JPS6310328A - トラツキング制御回路 - Google Patents

トラツキング制御回路

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JPS6310328A
JPS6310328A JP15526186A JP15526186A JPS6310328A JP S6310328 A JPS6310328 A JP S6310328A JP 15526186 A JP15526186 A JP 15526186A JP 15526186 A JP15526186 A JP 15526186A JP S6310328 A JPS6310328 A JP S6310328A
Authority
JP
Japan
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photosensor
offset
error signal
disk
tracking
Prior art date
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Pending
Application number
JP15526186A
Other languages
English (en)
Inventor
Shoichi Yoshii
正一 吉居
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
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Publication of JPS6310328A publication Critical patent/JPS6310328A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は光学式ピックアップ装置のトラッキング制御回
路に関する。
(ロ) 従来の技術 光学式ピックアップ装置に於けるトラッキング制御方式
としては、三つのビームを利用した3ビ一ム方式や、一
つのビームを利用して二分割フォトセンサの出力差を演
算してトラッキングエラー信号を作成するプツシニブル
方式が周知である。
1ビームを利用する上記プツシニブル方式に於いて、ビ
ームの光軸がディスク面に直角になっているい場合、正
しいトラッキング状態にあるにも拘らず、トラッキング
エラー信号が発生し、誤ったトラッキング制御を行う可
能性がある。即ち、ビームは正しくディスクのトラック
を照射しているが、その反射ビームは二分割フォトセン
サKfiして均等に入射されず、木米生じてはならない
トラッキングエラー信号が生じることになり、ll@動
作が発生する。
即ち、第5図(イ)に於いてピックアップillはディ
スフ(D)のラジアル方向に移動されるのであるが、ピ
ックアップfil内に配置される二分割フォトセンサ(
S)の分割方向はラジアル方向となっている。それ故、
ピックアップ(1)の光軸がディスク面に直角となって
いない場合、ディスクの回転にF5@t、て二分割フォ
トセンサ(S)上のビーム(B)ij第4図に示す如く
回転する。さて、上記光軸の傾き(スキュー角)〔光軸
とディスク表面に対する垂直軸とがなす角〕のうち、タ
ンジェンシャル方向成分の傾きは(第5図(ハ)参照)
、フォトセンサ(S)のビーム(B)iタンジェンンヤ
〃方向に変位させるのでトラッキングエラー信号に悪影
響企及ぼさなハが、ラジアル方向成分の傾きl−1(@
5図(ロ)参照)、フォトセンサ(S)のビーム(B)
全ラジアル方向に変位させるので、瞑ったトラッキング
エラー信号を生じさせることになる。尚、@5図に於い
て(2)は対物レンズを示している。
ところで、上述した光学式ピックアップ装置に於いて、
ディスク表面に対するビーム光軸の傾き(スキュー)を
検出してこれを補正する技術は、例えば特開昭60−3
8743号に開示されている。然し乍ら、所かる従来技
術にあっては、前記スキューを検出する為にディスクの
半径方向の二位置に対して検出手段を設ける必要があり
、更にスキューを補正するに際してピックアップ自身の
傾きを制御している為、構造が極めて複雑となっていた
(ハ)発明が解決しようとする問題点 本発明は、簡単な構成にて、前述したスキニーに基因す
るトラッキング制御の1!!動作を防止せんとするもの
である。
に)問題点を解決する為の手段 本発明に於いては、ビームの光軸きディスク表面に対す
る垂直軸上の傾きに基因して発生するトラッキングエラ
ー信号のオフセットを、ビームのディスク上に於ける照
射位置及びフォーカスエラー信号に基いて演算するオフ
セット補償回路を設け、このオフセット補償回路より出
力されるオフセット補償信号をフォトセンサの出力に加
算し、これをトラッキングエラー信号として導出する構
成とする。
(ホ)作用 ディスクの反り等に基因してディスクの面振れが発生し
、以って焦点づれが発生すると、これに応答して対物レ
ンズを駆動させる為にフォーカスエラー信号が発生する
。一方、ディスクの而振れによりスキューが発生するの
で、結局、スキューの大きさはフォーカスエラー信号の
大きさに比例する。また、フォーカスエラー信号の大き
さ即ち焦点づれの量は、同じスキュー角度であっても、
ビームのディスクの照射位置に対応して変化する。
従ってフォーカスエラー信号の大きさ及びビームのディ
スクの照射位置に基いてスキニーの大きさく角度)ヲ求
めることができる。そして、スキューの大きさから、ス
キューに基因するトラッキングエラー信号のオフセット
を求めることができる。
それ故、オフセット補償回路によりこのオフセットを求
め、このオフセットに基くオフセット補償信号をフォト
センサ出力に加算することによりスキューに基因するオ
フセットを打消すことができる。
(へ)実施例 一般にNA(開口数)−0,45〜0.5程度のレンズ
で、λ(波長)=780nmの半導体レーザを使用した
場合、焦点深度はλ/(NA)  より±3〜4μm程
度である。一方、直径120mmのディスクで#−を最
大±200μmものディスク面振れが発生し、以ってス
キニーが発生する事になる。この焦点深度範囲外の焦点
づれに対してはフォーカスサーボが駆動され、対物レン
ズが上下に変位する。
今、フォーカス制御コイルに電圧yyが印加された時の
対物レンズ(2)の変位をδとすると、a=AVF但し
、ACmm/V〕は比例定数となる。対物レンズ(2)
のディスク(D)中心からの位置に/、ディスク(DJ
のラジアル方向スキュー角をθ、無焦点れ量を△fとす
ると(第3図参照)、△f=ltan  θ となる。ディスクのピット上でフォーカスサーボがかか
れば、 δ=△f 故にAVF=/lanθ となる。この式より、ピックアップの対物レンズの位置
(1)、フォーカスコイル電圧(VF)よりディスク(
D)のラジアル方向スキュー角(θ)を釆めることがで
きる。ディスクのラジアル方向スキニー角がσのときの
フォトセンサ(S>上に於けるビーム(B)の変位を△
とすると(第2図参照)0 △=a・θ 但し、aけピックアップの光学系により定まる定数。
さて、フォトセンサ上に於けるビーム強度tlとしたと
き、そのときのフォトセンサ出力TViT=αIとなる
。但し、αは比例定数。
今、ディスクのラジアル方向のスキュー角がθであり、
フォトセンサ(S)上に於いてビームの変位(Δ)が生
じているとし、そのと西の二分割フォトセンサ(81,
S2)に於けるビーム強度(It。
II )を13次次元間に於けるガウス分布強度の式に
基いて求める。
フォトセンサ(S)面上をχ、y軸とし、光軸Iz軸と
する。そして、ビームの中心強度t″lllとして標準
化して(It、rg>k求める。
I (Z 、 y 、 z )=*o/a+(z)EX
P[−i (Az −l )   32 (1/、! 
(z)十’ 4□)]ω2(z)=ω11(1+(λ殉
−82)2)R=Z(1+(0/AZ)) #−Tan−”(λ”/ycaa 2 )R2=χ2+
y2 (但し#0け最小ビーム径) 上記式をχ、y、z空間で積分すれば、T1゜1$1を
求めることができる。
)1=弓J!、1/j I(z、y、z)dχdydz
12e=μ行、G、(z、y、z)ldydz従って、
二分割フォトセンサの出力(Tl 、Tりの聞には △RE=T1−”l’2 =α(II−12) なるトラッキングエラー信号のオフセットが生じること
になる。それ故、このトラッキングオフセット(ΔRE
)を打消すような補償信号をフォトセンサ(51,S2
)の出力(TI、T2)に印加してやれば良い。
第1図に示す実施例に於いて、(D)はディスク、+2
1H対物レンズ、(3)はフォーカス制御用コイル、(
4)はプリズム、(Sl、S2)#−j二分割フォトセ
ンサ、−+61は減算回路、(6)はフォーカス信号用
増幅回路、(7)#′i、オフセット補償回路である。
フォーカス信号用増幅回路(7)にはフォーカスエラー
信号が入力され、フォーカス制御電圧(VF)が作成さ
れ、この電圧(VF)がフォーカス制御用コイA/13
1及びオフセット補償回路(7)に印加される。オフセ
ット補償回路(7)にはピックアップのビーム照射位置
即ちラジアル方向に関する位置を示す信号(a)も印加
されている。斯かる信号(a)は、ディスクがコンパク
トディスクである場合は、アドレス信号(Qチャンネル
サブコード信号)に基いて作成することができる。
オフセット補償回路i71では信号(VF)(a)に基
いて前記△REを求める演算が為され、フォトセンサ出
力(T1)に対して−△RE/2を、フォトセンサ出力
(T2)に対して△RE/ffi’)出力する。すると
、減算回路(6)より得られるトラッキングエラー信!
(RE )は RE=(TをΔRE/2)−(T2+ΔRE/2 )=
(TI−T2)−△RE =0 となり、スキニーに基くトラッキングオフセットは打消
されることになる。
(ト)発明の効果 以上述べた本発明に依れば、スキニーに基因して発生す
るトラッキングエラー信号のオフセットを確実に打消す
ことができるので、実際のトラッキング状態に基く正確
なトラッキングエラー信号を得ることができ、以って正
確なトラッキング制御を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るトラッキング制御回路を示す図、
第2図はフォトセンサとビームの関係金示す図、第3図
はスキュー角(θ)と焦点づれJi(△f)の関係を説
明する図、第4図はフォトセンサ上に於けるビームの変
位を説明する図、第5図はディスクのスキニーを説明す
る図である。 (1)はピックアップ、(2)は対物レンズ、(7)は
オフセット補償回路、(S)は二分割フォトセンサO

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学式ピックアップより出射される一つのビーム
    をディスクのトラックに対して照射し、このビームの反
    射ビーム若しくは透過ビームをフォトセンサにて受光し
    、以ってこのフォトセンサよりフォーカスエラー信号及
    びトラッキングエラー信号を得ると共に、前記ビームの
    光軸とディスク表面に対する垂直軸との傾きに基因して
    発生するトラッキングエラー信号のオフセットを補償す
    る構成としたトラッキング制御回路であって、前記トラ
    ッキングエラー信号のオフセットを前記ビームのディス
    ク上に於ける照射位置及びフォーカスエラー信号に基い
    て演算するオフセット補償回路を設け、前記オフセット
    補償回路より出力されるオフセット補償信号を前記フォ
    トセンサの出力に加算する構成としたことを特徴とする
    トラッキング制御回路。
JP15526186A 1986-07-02 1986-07-02 トラツキング制御回路 Pending JPS6310328A (ja)

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JP15526186A JPS6310328A (ja) 1986-07-02 1986-07-02 トラツキング制御回路

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JP15526186A Pending JPS6310328A (ja) 1986-07-02 1986-07-02 トラツキング制御回路

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0339819A (ja) * 1989-07-05 1991-02-20 Rinnai Corp 遠隔操作器付き制御装置
US5759150A (en) * 1995-07-07 1998-06-02 Olympus Optical Co., Ltd. System for evulsing subcutaneous tissue
JP2002373434A (ja) * 2001-06-14 2002-12-26 Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd 光ディスク記録装置及びそのトラックオフセット制御方法

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