JPS63101972A - パタ−ン検出方法 - Google Patents
パタ−ン検出方法Info
- Publication number
- JPS63101972A JPS63101972A JP61247729A JP24772986A JPS63101972A JP S63101972 A JPS63101972 A JP S63101972A JP 61247729 A JP61247729 A JP 61247729A JP 24772986 A JP24772986 A JP 24772986A JP S63101972 A JPS63101972 A JP S63101972A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- image data
- patterns
- detected
- straight
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 4
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、たとえば、IC部品を回路基板に搭載すると
きに必要となる、回路基板の位置検出のために回路基板
上に描かれた位置検出用図形の位置を高速に検出する、
2次元位置検出のだめのパターン検出方法に関するもの
である。
きに必要となる、回路基板の位置検出のために回路基板
上に描かれた位置検出用図形の位置を高速に検出する、
2次元位置検出のだめのパターン検出方法に関するもの
である。
従来の技術
IC部品を回路基板に搭載するときには、IC部品と回
路基板の相方の位置を検出して、IC部品あるいは基板
の位置・回転角の補正を行ってから回路基板にIC部品
を装看する方法を用いている0 従来、このIC部品と回路基板の位置検出には、パター
ンマツチング法が用いられてきた。パターンマッチング
法は、教示時に認識対象パターンの特徴的な部分を辞書
パターンとして登録しておき、認識処理時に撮像手段よ
り得た画像データ上で次々と辞書パターンを移動させな
がら照合を行って、一致度が最も高くなった辞書パター
ンの位置を検出するものである。
路基板の相方の位置を検出して、IC部品あるいは基板
の位置・回転角の補正を行ってから回路基板にIC部品
を装看する方法を用いている0 従来、このIC部品と回路基板の位置検出には、パター
ンマツチング法が用いられてきた。パターンマッチング
法は、教示時に認識対象パターンの特徴的な部分を辞書
パターンとして登録しておき、認識処理時に撮像手段よ
り得た画像データ上で次々と辞書パターンを移動させな
がら照合を行って、一致度が最も高くなった辞書パター
ンの位置を検出するものである。
発明が解決しようとする問題点
パターンマツチングによる位置検出方法を用いると、I
C部品の位置検出においては、誤認識が少なく精度の高
い認識が可能であるが、回路基板の位置検出ではいくつ
かの問題が発生する。その理由は、IC部品にはリード
の先端など辞書パターンとして登録できる特徴的な部分
が存在し、透過照明で撮像して得られるコントラストの
高い画像を処理するため誤認識や認識精度の低下といっ
た問題はほとんど発生しないのに対し、回路基板の位置
検出においては、位置検出用に回路基板に描かれた図形
が円形であることが多く辞書パターンとして登録できる
特徴的な部分が少なく、反射照明で撮像したコントラス
トのあまり高くない画像を処理するため、誤認識や認識
精度の低下といった問題が発生しやすいからである。ま
た、画像そのものが複雑であるだめノイズの除去に多数
の時間を必要としていた。このため回路基板の位置検出
用の図形に正方形や正三角形などの特徴的なコーナ部分
を有するパターンを採用することで対策を講じようとす
る試みもなされているが、回路基板の位置検出用の図形
はその性質上、回路パターンと同一の版によって銅箔を
エツチングして作られるため、正方形や正三角形の輪郭
、特に辞書パターンとして登録するコーナの形がくずれ
やすく誤認識や認識率低下の原因となっており、上記の
対策によって問題点が必ずしも解決されているとはいい
難い。
C部品の位置検出においては、誤認識が少なく精度の高
い認識が可能であるが、回路基板の位置検出ではいくつ
かの問題が発生する。その理由は、IC部品にはリード
の先端など辞書パターンとして登録できる特徴的な部分
が存在し、透過照明で撮像して得られるコントラストの
高い画像を処理するため誤認識や認識精度の低下といっ
た問題はほとんど発生しないのに対し、回路基板の位置
検出においては、位置検出用に回路基板に描かれた図形
が円形であることが多く辞書パターンとして登録できる
特徴的な部分が少なく、反射照明で撮像したコントラス
トのあまり高くない画像を処理するため、誤認識や認識
精度の低下といった問題が発生しやすいからである。ま
た、画像そのものが複雑であるだめノイズの除去に多数
の時間を必要としていた。このため回路基板の位置検出
用の図形に正方形や正三角形などの特徴的なコーナ部分
を有するパターンを採用することで対策を講じようとす
る試みもなされているが、回路基板の位置検出用の図形
はその性質上、回路パターンと同一の版によって銅箔を
エツチングして作られるため、正方形や正三角形の輪郭
、特に辞書パターンとして登録するコーナの形がくずれ
やすく誤認識や認識率低下の原因となっており、上記の
対策によって問題点が必ずしも解決されているとはいい
難い。
したがって上記のような構成では、効率的にノイズを除
去し回路基板に設けられた位置検出用の図形を誤認識す
ることなく、また精度よくその位置を検出することは難
しいという問題点を有していた。
去し回路基板に設けられた位置検出用の図形を誤認識す
ることなく、また精度よくその位置を検出することは難
しいという問題点を有していた。
問題点を解決するだめの手段
上記問題点を解決するために本発明のパターン検出方法
は、画像データ上に複数の直線軌道を設定し、上記直線
軌道に沿って画像データを次々と読み出し、読み出した
画像データがパターンの外部を表す値からパターンの内
部を表す値に変化するパターン内部側の位置をまず検出
し、それ以外のものをノイズとして除去する工程を有す
るものである。またさらには次に検出した上記パターン
内部側の位置以降に存在する直線軌道上の各位置におい
て8近傍の画素データを読み出し、上記8近傍の画素デ
ータの全てが初めてパターン内部を表す値を持った位置
をパターンの代表位置とすることで、小さなノイズパタ
ーンを除去しながらパターンの代表位置を高速に検出す
るようにしたものである。
は、画像データ上に複数の直線軌道を設定し、上記直線
軌道に沿って画像データを次々と読み出し、読み出した
画像データがパターンの外部を表す値からパターンの内
部を表す値に変化するパターン内部側の位置をまず検出
し、それ以外のものをノイズとして除去する工程を有す
るものである。またさらには次に検出した上記パターン
内部側の位置以降に存在する直線軌道上の各位置におい
て8近傍の画素データを読み出し、上記8近傍の画素デ
ータの全てが初めてパターン内部を表す値を持った位置
をパターンの代表位置とすることで、小さなノイズパタ
ーンを除去しながらパターンの代表位置を高速に検出す
るようにしたものである。
作 用
本発明は上記した構成によって、まず画像データ上に存
在するパターンの内、所定の直線軌道と交差しない小さ
なパターンをノイズとして初めに除去し、次に上記直線
軌道に沿って画像データを読み出すことによって上記直
線軌道と交差するパターンのパターン内部側の位置を次
々と検出し、パターン内部側の各位置において8近傍の
画素データを読み出し、上記8近傍の画素データの全て
が初めてパターン内部を示す値を持った位置をパターン
の代表位置とすることでノイズを除去しながら高速にパ
ターンを検出することができる。
在するパターンの内、所定の直線軌道と交差しない小さ
なパターンをノイズとして初めに除去し、次に上記直線
軌道に沿って画像データを読み出すことによって上記直
線軌道と交差するパターンのパターン内部側の位置を次
々と検出し、パターン内部側の各位置において8近傍の
画素データを読み出し、上記8近傍の画素データの全て
が初めてパターン内部を示す値を持った位置をパターン
の代表位置とすることでノイズを除去しながら高速にパ
ターンを検出することができる。
実施例
以下、本発明の一実施例のパターン検出方法について、
図面を参照しながら説明する。
図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の実施例であるパターン検出方法の実施
例のブロック図を示している。第1図において、撮像手
段1より得られた画像信号を2値化手段2によって2値
化し、画像データ記憶手段3に格納する。次に、直線軌
道探索手段4によって、1つの直線に沿った画像データ
を画像データ記憶手段3から順次読み出し、画像データ
がパターンの外部を表す値からパターンの内部を表す値
に変化するパターン内部側の位置を検出する。そして、
検出した上記パターン内部側の位置以降に存在する直線
軌道上の各位置において、8近傍の画素データ(以下、
8近傍データと呼ぶ)読み出し手段6によって画碌デー
タの8近傍データを読み出し、8近傍データ全てが初め
てパターン内部を表す値を持った時の直線軌道上の装置
をパターンの代表位置としてパターン代表位置記憶手段
6に格納する。以上の処理を画像データ上に設定した複
数の直線軌道に対して行うことで、画像データ中に存在
する複数のパターンの中から小さなノイズパターンを除
去しながらパターンの代表位置をパターン代表位置記憶
手段6て次々と格納することができる。
例のブロック図を示している。第1図において、撮像手
段1より得られた画像信号を2値化手段2によって2値
化し、画像データ記憶手段3に格納する。次に、直線軌
道探索手段4によって、1つの直線に沿った画像データ
を画像データ記憶手段3から順次読み出し、画像データ
がパターンの外部を表す値からパターンの内部を表す値
に変化するパターン内部側の位置を検出する。そして、
検出した上記パターン内部側の位置以降に存在する直線
軌道上の各位置において、8近傍の画素データ(以下、
8近傍データと呼ぶ)読み出し手段6によって画碌デー
タの8近傍データを読み出し、8近傍データ全てが初め
てパターン内部を表す値を持った時の直線軌道上の装置
をパターンの代表位置としてパターン代表位置記憶手段
6に格納する。以上の処理を画像データ上に設定した複
数の直線軌道に対して行うことで、画像データ中に存在
する複数のパターンの中から小さなノイズパターンを除
去しながらパターンの代表位置をパターン代表位置記憶
手段6て次々と格納することができる。
第1図の実施例では、最終的に必要となるパターンの基
準位置を得るためにパターンの代表位置からパターンの
輪郭点を求める方法を用いている。
準位置を得るためにパターンの代表位置からパターンの
輪郭点を求める方法を用いている。
以下にパターン代表位置からパターン基準位置を求める
方法について、第1図を参照しながら説明する。
方法について、第1図を参照しながら説明する。
輪郭検出手段7は、前述の処理によってパターン代表位
置記憶手段6に格納されているパターン代表位置を1つ
ずつ取り出し、取り出したパターン代表位置を始点とし
て一定の方向に探索を行ってパターンの輪郭点をまず検
出する。探索の方法は、8近傍データ読み出し手段5に
よって8近傍データをリードし、8近傍データの内容を
判別することによってパターンの輪郭点に達したかどう
かを知る。パターンの輪郭点に達するまでは最初知与え
られた方向へ進み続けることによって必ず輪郭点を検出
できる。輪郭点検出後は、8近傍データを基に輪郭点が
連結している方向を算出してパターンを一周するまで次
々と輪郭点を検出して、輪郭点の座標値と輪郭点点数を
幾何特徴量記憶手段に格納する。上記以外の幾何特徴量
としてはパターンの面積があるが、パターンの面積は幾
何特徴量検出手段9によって検出し、幾何特微量記順手
段8に格納する。パターン代表位置記憶手段6に格納さ
れている全ての代表位置に対応するパターンに対して幾
何特徴量を検出すると、パターン評価手段10は、幾何
特徴量記憶手段8より輪郭点点数・面積を読み出し、あ
らかじめ定められている評価式にしfCかってパターン
を評価し、教示されているパターンに最も近いパターン
を選び出す。そして、選び出されたパターンの重心・パ
ターンに外接する長方形の中心・パターンの全輪郭点の
” + 7各座標の平均値(以下、輪郭重心と呼ぶ)の
込ずれかが基準位置検出手段11において算出され、上
位コントローラ12へ出力される。
置記憶手段6に格納されているパターン代表位置を1つ
ずつ取り出し、取り出したパターン代表位置を始点とし
て一定の方向に探索を行ってパターンの輪郭点をまず検
出する。探索の方法は、8近傍データ読み出し手段5に
よって8近傍データをリードし、8近傍データの内容を
判別することによってパターンの輪郭点に達したかどう
かを知る。パターンの輪郭点に達するまでは最初知与え
られた方向へ進み続けることによって必ず輪郭点を検出
できる。輪郭点検出後は、8近傍データを基に輪郭点が
連結している方向を算出してパターンを一周するまで次
々と輪郭点を検出して、輪郭点の座標値と輪郭点点数を
幾何特徴量記憶手段に格納する。上記以外の幾何特徴量
としてはパターンの面積があるが、パターンの面積は幾
何特徴量検出手段9によって検出し、幾何特微量記順手
段8に格納する。パターン代表位置記憶手段6に格納さ
れている全ての代表位置に対応するパターンに対して幾
何特徴量を検出すると、パターン評価手段10は、幾何
特徴量記憶手段8より輪郭点点数・面積を読み出し、あ
らかじめ定められている評価式にしfCかってパターン
を評価し、教示されているパターンに最も近いパターン
を選び出す。そして、選び出されたパターンの重心・パ
ターンに外接する長方形の中心・パターンの全輪郭点の
” + 7各座標の平均値(以下、輪郭重心と呼ぶ)の
込ずれかが基準位置検出手段11において算出され、上
位コントローラ12へ出力される。
次に、画像データ中に複数個存在するパターンが、直線
軌道探索と8近傍データの読み出しによってどのように
検出されるかを第2図および第3図を参照しながら説明
する。
軌道探索と8近傍データの読み出しによってどのように
検出されるかを第2図および第3図を参照しながら説明
する。
第2図は、画像データ中に存在する複数個のパターンと
画像データ上に設定する複数の直線軌道を示すものであ
る。第2図において、画像データ20には4つのパター
ン21・22・23・24が含まれており、これに対し
4本の直線軌道25・26・27・28が設定されてい
る。直線軌道25は、パターン23を検出し、直線軌道
26は、パターン22とパターン24を検出する。直線
軌道27は、直線軌道26が検出したパターン22を再
び検出するが、直線軌道28は、どのパターンも検出し
ない。また、パターン21はいずれの直線軌道からも検
出されず、ノイズとして除去される。
画像データ上に設定する複数の直線軌道を示すものであ
る。第2図において、画像データ20には4つのパター
ン21・22・23・24が含まれており、これに対し
4本の直線軌道25・26・27・28が設定されてい
る。直線軌道25は、パターン23を検出し、直線軌道
26は、パターン22とパターン24を検出する。直線
軌道27は、直線軌道26が検出したパターン22を再
び検出するが、直線軌道28は、どのパターンも検出し
ない。また、パターン21はいずれの直線軌道からも検
出されず、ノイズとして除去される。
第3図は、直線軌道とパターンの位置関係を示したもの
で、直線軌道3oが3つのパターン31・32・33を
検出するが、3つのパターンのうちの2つはノイズとし
て除去され、最終的にはパターン32のみが検出される
。まず、直線軌道30に沿って画像データを順次読み出
して行くと、位置34がパターン31の外部を表す値を
持っていたのに対し、位置35がパターン31の内部を
表す値を持っていることがわかる。つまり位置35以降
に存在する直線軌道3o上の位置は、パターン31の内
部に存在していると予想される。そこで位置35以降の
直線軌道上の位置がパターン31内部に存在している間
(位@35から位置36までの区間)各位置において8
近傍の画像データを読み出し、8近傍データの全ての値
が初めてパターン31内部を表す呟を持った位置をパタ
ーン31の代表位置として保持するが、位置35から位
置36までの間には、8近傍データ全ての値がパターン
31内部を表す1直を持つような位置はなく、パターン
31はノイズとして除去されてしまう。
で、直線軌道3oが3つのパターン31・32・33を
検出するが、3つのパターンのうちの2つはノイズとし
て除去され、最終的にはパターン32のみが検出される
。まず、直線軌道30に沿って画像データを順次読み出
して行くと、位置34がパターン31の外部を表す値を
持っていたのに対し、位置35がパターン31の内部を
表す値を持っていることがわかる。つまり位置35以降
に存在する直線軌道3o上の位置は、パターン31の内
部に存在していると予想される。そこで位置35以降の
直線軌道上の位置がパターン31内部に存在している間
(位@35から位置36までの区間)各位置において8
近傍の画像データを読み出し、8近傍データの全ての値
が初めてパターン31内部を表す呟を持った位置をパタ
ーン31の代表位置として保持するが、位置35から位
置36までの間には、8近傍データ全ての値がパターン
31内部を表す1直を持つような位置はなく、パターン
31はノイズとして除去されてしまう。
直線軌道3o上の探索は、一度パターン31の外部に出
た後、再び位置37でパターン32の内部に入るが、パ
ターン32の内部区間である位置37から位置38まで
の区間における位置39において初めて、8近傍データ
の全ての値がパターン32の内部を表す値を持つ。その
結果、位置39のX。
た後、再び位置37でパターン32の内部に入るが、パ
ターン32の内部区間である位置37から位置38まで
の区間における位置39において初めて、8近傍データ
の全ての値がパターン32の内部を表す値を持つ。その
結果、位置39のX。
y座標かパターン32を代表する位置として記憶手段に
保持される。さらに直線軌道3o上の探索は、位置4o
から位置41までの区間においてパターン33の内部に
入るが、この区間内においても8近傍データの全ての値
がパターン33の内部を表す値を持つ位置はなく、パタ
ーン33もまたパターン31同様ノイズとして除去され
てしまう。
保持される。さらに直線軌道3o上の探索は、位置4o
から位置41までの区間においてパターン33の内部に
入るが、この区間内においても8近傍データの全ての値
がパターン33の内部を表す値を持つ位置はなく、パタ
ーン33もまたパターン31同様ノイズとして除去され
てしまう。
パターン31のように小さなパターンならともかく、パ
ターン33のように大きなパターンがノイズとして除去
されてしまうのは、合理的でないような印象を与えるが
、パターン33のように大きなパターンは、他の直線軌
道によって必ず検出されるはずでちる。
ターン33のように大きなパターンがノイズとして除去
されてしまうのは、合理的でないような印象を与えるが
、パターン33のように大きなパターンは、他の直線軌
道によって必ず検出されるはずでちる。
以上のように本実施例によれば、画像データ上に複数の
直線軌道を設定して上記直線軌道に沿って上記画像デー
タを次々と読み出し、読み出した上記画像データの値が
パターン外部を表す値からパターン内部を表す値に変化
するパターン内部側の位置をまず検出し、次に検出した
上記パターン内部側の位置以降に存在する直線軌道の各
位置において上記画像データから8近傍データを次々と
読み出し、上記8近傍データの全てが初めてパターン内
部を表す値を持った位置をパターンの代表位置とするこ
とで、小さなノイズパターンを除去しながら上記画像デ
ータ中に存在する複数のパターンを高速に検出すること
ができる。
直線軌道を設定して上記直線軌道に沿って上記画像デー
タを次々と読み出し、読み出した上記画像データの値が
パターン外部を表す値からパターン内部を表す値に変化
するパターン内部側の位置をまず検出し、次に検出した
上記パターン内部側の位置以降に存在する直線軌道の各
位置において上記画像データから8近傍データを次々と
読み出し、上記8近傍データの全てが初めてパターン内
部を表す値を持った位置をパターンの代表位置とするこ
とで、小さなノイズパターンを除去しながら上記画像デ
ータ中に存在する複数のパターンを高速に検出すること
ができる。
また、上記パターンの代表位置を始点としてパターンの
全輪郭点を検出する手段、輪郭点数や面積などパターン
の幾何特徴量を検出する手段、いくつかのパターンの中
から教示されたパターンに最も近いパターンを、パター
ンが持つ幾何特徴量を評価することによって選び出すパ
ターン評価手段、パターンの重心・パターンに外接する
長方形の中心・パターンの輪郭重心などのパターンの基
準位置を検出する手段を追加することによって、教示さ
れたパターンに最も近いパターンを画像データ中の複数
のパターンより選び出して、その基準位置を精度よく高
速に検出し上位コントローラへ出力することができる。
全輪郭点を検出する手段、輪郭点数や面積などパターン
の幾何特徴量を検出する手段、いくつかのパターンの中
から教示されたパターンに最も近いパターンを、パター
ンが持つ幾何特徴量を評価することによって選び出すパ
ターン評価手段、パターンの重心・パターンに外接する
長方形の中心・パターンの輪郭重心などのパターンの基
準位置を検出する手段を追加することによって、教示さ
れたパターンに最も近いパターンを画像データ中の複数
のパターンより選び出して、その基準位置を精度よく高
速に検出し上位コントローラへ出力することができる。
なお、実、施例におりで画像データ上に放射状に直線軌
道を設定したが、直線軌道は、画像データ上に水平な直
線群として設定してもかまわない。
道を設定したが、直線軌道は、画像データ上に水平な直
線群として設定してもかまわない。
発明の効果
以上のように本発明は、画像データ上に複数の直線軌道
を設定して、上記直線軌道上の画(Jデータという少量
の画像データを読み出し、上記直線軌道がパターン内部
&て進入した陵は、上記直線軌道上の8近傍の画素デー
タを読み出し、上記8近傍データの全てが初めてパター
ンの内部に存在した時の位置をパターンの代表位置とす
るこ々によって、画像データ中に存在する複数のパター
ンを高速に検出することを可能とした。
を設定して、上記直線軌道上の画(Jデータという少量
の画像データを読み出し、上記直線軌道がパターン内部
&て進入した陵は、上記直線軌道上の8近傍の画素デー
タを読み出し、上記8近傍データの全てが初めてパター
ンの内部に存在した時の位置をパターンの代表位置とす
るこ々によって、画像データ中に存在する複数のパター
ンを高速に検出することを可能とした。
第1図は本発明の一実施例であるパターン検出方法のブ
ロック図、第2図は画像データ中に存在する複数のパタ
ーンに対して設定する複数の直線軌道を示す図、第3図
は直線軌道上の探索によってパターンが検出され、また
ノイズパターンが除去されることを示す図である。 1・・・・・・撮像手段、2・・・・・・2値化手段、
3・・・・・・画像データ記憶手段、4・・・・・・直
線軌道探索手段、5・・・・・・8近傍データ読み出し
手段、6・・・・・・パターン代表位置記憶手段、20
・・・・・・画像データ、21・・・・・・ノイズパタ
ーン、22・23−24・・川・パターン、25 @2
6・27・28・・・・・・直線軌道、3Q・・・・・
・直線軌道、31・33・・・・・ノイズパターン、3
2・・・・・・パターン、39・・川・パターン代表位
置。
ロック図、第2図は画像データ中に存在する複数のパタ
ーンに対して設定する複数の直線軌道を示す図、第3図
は直線軌道上の探索によってパターンが検出され、また
ノイズパターンが除去されることを示す図である。 1・・・・・・撮像手段、2・・・・・・2値化手段、
3・・・・・・画像データ記憶手段、4・・・・・・直
線軌道探索手段、5・・・・・・8近傍データ読み出し
手段、6・・・・・・パターン代表位置記憶手段、20
・・・・・・画像データ、21・・・・・・ノイズパタ
ーン、22・23−24・・川・パターン、25 @2
6・27・28・・・・・・直線軌道、3Q・・・・・
・直線軌道、31・33・・・・・ノイズパターン、3
2・・・・・・パターン、39・・川・パターン代表位
置。
Claims (2)
- (1)撮像手段より得た画像信号をデジタル化した画像
データとして記憶しておき、上記画像データ上に複数の
直線軌道を設定して上記直線軌道に沿って上記画像デー
タを次々と読み出し、読み出した上記画像データの値が
パターンの外部を表す値からパターンの内部を表す値に
変化するパターンを検定すべきパターンとし、それ以外
をノイズとして除去する工程を有するパターン検出方法
。 - (2)撮像手段より得た画像信号をデジタル化した画像
データとして記憶しておき、上記画像データ上に複数の
直線軌道を設定して上記直線軌道に沿って上記画像デー
タを次々と読み出し、読み出した上記画像データの値が
パターンの外部を表す値からパターンの内部を表す値に
変化するパターン内部側の位置をまず検出し、次に検出
した上記パターン内部側の位置以降に存在する直線軌道
上の各位置において上記画像データから8近傍の画素デ
ータを次々と読み出し、上記8近傍の画素データの全て
が初めてパターン内部を表す値を持った位置をパターン
の代表位置とするパターン検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61247729A JPH0727563B2 (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | パタ−ン検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61247729A JPH0727563B2 (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | パタ−ン検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63101972A true JPS63101972A (ja) | 1988-05-06 |
JPH0727563B2 JPH0727563B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=17167804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61247729A Expired - Fee Related JPH0727563B2 (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | パタ−ン検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0727563B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04123497A (ja) * | 1990-09-14 | 1992-04-23 | Hitachi Ltd | 基板の位置検出方法および基板への部品搭載装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59114682A (ja) * | 1982-12-20 | 1984-07-02 | Matsushita Electric Works Ltd | 形状欠陥検査装置 |
JPS59136878A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Fuji Electric Co Ltd | ノイズ除去回路 |
JPS59211167A (ja) * | 1984-05-04 | 1984-11-29 | Hitachi Ltd | パタ−ンの位置検出装置 |
-
1986
- 1986-10-17 JP JP61247729A patent/JPH0727563B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59114682A (ja) * | 1982-12-20 | 1984-07-02 | Matsushita Electric Works Ltd | 形状欠陥検査装置 |
JPS59136878A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Fuji Electric Co Ltd | ノイズ除去回路 |
JPS59211167A (ja) * | 1984-05-04 | 1984-11-29 | Hitachi Ltd | パタ−ンの位置検出装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04123497A (ja) * | 1990-09-14 | 1992-04-23 | Hitachi Ltd | 基板の位置検出方法および基板への部品搭載装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0727563B2 (ja) | 1995-03-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6577758B1 (en) | Image position detection technique in which input parameters can be easily determined | |
JPH0810132B2 (ja) | 対象パタ−ンの回転角検出方式 | |
JP3243916B2 (ja) | 円形状パターン計測・位置認識装置 | |
JP3993044B2 (ja) | 外観検査方法、外観検査装置 | |
JPS63101972A (ja) | パタ−ン検出方法 | |
JPH113421A (ja) | 線分の検出方法 | |
JP4566686B2 (ja) | 対象物の形状判別方法及び装置 | |
JPH065545B2 (ja) | 図形認識装置 | |
JPH09178427A (ja) | 画像位置計測方法 | |
JP3031069B2 (ja) | 外観検査方法 | |
JPH0155630B2 (ja) | ||
JP3041056B2 (ja) | 半導体ペレットの検出方法 | |
JPH04269614A (ja) | パターン位置検出方法及びその実施装置 | |
JPH0334801B2 (ja) | ||
JPH08171627A (ja) | キャリブレーションパターンの重心検出方法 | |
JPH01207878A (ja) | 輪郭検査装置 | |
JP3235392B2 (ja) | 対象パターンの回転角検出方法 | |
JPS6312310B2 (ja) | ||
JPH0410074A (ja) | 画像パターン傾き検出方法 | |
JPH0680418B2 (ja) | 異物検査装置 | |
JPH065544B2 (ja) | 図形認識装置 | |
JPH09147121A (ja) | ロボットの物体認識方法及びその装置 | |
JPS61286704A (ja) | 画像の境界線検出方法 | |
JPH07118017B2 (ja) | 実装検査方法 | |
JPH09288068A (ja) | 外観検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |