JPH0354732A - 光学式情報記録再生装置 - Google Patents
光学式情報記録再生装置Info
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- JPH0354732A JPH0354732A JP19271189A JP19271189A JPH0354732A JP H0354732 A JPH0354732 A JP H0354732A JP 19271189 A JP19271189 A JP 19271189A JP 19271189 A JP19271189 A JP 19271189A JP H0354732 A JPH0354732 A JP H0354732A
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- light
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- optical
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 68
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、フォーカスエラー信号における位置ずれ情報
信号のオフセットを除去することのできる光学式情報記
録再生装置に関する。
信号のオフセットを除去することのできる光学式情報記
録再生装置に関する。
光ディスク等を情報記録媒体とする光学式情報記録再生
装置は、光学式ビックアップにより情報記録媒体に光ビ
ームを照射し、そこからの反射光を検出して行うように
なっている。この光学式ピックアップは、最近、目的の
トラックに追従させるに際し高速アクセス化等が要求さ
れ、分離型ピックアップが普及し始めている。
装置は、光学式ビックアップにより情報記録媒体に光ビ
ームを照射し、そこからの反射光を検出して行うように
なっている。この光学式ピックアップは、最近、目的の
トラックに追従させるに際し高速アクセス化等が要求さ
れ、分離型ピックアップが普及し始めている。
これは光学式ピックアップが、少なくとも光源を設けた
固定部と、少なくともこの光源からの光ビームを情報記
録媒体の所定の位置に照射するための反射部材を設けた
可動部とに分離して或るものである.このように光源を
有する光学系を分離固定しているため、光源部の組立、
調整が容易であるとともに、トラッキング制御は可動部
に組み込まれる反射部材や対物レンズを移動調整するこ
と及び/又は可動部全体を移動することにより高精度に
行うことができる。さらに、光ビームをトラックを横断
して大幅に移動させるときには、光源部と分離した可動
部全体をスライダ構造等を介して移動させることにより
行うことができる。
固定部と、少なくともこの光源からの光ビームを情報記
録媒体の所定の位置に照射するための反射部材を設けた
可動部とに分離して或るものである.このように光源を
有する光学系を分離固定しているため、光源部の組立、
調整が容易であるとともに、トラッキング制御は可動部
に組み込まれる反射部材や対物レンズを移動調整するこ
と及び/又は可動部全体を移動することにより高精度に
行うことができる。さらに、光ビームをトラックを横断
して大幅に移動させるときには、光源部と分離した可動
部全体をスライダ構造等を介して移動させることにより
行うことができる。
この分離型ピックアップにおいてトラッキング制御を行
う場合、次のような不具合が生じることがある。つまり
、固定部からの出射光が可動部の可動軸に対して傾きを
持っている場合、機械的誤差により光ディスクの半径上
位置によって可動部にタンジエンシャル方向の位置ずれ
が発生する場合、光学式情報記録再生装置内の部位の熱
特性の影響により光軸ずれが発生する場合、ディスクに
タンジェンシアル方向の傾きがある場合、光学系に対す
るスピンドルモータのターンテーブルの傾きが熱特性等
の影響で経年的に変化した場合、またタンジエンシャル
方向に洩れ込んでいるディスク溝横断信号がある場合等
にフォーカスエラー信号に位置ずれによるオフセットが
生じることがある。
う場合、次のような不具合が生じることがある。つまり
、固定部からの出射光が可動部の可動軸に対して傾きを
持っている場合、機械的誤差により光ディスクの半径上
位置によって可動部にタンジエンシャル方向の位置ずれ
が発生する場合、光学式情報記録再生装置内の部位の熱
特性の影響により光軸ずれが発生する場合、ディスクに
タンジェンシアル方向の傾きがある場合、光学系に対す
るスピンドルモータのターンテーブルの傾きが熱特性等
の影響で経年的に変化した場合、またタンジエンシャル
方向に洩れ込んでいるディスク溝横断信号がある場合等
にフォーカスエラー信号に位置ずれによるオフセットが
生じることがある。
第5図は、上記光軸ずれが発生ずる状態の1例を示した
もので、これによると光ディスク内周に位置する可動部
20が可動軸Aに対しある傾き誤差を持っている場合、
可動部20が移動して光ディスク外周の20aに位置す
ると固定部21において受光する光ビームの光軸は、δ
分だけずれを生じていることが明らかである。なお、2
2は光ディスクを回転させるスピンドルモータの位置を
示す。
もので、これによると光ディスク内周に位置する可動部
20が可動軸Aに対しある傾き誤差を持っている場合、
可動部20が移動して光ディスク外周の20aに位置す
ると固定部21において受光する光ビームの光軸は、δ
分だけずれを生じていることが明らかである。なお、2
2は光ディスクを回転させるスピンドルモータの位置を
示す。
この分離型ビックアンプの光軸ずれを解決するための手
段として、特開昭61−182640号公報には移動部
の反射部材に入射する光の入射角変化を検出し、この検
出結果に基づいて入射角変化を打ち消すように反射部材
を調整して、ヨーイング等による固定部と可動部との相
対位置の変化を補正するようにした内容が開示してある
。
段として、特開昭61−182640号公報には移動部
の反射部材に入射する光の入射角変化を検出し、この検
出結果に基づいて入射角変化を打ち消すように反射部材
を調整して、ヨーイング等による固定部と可動部との相
対位置の変化を補正するようにした内容が開示してある
。
ところが、この方法は可動部に光軸ずれ検出用の2分割
光検出器を設けなければならない。またこの2分割光検
出器へ光線を導くためのビームスプリンタも設けなけれ
ばならないため、可動部の重量が増しシーク特性が劣化
するという不具合がある。
光検出器を設けなければならない。またこの2分割光検
出器へ光線を導くためのビームスプリンタも設けなけれ
ばならないため、可動部の重量が増しシーク特性が劣化
するという不具合がある。
次に特開昭61−14863号公報には、アクチュエタ
に入る光ビームの入射光を2つに分離し、一方を通常の
記録・再生・消去を行う光ビームとし、他方をアクチュ
エー夕内で反射させ、その反射量とディスクからの反射
光とを再度同一光路を通させた後、固定光学系内で両反
射ビームを分離し、後者の反射ビームから検出された光
点制御信号に補正をかけ、光軸ずれの影響を除去するよ
うにした内容が開示してある。
に入る光ビームの入射光を2つに分離し、一方を通常の
記録・再生・消去を行う光ビームとし、他方をアクチュ
エー夕内で反射させ、その反射量とディスクからの反射
光とを再度同一光路を通させた後、固定光学系内で両反
射ビームを分離し、後者の反射ビームから検出された光
点制御信号に補正をかけ、光軸ずれの影響を除去するよ
うにした内容が開示してある。
ところが、この方法は可動部に光軸ずれ検出用のビーム
スプリンタ、λ/4板、壽ラーを設ける必要があるため
可動部重量が増しシーク特性が劣化するという不具合、
また光軸ずれ検出器へ光線を導くためのビームスプリン
タを固定部に設けているためレーザヘ戻るP偏光或分が
大きいという不具合がある。
スプリンタ、λ/4板、壽ラーを設ける必要があるため
可動部重量が増しシーク特性が劣化するという不具合、
また光軸ずれ検出器へ光線を導くためのビームスプリン
タを固定部に設けているためレーザヘ戻るP偏光或分が
大きいという不具合がある。
本発明は、上記不具合を解決すべく提案されるもので、
可動部に追加部品を設けず、固定部にビームスプリッタ
、2分割光検出器を設けることによりタンジェンシャル
方向の光軸ずれ、ディスク溝横断信号等を検出してフォ
ーカス信号における位置ずれ情報信号のオフセットを除
去することのできる光学式情報記録再生装置を提供する
ことを目的としたものである。
可動部に追加部品を設けず、固定部にビームスプリッタ
、2分割光検出器を設けることによりタンジェンシャル
方向の光軸ずれ、ディスク溝横断信号等を検出してフォ
ーカス信号における位置ずれ情報信号のオフセットを除
去することのできる光学式情報記録再生装置を提供する
ことを目的としたものである。
〔課題を解決するための手段及び作用〕本発明は、上記
目的を達或するため少なくとも光源、フォーカスエラー
検出系、情報信号検出系を有する固定部と、少なくとも
対物レンズを有する可動部とを設けた光学式情報記録再
生装置において、情報記録媒体からの反射光を光源へ戻
る光路とサーボ信号検出系、情報信号検出系へ2の光路
に分割する第1のビームスブリツタ、及び前記サーボ信
号検出系、情報信号検出系への光束を光軸ずれ、ディス
ク傾き、ディスク溝横断信号等によるオフセットを含ん
だフォーカスエラー信号を検出する手段と光軸ずれ、デ
ィスク傾き、ディスク溝横断信号等によるオフセットの
みの信号を検出する手段に分割する第2のビームスプリ
ッタを有する固定部と、該固定部の両検出手段により得
たタンジェンシャル方向の差動信号同士の差動演算を行
う演算手段を設けた構成とした。
目的を達或するため少なくとも光源、フォーカスエラー
検出系、情報信号検出系を有する固定部と、少なくとも
対物レンズを有する可動部とを設けた光学式情報記録再
生装置において、情報記録媒体からの反射光を光源へ戻
る光路とサーボ信号検出系、情報信号検出系へ2の光路
に分割する第1のビームスブリツタ、及び前記サーボ信
号検出系、情報信号検出系への光束を光軸ずれ、ディス
ク傾き、ディスク溝横断信号等によるオフセットを含ん
だフォーカスエラー信号を検出する手段と光軸ずれ、デ
ィスク傾き、ディスク溝横断信号等によるオフセットの
みの信号を検出する手段に分割する第2のビームスプリ
ッタを有する固定部と、該固定部の両検出手段により得
たタンジェンシャル方向の差動信号同士の差動演算を行
う演算手段を設けた構成とした。
このように、記録、再生、消去、フォーカスエラー、ト
ラッキングエラー検出用の主ビームの情記録媒体からの
反射光をフォーカスエラー信号を検出しないフォトディ
テクタへ導き、光軸ずれ、ディスク傾き、ディスク溝横
断信号等によって生じる反射光の光量分布ずれを検出し
、その値をフォーカスサーボルーブへフィードバックす
ることにより、光軸ずれ等によるフォーカスオフセット
を除去できる。
ラッキングエラー検出用の主ビームの情記録媒体からの
反射光をフォーカスエラー信号を検出しないフォトディ
テクタへ導き、光軸ずれ、ディスク傾き、ディスク溝横
断信号等によって生じる反射光の光量分布ずれを検出し
、その値をフォーカスサーボルーブへフィードバックす
ることにより、光軸ずれ等によるフォーカスオフセット
を除去できる。
第1図Aは、本発明の第1実施例を示す構成図である。
この装置は、スピンドルモータ11により回転するディ
スク10の下方に可動部が配設してある。この可動部1
2には、光源からの光を反射する反射部材9aおよび光
ビームをディスク10表面に集光する対物レンズ9ba
設けてあり、トラッキング制御は可動部全体12および
/又は対物レンズ9bを移動することによって行うよう
にしてある。
スク10の下方に可動部が配設してある。この可動部1
2には、光源からの光を反射する反射部材9aおよび光
ビームをディスク10表面に集光する対物レンズ9ba
設けてあり、トラッキング制御は可動部全体12および
/又は対物レンズ9bを移動することによって行うよう
にしてある。
可動部12に対して固定部13が設けてあり、分離光学
系を成している。固定部l3には光源としてのレーザー
ダイオード1が設けてあり、ここから出射された光ビー
ムはコリメートレンズ2を介して平行光束となり、ビー
ムスプリッタ3に入射されほとんどの光ビームは透過し
て可動部12の反射部材9aで対物レンズ9b方向へ反
射され、対物レンズ9bを介してディスク10表面に集
光照射されるようになっている. ディスク10の記録層からの反射光は、前記対物レンズ
9bで集光されてほとんど平行光束とされ、前記反射部
材9aで反射されて固定部13のビームスプリッタ3に
入射する。ここでほとんどが反射され検出系へと導かれ
るようになっている。このようにして前記ビームスプリ
ッタ3で反射され、検出系のビームスプリッタ4に導か
れた光ビームは反射されて一方の光ビームは臨界角プリ
ズム6に入射し、この臨界角プリズム6で反射された光
ビームは光検出器である分割PD(フォトダイオード)
8でフォーカスエラー信号を検出するようになっている
。このようにしてフォーカスエラーを検出する方法は、
鴎界角法と称せられる。
系を成している。固定部l3には光源としてのレーザー
ダイオード1が設けてあり、ここから出射された光ビー
ムはコリメートレンズ2を介して平行光束となり、ビー
ムスプリッタ3に入射されほとんどの光ビームは透過し
て可動部12の反射部材9aで対物レンズ9b方向へ反
射され、対物レンズ9bを介してディスク10表面に集
光照射されるようになっている. ディスク10の記録層からの反射光は、前記対物レンズ
9bで集光されてほとんど平行光束とされ、前記反射部
材9aで反射されて固定部13のビームスプリッタ3に
入射する。ここでほとんどが反射され検出系へと導かれ
るようになっている。このようにして前記ビームスプリ
ッタ3で反射され、検出系のビームスプリッタ4に導か
れた光ビームは反射されて一方の光ビームは臨界角プリ
ズム6に入射し、この臨界角プリズム6で反射された光
ビームは光検出器である分割PD(フォトダイオード)
8でフォーカスエラー信号を検出するようになっている
。このようにしてフォーカスエラーを検出する方法は、
鴎界角法と称せられる。
一方、前記ビームスプリッタ4を透過した他方の光ビー
ムは、集光レンズ5で集光されて光検出器である分割P
D7で受光される。ここではフォーカスエラー信号を検
出せず、光束のずれや光束内の光量分布を検出するよう
になっている(なお光量分布検出のためには、集光レン
ズ5は必ずしも必要ではないことはいうまでもない).
第1図Bは、フォーカスエラー信号を検出するための検
出系の動作を示したものである.先ず分割PD8でタン
ジエンシャル方向に差動の演算をしてフォーカスエラー
信号を検出する。この場合フォーカスエラー信号の中に
は、光軸ずれ等によるオフセットも含まれている。一方
、分割PD7はタンジェンシャル方向に差動の演算をす
ることで、光軸ずれ等によるオフセットのみの信号を検
出する。したがって、分割PD7と分割PD8による二
つの差動信号をさらに差動演算すれば、光軸ずれ等によ
るオフセットを除去したフォーカスエラー信号のみが得
られることとなる。
ムは、集光レンズ5で集光されて光検出器である分割P
D7で受光される。ここではフォーカスエラー信号を検
出せず、光束のずれや光束内の光量分布を検出するよう
になっている(なお光量分布検出のためには、集光レン
ズ5は必ずしも必要ではないことはいうまでもない).
第1図Bは、フォーカスエラー信号を検出するための検
出系の動作を示したものである.先ず分割PD8でタン
ジエンシャル方向に差動の演算をしてフォーカスエラー
信号を検出する。この場合フォーカスエラー信号の中に
は、光軸ずれ等によるオフセットも含まれている。一方
、分割PD7はタンジェンシャル方向に差動の演算をす
ることで、光軸ずれ等によるオフセットのみの信号を検
出する。したがって、分割PD7と分割PD8による二
つの差動信号をさらに差動演算すれば、光軸ずれ等によ
るオフセットを除去したフォーカスエラー信号のみが得
られることとなる。
第2図は、フォーカスエラー信号を得るための概念を詳
細に説明したものである。フォーカスエラー信号を検出
するための分割PDは、タンジエンシャル方向の光軸ず
れ等の影響を含んだフォーカスエラー信号を検出する。
細に説明したものである。フォーカスエラー信号を検出
するための分割PDは、タンジエンシャル方向の光軸ず
れ等の影響を含んだフォーカスエラー信号を検出する。
もう一方の分割PDは、光軸ずれ等の影響を光量分布ず
れとして検出する。そしてそれぞれの分割PDは、タン
ジェンシャル方向の光軸ずれかない状態では上段に示す
ごとく、その方向の差動信号は0となっている。
れとして検出する。そしてそれぞれの分割PDは、タン
ジェンシャル方向の光軸ずれかない状態では上段に示す
ごとく、その方向の差動信号は0となっている。
次に、タンジェンシャル方向の光軸ずれがある状態では
、フォーカスエラー検出用の分割PDでは下段に示すよ
うにδTだけの光軸ずれ戒分が生じる。一方、光量分布
検出用の分割PDではδT′だけの光軸ずれ戒分が生じ
る。したがって、フォーカスエラー検出用の分割PDの
タンジエンシャル方向の差動信号から光量分布検出用の
分割PDの差動信号によるある定数G を乗じたものを
引く演算をすれば、( (A+D)− (B+C))
−Gl ( (A’ −1−D’ )− (B’ +C
’ )l −フォーカスエラー信号となり、光軸ずれの
影響を除去したフォーカスエラー信号が得られるのであ
る。
、フォーカスエラー検出用の分割PDでは下段に示すよ
うにδTだけの光軸ずれ戒分が生じる。一方、光量分布
検出用の分割PDではδT′だけの光軸ずれ戒分が生じ
る。したがって、フォーカスエラー検出用の分割PDの
タンジエンシャル方向の差動信号から光量分布検出用の
分割PDの差動信号によるある定数G を乗じたものを
引く演算をすれば、( (A+D)− (B+C))
−Gl ( (A’ −1−D’ )− (B’ +C
’ )l −フォーカスエラー信号となり、光軸ずれの
影響を除去したフォーカスエラー信号が得られるのであ
る。
定数01の値は、タンジェンシャル方向の光軸ずれかな
い理想的な状態では(A十B+C+D)= (A’ +
B’ +c’ +D’ )となるように設定すれば、光
軸ずれの影響の除去効果は最大となる.一方、ディスク
の記録層からの反射光の同一光束を2光束に分離し、フ
ォーカスエラー検出用の分割PDと光量分布検出用の分
割PDへ導き、それぞれの差動演算により光軸ずれの影
響を除去したフォーカスエラー信号を得る本実施例にお
いては、前記光束中のタンジエンシャル方向に漏れ込ん
でいるディスク溝横断信号を除去したフォーカスエラー
信号も前記と同様にして得ることができることはいうま
でもない.このディスク溝横断信号の定数G1の値も同
様に(A+B+C+D)= (A’+B’ 十C’ +
D’ )となるように設定すればよいこととなる。した
がって、GIの最適値を決める調整は、フォーカスエラ
ー検出用の分割PDと光量分布検出用の分割PDそれぞ
れの差動演算後のフォーカスエラー信号に漏れ込んでい
るディスク溝横断信号が最少となるようにすればよい。
い理想的な状態では(A十B+C+D)= (A’ +
B’ +c’ +D’ )となるように設定すれば、光
軸ずれの影響の除去効果は最大となる.一方、ディスク
の記録層からの反射光の同一光束を2光束に分離し、フ
ォーカスエラー検出用の分割PDと光量分布検出用の分
割PDへ導き、それぞれの差動演算により光軸ずれの影
響を除去したフォーカスエラー信号を得る本実施例にお
いては、前記光束中のタンジエンシャル方向に漏れ込ん
でいるディスク溝横断信号を除去したフォーカスエラー
信号も前記と同様にして得ることができることはいうま
でもない.このディスク溝横断信号の定数G1の値も同
様に(A+B+C+D)= (A’+B’ 十C’ +
D’ )となるように設定すればよいこととなる。した
がって、GIの最適値を決める調整は、フォーカスエラ
ー検出用の分割PDと光量分布検出用の分割PDそれぞ
れの差動演算後のフォーカスエラー信号に漏れ込んでい
るディスク溝横断信号が最少となるようにすればよい。
第3図は、本発明の第2実施例を示したもので第1実施
例と対応する個所には同一符号を付した(以下の実施例
についても同様).本実施例は、光磁気ヘッドに応用し
た場合のもので、フォーカスエラー信号の検出には第l
実施例と同様に比界角法を用いている。レーザーダイオ
ード1から出射された光ビームはコリメートレンズ2を
透過し、平行光束は偏光ビームスプリッタ3aを透過し
、反射部材9aを介して反射し対物レンズ9bによりデ
ィスク10aを照射する。ディスク10の記録層からの
反射光は、前記対物レンズ9bで集光され平行光束とな
って固定部13の偏光ビームスプリンタ3aに入射する
。ここで光ビームのほとんどが反射された後、λ/2板
14を透過することにより偏光方向が45度回転され、
さらに検出系の偏光ビームスプリッタ4aに入射して光
束が2分割される。
例と対応する個所には同一符号を付した(以下の実施例
についても同様).本実施例は、光磁気ヘッドに応用し
た場合のもので、フォーカスエラー信号の検出には第l
実施例と同様に比界角法を用いている。レーザーダイオ
ード1から出射された光ビームはコリメートレンズ2を
透過し、平行光束は偏光ビームスプリッタ3aを透過し
、反射部材9aを介して反射し対物レンズ9bによりデ
ィスク10aを照射する。ディスク10の記録層からの
反射光は、前記対物レンズ9bで集光され平行光束とな
って固定部13の偏光ビームスプリンタ3aに入射する
。ここで光ビームのほとんどが反射された後、λ/2板
14を透過することにより偏光方向が45度回転され、
さらに検出系の偏光ビームスプリッタ4aに入射して光
束が2分割される。
一方の光ビームは臨界角プリズム6へ入射し、反射した
光ビームは集光レンズ15を透過して分割PD8で受光
される。他方の光ビームは前記偏光ビームスプリッタ4
aを透過した後、集光レンズ5を透過して分割PD7で
受光される。
光ビームは集光レンズ15を透過して分割PD8で受光
される。他方の光ビームは前記偏光ビームスプリッタ4
aを透過した後、集光レンズ5を透過して分割PD7で
受光される。
このように構威してあるのでフォーカスエラー信号は(
A−B)−Gl (A’ −B’ )によって得られ、
光軸ずれの影響を除去したものとなる。
A−B)−Gl (A’ −B’ )によって得られ、
光軸ずれの影響を除去したものとなる。
そして光磁気信号は( A + B ) G z
( A ’ + B ’によって得られるがこの場合の
G+、Gzはある定数である。
( A ’ + B ’によって得られるがこの場合の
G+、Gzはある定数である。
第4図は、本発明の第3実施例を示したものでフォーカ
スエラー信号の検出方式にナイフエッジ法を用いたもの
である。ここでナイフエッジ法とは、ディスクから戻っ
てきた収束光路幅にナイフエッジを配設して、受光素子
上での光点像の移動量を検出することによってフォーカ
スエラーを検出するものである。
スエラー信号の検出方式にナイフエッジ法を用いたもの
である。ここでナイフエッジ法とは、ディスクから戻っ
てきた収束光路幅にナイフエッジを配設して、受光素子
上での光点像の移動量を検出することによってフォーカ
スエラーを検出するものである。
本実施例では、検出系のビームスプリッタ4で)
反射された一方の光ビームは集光レンズ16で集光され
るが、その焦点位置近傍にナイフエッジ17が設けてあ
るので、このナイフエッジ17によって一部が遮光され
て光ビームが分割PD8で受光されるようになっている
.またビームスプリッタ4を透過した他方の光ビームは
、集光レンズ5を透過して分割PD7で受光されるよう
になっている。
るが、その焦点位置近傍にナイフエッジ17が設けてあ
るので、このナイフエッジ17によって一部が遮光され
て光ビームが分割PD8で受光されるようになっている
.またビームスプリッタ4を透過した他方の光ビームは
、集光レンズ5を透過して分割PD7で受光されるよう
になっている。
そして、フォーカスエラー信号は(A−B)−G.(A
’ −B’ )よって得られ、光軸ずれの影響を除去し
たものとなるのである(C+ はある定数)。
’ −B’ )よって得られ、光軸ずれの影響を除去し
たものとなるのである(C+ はある定数)。
本発明は以上の実施例に限定されるものではなく、他の
フォーカスエラー検出法である非点収差法等においても
、フォーカスエラー検出用の分割PDと光量分布検出用
の分割PDを設けてそれぞれの差動演算を行うことによ
り、光軸ずれの影響を除去したフォーカスエラー信号を
得ることができることはいうまでもない。なお、非点収
差法とは非点収差を発生する光学部品、例えば円筒レン
ズを利用して受光素子上に結像するスポットの変化を検
出して行うものである. 以上の各実施例により得られたフォーカスエラー信号は
、所要の回路を経て光ビックアップのレンズアクチュエ
ー夕に送られフォーカスコイルに印加される。そして対
物レンズは、駆動するレンズアクチュエー夕によりディ
スク面と垂直な方向に移動されフォーカス制御が行われ
るのである。
フォーカスエラー検出法である非点収差法等においても
、フォーカスエラー検出用の分割PDと光量分布検出用
の分割PDを設けてそれぞれの差動演算を行うことによ
り、光軸ずれの影響を除去したフォーカスエラー信号を
得ることができることはいうまでもない。なお、非点収
差法とは非点収差を発生する光学部品、例えば円筒レン
ズを利用して受光素子上に結像するスポットの変化を検
出して行うものである. 以上の各実施例により得られたフォーカスエラー信号は
、所要の回路を経て光ビックアップのレンズアクチュエ
ー夕に送られフォーカスコイルに印加される。そして対
物レンズは、駆動するレンズアクチュエー夕によりディ
スク面と垂直な方向に移動されフォーカス制御が行われ
るのである。
以上のごとく、本発明によれば可動部に光軸ずれ検出の
ための特別の光学系検出器等を設けずに、ディスクから
の反射光を情報信号検出用のPDまたはトラッキングエ
ラー信号検出用のPDを用いて、タンジエンシャル方向
の差動演算を行うことによりフォーカスエラー信号が得
られるので、これをフォーカスサーボループへフィード
バックすればフォーカスオフセットをキャンセルできる
。
ための特別の光学系検出器等を設けずに、ディスクから
の反射光を情報信号検出用のPDまたはトラッキングエ
ラー信号検出用のPDを用いて、タンジエンシャル方向
の差動演算を行うことによりフォーカスエラー信号が得
られるので、これをフォーカスサーボループへフィード
バックすればフォーカスオフセットをキャンセルできる
。
したがって、固定部からの出射光が可動軸に対しタンジ
ェンシャル方向の傾き誤差を有している場合、また機械
的誤差によりディスク半径位置によって可動部にタンジ
ェンシャル方向の位置ずれが生じている場合、また光学
式情報記録再生装置内のある部分の熱特性の影響により
タンジエンシャル方向の位置ずれが発生している場合、
また光学系に対して相対的にディスクのタンジェンシャ
ル方向の傾き角がある場合、またその量が半径位置によ
って異なる場合、またクンジエンシャル方向に洩れ込ん
でいるディスク溝横断信号が生じている場合等において
、フォーカスオフセットをキャンセルすることができ、
光ピックアップにより安定した情報の記録、再生、消去
、シークが可能となる。
ェンシャル方向の傾き誤差を有している場合、また機械
的誤差によりディスク半径位置によって可動部にタンジ
ェンシャル方向の位置ずれが生じている場合、また光学
式情報記録再生装置内のある部分の熱特性の影響により
タンジエンシャル方向の位置ずれが発生している場合、
また光学系に対して相対的にディスクのタンジェンシャ
ル方向の傾き角がある場合、またその量が半径位置によ
って異なる場合、またクンジエンシャル方向に洩れ込ん
でいるディスク溝横断信号が生じている場合等において
、フォーカスオフセットをキャンセルすることができ、
光ピックアップにより安定した情報の記録、再生、消去
、シークが可能となる。
第1図A,Bは、本発明の第1実施例を示す概要構成図
、 第2図は、フォーカスエラー信号検出の概念説明図、 第3図は、本発明の第2実施例を示す概要構或図、 第4図は、本発明の第3実施例を示す概要構戒図、 第5図は、光軸ずれが発生する状態を示す説明図である
。 1.9. 3... 4... 7... 8... 10. . . 12. . . 13. . . レーザーダイオード ビームスプリンタ ビームスプリッタ 分割PD 分割PD ディスク 可動部 固定部 第2図 第3図 第4図
、 第2図は、フォーカスエラー信号検出の概念説明図、 第3図は、本発明の第2実施例を示す概要構或図、 第4図は、本発明の第3実施例を示す概要構戒図、 第5図は、光軸ずれが発生する状態を示す説明図である
。 1.9. 3... 4... 7... 8... 10. . . 12. . . 13. . . レーザーダイオード ビームスプリンタ ビームスプリッタ 分割PD 分割PD ディスク 可動部 固定部 第2図 第3図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、少なくとも光源、フォーカスエラー検出系トラッキ
ングエラー検出系、情報信号検出系を有する固定部と、
少なくとも対物レンズを有する可動部とを設けた光学式
情報記録再生装置において、 情報記録媒体からの反射光を光源へ戻る光路とサーボ信
号検出系、情報信号検出系への光路に分割する第1のビ
ームスプリッタ及び前記サーボ信号検出系、情報信号検
出系への光束を光軸ずれ、ディスク傾き、ディスク溝横
断信号等によるオフセットを含んだフォーカスエラー信
号を検出する手段と光軸ずれ、ディスク傾き、ディスク
溝横断信号等によるオフセットのみの信号を検出する手
段に分割する第2のビームスプリッタを有する固定部と
、該固定部の両検出手段により得たタンジェンシャル方
向の差動信号同士の差動演算を行う演算手段を設けたこ
とを特徴とする光学式情報記録再生装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1192711A JP2768985B2 (ja) | 1989-04-20 | 1989-07-27 | 光学式情報記録再生装置 |
US07/511,301 US5151887A (en) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Separation-type optical information recording and reproducing apparatus producing offset-eliminated focus error signal |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9867489 | 1989-04-20 | ||
JP1-98674 | 1989-04-20 | ||
JP1192711A JP2768985B2 (ja) | 1989-04-20 | 1989-07-27 | 光学式情報記録再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0354732A true JPH0354732A (ja) | 1991-03-08 |
JP2768985B2 JP2768985B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=26439802
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1192711A Expired - Lifetime JP2768985B2 (ja) | 1989-04-20 | 1989-07-27 | 光学式情報記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2768985B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100230233B1 (ko) * | 1994-06-30 | 1999-11-15 | 윤종용 | 포커스에러 검출장치 |
KR100230235B1 (ko) * | 1994-06-30 | 1999-11-15 | 윤종용 | 포커스에러 검출장치 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61230633A (ja) * | 1985-04-05 | 1986-10-14 | Hitachi Ltd | 焦点位置検出装置 |
-
1989
- 1989-07-27 JP JP1192711A patent/JP2768985B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61230633A (ja) * | 1985-04-05 | 1986-10-14 | Hitachi Ltd | 焦点位置検出装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100230233B1 (ko) * | 1994-06-30 | 1999-11-15 | 윤종용 | 포커스에러 검출장치 |
KR100230235B1 (ko) * | 1994-06-30 | 1999-11-15 | 윤종용 | 포커스에러 검출장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2768985B2 (ja) | 1998-06-25 |
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