JP2985861B2 - 光ヘッド - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク等の情報
記録媒体に対して情報の記録・再生を行うための光ヘッ
ドに関し、特に、情報記録媒体に存在する傷や汚れ等の
欠陥が要因とされるトラック外れを防止した光ヘッドに
関する。

【０００２】

【従来の技術】近年におけるマルチメディアの分野で
は、光学技術を利用した情報の記録・再生が可能な光デ
ィスクの進展が著しく、特にＤＶＤ、ＣＤなどのＲＯＭ
の光ディスクや、ＣＤ−Ｒなどの追記型光ディスクに対
する期待が高められている。しかしながら、この種の情
報記録媒体は、情報記録媒体に照射した光の反射や透過
を利用して情報の記録・再生を行うため、情報記録媒体
の表面に傷や汚れ等の欠陥が生じていると、これがその
まま記録、或いは再生のエラーとなる。特に、前記した
光ディスクは、保護用のカートリッジに入っていないも
のが多く、そのため、取り扱いを注意しないと、光ディ
スクの表面に傷、指紋などが付いて欠陥が生じてしま
う。この欠陥により光ディスクに対する光ヘッドのトラ
ック制御に用いるトラック誤差信号に大きなオフセット
が発生し、トラックサーボが外れて好適な情報の記録・
再生が困難になる。特に、偏心の大きい情報記録媒体で
はこのような問題が顕著なものとなる。

【０００３】図５（ａ）は従来のＣＤ用の光ヘッドの一
例を示す光学系の構成図である。半導体レーザ１からの
出射光束ＬＢは回折格子２で３つの光束ＬＢ１〜ＬＢ３
に分けられる。半導体レーザ１の配置により前記光束Ｌ
ＢはＰ偏光（図中ｙ軸方向）となっているので偏光ビー
ムスプリッタ４を透過し、コリメータレンズ３で平行光
となる。その後、１／４波長板５で円偏光になり、対物
レンズ６で光ディスク７の記録面上に集光し、記録面上
に３つの集光スポットＳＰ１〜ＳＰ３を形成する。光デ
ィスク７で、前記集光スポットＳＰ１〜ＳＰ３は反射さ
れ、再び対物レンズ６へ入射し平行光に戻る。この平行
光は１／４波長板５でＳ偏光（図中ｚ軸方向）となり、
コリメータレンズ３で再集光する。そして、偏光ビーム
スプリッタ４で反射され、シリンドリカルレンズ９を通
過後、再生・誤差信号用光検出器１０へ導かれる。

【０００４】図５（ｂ）に前記再生・誤差信号用光検出
器１０の光検出素子の構成図を示す。前記３つの集光ス
ポットＳＰ１〜ＳＰ３に対応する中央部の再集光スポッ
トＲＳＰ２、上下の集光スポットＲＳＰ１，ＲＳＰ３は
それぞれフォーカス誤差用光検出素子１０ａ、トラック
誤差用光検出素子１０ｂ，１０ｃへ入射される。そし
て、前記各再集光スポットＲＳＰ１〜ＲＳＰ３の一部を
利用して再生信号を得るとともに、前記再集光スポット
ＲＳＰ２を受光するフォーカス誤差用光検出素子１０ａ
の各分割受光面での受光強度の比較から得られるフォー
カス誤差信号に基づいて光ディスク７に対する光ヘッド
の焦点位置を制御する、いわゆる非点収差法によるフォ
ーカス制御が行われる。また、前記各再集光スポットＲ
ＳＰ１，ＲＳＰ３を受光する前記各光検出素子１０ｂ，
１０ｃの受光強度から得られるトラック誤差信号に基づ
いて光ヘッドの光ディスク７に対するトラック位置を制
御する、いわゆる３ビーム法によるトラック制御が行わ
れる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】この種の光ヘッドで
は、光ディスク７の表面に前記したように傷や汚れ等の
欠陥が生じていると、情報の記録・再生時に光ヘッドか
らの光が欠陥を走査し、この欠陥からの反射光を受光し
て前記した各制御を行ったときに、前記した３ビームを
利用したトラック誤差信号に乱れが生じ、大きなトラッ
クオフセットが生じてトラックサーボが外れるという問
題が生ずる。例えば、図５に示した光ヘッドを用いる装
置において、図６（ａ）のように光ディスク７の表面に
ｚ軸方向（光ディスクの半径方向）の傷Ｘが存在したと
する。この傷Ｘに対して光ヘッドの３つの集光スポット
ＳＰ１〜ＳＰ３が通過するとき、光検出素子１０ａ〜１
０ｃ上での再集光スポットＲＳＰ１〜ＲＳＰ３は図６
（ｂ）に示すように光ディスク７面上でｙ軸方向に、換
言すれば光検出器１０の受光面上でｘ軸方向へ伸びたパ
ターンとなる。これは傷Ｘで集光スポットＳＰ１〜ＳＰ
３が回折されたためであり、ｘ軸方向へのパターンの伸
びが傷Ｘによる回折光である。この回折光が隣接する光
検出素子１０ａや１０ｂ，１０ｃへ回り込み、傷Ｘと集
光スポットＳＰ１〜ＳＰ３の位置関係で、光検出素子１
０ａ〜１０ｃ間で相互に回り込む光量がアンバランスと
なる。

【０００６】通常、トラック誤差信号検出方式に用いる
３ビーム法では、中央光束の光強度が上下光束の光強度
より強く設定されている。そのため、再集光スポットＲ
ＳＰ２の回折光がトラック誤差用光検出素子１０ｂ，１
０ｃへ回り込む量が再集光スポットＲＳＰ１，ＲＳＰ３
の光強度に対して無視できないほど大きくなる。このた
め、トラック誤差信号にオフセットが生じてしまう。こ
の場合、各光検出素子のｘ方向の間隔を広げれば、トラ
ック用光検出素子への回折光の回り込みを低減できる
が、これに伴って光ディスク記録面上での３ビームの間
隔を広げる必要があり、これでは光ディスクの偏心に対
するトラックサーボ特性を劣化させてしまうため、光検
出素子の間隔を広げることには限界がある。

【０００７】本発明の目的は、光ディスクに存在する欠
陥を走査してもトラックサーボが外れることがない光ヘ
ッドとトラック制御方法を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の光ヘッドは、光
源からの出射光束を情報記録媒体の記録トラックへ集光
し、かつ前記情報記録媒体からの反射光束を受光して再
生・誤差信号を得る集光光学系を備える光ヘッドにおい
て、前記光源の出射光束で前記集光光学系の視野より外
側にある光束を視野内へ導く光学系を備え、前記視野の
外側にある光束を前記情報記録媒体に集光して前記情報
記録媒体の欠陥を検出することを特徴とする。また、前
記集光光学系の視野より外側にある光束を視野内に導く
光学系において導かれた欠陥検出用の光束は、前記再生
・誤差信号を得る前記出射光束が前記情報記録媒体に集
光する位置の前または前後位置に集光するように構成さ
れ、かつ前記欠陥検出用の光束の前記情報記録媒体から
の反射光束の受光レベルによって前記情報記録媒体の欠
陥を検出する手段を備えることを特徴とする。

【０００９】本発明の好ましい形態としては、光源から
の出射光束を情報記録媒体の記録トラックへ集光し、か
つ前記情報記録媒体からの反射光束を受光して少なくと
もトラック誤差信号を得る光学系と、前記トラック誤差
信号に基づいて前記出射光束の集光位置を制御するトラ
ック制御系と、前記トラック制御系を固定状態とする固
定手段とを備え、前記光学系は、前記光源からの出射光
束を複数の光束に分離する手段と、前記複数の光束が前
記情報記録媒体でそれぞれ反射された光束を受光する再
生・誤差用光検出器とを有し、前記再生・誤差用光検出
器の出力で前記トラック誤差信号を得るように構成さ
れ、前記トラック制御系を固定状態とする手段は、前記
出射光束を分離する手段で分離された内の一つで前記光
学系の視野より外側にある光束を前記出射光束が前記情
報記録媒体に集光される前時点の位置において前記記録
トラックに欠陥用の光束として集光し、かつ前記欠陥用
の光束の反射光束を受光し、前記欠陥用の反射光束の受
光レベルに応じて前記トラック制御系の制御を所定時間
だけ固定状態とする。また、前記トラック制御系を固定
状態とする手段は、前記出射光束が前記情報記録媒体に
集光される後時点の位置において第２の欠陥用の光束を
集光する手段と、前記後時点の位置に集光された前記第
２の欠陥用の反射光束の受光レベルに応じて前記トラッ
ク制御系の制御の固定状態を解除する手段とを備える。

【００１０】本発明では、少なくともトラック誤差信号
を得る集光スポットの前に欠陥検出用の集光スポットを
配置し、この欠陥検査用の集光スポットによりトラック
制御を固定状態とすることにより、情報記録媒体に欠陥
が存在している場合に、トラック誤差信号用の集光スポ
ットが欠陥を走査する前に、欠陥検出用の集光スポット
が欠陥を検出し、トラック制御を固定状態としてその位
置に対物レンズが固定され、トラックオフセットを防止
する。また、トラック誤差信号を得る集光スポットの後
に欠陥検出用の集光スポットを配置することにより、欠
陥の走査完了が検出でき、トラック制御の固定状態を解
除する。

【００１１】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図１は本発明の第１の実施形態を示
し、同図（ａ）は光学系の構成図である。半導体レーザ
１からの出射光束ＬＢは回折格子２で３つの光束ＬＢ１
〜ＬＢ３に分けられる。半導体レーザ１の配置により、
前記光束ＬＢはＰ偏光（図中ｙ軸方向）となっているの
で、前記３つの光束ＬＢ１〜ＬＢ３は偏光ビームスプリ
ッタ４を透過し、コリメータレンズ３で平行光となる。
その後、１／４波長板５で円偏光になり、対物レンズ６
で光ディスク７の記録面上に集光し、記録面上に３つの
集光スポットＳＰ１〜ＳＰ３を形成する。この集光スポ
ットＳＰ１〜ＳＰ３は光ディスク７で反射され、再び対
物レンズ６へ入射し平行光に戻される。この平行光は１
／４波長板５でＳ偏光（図中ｚ軸方向）となり、コリメ
ータレンズ３で再集光される。そして、偏光ビームスプ
リッタ４で反射され、シリンドリカルレンズ９を通過
後、再生・誤差信号用光検出器１０へ導かれる。

【００１２】一方、前記コリメータレンズ３の視野から
外れている第４の光束ＬＢ４は、前記３つの光束ＬＢ１
〜ＬＢ３を外れた一側部に配置されている第１折り返し
ミラー１１で反射され、前記コリメータレンズ３、前記
１／４波長板５を透過後、前記対物レンズ６によって光
ディスク７の表面に集光され、光ディスク７にスポット
ＳＰ４が形成される。ここで、スポットＳＰ４がスポッ
トＳＰ１〜ＳＰ３よりも光ディスクの回転方向に対して
先行する位置となるように、前記第１折り返しミラー１
１の位置、及び、角度調整を行う。そして、前記スポッ
トＳＰ４の反射光は前記対物レンズ６を通過後、前記１
／４波長板５でＳ偏光となり、前記コリメータレンズ３
で再集光される。Ｓ偏光となった光束ＬＢ４は前記偏光
ビームスプリッタ４で反射され、前記シリンドリカルレ
ンズ９によって第１欠陥用光検出器１２に第４の再集光
スポットとして集光される。

【００１３】図１（ｂ）は前記再生・誤差信号用光検出
器１０及び第１欠陥用光検出器１２の平面配置図であ
る。前記再生・誤差信号用光検出器１０はこれまでと同
じ構成であり、中央のフォーカス誤差用光検出素子１０
ａに集光される再集光スポットＲＳＰ２により光ヘッド
のフォーカス制御が行われる。また、前記フォーカス誤
差用光検出素子１０ａに集光される再集光スポットＲＳ
Ｐ２と、そのｘ軸方向の両側に配置されているトラック
誤差用光検出素子１０ｂ，１０ｃにそれぞれ集光される
２つの再集光スポットＲＳＰ１，ＲＳＰ３により３ビー
ム法による光ヘッドのトラック制御が行われる。そし
て、前記再生・誤差信号用光検出器１０のｚ軸方向に隣
接する位置に、前記第１欠陥用光検出器１２の光検出素
子１２ａが配置されており、前記第４の集光スボットＳ
Ｐ４の再集光スポットＲＳＰ４が集光される。このた
め、この第１欠陥用光検出器１２では、光ディスク７に
欠陥が生じていると、前記集光スポットＳＰ４が欠陥に
集光されたときに回折が生じ、その光軸方向への反射光
量が低減され、第１欠陥用光検出器１２での再集光スポ
ットＲＳＰ４の受光レベルが低下されることになる。な
お、図示は省略するが、前記再生・誤差信号用光検出器
１０及び欠陥用光検出器１２は、図外のトラック制御回
路に電気接続されており、これらの光検出器からの検出
出力に基づいて光ヘッドのトラック制御を行うように構
成されている。

【００１４】この構成の光ヘッドによるトラック制御の
動作を説明する。図２は前記再生・誤差信号用光検出器
１０から得られるトラック誤差信号と、前記第１欠陥用
光検出器１２の出力信号を示す図である。光ディスク７
の回転に伴い、光ヘッドからの４つの光束はそれぞれ回
転方向にずれた位置でそれぞれ光ディスク７に集光スポ
ットＳＰ１〜ＳＰ４を集光するが、図１に示した構成に
より、常に集光スポットＳＰ４が他の集光スポットより
も先に光ディスク７の記録トラック上を走査することに
なる。このため、集光スポットＳＰ４が欠陥を走査する
と、図２の時刻ｔ３〜ｔ４の間のように、第１欠陥用光
検出器１２の検出信号のレベルが低下される。このた
め、集光スポットＳＰ４よりも光ディスクの回転方向の
後方に位置する集光スポットＳＰ２が、次の時点のｔ１
からｔ２の間で前記欠陥を走査すると、トラック誤差信
号に欠陥による回折の影響が現れて大きなトラックオフ
セットが生じる。そこで、第１欠陥用光検出器１２にお
いて欠陥を検出した時点、例えば時刻ｔ３から集光スポ
ットＳＰ２が欠陥を通過する時刻ｔ２までの間、トラッ
ク制御回路では第１欠陥用光検出器１２からの検出信号
に基づいてトラック制御を停止させる。これにより、光
ヘッドの対物レンズ６は、欠陥が検出されたｔ３時点で
の光ディスク７の半径方向（ｚ軸方向）に固定されるこ
とになり、欠陥によるトラックオフセットが未然に防止
される。

【００１５】なお、時刻ｔ３からｔ２までのトラック制
御を停止する時間は、第２欠陥用光検出器１２で検出さ
れる欠陥長に対応する時間を時刻ｔ３からｔ４の時間で
計測し、この計測時間を、予め設定されている集光スポ
ットＳＰ４と集光スポットＳＰ２との間の時間差に加え
る演算を行うことで、容易に得ることができる。なお、
集光スポットＳＰ２の代わりに集光スポットＳＰ１ある
いはＳＰ３を利用することも可能である。

【００１６】図３は本発明の第２の実施形態を示す図で
ある。なお、第１の実施形態と等価な部分には同一符号
を付してある。この第２の実施形態では、図３（ａ）に
示すように、前記コリメータレンズ３の視野から外れる
光束を反射するための２つの折り返しミラーを光軸を挟
んだ両側に配置している。すなわち、前記第１折り返し
ミラー１１に対して光軸を挟んだ１８０度の位置、換言
すれば光ディスク７の回転方向に沿って走査が遅れる側
の位置に第２折り返しミラー１３を配置するとともに、
前記コリメータレンズ３の視野から外れる第５の光束Ｌ
Ｂ５をこの第２折り返しミラー１３で反射するように構
成している。この構成により、第２折り返しミラー１３
で反射された第５の光束ＬＢ５はコリメータレンズ３を
通過後、１／４波長板５で円偏光とされ、対物レンズ６
で集光された後、光ディスク７の回転方向に遅れた位置
の集光スポットＳＰ５となる。光ディスク７で反射した
集光スポットＳＰ５の光束は対物レンズ６を通過後、１
／４波長板５でＳ偏光とされ、コリメータレンズ３で再
集光され偏光ビームスプリッタ４で反射される。その後
シリンドリカルレンズ９を経て、第２欠陥用光検出器１
４８へ入射される。なお、前記回折格子２で回折された
３つの出射光束ＬＢ１〜ＬＢ３の集光スポットＳＰ１〜
ＳＰ３が光ディスク７で反射された上で、その再集光ス
ポットＲＳＰ１〜ＲＳＰ３が再生・誤差信号用光検出器
１０において検出されること、及び、前記第１折り返し
ミラー１１で反射されて得られる第４の集光スポットＳ
Ｐ１が光ディスク７で反射された上で、その再集光スポ
ットＲＳＰ４が第１欠陥用光検出器１２において検出さ
れることは第１の実施形態と同じである。

【００１７】図３（ｂ）は、前記再生・誤差信号用光検
出器１０、第１欠陥用光検出器１２、第２欠陥用光検出
器１４の平面配置図である。前記再生・誤差信号用光検
出器１０のｘ軸方向に隣接する両側位置に、前記第１欠
陥用光検出器１２と第２欠陥用光検出器１４の各光検出
素子１２ａ，１４ａが配置されており、前記第４及び第
５の各再集光スポットＲＳＰ４，ＲＳＰ５が集光され
る。このため、光ディスク７に欠陥が生じていると、前
記スポットＳＰ４，ＳＰ５が欠陥に集光されたときに回
折が生じ、その光軸方向への反射光量が低減され、第１
欠陥用光検出器１２及び第２欠陥用光検出器１４での受
光レベルが低下されることになる。なお、第１の実施形
態と同様に、前記再生・誤差信号用光検出器１０及び第
１及び第２の欠陥用光検出器１２，１４は、図外のトラ
ック制御回路に電気接続されており、これらの光検出器
からの検出出力に基づいて光ヘッドのトラック制御を行
うように構成されている。

【００１８】図４は前記再生・誤差信号用光検出器１０
から得られるトラック誤差信号と第１欠陥用光検出器１
２と第２欠陥用光検出器１４の出力信号を示す図であ
る。トラック誤差信号と、第１欠陥用光検出器１２の検
出信号の変化は図２の場合と同様である。これに加え
て、第５光束ＬＢ５の集光スポットＳＰ５が欠陥を走査
した後に、集光スポットＳＰ５が時刻ｔ５からｔ６の間
で光ディスク７の表面の欠陥を走査すると、欠陥におけ
る回折によってその出力信号が減少する。したがって、
第１欠陥用光検出器１２で欠陥を検出した時刻ｔ３か
ら、第２欠陥用光検出器１４で欠陥を検出し終えた時刻
ｔ６までの間、光ヘッドの対物レンズ６をｚ軸方向に関
して、ｔ３時点の位置に固定するように制御すること
で、トラックオフセットを防止することが可能となる。
この第２の実施形態では、対物レンズ６を固定する時間
の終点を第２欠陥用光検出器１４の出力に基づいて決定
しているため、第１の実施形態のようにトラック制御回
路に欠陥時間を検出するための計測回路や演算回路が不
要となり、回路構成を簡略化するとともに、高速回転す
る光ディスクへの適用が可能となる。

【００１９】ここで、前記各実施形態では、第１及び第
２の折り返しミラー１１，１３を用いて光ディスク７の
欠陥を検出する集光スポットＳＰ４，ＳＰ５を形成して
いるが、回折格子２の光束ＬＢ４，ＬＢ５が通過する領
域で、前記光束の進行方向を変えても構わない。例え
ば、光束ＬＢ４，ＬＢ５を集光スポットＳＰ４，ＳＰ５
と同じ位置にスポットを形成できるように、回折格子２
の光束ＬＢ４，ＬＢ５の通過する領域に別の回折格子を
設けても、実用上問題ない。また、本発明は情報記録媒
体に対する情報の記録、再生のいずれの場合でも有効で
ある。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、光源の出
射光束で集光光学系の視野より外側にある光束を視野内
へ導く光学系を備え、この光学系によって少なくともト
ラック誤差信号を得る集光スポットの前に欠陥検出用の
集光スポットを配置し、この欠陥検査用の集光スポット
によりトラック制御を固定状態とすることにより、情報
記録媒体に欠陥が存在している場合に、トラック誤差信
号用の集光スポットが欠陥を走査する前に、欠陥検出用
の集光スポットが欠陥を検出し、トラック制御を固定状
態としてその位置に対物レンズが固定され、トラックオ
フセットを防止することができる。また、トラック誤差
信号を得る集光スポットの後に欠陥検出用の集光スポッ
トを配置することにより、欠陥の走査完了が検出でき、
トラック制御回路を複雑化することなくトラック制御の
固定状態を解除することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態の光学系の構成図と光
検出器の平面図である。

