Die Erfindung wird im folgenden an einem Ausführungsbeispiel anhand der Zeichnung erläutert: to
Die Zeichnung zeigt schematisch und vereinfacht den Strahl 1 eines Schwerionen-Beschleunigers, der in
Richtung 4 verläuft In den Strahl I sind neben anderen, für die Erfindung nicht wesentlichen und auch nicht
näher erläuterten Elementen im weichen, vorderen Teil is
2 desselben zunächst ein schneller, elektrostatischer oder elektromagnetischer Verschluß 3 eingeschaltet,
der jedoch nur relativ gering belastbar ist. Im hinteren, schnelleren Teil 5 des Strahles 1 nach mehreren
Beschleunigungsstrecken, Umlenkungen und Ausblendüngen, ist ein weiterer, langsamer Verschluß 6
eingeschaltet, beispielsweise ein gekühlter Faraday-Becher, der wesentlich höher belastbar ist und der den
Strahl 1 über einen längeren Zeitraum absorbieren kann. Hinter diesem Verschluß 6 ist, wieder in Richtung
4 gesehen, eine Vorblende 7 geschaltet, welcher sich eine zu bestrahlende Probe 8 anschließt. Letztlich ist
unmittelbar hinter der Probe ein Teilchendetektor 9 zum Nachweis einzelner Ionen eingeschaltet, der jedoch
auch umgekehrt direkt vor der Probe angeordnet werden kann.
Das mit der beschriebenen Beschleunigervorrichtung durchführbare Verfahren verläuft nun folgendermaßen
L.-.d wird in mehreren Schritten anhand eines Ausführungsbeispiels
erläutert:
1. Fünf etwa 20 μπι dicke Folien werden kreisförmig
ausgestanzt und in eine entsprechende Vertiefung eines Probenhalters eingelegt und damit auch
gleichzeitig zentriert. Die kreisförmige Vorblende 7 «> von etwa 0,3 mm Durchmesser definiert den
durchstrahlbaren, zentralen Bereich der Folie. Sie und die Folie werden mit einem einrastenden
Spannring gleichzeitig fest und unverrückbar mit dem Probenhalter verbunden.
2. Der hochenergetische Strahl 1 der Ionen, z. Ei. mit
7,5 MeV-Ionen von Uran-238 rines Schwerionenbeschleunigers
wird unter gleichzeitiger Kontrolle durch einen Fluoreszenzschirm mit nachgeschalteter
Bildverstärker-Fernsehkamera durch Defokus- >o sieren von magnetischen Linsen aufgeweitet und
dadurch gleichzeitig auch abgeschwächt, solange bis Fluktuationen mit d»m Auge beobachtbar sind.
3. Der Strahl 1 wird abgeschaltet. Der Probenhalter wird über eine nicht dargestellte Einschleusvorrichtung
in den St-ahl 1 gebracht und der Fluoreszenzschirm wird durch den hinter der Folie angebrachten
Teilchendetektor 9 ersetzt, z. B. einen Halbleiter-Detektor.
4. Der Strahl 1 wird wieder eingeschaltet und solange gewartet, bis ein einzelnes oder eine vorgegebene
Zahl von Ionen durch die Vorblende 7 und die fünf Folien den Teilchendetektor 9 zum Nachweis
einzelner Ionen trifft und damit den Abschaltvorgang über Vorverstärker. Hauptverstärker, Einkanoldiskriminator
und Steuerelektronik für den elektrostatischeii Verschluß.3 einleitet.
5. Da der als schneller Strahlabschalter wirkende
Verschluß 3 den Strahl 1 zwar sofort abschaltet, jedoch die volle Strahlleistung nur sehr kurze Zeit
absorbieren kann und darüber hinaus den gesamten Hauptstrahl abschaltet, wird sofort nach Schließen
der im Nebengang, d.h. im schnellen Teil des Strahles 1 liegende langsame Verschluß 6 betätigt,
der durch seine Kühlung, z. B. bei einem gekühlten Faraday-Becher, die Strahlleistung aufnehmen
kann. Danach kann der Hauptstrahl am schnellen Verschluß 3 wieder durch Öffnen eingeschaltet
werden.
6. Der Spannring mit der Probe 8 wird aus dem Strahlengang wieder ausgeschleust und die Probe
bzw. Folie ihm entnommen.
7. Die Folien bzw. Festkörper mit den nunmehr aufgebrachten einzelnen Kernspuren werden mit
entsprechendem Ätzmittel geätzt, bis das oder die Mikrolöcher den gewünschten Durchmesser erreicht
haben.
Der Strahl 1 kann nun um so intensiver sein, je schneller der »BelichtungsverschluK., d. h. die zusammenwirkenden
beiden Verschlüsse 3 und 5, arbeitet Der Belichtungsverschluß besteht, wie bereits beschrieben,
aus einem langsamen, direkt vor der zu bestrahlenden Folie befindlichen mechanischen Verschluß 6, der zur
Unterdrückung von stets in schwacher Intensität ankommenden Streuteilchen dient und einem schnellen,
im Injektorbereich des Beschleunigers direkt hinter den lonenquellen befindlichen, elektrostatischen oder elektromagnetischen
Verschluß 3. Dieser elektrostatische Verschluß kommt an diesem Ort noch mit relativ
kleinen Spannungen von wenigen kV aus, da die Ionen dort noch sehr langsam sind und kann daher ein sehr
rasch ansteigendes bzw. abfallendes Spannungsprofil aufweisen. Durch geeignet synchronisiertes Zusammenspiel
beider Abschwächer werden sehr kurze Bestrahlungszeiten von z. B. wenigen msec bis zu wenigen μsec
möglich und dies, ohne die übrigen Arbeiten am Beschleuniger wesentlich zu behindern, da der S<rahl 1
durch dieses Zusammenspiel beider Verschlüsse 3 und 6 nur während der Schaltzeit des relativ langsamen
Verschlusses 6 durch den elektrostatischen Verschluß vollständig, d. h. für alle übrigen Experimente am
Beschleuniger abgeschaltet werden muß. Der mechanische Strahlabschalter 6 kann ein Faraday-Becher mit
einer Schaltzeit von ca. 0,5 see sein und kann durch
einen mit diesem zusammenspielenden elektromechanischen Fotoverschluß mit einer Schaltzeit von kleiner als
0,01 see ergänzt werden.
Zusammengefaßt bestehen die wesentlichen Vorteile des vorgeschlagenen Verfahrens nun in folgenden
Punkten:
1. Lin oder mehrere Folien bzw. Festkörper können
je nach Energie und Teilchenart der verwendeten Ionen gleichzeitig an einem durch die Vorblende
gegebenen Ort durchschlagen werden.
2. Das Verfahren läßt sich durch Verwendung eines zwischen Vorhlende und Folie eingeschobenen
durchstrahlbaren Detektors auch auf dicke, undurehstrahlbare Proben übertragen und damit
wesentlich erweitern.
3. Das Verfahren ermöglicht die genaue Vorwahl des durchstrahlenden bzw. zu bestrahlenden Orts durch
die Vorblende 7.
4. Durch Verwendung einer fertig hergestellten Einlochmembran als Vorblende kann der Durch-
stoßpunkt bei weiteren Serienbestrahlungen sehr genau festgelegt und damit weitgehend identisch
repliziert werden.
Durch Verwendung eines zweifachen Verschlußsystems lassen sich sehr zuverlässig Einzellochbe-Strahlungen
ohne wesentliche Behinderung des übrigen Beschleunigersbetriebes durchführen.
Das Verfahren ermöglicht die zuverlässigen, serienmäßige Herstellung von fiinlochstrukturen
bzw. von Mehrlochstrukturen genau vorhersagbarer Lochanzahl dadurch, daß es nunmehr möglich
ist, ein oder mehrere einzelne Teilchen zur Erzeugung eines Effektes heranzuziehen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen
eines Schwerionenbeschleunigers in Festkörpern und gegebenenfalls von aus den Kernspuren durch
Ausätzung der Kernspuren nach der Bestrahlung gebildeter Mikrolöcher unter Modulierung des
Strahles der Ionen durch Auffächern, Abschwächen oder Ausblenden der nicht benötigten Ionen mittels ">
Modulationseinrichtungen nach Maßgabe der Messung eines in den Strahlengang eingebrachten
Detektors und mindestens einem von diesem beeinflußten Strahlabschalter, dadurch gekennzeichnet,
daß das Auftreffen eines einzel- ι ■>
nen Ions nach oder vor Durchtritt durch den Festkörper (8) unmittelbar mit Hilfe eines dem
Festkörper (8) nach- oder vorgeschalteten Detektors (9) zum Nachweis einzelner Ionen zur
Auslösung des Abschaltvorganges festgestetrt wird und im glichen Moment nach Maßgabe dieser
Feststellung das Abschalten des Strahles (1) durch erstes Betätigen eines schnell wirkenden, im weichen
Teil des Strahlenganges angeordneten Strahlabschalters (3) für den Gesamtstrahl eingeleitet wird,
daß anschließend daran ein langsamerer, jedoch zur Aufnahme größerer StrahJleistungen ausgelegter
Strahlabschalter (6) für den Teilstrahl in dem Strahlengang (1) hinter dem ersten Strahlabschalter
(3) betätigt wird und anschließend der erste Strahlabschalter (3) wieder geöffnet wird.
2. Vorric'' tung zur Durchführung des Verfahrens
nach Anspruch 1 mit einem Schwerionenbeschleuniger,
dessen Strahl durch eine Vorblende auf einen Festkörper auftrifft, sovie w't mindestens einem
durch einen Detektor gesteuerten Strahlabschalter, dadurch gekennzeichnet, daß nach Maßgabe der
Dicke des Festkörpers (8) vor oder hinter demselben ein Detektor (9) zum Nachweis von einzelnen Ionen
angebracht ist, der eine, als schneller Strahlabschalter wirkende elektrostatische oder elektromagnetische
Blende (3) im vorderen, weichen Teil des Strahlenganges (1) und gleichzeitig oder in definhrtem
Zeitabstand danach ein als langsamer Strahlabschalter im hinteren, abgeleiteten Strahlenauffangelement
(6) betätigt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Strahlabschalter (6) nach
dem Schließen ein Signal abgibt, welches den ersten Strahlabschalter (3) wieder öffnet. so
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorblende (7) eine Einlochmembran
mit einem Mikroloch ist.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2951376A DE2951376C2 (de) | 1979-12-20 | 1979-12-20 | Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
FR8011960A FR2472194B1 (fr) | 1979-12-20 | 1980-05-29 | Procede pour la production de traces nucleaires ou de microtrous d'un ion unique, obtenus a partir de traces nucleaires, et dispositif pour la mise en oeuvre du procede |
US06/219,351 US4369370A (en) | 1979-12-20 | 1980-12-22 | Method for producing nuclear traces or microholes originating from nuclear traces of an individual ion |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2951376A DE2951376C2 (de) | 1979-12-20 | 1979-12-20 | Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2951376A1 DE2951376A1 (de) | 1981-07-02 |
DE2951376C2 true DE2951376C2 (de) | 1983-09-15 |
Family
ID=6089068
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2951376A Expired DE2951376C2 (de) | 1979-12-20 | 1979-12-20 | Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4369370A (de) |
DE (1) | DE2951376C2 (de) |
FR (1) | FR2472194B1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3337227A1 (de) * | 1983-10-13 | 1985-04-25 | Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH Darmstadt, 6100 Darmstadt | Verfahren zum bestimmen des durchmessers von mikroloechern |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3337049A1 (de) * | 1983-10-12 | 1985-05-09 | Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH, 6100 Darmstadt | Feststoff mit besonderen elektrischen eigenschaften und verfahren zur herstellung eines solchen feststoffes |
EP0238694B1 (de) * | 1986-03-27 | 1992-01-29 | Ibm Deutschland Gmbh | Verfahren zur Herstellung identisch angeordneter Ausrichtmarkierungen auf gegenüberliegenden Seiten einer Halbleiterscheibe |
DE3636481A1 (de) * | 1986-10-27 | 1988-05-05 | Altenburger Electronic Gmbh | Verfahren zur herstellung von mikropruefkoerpern zur porengroessenmessung in ultra- und mikrofiltern sowie hiernach hergestellte pruefkoerper |
JPH0820518B2 (ja) * | 1987-02-26 | 1996-03-04 | キヤノン株式会社 | 露光装置 |
RU2542300C1 (ru) * | 2013-09-24 | 2015-02-20 | Объединенный Институт Ядерных Исследований | Способ изготовления моно-и олигопоровых мембран |
US11162935B2 (en) | 2018-08-24 | 2021-11-02 | University Of Notre Dame Du Lac | Systems and methods for separating, detecting, and quantifying a target polynucleotide |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB754866A (en) * | 1953-04-15 | 1956-08-15 | Heraeus Gmbh W C | Improvements in or relating to spinning nozzles |
JPS512497B1 (de) * | 1970-04-28 | 1976-01-26 | ||
DE2717400C2 (de) * | 1977-04-20 | 1979-06-21 | Gesellschaft Fuer Schwerionenforschung Mbh, 6100 Darmstadt | Ätzverfahren zur Herstellung von Strukturen unterschiedlicher Höhe |
US4229704A (en) * | 1979-01-15 | 1980-10-21 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Method and means for measurement and control of pulsed charged beams |
-
1979
- 1979-12-20 DE DE2951376A patent/DE2951376C2/de not_active Expired
-
1980
- 1980-05-29 FR FR8011960A patent/FR2472194B1/fr not_active Expired
- 1980-12-22 US US06/219,351 patent/US4369370A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3337227A1 (de) * | 1983-10-13 | 1985-04-25 | Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH Darmstadt, 6100 Darmstadt | Verfahren zum bestimmen des durchmessers von mikroloechern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4369370A (en) | 1983-01-18 |
FR2472194B1 (fr) | 1985-11-22 |
DE2951376A1 (de) | 1981-07-02 |
FR2472194A1 (fr) | 1981-06-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2436160C3 (de) | Rasterelektronenmikroskop | |
DE4108462C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen von Ionen aus thermisch instabilen, nichtflüchtigen großen Molekülen | |
DE112011100403B4 (de) | Ultraschnelle Elektronenbeugungsvorrichtung und Verfahren zur ultraschnellen Elektronenbeugung | |
DE2951376C2 (de) | Verfahren zur Erzeugung einer Kernspur oder einer Vielzahl von Kernspuren von schweren Ionen und von aus den Kernspuren durch Ätzung gebildeten Mikrolöchern, sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2603675A1 (de) | Verfahren zur kontrolle des abtragens einer duennen schicht oder durch masken bestimmter schichtbereiche mit hilfe des ionen-aetzens | |
DE1922871B2 (de) | Ionenquelle | |
DE60132788T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung für lokale Oberflächenanalyse | |
DE3337227C2 (de) | ||
DE4022904C2 (de) | Verfahren zum Anbringen einer die Orientierung des Kristallgitters einer Kristallscheibe angebenden Markierung | |
EP1003029A2 (de) | Röntgenanalysegerät mit röntgenoptischem Halbleiterbauelement | |
DE2411841A1 (de) | Messeinrichtung zum messen von schwachen signalen, welche im zusammenhang mit einem starken hintergrundrauschen erfasst werden | |
DE2717400C2 (de) | Ätzverfahren zur Herstellung von Strukturen unterschiedlicher Höhe | |
DE2105805B2 (de) | Gerät für die Elektronenspektroskopie zur chemischen Analyse einer Probe | |
DE102010061178A1 (de) | Chromatischer Energiefilter | |
DE19720458C1 (de) | Verfahren zur Analyse einer Probe | |
DE1936102B2 (de) | Schwerionenbeschleuniger mit elektrostatischer tandem an ordnung mit zwei umlenk magnetspiegeln mit glas umlade strecke und mit festkoerper folien zum abstreifen von elektronen von den ionen | |
EP1817788B1 (de) | Flugzeit-massenspektrometer | |
DE3490595C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Oberflächenanalyse | |
DE10157032A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Sortieren von Partikeln | |
DE2733966C3 (de) | lonenemissionsmikroskop-Mikroanalysator | |
DE102018106412B4 (de) | Teilchenspektrometer und Teilchenspektrometrieverfahren | |
DE1773242B2 (de) | Mißgerät zur Ermittlung und Regelung der Verdampfungsgeschwindigkeit von im Vakuum verdampften Substanzen | |
DE102022113918A1 (de) | Verfahren zum Abbilden, Bearbeiten und/oder Analysieren eines Objekts mit einem Teilchenstrahlgerät, Computerprogrammprodukt sowie Teilchenstrahlgerät zur Durchführung des Verfahrens | |
DE102021117027A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung des Eindringens eines Teilchens in ein Material | |
DE3306172A1 (de) | Ladungspartikel-mikroskop und verfahren zu seinem betrieb |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |