JPS63109301A - 半円溝部の溝半径測定具 - Google Patents
半円溝部の溝半径測定具Info
- Publication number
- JPS63109301A JPS63109301A JP25655186A JP25655186A JPS63109301A JP S63109301 A JPS63109301 A JP S63109301A JP 25655186 A JP25655186 A JP 25655186A JP 25655186 A JP25655186 A JP 25655186A JP S63109301 A JPS63109301 A JP S63109301A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semicircular groove
- measuring
- radius
- groove part
- dial gauge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は測定具に関するもので、特に半円溝部の溝半径
を計測する溝半径測定具に関する。
を計測する溝半径測定具に関する。
従来、かかる半円溝部の溝半径測定は、投影機にて溝上
面より顕微鏡をのぞき、半円溝部を拡大して半円溝部の
半径を読みとる方法と、半円溝部の半径に相当する方接
を通り側と止まり側を用意し、通り、止まりのゲージに
て管理する方法とがある。
面より顕微鏡をのぞき、半円溝部を拡大して半円溝部の
半径を読みとる方法と、半円溝部の半径に相当する方接
を通り側と止まり側を用意し、通り、止まりのゲージに
て管理する方法とがある。
かかる従来の計測によると、特に前者においては、投影
機に試料を１ケづつのせた後に顕微鏡をのぞいてその半
径を読みとるものであり、投影機への取り付け、取り外
し作業及び顕微鏡の焦点合わせ等作業性が悪いものであ
った。
機に試料を１ケづつのせた後に顕微鏡をのぞいてその半
径を読みとるものであり、投影機への取り付け、取り外
し作業及び顕微鏡の焦点合わせ等作業性が悪いものであ
った。
又後者によると、ゲージ管理であることから通り、止ま
りの規格外に入ることは可能なるも半径の値がいくつで
あるかの確認ができないものであった。
りの規格外に入ることは可能なるも半径の値がいくつで
あるかの確認ができないものであった。
本発明は前記不具合点に鑑み成されたもので、作業性が
秀れて測定精度の高い半円溝部の溝半径測定具を提供す
ることを目的とし、前記目的達成のために、治具本体の
中心線ｘ−ｘより両側方へ等間隔Ａ、Ａで且つ治具本体
の中心線ｘ−ｘ方向において等長Ｂ、Ｂなる計測脚部を
設け、−方治具本体の中心線ｘ−ｘ上で且つ治具本体の
計測脚部の間にダイヤルゲージの計測端子を配置したも
のである。
秀れて測定精度の高い半円溝部の溝半径測定具を提供す
ることを目的とし、前記目的達成のために、治具本体の
中心線ｘ−ｘより両側方へ等間隔Ａ、Ａで且つ治具本体
の中心線ｘ−ｘ方向において等長Ｂ、Ｂなる計測脚部を
設け、−方治具本体の中心線ｘ−ｘ上で且つ治具本体の
計測脚部の間にダイヤルゲージの計測端子を配置したも
のである。
治具本体の計測脚部を半円溝部の曲面に押圧し、次いで
ダイヤルゲージの計測端子を半円溝部の曲面に当接して
ダイヤルゲージを読み取り、前もってダイヤルゲージの
読みに対する半径の換算表に基づき半径を計測するもの
である。
ダイヤルゲージの計測端子を半円溝部の曲面に当接して
ダイヤルゲージを読み取り、前もってダイヤルゲージの
読みに対する半径の換算表に基づき半径を計測するもの
である。
以下、本発明になる半円溝部の溝半径測定具の一実施例
を第１図によって説明する。
を第１図によって説明する。
ｌは測定具によって計測される試料であって、半円状の
半円溝部２が穿設される。３は溝半径測定具であり、ダ
イヤルゲージ４と治具本体５とによって構成される。治
具本体５は治具本体５の中心線ｘ−ｘより両側方へ等間
隔Ａ、Ａで且つ治具本体５の中心線ｘ−ｘ方向であって
図において右方向へ治具本体５の基準面５Ａより等長Ｂ
、Ｂなる計測脚部５Ｃ、５Ｃが立設される。この計測脚
部５Ｇ。
半円溝部２が穿設される。３は溝半径測定具であり、ダ
イヤルゲージ４と治具本体５とによって構成される。治
具本体５は治具本体５の中心線ｘ−ｘより両側方へ等間
隔Ａ、Ａで且つ治具本体５の中心線ｘ−ｘ方向であって
図において右方向へ治具本体５の基準面５Ａより等長Ｂ
、Ｂなる計測脚部５Ｃ、５Ｃが立設される。この計測脚
部５Ｇ。
５Ｃの端部はナイフエッヂに形成する乙によってより一
層測定精度を向上させることができるものである。
層測定精度を向上させることができるものである。
治具本体５の中心線ｘ−ｘ上に前記したダイヤルゲージ
４を配置するもので治具本体５に穿設した取付孔５Ｂに
取着すれば良いものである。そしてダイヤルゲージ４の
端部に配置された計測端子４Ａは治具本体５の脚部５Ｇ
、 ５０間に配置されなければならない、ここで本測
定具の半径の計測原理について第２図によって述べる。
４を配置するもので治具本体５に穿設した取付孔５Ｂに
取着すれば良いものである。そしてダイヤルゲージ４の
端部に配置された計測端子４Ａは治具本体５の脚部５Ｇ
、 ５０間に配置されなければならない、ここで本測
定具の半径の計測原理について第２図によって述べる。
まず実線で示される一番大径の半円溝部２Ａ、の点Ｃ１
とＣ２は計測脚部５Ｃ，５Ｃと半円溝部２の曲面との接
点であり、かかる状態における点ＣＩ＋０２線と治具本
体５の中心線ｘ−ｘと半円溝部２Ａ、との接点Ｃ３との
距ｇＩ Ｈ＋はダイヤルゲージ４の計測端子４Ａを半円
溝部２に抑圧することによってダイヤルゲージによって
読みとれる。 つぎに点線で示される二番目に大なる半
円溝部２Ａ２の点Ｄ１とＤ２は計測脚部５Ｃ、５Ｃと半
円溝部２Ｉ］２の曲面との接点であり、かかる状態にお
ける点Ｄ Ｉ ＋ Ｄ ２線と治具本体５の中心線ｘ
−ｘと半円溝部２Ａ２ との接点Ｄ３との距Ｉｔ Ｈ２
は前記同様にダイヤルゲージによって読みとれる。
とＣ２は計測脚部５Ｃ，５Ｃと半円溝部２の曲面との接
点であり、かかる状態における点ＣＩ＋０２線と治具本
体５の中心線ｘ−ｘと半円溝部２Ａ、との接点Ｃ３との
距ｇＩ Ｈ＋はダイヤルゲージ４の計測端子４Ａを半円
溝部２に抑圧することによってダイヤルゲージによって
読みとれる。 つぎに点線で示される二番目に大なる半
円溝部２Ａ２の点Ｄ１とＤ２は計測脚部５Ｃ、５Ｃと半
円溝部２Ｉ］２の曲面との接点であり、かかる状態にお
ける点Ｄ Ｉ ＋ Ｄ ２線と治具本体５の中心線ｘ
−ｘと半円溝部２Ａ２ との接点Ｄ３との距Ｉｔ Ｈ２
は前記同様にダイヤルゲージによって読みとれる。
さらにまた−点鎖線で示される一番小径の半円溝部２Ａ
３の点Ｅ、 Ｉ ＊ Ｅ ２は計測脚部５Ｇ 、 ５
Ｃと半円溝部２の曲面との接点であり、かかる状態にお
けるＥ Ｉ ＋ Ｅ ２線と治具本体５の中心線ｘ−
ｘと、半円溝部２Ａ３ との接点Ｅ３との距＊ Ｈ３は
前記と同様に読みとれる。
３の点Ｅ、 Ｉ ＊ Ｅ ２は計測脚部５Ｇ 、 ５
Ｃと半円溝部２の曲面との接点であり、かかる状態にお
けるＥ Ｉ ＋ Ｅ ２線と治具本体５の中心線ｘ−
ｘと、半円溝部２Ａ３ との接点Ｅ３との距＊ Ｈ３は
前記と同様に読みとれる。
ここで注目されなければならないのは半円溝部２の半径
が小さくなるにつれて計測脚部５Ｃ，５Ｇと半円溝部２
の接点、例えばｎｌ、Ｉ）２とダイヤルゲージ５の中心
線ｘ−又と半円溝部２の接点、例えばＤ３との距離Ｈ２
が順次大きくなることである。従って距＃Ｈと半円溝部
２の半径との関係を予め求めておけば距ｇｌＨを計測す
ることによって容易に半円溝部２の半径を知ることがで
きるものである。
が小さくなるにつれて計測脚部５Ｃ，５Ｇと半円溝部２
の接点、例えばｎｌ、Ｉ）２とダイヤルゲージ５の中心
線ｘ−又と半円溝部２の接点、例えばＤ３との距離Ｈ２
が順次大きくなることである。従って距＃Ｈと半円溝部
２の半径との関係を予め求めておけば距ｇｌＨを計測す
ることによって容易に半円溝部２の半径を知ることがで
きるものである。
以上のことから、その計測にあたっては、第１図におい
て半円溝部２の開放側（例えば図の左方）より溝半径測
定具５を挿入しつつ、治具本体５の計測脚部５Ｇ、５Ｃ
を半円溝部２の曲面に当接し、しかるのちにダイヤルゲ
ージ４の計測端子４Ａを半円溝部２の曲面に当接してダ
イヤルゲージ４の値を読みとるものであり、次いでこの
ダイヤルゲージ４の読みとり値を予め用意せる読みとり
値と半円溝部２の半径との換算表に基づき知ることがで
きるものである。
て半円溝部２の開放側（例えば図の左方）より溝半径測
定具５を挿入しつつ、治具本体５の計測脚部５Ｇ、５Ｃ
を半円溝部２の曲面に当接し、しかるのちにダイヤルゲ
ージ４の計測端子４Ａを半円溝部２の曲面に当接してダ
イヤルゲージ４の値を読みとるものであり、次いでこの
ダイヤルゲージ４の読みとり値を予め用意せる読みとり
値と半円溝部２の半径との換算表に基づき知ることがで
きるものである。
具体的な例として計測脚部５０．５ＣのＡ寸法７０ミリ
メートルで半径１２０ミリメートルにおいて距離Ｈ１は
２２ミリメートル、半径１１５ミリメートルにおいて距
１１ Ｈ２は２４ミリメートル、半径１１０ミリメート
ルにおいて距＃Ｈ３は２６ミリメードルとなり、それら
の距離Ｈより半円溝部２の半径が求められるものである
。
メートルで半径１２０ミリメートルにおいて距離Ｈ１は
２２ミリメートル、半径１１５ミリメートルにおいて距
１１ Ｈ２は２４ミリメートル、半径１１０ミリメート
ルにおいて距＃Ｈ３は２６ミリメードルとなり、それら
の距離Ｈより半円溝部２の半径が求められるものである
。
そしてダイヤルゲージ４の測定精度より鑑案ずればきわ
めて正確にその半径を計測し得るものである。
めて正確にその半径を計測し得るものである。
以上の如く１本発明になる半円溝部の溝半径測定具によ
ると次の効果を奏するものである。
ると次の効果を奏するものである。
即ち、半円溝部の測定においては、単に治具本体の計測
脚部を半円溝部の曲面に当接し、しかる後にダイヤルゲ
ージの計測端子を曲面に当接すれば良いのでその計測の
為の作業性は著しく向上したものであり、さらにはその
半円溝部の半径を数値でもってとらえることができたの
で例えば半円溝部の中に弁体を選択嵌合させることが容
易に行なうことができ、品質管理上より好ましいもので
ある。
脚部を半円溝部の曲面に当接し、しかる後にダイヤルゲ
ージの計測端子を曲面に当接すれば良いのでその計測の
為の作業性は著しく向上したものであり、さらにはその
半円溝部の半径を数値でもってとらえることができたの
で例えば半円溝部の中に弁体を選択嵌合させることが容
易に行なうことができ、品質管理上より好ましいもので
ある。
第１図は本発明になる半円溝部の溝半径測定具の一実施
例を示す平面図であり、第２図は半円溝部と測定具の関
係を示す線図である。 ヌ７ａ
例を示す平面図であり、第２図は半円溝部と測定具の関
係を示す線図である。 ヌ７ａ
Claims (1)
- 試料に穿設される半円溝部の溝半径を計測する溝半径測
定具において、治具本体５の中心線Ｘ−Ｘより両側方へ
等間隔Ａ、Ａで且つ治具本体５の中心線Ｘ−Ｘ方向にお
いて等長Ｂ、Ｂなる計測脚部５Ｃ、５Ｃを設け、一方治
具本体５の中心線Ｘ−Ｘ上で且つ治具本体５の計測脚部
５Ｃ、５Ｃの間にダイヤルゲージ４の計測端子４Ａを配
置してなる半円溝部の溝半径測定具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25655186A JPS63109301A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 半円溝部の溝半径測定具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25655186A JPS63109301A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 半円溝部の溝半径測定具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63109301A true JPS63109301A (ja) | 1988-05-14 |
Family
ID=17294210
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25655186A Pending JPS63109301A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 半円溝部の溝半径測定具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63109301A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5033661B1 (ja) * | 1969-06-09 | 1975-11-01 | ||
| JPS5239160B2 (ja) * | 1972-09-26 | 1977-10-03 |
-
1986
- 1986-10-28 JP JP25655186A patent/JPS63109301A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5033661B1 (ja) * | 1969-06-09 | 1975-11-01 | ||
| JPS5239160B2 (ja) * | 1972-09-26 | 1977-10-03 |
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