JPS61111103A - マイクロフイルタ−およびその製造方法 - Google Patents
マイクロフイルタ−およびその製造方法Info
- Publication number
- JPS61111103A JPS61111103A JP23374184A JP23374184A JPS61111103A JP S61111103 A JPS61111103 A JP S61111103A JP 23374184 A JP23374184 A JP 23374184A JP 23374184 A JP23374184 A JP 23374184A JP S61111103 A JPS61111103 A JP S61111103A
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- JP
- Japan
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- substrate
- filter
- vapor
- irradiated
- deposited
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- Pending
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- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は各種工業用フィルターに関する。更に詳しくは
孔径の極めて微細なフィルターに関する。
孔径の極めて微細なフィルターに関する。
従来製造されている孔径の微細なフィルターとしてはo
、iμm以下の大きさの微粒子を焼結させて得られるも
のがある。このフィルターでは平均孔径0.1μm以下
のそれが形成されているが。
、iμm以下の大きさの微粒子を焼結させて得られるも
のがある。このフィルターでは平均孔径0.1μm以下
のそれが形成されているが。
微粒子の粒径をそなえる事が困難なこと、微粒子をラン
ダムに集合させて焼結させるなどの工程上の問題から孔
径の分布が極めて大きくなってしまう欠点を有している
。
ダムに集合させて焼結させるなどの工程上の問題から孔
径の分布が極めて大きくなってしまう欠点を有している
。
均一な孔径を有するフィルター、またさらに微細な孔径
を有するフィルターの開発が望まれてきている。
を有するフィルターの開発が望まれてきている。
本発明は、上記従来技術よシ更に孔径が微細で、かつ孔
径分布が狭いフィルター提供することを目的としている
。
径分布が狭いフィルター提供することを目的としている
。
本発明は、o、iμ以下の孔径を有し、該径のばらつき
が20%以下であることを特徴とするフィルターに関す
る。また、基体上にエネルギー線を照射することによシ
、該基体表面に照射部と非照射部とを形成せしめ、しか
る後、該基体上に別の物質を蒸着処理して該照射部およ
び非照射部にそれぞれ対応した蒸着形成部および非形成
部を設けた後、上記基体を除去することを特徴とするフ
ィルターの製造方法に関する。
が20%以下であることを特徴とするフィルターに関す
る。また、基体上にエネルギー線を照射することによシ
、該基体表面に照射部と非照射部とを形成せしめ、しか
る後、該基体上に別の物質を蒸着処理して該照射部およ
び非照射部にそれぞれ対応した蒸着形成部および非形成
部を設けた後、上記基体を除去することを特徴とするフ
ィルターの製造方法に関する。
上記フィルターの孔径は、マイクロフィルターとして各
穐用途に供するためにo、oiμm以下とすること、ま
たよOλ 以下とすることも可能である。
穐用途に供するためにo、oiμm以下とすること、ま
たよOλ 以下とすることも可能である。
以下に本発明を詳細に第1図により説明する。
本発明の製造方法は第1工程として基体l上に線束を箱
<絞ったエネルギー線2を照射することによって該基体
l上に選択的に照射部3と非照射部≠とを形成する。
<絞ったエネルギー線2を照射することによって該基体
l上に選択的に照射部3と非照射部≠とを形成する。
つぎに第2工程としては、上記第1工程を経た基体上に
所望のフィルター形成物質を蒸着処理する。
所望のフィルター形成物質を蒸着処理する。
上記第2工程により第1図(b)に示されているように
、エネルギー線λの照射部3に対応する部分には蒸着が
形成されず蒸着非形成部!が得られ、エネルギー線コの
照射されなかった部分≠には蒸着が形成されて蒸着形成
部6が得られる。この際、蒸着形成部と非形成部とをよ
シ明確に分離するために必要に応じて蒸着処理時あるい
は蒸着処理後に基板を室温以上で加熱処理することもで
きる。
、エネルギー線λの照射部3に対応する部分には蒸着が
形成されず蒸着非形成部!が得られ、エネルギー線コの
照射されなかった部分≠には蒸着が形成されて蒸着形成
部6が得られる。この際、蒸着形成部と非形成部とをよ
シ明確に分離するために必要に応じて蒸着処理時あるい
は蒸着処理後に基板を室温以上で加熱処理することもで
きる。
さらに第3工程では、第λ工程によって基体上に完成し
たフィルター形成物7を基体/と分離する。分離する方
法としては第コの1福を経た物を水、酸・アルカリなど
の溶液、有機各課等の液体中で基体/のみを融解する方
法、あるいは基体をイオンビームを使って削る方法など
様々な方法が採用できる。このとき、基体/を融解する
ための液体は、フィルター7を構成する物質を融解しな
いものでなければならない。
たフィルター形成物7を基体/と分離する。分離する方
法としては第コの1福を経た物を水、酸・アルカリなど
の溶液、有機各課等の液体中で基体/のみを融解する方
法、あるいは基体をイオンビームを使って削る方法など
様々な方法が採用できる。このとき、基体/を融解する
ための液体は、フィルター7を構成する物質を融解しな
いものでなければならない。
本発明のマイクロフィルターは上記3つの工程を経て製
造されるが必要に応じて、第2の工程終了後再び第2の
工程である蒸着処理をくシ返した後、第3の工程を経る
こともできる。
造されるが必要に応じて、第2の工程終了後再び第2の
工程である蒸着処理をくシ返した後、第3の工程を経る
こともできる。
本発明において使用される基体は、表面が所望のフィル
ターパターンの大きさに比べ平滑なものであればとくに
制限はされない。が、前記蒸着処理後に基板加熱処理を
実施する場合にはそれに耐えるものでなければならない
。
ターパターンの大きさに比べ平滑なものであればとくに
制限はされない。が、前記蒸着処理後に基板加熱処理を
実施する場合にはそれに耐えるものでなければならない
。
本発明においてエネルギー線とはα線、β線、r線、電
子線、レーザー線、X線、イオン粒子線、中性子線、陽
子線等を指し、特に好ましいのは電子線である。
子線、レーザー線、X線、イオン粒子線、中性子線、陽
子線等を指し、特に好ましいのは電子線である。
本発明に使用される基体の具体例としてはSi、Geあ
るいはG a A s等の半導体、Cu%At。
るいはG a A s等の半導体、Cu%At。
Fe1Ni、Co、Au、Ag、Sn、Pb。
Mo%W%Cr、V、Pt等の金属およびこれらの合金
、あるいはガラス、雲母、石英、カーボン、セラミック
等の無機物、ポリマー等の有機物が使用される。
、あるいはガラス、雲母、石英、カーボン、セラミック
等の無機物、ポリマー等の有機物が使用される。
さらには別の基体上に薄it−形成せしめたものを基体
としてもよい。
としてもよい。
エネルギー線として荷電ビームを使用する場合、ビーム
照射にともなう帯電の影響を減少させるため、4を性基
体を使用してより微細なフィルターパターンを得るよう
にしてもよい。
照射にともなう帯電の影響を減少させるため、4を性基
体を使用してより微細なフィルターパターンを得るよう
にしてもよい。
本発明に使用される蒸着物質(フィルター形成物質)は
特に制限されない。
特に制限されない。
具体例としてはFe%Ni%Co、Cr、Nb、Mo、
Sn、Pb、Ge、S t、Au、Ag%Pt。
Sn、Pb、Ge、S t、Au、Ag%Pt。
At等の金属や合金MgF%ZnS、GaAs等の化合
物、あるいは酸化物、窒化物等があげられる。
物、あるいは酸化物、窒化物等があげられる。
この場合、基板物質との組み合わせにおいて基板といわ
ゆる「ぬれにくい」物質が好ましい。特に貴金属は孔径
微細なフィルターの作成が容易であシ好ましい。
ゆる「ぬれにくい」物質が好ましい。特に貴金属は孔径
微細なフィルターの作成が容易であシ好ましい。
本発明を実施例によシさらに詳細に説明する。
実施例/
走査型電子顕微鏡を使用して加速電圧:JOk”i、ビ
ーム電流IOμμA、ビーム径約30^の電子線で/c
!1!×/cnのNacA:ヘキ開面上の一〇pmXλ
Oμmの領域f100^間隔で縞状に1分間走査しなが
ら照射した。その際、電子線が別の走査線に移動すると
きは電子線t−遮蔽した。
ーム電流IOμμA、ビーム径約30^の電子線で/c
!1!×/cnのNacA:ヘキ開面上の一〇pmXλ
Oμmの領域f100^間隔で縞状に1分間走査しなが
ら照射した。その際、電子線が別の走査線に移動すると
きは電子線t−遮蔽した。
次に、このNaα・表面の同一領域を上記と同条件で走
査方向を上記と直角にして照射した。
査方向を上記と直角にして照射した。
次にとのNaα表面に銀を厚さ100Aとなるよう蒸着
後、上記電子線照射領域をマスクして表−面全体に銀f
!:/μm厚となるよう蒸着した。
後、上記電子線照射領域をマスクして表−面全体に銀f
!:/μm厚となるよう蒸着した。
得られたNa(J・をJOO0C迄加熱した後、純水に
浸漬しNacl、金融かし去って/CWIX/C1nの
鋏の薄膜を得た。
浸漬しNacl、金融かし去って/CWIX/C1nの
鋏の薄膜を得た。
この薄膜を透過製電子顕微鏡で観察したところ上記で電
子線を照射した部分に約200の均一な孔が1ooAの
間隔で格子状に配列しているのが観察された。
子線を照射した部分に約200の均一な孔が1ooAの
間隔で格子状に配列しているのが観察された。
実施例コ5
走査型電子顕微鏡を使用して、加速電圧λOkv、ビ′
−ム電流10μμA、ビーム径約!OAの電子線で鏡面
仕上けした!nφのCr板の表面の一20μm×−20
μmの領域をzooh間隔で縞状に1分間走査しながら
照射した。その際、電子ビームが別の走査線に移゛ると
きビームをブランキングして照射せぬようにした。
−ム電流10μμA、ビーム径約!OAの電子線で鏡面
仕上けした!nφのCr板の表面の一20μm×−20
μmの領域をzooh間隔で縞状に1分間走査しながら
照射した。その際、電子ビームが別の走査線に移゛ると
きビームをブランキングして照射せぬようにした。
次いで、とのCr表面の同一領域を上記と同一条件で走
査方向を上記と直角にして照射した。
査方向を上記と直角にして照射した。
次にこのCr表面に金を厚さ1roAとなるよう蒸着後
、上記電子線照射領域をマスクして表面全体に金を1μ
m厚となるよう蒸着した。
、上記電子線照射領域をマスクして表面全体に金を1μ
m厚となるよう蒸着した。
得られた金を蒸着したcrを2009C迄加熱した後硝
酸に浸漬しCrを融解した。その結果/α×/crnの
金の薄膜が得られた。
酸に浸漬しCrを融解した。その結果/α×/crnの
金の薄膜が得られた。
この薄膜を走査型電子顕微鏡で観察したところ上記で′
電子線を照射した部分に約20OAの均一な孔がroo
A間隔で格子状に配列しているのがみられた。
電子線を照射した部分に約20OAの均一な孔がroo
A間隔で格子状に配列しているのがみられた。
実施例3
サファイア基板上にポリプロピレンを厚さ70μmとな
るよう塗布した。該表面に走査型電子顕微鏡を使用して
加速電圧20に■、ビーム電流lμμA1ビーム径30
Aの電子&4をパルス状に300A間隔の格子点上に照
射した。
るよう塗布した。該表面に走査型電子顕微鏡を使用して
加速電圧20に■、ビーム電流lμμA1ビーム径30
Aの電子&4をパルス状に300A間隔の格子点上に照
射した。
次にこの基板上にhtt厚さ20OAとなるよう蒸着後
、上記電子線照射した領域をマスクして表面全体にAt
を1μm厚となるよう蒸着した。
、上記電子線照射した領域をマスクして表面全体にAt
を1μm厚となるよう蒸着した。
得られたAtを蒸着した基板を/J00C度加熱した後
、ヘキサンに浸漬しりQoCに加熱したところアルミニ
ウムの薄膜が基板と分離した。
、ヘキサンに浸漬しりQoCに加熱したところアルミニ
ウムの薄膜が基板と分離した。
このH膜を走査型電子顕微鏡で観察したところ上記の面
子線を照射し7た部分に約jrOAの孔が300A間隔
で格子状に配列しているのがみられた。
子線を照射し7た部分に約jrOAの孔が300A間隔
で格子状に配列しているのがみられた。
実施ガル
電子線の代わりにアルゴンイオンビームラ使用すること
以外実施例λを同一の実捩を行なった結に配例している
のがみられた。
以外実施例λを同一の実捩を行なった結に配例している
のがみられた。
本発明によれば、極めて微細で均一な孔が規則的に配さ
れたフィルターを得ることができた。
れたフィルターを得ることができた。
第1図は、本発明によるマイクロフィルターの製造方法
を図式的に示している。 l・・・・・・・・・基体
を図式的に示している。 l・・・・・・・・・基体
Claims (7)
- (1)0.1μm以下の孔径を有し、該径のばらつきが
20%以下であることを特徴とするフィルター。 - (2)孔径が0.01μm以下であることを特徴とする
特許請求の範囲第(1)項記載のフィルター。 - (3)孔径が50Å以下であることを特徴とする特許請
求の範囲第(1)項記載のフィルター。 - (4)基体上にエネルギー線を照射することにより、該
基体表面に照射部と非照射部を形成せしめ、しかる後、
該基体上に別の物質を蒸着処理して該照射部、非照射部
に対応した蒸着非形成部、形成部を設けた後、上記基体
を除去することを特徴とするフィルターの製造方法。 - (5)基体の温度を室温以上に加熱した状態で別の物質
を蒸着処理することを特徴とする特許請求の範囲第(4
)項記載のフィルターの製造方法。 - (6)前記蒸着処理後基体の温度を室温以上に加熱する
ことを特徴とする特許請求の範囲第(4)乃至(5)項
記載のフィルターの製造方法。 - (7)エネルギー線として電子線あるいはイオンビーム
を使用することを特徴とする特許請求の範囲第(4)項
記載のフィルターの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23374184A JPS61111103A (ja) | 1984-11-06 | 1984-11-06 | マイクロフイルタ−およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23374184A JPS61111103A (ja) | 1984-11-06 | 1984-11-06 | マイクロフイルタ−およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61111103A true JPS61111103A (ja) | 1986-05-29 |
Family
ID=16959847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23374184A Pending JPS61111103A (ja) | 1984-11-06 | 1984-11-06 | マイクロフイルタ−およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61111103A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63117239A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-21 | アルテンバーガー エレクトロニク ゲーエムベーハー | ウルトラフイルタおよびマイクロフイルタの細孔サイズ測定用マイクロ試験体製造方法ならびにこれによつて製造された試験体 |
JP2013537469A (ja) * | 2010-05-03 | 2013-10-03 | クリーティービー マイクロテック, インク. | 高分子マイクロフィルタおよびその製造方法 |
-
1984
- 1984-11-06 JP JP23374184A patent/JPS61111103A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63117239A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-21 | アルテンバーガー エレクトロニク ゲーエムベーハー | ウルトラフイルタおよびマイクロフイルタの細孔サイズ測定用マイクロ試験体製造方法ならびにこれによつて製造された試験体 |
JP2013537469A (ja) * | 2010-05-03 | 2013-10-03 | クリーティービー マイクロテック, インク. | 高分子マイクロフィルタおよびその製造方法 |
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