JPS63108447A - 入出力機器監視装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、入出力機器監視装置に関し、詳しくは種々の
入出力機器を接続したコンピュータシステム等の情報処
理システムに適用して好適な入出力機器監視装置に関す
るものである。

［従来の技術］ コンピュータシステムには、一般に、種々の入出力機器
が結合されている。

従来、このようなシステムにおいては、電源没入時等の
自己診断を行う場合を除き通常運転中は結合した入出力
機器から実際に入出力要求があり、その要求に対する処
理を行うまではその入出力機器が正常動作をするか否か
をコンピュータを構成するＣＰＩＩが認識することはで
きなかった。

特に、入力機器に関しては、その正常動作の有無をＣＰ
ｕが認識することは半永久的にできず、何らかの障害が
あった場合には、システムを用いる操作者の判断により
はじめて異常が発見され、これが除かれるのが常であっ
た。

［発明が解決しようとする問題点コ このようなシステムにあっては、操作者がシステムを使
用する段になってはしめて入出力機器の異常に気づくこ
とが多いため、何らかの修理によって障害が除去される
までの時間を無駄にしたり、あるいはシステムによって
は日を替えて処理を行わなければならないという不都合
が生じることになる。

［問題点を解決するための手段コ 本発明は、かかる問題点を解決し、入出力機器の動作を
適切に監視できるようになしてシステム運用を円滑に行
えるようにするとともに、システムの信頼性を向上でき
る入出力機器監視装置を提供することを目的とする。

そのため、本発明では、第１図に示すように、情報処理
システムのシステム制御装置１００に配設され、当該情
報処理システムに結合された入出力機器１１０に対し、
その異常テスト開始の指令Ｃを周期的に送出するテスト
起動手段１０（ＩＡと、入出力機器１１（ｌに配設され
、指令Ｃに応じて当該入出力機器１１０各部の異常判定
処理を行う異常判定処理手段１１０Ａとを具えたことを
特徴とする。

［作　用コ すなわち、本発明によれば、入出力機器１１０は定期的
にその異常の有無が判定されるようになり、従って情報
処理システムの操作者は速かに対処することが可能とな
る。

［実施例］ 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。

第２図は、本発明を適用可能なコンピュータシステムの
一構成例を示す。ここで、１はコンピュータ形態のＣＰ
ｕであり、第５図（八）および（Ｂ）　　につき後述す
る処理手順を含め、各種処理手順に従ってシステム全体
を制御する。２はメモリ部であり、（：ＰＵｌが実行す
る第５図（Ａ）および（Ｂ）に示す処理手順等に従った
プログラムを格納したＲＯＭ２Ａ　、および各１１０機
器に対応させて設けた第３図につき後述するフラグ領域
等作業用の領域を有するＲＡＭ２Ｂから成る。３は、１
秒あるいは１０秒等所定周期で動作するタイマ部であり
、各１１０機器の異常監視を各１１０機器に対応させた
所定時間毎に起動するための処理に供する。

ｌ１０１は、操作者が人力操作を行うための操作卓（コ
ンソール）であり、当該操作人力等を確認するためのモ
ニタを有していてもよい。１１０２．ｌ１０３およびｌ
１０４は外部記憶装置形態の１１０機器であり、それぞ
れ、ハードディスク等を用いる磁気ディスク装面、フロ
ッピディスク装置および磁気テープ装置である。工１０
５−は画像出力を行う１１０機器であり、具体的には表
示を行うグラフィックディスプレイ装置である。また、
ｌ１０６〜ｌ１０１０はその他の入出力機器てあり、シ
ステム構成に応じて適宜のものを接続できる。

これら機器Ｉ／旧〜ｌ１０１０には、第４図につき後述
するような異常テスト部が設けられており、（：ＰＵｌ
の指令に応じて第６図（八）および（Ｂ）　　に示す異
常テスト処理を実行する。

第３図はＲＡＭ２Ｂの記憶領域上のメモリ空間の構成例
を示す。ここで、Ｆは各機器Ｉ１０１〜ｌ１０１０の異
常または正常を示すために用いるフラグであり、異常時
にセットされ、正常時にリセット／される。また、各１
１０機器において１以上の異常ステータスが生じ得るも
のであれば、この領域に関連してそのステータス数に応
じてこの領域を増してもよい。

ＴＰは各機器１１０１−１１０１０のテスト周期設定の
ために用いる領域であり、タイマ３の計時動作の何周期
毎にテスト処理を起動するかを各機器に対応させて格納
する。ＴＣはタイマ３の１周期毎に歩進されるカウンタ
であり、各機器１１０１〜ｌ１０１０に対応させて設け
である。而して、このカウント値がテスト周期設定値に
等しくなったときに、第５図および第６図につき後述す
るテスト処理が実行される。

第４図は各１１０機器の構成を説明するために、外部記
憶装置としての機器ｌ１０２〜■１０４の一構成例を示
す。ここで、２１はＣＰＵＩとの間で各種データの授受
を行うと共に、以下の各部を第６図（Ａ）および（［１
）につき後述する処理手順に従って制御するＣＰＵであ
り、例えはマイクロコンピュータの形態を有する。２２
はその（：ＰＵ２１が実行する第６図（Ａ）た および（Ｂ）の処理手順等に従っ／プログラムを格納し
たＲＯＭである。２３はその処理過程において作業用等
に用いられるＲＡＭであり、装置各部の異常ステータス
がｎ個あるとすれば、それに応じて異常ステータス１〜
ｎの格納用の領域を設けておいてもよい。

２４は記憶媒体２５に対し情報の読出しくリード）、書
込み（ライト）および消去を行うリード／ライト回路で
あり、記憶媒体２５の形態に応じて種々の構成とするこ
とができる。例えば、記憶媒体２５としてフロッピディ
スクを用いるフロッピディスク装置ｌ１０３であれば、
それに適合する磁気ヘッド等を具えた構成とすることが
できる。

なお、このような構成は機器１１０１，１１０５〜１１
０１０等、結合される１１０機器の形態に応じて適宜変
形すればよく、本発明に係るテスト処理機能を付加する
ためには上記各部２１〜２３を設けた構成とすればよい
。

第５図（Δ）および（１１）はＣＰｕ側が行うテスト処
理手順の一例を示す。まず、ステップＳ１にて、ＲＡＭ
２Ｂの領域ＴＰに各ｌ１０１〜ｌ１０１０のテスト周期
設定値（タイムアツプ値）を格納し、タイマ３の動作周
期何周期分でテストＩ１０コマンドを出力するかを決定
する。このセットは、システムの使用開始時にコンソー
ル■１０１を介して人力してもよく、あるいは予め定め
た固定の値としてもよい。後者の場合には、その固定デ
ータを機器ｌ１０２〜ｌ１０４のような外部記憶から読
込んで展開するようにしてもよく、あるいは領域ＴＰを
ｒｌＡＭ２Ｂに設けるかわりに、１１０Ｍ２八に展開し
たものであってもよい。

ステップＳ３ではタイマ３のカウントアツプを待機し、
カウントアツプした時点でステップＳ５に進み、ＲＡＭ
２Ｂの領域ＴＣに設けたコンソールｌ１０１のテストカ
ウンタを歩進する。次いで、ステップＳ７にてそのテス
トカウンタの値とテスト周期設定値とを比較し、カウン
タ値≧設定値であればステップＳ９に進み、コンソール
ｌ１０１にテストコマンドを送出すると共に、テストカ
ウンタをクリアして次回のテストに備える。

次いで、ステップＳｌｌにて、コンソールｌ１０１から
のエラー有無情報を判定し、エラーがあった場合にはス
テップＳ１３の入出力装置異常処理（第５図（Ｉｔ）に
示す）を実行する。

ステップＳ７で否定判定された場合、ステップＳｌｌで
否定判定された場合、またはステップＳ１３の処理後に
は、機器１１０２〜ｌ１０１０について同様の処理を行
い、その後ステップｓ３に復帰する。

ステップ５１３の入出力装置異常処理では、第５図（Ｂ
）に示すように、まずステップ５１３１にてエラー情報
に基づきＲＡＭ２［１の領域Ｆに設けた該当する機器Ｉ
１０の異常フラグをオンとする。次いで、ステップ５１
３３にて、コンソールｌ１０１に設けである表示器また
はグラフィックディスプレイ装置１１０５の表示エリア
にその旨をメツセージとして表示出力し、もしくは警報
音等を出力し、操作者に認識せしめる。

次に、ステップ５１３５で異常が生じた機器の自己復旧
が可能であるかを判定し、肯定判定された場合にはステ
ップ５１３７にてその機器に対応した適宜の復旧処理（
命令、データの送出等）を行う。

第６図（八）および（Ｂ）は１１０機器が行う処理手順
として、外部記憶装置■１０２〜ｌ１０４の行う処理手
順の一例を示す。まず、ステップ５２１にて、（：ＰＩ
１１側よりコマンドの入力があると、そのコマンドを解
析し、その内容に応してライト処Ｊｌｊ　（ステップ５
２３）、リード処理（ステップ５２５）、コントロール
処理（ステップ５２７）、テスト処理（ステップ５２９
）またはリセット処理（ステップ５３１）が起動され、
その処理が行われる。ＣＰＩＪＩ側から送出されたコマ
ンドがテストコマンドである場合、すなわち、上記ステ
ップ５９等に関連して送出されてぎたデス１〜コマンド
である場合には、第６図（１１）に示すステップ５２９
のテスト処理が起動される。

テスト処理では、まずステップ５２９１にて擬似的なラ
イト処理を行い、次いでステップ５２９２にてエラーの
有無を判定する。ここで例えばデータ書込み不能等のエ
ラーが生じた場合にはステップ５２９３に進み、ＲＡＭ
２３内の領域に異常ステータス１をセツトすると共にそ
の旨をＣＰＩＩ側に通知する。

擬似ライト処理でエラーが生じなかった場合には、ステ
ップ５２９４に進み、擬似ライト処理と同様に擬似リー
ド処理に関してステップ５２９５のエラー判定を行った
後、ステップ５２９６または５２９７に８行する。

ステップ５２９７ではステップＳ２９１で書込んだデー
タとステップ５２９４で読出したデータとの比較を行い
、両者が不一致であれば異常が生じたとしてステップ５
２９８に進み、一致していれば正常であるとしてステッ
プ５２９９を実行する。

而して、異常ステータスに対してＣＰ旧側が実行する処
理は、第５図（Ｂ）に関して上述した通りである。

なお、以上述べた実施例においては、特に外部記憶装置
である■１０２〜ｌ１０４について説明した（第４図、
第６図（Ａ）および（Ｂ））が、コンソール１１０１、
グラフィックディスプレイ装置ｌ１０５およびその他の
機器工１０５〜ｌ１０１０に対しても同様の手順を適用
できるのは勿論である。

［発明の効果コ 以上説明したように、本発明によれば、入出力機器の動
作監視を定期的に行うようにしたので、異常が生じた場
合これを速かに復旧できるようになり、システム運用の
円滑化並びにシステムの信頼性の向上が達成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の全体構成図、 第２図は本発明を適用可能なコンピュータシステムの一
構成例を示すブロック図、 第３図は入出力機器のエラー監視処理のために設けた記
憶類１域上のメモリ空間の構成例を示す説明図、 第４図は監視に係る入出力機器の一構成例を示すブロッ
ク図、 第５図（Ａ）および（Ｂ）は入出力機器のエラー監視の
ためにシステムのＣＰＩＩが実行する処理手順の一例を
示すフローチャート、 第６図（Ａ）および（Ｂ）は監視に係る入出力機器が行
う処理手順の一例を示すフローチャートである。 １・・・ｃｐｕ　。 ２・・・メモリ部、 ２Ａ・・・ｌｌ０Ｍ　。 ２Ｂ・・・ＲへＭ１ ３・・・タイマ、 ２１・・・ｃｐｕ　。 ２２・・・ＩｔＯＭ　。 ２３・・・ＲへＭ１ ２４・・・リード／ライト回路、 ２５・・・記憶媒体、 １１０１〜■１０１０・・・入出力装置、Ｆ・・弓１０
機器異常フラグ領域、 ＴＰ・・弓１０機器テスト周期設定領域、ＴＣ・・弓１
０機器テストカウンタ。 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）情報処理システムのシステム制御装置に配設され、
   当該情報処理システムに結合された入出力機器に対し、
   その異常テスト開始の指令を周期的に送出するテスト起
   動手段と、 前記入出力機器に配設され、前記指令に応じて当該入出
   力機器各部の異常判定処理を行う異常判定処理手段とを
   具えたことを特徴とする入出力機器監視装置。 ２）特許請求の範囲第１項記載の入出力機器監視装置に
   おいて、前記テスト起動手段は、前記情報処理システム
   に結合された複数の入出力機器に対し、それぞれ異った
   周期で前記指令を送出する手段を有することを特徴とす
   る入出力機器監視装置。