【図２】図１の構成の光ヘッドの動作を説明するための
信号波形図である。

【図３】本発明の第２の実施形態の光学系の構成図と光
検出器の平面図である。

【図４】図３の構成の光ヘッドの動作を説明するための
信号波形図である。

【図５】従来の光ヘッドの一例の光学系の構成図と光検
出器の平面図である。

【図６】従来の光ヘッドが媒体欠陥を走査するときの概
略図と、光検出器の平面図である。

【符号の説明】

１ 半導体レーザ ２ 回折格子 ３ コリメータレンズ ４ 偏光ビームスプリッタ ５ １／４波長板 ６ 対物レンズ ７ 光ディスク ９ シリンドリカルレンズ １０ 再生・誤差信号用光検出器 １０ａ フォーカスエラー用光検出素子 １０ｂ，１０ｃ トラックエラー用光検出素子 １１ 第１折り返しミラー １２ 第１欠陥用光検出器 １３ 第２折り返しミラー １４ 第２欠陥用光検出器 ＬＢ，ＬＢ１〜ＬＢ５ 光束 ＳＰ１〜ＳＰ５ 集光スポット ＲＳＰ１〜ＲＳＰ５ 再集光スポット

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源からの出射光束を情報記録媒体の記
   録トラックへ集光し、かつ前記情報記録媒体からの反射
   光束を受光して再生・誤差信号を得る集光光学系を備え
   る光ヘッドにおいて、前記光源の出射光束で前記集光光
   学系の視野より外側にある光束を視野内へ導く光学系を
   備え、前記視野の外側にある光束を前記情報記録媒体に
   集光して前記情報記録媒体の欠陥を検出することを特徴
   とする光ヘッド。
2. 【請求項２】 前記集光光学系の視野より外側にある光
   束を視野内に導く光学系において導かれた欠陥検出用の
   光束は、前記再生・誤差信号を得る前記出射光束が前記
   情報記録媒体に集光する位置の前または前後位置に集光
   するように構成され、かつ前記欠陥検出用の光束の前記
   情報記録媒体からの反射光束の受光レベルによって前記
   情報記録媒体の欠陥を検出する手段を備えることを特徴
   とする請求項１に記載の光ヘッド。
3. 【請求項３】 光源からの出射光束を情報記録媒体の記
   録トラックへ集光し、かつ前記情報記録媒体からの反射
   光束を受光して少なくともトラック誤差信号を得る光学
   系と、前記トラック誤差信号に基づいて前記出射光束の
   集光位置を制御するトラック制御系と、前記トラック制
   御系を固定状態とする固定手段とを備え、前記光学系
   は、前記光源からの出射光束を複数の光束に分離する手
   段と、前記複数の光束が前記情報記録媒体でそれぞれ反
   射された光束を受光する再生・誤差用光検出器とを有し
   て前記再生・誤差用光検出器の出力で前記トラック誤差
   信号を得るように構成され、前記トラック制御系を固定
   状態とする手段は、前記出射光束を分離する手段で分離
   された内の一つで前記光学系の視野より外側にある光束
   を前記出射光束が前記情報記録媒体に集光される前時点
   の位置において前記記録トラックに欠陥用の光束として
   集光し、かつ前記欠陥用の光束の反射光束を受光し、前
   記欠陥用の反射光束の受光レベルに応じて前記トラック
   制御系の制御を所定時間だけ固定状態とすることを特徴
   とする光ヘッド。
4. 【請求項４】 前記トラック制御系を固定状態とする手
   段は、前記出射光束が前記情報記録媒体に集光される後
   時点の位置において第２の欠陥用の光束を集光する手段
   と、前記後時点の位置に集光された前記第２の欠陥用の
   反射光束の受光レベルに応じて前記トラック制御系の制
   御の固定状態を解除する手段とを備えることを特徴とす
   る請求項３に記載の光ヘッド。