JP3031069B2 - 外観検査方法 - Google Patents
外観検査方法Info
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- JP3031069B2 JP3031069B2 JP4196862A JP19686292A JP3031069B2 JP 3031069 B2 JP3031069 B2 JP 3031069B2 JP 4196862 A JP4196862 A JP 4196862A JP 19686292 A JP19686292 A JP 19686292A JP 3031069 B2 JP3031069 B2 JP 3031069B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、検査対象物を２次元
カメラ等の撮像装置によって撮像し、その２値化画像を
もとに検査対象物の欠けや汚れを検査するための外観検
査方法に関する。
カメラ等の撮像装置によって撮像し、その２値化画像を
もとに検査対象物の欠けや汚れを検査するための外観検
査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の検査方法としては、 （１）２値化画像に対して予め設定された判定領域枠を
重ね合わせてその枠内の面積値を測定し、これを基準値
と比較して判定する方法。 （２）検査対象物の２値化画像からそれを膨張させたパ
ターンと収縮させたパターンとを作成し、検査対象物と
それぞれ重ね合わせる（パターンマッチングをとる）こ
とによって差異面積値を計測し、各々を基準値とそれぞ
れ比較して判定する方法。 （３）２値化画像の輪郭をソフト処理によって追跡する
方法。 などが知られている。
重ね合わせてその枠内の面積値を測定し、これを基準値
と比較して判定する方法。 （２）検査対象物の２値化画像からそれを膨張させたパ
ターンと収縮させたパターンとを作成し、検査対象物と
それぞれ重ね合わせる（パターンマッチングをとる）こ
とによって差異面積値を計測し、各々を基準値とそれぞ
れ比較して判定する方法。 （３）２値化画像の輪郭をソフト処理によって追跡する
方法。 などが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、（１）
の方法では、判定領域内の検査対象物の面積に対し欠け
や汚れの部分の面積の方が小さい場合、不良部分の面積
値変動が良品のそれに対し小さ過ぎて検出不能となる場
合が生じる。また、膨張，収縮パターンと検査対象物パ
ターンとのパターンマッチングをとる（２）の方法で
は、膨張パターンの外側にある汚れと収縮パターンの内
側にある欠けの部分の差異面積を計測して判定を行なう
ため、収縮パターンの外側でかつ膨張パターンの内側に
ある欠けや汚れを検出できないという問題がある。な
お、この部分を狭くしようとすると良品変動が差異面積
として計測され、良品が不良と判定されることになる。
さらに、（３）の方法では処理時間が大幅に長くなって
しまい、高速の判定ができないなどの問題がある。した
がって、この発明の課題は欠けや汚れを高速かつ高精度
に検出可能とすることにある。
の方法では、判定領域内の検査対象物の面積に対し欠け
や汚れの部分の面積の方が小さい場合、不良部分の面積
値変動が良品のそれに対し小さ過ぎて検出不能となる場
合が生じる。また、膨張，収縮パターンと検査対象物パ
ターンとのパターンマッチングをとる（２）の方法で
は、膨張パターンの外側にある汚れと収縮パターンの内
側にある欠けの部分の差異面積を計測して判定を行なう
ため、収縮パターンの外側でかつ膨張パターンの内側に
ある欠けや汚れを検出できないという問題がある。な
お、この部分を狭くしようとすると良品変動が差異面積
として計測され、良品が不良と判定されることになる。
さらに、（３）の方法では処理時間が大幅に長くなって
しまい、高速の判定ができないなどの問題がある。した
がって、この発明の課題は欠けや汚れを高速かつ高精度
に検出可能とすることにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るため、この発明では、検査対象物を撮像してその２値
化画像の輪郭部と対応する所定位置に複数の検査領域
（ウインドウ）を設定し、このウインドウ内にある画像
について予め定められた方向からそれぞれスキャンし、
その輪郭部の各変化点の座標を順次抽出して画像メモリ
に格納し、この格納された各座標を所定ライン間隔で検
索し、前回の検索ラインと今回の検索ラインの各変化点
の差（変化率）を求め、これを予め設定された上下限設
定値とそれぞれ比較することにより、検査対象物の輪郭
部の欠けまたは汚れを検出することを特徴としている。
この発明では、前記ウインドウを円形，矩形，多角形，
リング形状を含む任意の形状に設定可能にするととも
に、検査対象物の形状に合う領域のみスキャンすること
により周辺ノイズパターンの影響を除去し、検査対象物
の検査不必要な領域をマスクすることができ、また、前
記１つのウインドウを複数のゾーンに分割し、各ゾーン
毎に上下限設定値を設定しておくことにより、前記変化
率の異なる曲線上の欠けや汚れをゾーン毎に検出可能に
することが可能である。
るため、この発明では、検査対象物を撮像してその２値
化画像の輪郭部と対応する所定位置に複数の検査領域
（ウインドウ）を設定し、このウインドウ内にある画像
について予め定められた方向からそれぞれスキャンし、
その輪郭部の各変化点の座標を順次抽出して画像メモリ
に格納し、この格納された各座標を所定ライン間隔で検
索し、前回の検索ラインと今回の検索ラインの各変化点
の差（変化率）を求め、これを予め設定された上下限設
定値とそれぞれ比較することにより、検査対象物の輪郭
部の欠けまたは汚れを検出することを特徴としている。
この発明では、前記ウインドウを円形，矩形，多角形，
リング形状を含む任意の形状に設定可能にするととも
に、検査対象物の形状に合う領域のみスキャンすること
により周辺ノイズパターンの影響を除去し、検査対象物
の検査不必要な領域をマスクすることができ、また、前
記１つのウインドウを複数のゾーンに分割し、各ゾーン
毎に上下限設定値を設定しておくことにより、前記変化
率の異なる曲線上の欠けや汚れをゾーン毎に検出可能に
することが可能である。
【０００５】
【作用】複数のウインドウを設定し、ウインドウ内の画
像輪郭部の前回ラインと今回ラインの変化点の差（変化
率）を求めることにより、周辺のノイズパターンや非検
査部分を除去した的確な判定を可能とし、微小な欠けや
汚れを高速かつ高精度に検出し得るようにする。
像輪郭部の前回ラインと今回ラインの変化点の差（変化
率）を求めることにより、周辺のノイズパターンや非検
査部分を除去した的確な判定を可能とし、微小な欠けや
汚れを高速かつ高精度に検出し得るようにする。
【０００６】
【実施例】図１はこの発明の実施例を示すフローチャー
ト、図２はこの発明が適用される装置を示すブロック図
である。まず、図２から説明する。同図において、１は
検査対象物を撮像する撮像装置としてのテレビカメラ、
２はカメラ１にて撮像した画像を２値化するための２値
化回路、３Ａ，３Ｂはメモリ５，６をスキャンするため
のアドレスを発生するアドレス発生回路、４Ａ，４Ｂは
そのスキャン方向を切り替えるためのＸ，Ｙ方向切り替
え回路、５は入力画像を格納するための画像メモリ、６
は変化点検出のためのウインドウパターンを格納するメ
モリ、７は検査対象物の画面上の位置を検出するための
位置検出回路、８はウインドウ内の変化点を抽出するた
めの変化点抽出回路、９は抽出された変化点の座標を記
憶する変化点メモリ、１０は処理装置（ＣＰＵ）、１１
はバスである。
ト、図２はこの発明が適用される装置を示すブロック図
である。まず、図２から説明する。同図において、１は
検査対象物を撮像する撮像装置としてのテレビカメラ、
２はカメラ１にて撮像した画像を２値化するための２値
化回路、３Ａ，３Ｂはメモリ５，６をスキャンするため
のアドレスを発生するアドレス発生回路、４Ａ，４Ｂは
そのスキャン方向を切り替えるためのＸ，Ｙ方向切り替
え回路、５は入力画像を格納するための画像メモリ、６
は変化点検出のためのウインドウパターンを格納するメ
モリ、７は検査対象物の画面上の位置を検出するための
位置検出回路、８はウインドウ内の変化点を抽出するた
めの変化点抽出回路、９は抽出された変化点の座標を記
憶する変化点メモリ、１０は処理装置（ＣＰＵ）、１１
はバスである。
【０００７】以下、図１も参照する。カメラ１によって
検査対象物を撮像し、２値化回路２により２値化した画
像を画像メモリ５に格納する（図１ステップＳ１参
照）。位置検出回路７はその画像から、検査対象物の基
準点に対する位置ずれ量を検出する（図１ステップＳ２
参照）。この位置ずれ量はアドレス発生回路３Ａに対し
て基準アドレスからのアドレス補正量として与えられ、
これによりＸ，Ｙ方向切り替え回路４Ａを介して画像メ
モリ５から所定方向にスキャンした画像が得られる。こ
のとき、アドレス発生回路３ＢおよびＸ，Ｙ方向切り替
え回路４Ｂを介して、ウインドウパターンメモリ６から
検査対象領域としてのウインドウパターンが読み出され
る。
検査対象物を撮像し、２値化回路２により２値化した画
像を画像メモリ５に格納する（図１ステップＳ１参
照）。位置検出回路７はその画像から、検査対象物の基
準点に対する位置ずれ量を検出する（図１ステップＳ２
参照）。この位置ずれ量はアドレス発生回路３Ａに対し
て基準アドレスからのアドレス補正量として与えられ、
これによりＸ，Ｙ方向切り替え回路４Ａを介して画像メ
モリ５から所定方向にスキャンした画像が得られる。こ
のとき、アドレス発生回路３ＢおよびＸ，Ｙ方向切り替
え回路４Ｂを介して、ウインドウパターンメモリ６から
検査対象領域としてのウインドウパターンが読み出され
る。
【０００８】このウインドウパターンとしては例えば図
３のように、検査対象物２１の検査したい輪郭部分を含
み、その周辺部のノイズパターンや非検査領域２２を除
いて設定されるよう、メモリ６に予め適当なパターンと
して記憶されている。また、各ウインドウ毎に画像をス
キャンする方向（水平Ｘ，垂直Ｙまたは両方向）を決め
ておくものとし、図３の例では検査対象物２１の左側面
の検査用としてはウインドウＷＸ１、右側面の検査用と
してはウインドウＷＸ２をそれぞれ設定し、スキャン方
向は水平とする。さらに、水平方向のスキャンでは欠け
や汚れの検出が難しい上面と下面では上面用としてＷＹ
１、下面用としてＷＹ２をそれぞれ設定し、そのスキャ
ン方向は垂直とする。
３のように、検査対象物２１の検査したい輪郭部分を含
み、その周辺部のノイズパターンや非検査領域２２を除
いて設定されるよう、メモリ６に予め適当なパターンと
して記憶されている。また、各ウインドウ毎に画像をス
キャンする方向（水平Ｘ，垂直Ｙまたは両方向）を決め
ておくものとし、図３の例では検査対象物２１の左側面
の検査用としてはウインドウＷＸ１、右側面の検査用と
してはウインドウＷＸ２をそれぞれ設定し、スキャン方
向は水平とする。さらに、水平方向のスキャンでは欠け
や汚れの検出が難しい上面と下面では上面用としてＷＹ
１、下面用としてＷＹ２をそれぞれ設定し、そのスキャ
ン方向は垂直とする。
【０００９】変化点抽出回路８は、上記の如く設定され
た各ウインドウについてその対象物画像の変化点（立ち
上がり，立ち下がり）をそれぞれ抽出し（図１ステップ
Ｓ４，Ｓ９参照）、その座標位置を変化点メモリ９に格
納する。図４に図３のウインドウＷＸ１におけるゾーン
Ｘ１の画像の拡大図と変化点メモリのデータとの関係を
示す。すなわち、Ｙ座標ｎにおけるＸ方向の立ち上がり
点座標ｘｎ，立ち下がり点座標ｘｎ’、Ｙ座標ｎ＋１に
おけるＸ方向の立ち上がり点座標ｘn+1 ，立ち下がり点
座標ｘn+1 ’…を順次変化点抽出回路８によって抽出
し、変化点メモリ９に記憶する。
た各ウインドウについてその対象物画像の変化点（立ち
上がり，立ち下がり）をそれぞれ抽出し（図１ステップ
Ｓ４，Ｓ９参照）、その座標位置を変化点メモリ９に格
納する。図４に図３のウインドウＷＸ１におけるゾーン
Ｘ１の画像の拡大図と変化点メモリのデータとの関係を
示す。すなわち、Ｙ座標ｎにおけるＸ方向の立ち上がり
点座標ｘｎ，立ち下がり点座標ｘｎ’、Ｙ座標ｎ＋１に
おけるＸ方向の立ち上がり点座標ｘn+1 ，立ち下がり点
座標ｘn+1 ’…を順次変化点抽出回路８によって抽出
し、変化点メモリ９に記憶する。
【００１０】ＣＰＵ１０は変化点メモリ９に記憶された
データから、図５の如き立ち上がり変化率ΔＸおよび立
ち下がり変化率ΔＸ’をそれぞれ算出する（図１ステッ
プＳ５参照）。この場合、輪郭の欠けが浅く１ライン毎
では差が出ないような場合には、１ラインおきや２ライ
ンおきの複数間隔で各変化率を求めるようにしても良
い。算出された立ち上がり変化率ΔＸおよび立ち下がり
変化率ΔＸ’を、予め設定された上下限値ΔＸｍａｘ，
ΔＸｍｉｎと比較し、ΔＸおよびΔＸ’がこの上下限値
を越えていれば、検査対象物の一部に欠けがあると判断
する（図１ステップＳ６参照）。この上下限値はウイン
ドウ毎に輪郭の変化率に合わせて複数のゾーンに分け、
各ゾーン毎に設定する。
データから、図５の如き立ち上がり変化率ΔＸおよび立
ち下がり変化率ΔＸ’をそれぞれ算出する（図１ステッ
プＳ５参照）。この場合、輪郭の欠けが浅く１ライン毎
では差が出ないような場合には、１ラインおきや２ライ
ンおきの複数間隔で各変化率を求めるようにしても良
い。算出された立ち上がり変化率ΔＸおよび立ち下がり
変化率ΔＸ’を、予め設定された上下限値ΔＸｍａｘ，
ΔＸｍｉｎと比較し、ΔＸおよびΔＸ’がこの上下限値
を越えていれば、検査対象物の一部に欠けがあると判断
する（図１ステップＳ６参照）。この上下限値はウイン
ドウ毎に輪郭の変化率に合わせて複数のゾーンに分け、
各ゾーン毎に設定する。
【００１１】図３のようなウインドウＷＸ１の場合、例
えば輪郭の変化率に合わせて３つのゾーンＸ１，Ｘ２，
Ｘ３に分割する。そして、各ゾーン毎にその上下限値を
下記の表１のように設定すると、図４の対象物２１の拡
大部分はゾーンＸ１にあり、その上下限値はΔＸｍａｘ
が＋２、ΔＸｍｉｎが−１であることから、Ｙ座標ｎ＋
３からｎ＋４への立ち上がり変化率が−２で下限値を越
えているので、この部分が欠陥と判断されることにな
る。
えば輪郭の変化率に合わせて３つのゾーンＸ１，Ｘ２，
Ｘ３に分割する。そして、各ゾーン毎にその上下限値を
下記の表１のように設定すると、図４の対象物２１の拡
大部分はゾーンＸ１にあり、その上下限値はΔＸｍａｘ
が＋２、ΔＸｍｉｎが−１であることから、Ｙ座標ｎ＋
３からｎ＋４への立ち上がり変化率が−２で下限値を越
えているので、この部分が欠陥と判断されることにな
る。
【００１２】なお、上記ではウインドウの形状を矩形と
したが、これは検査対象物の形状に応じて任意に設定す
ることが可能である。図６，図７にウインドウの設定例
を示す。図６は検査対象物の円形性を検査するためのも
ので、内部の文字２２（Ａ）は検査の必要がない（非検
査対象物）場合の例で、ウインドウ形状がリング状の例
である。そのスキャン方向は同一のウインドウＷＸＹ１
を用いてＸ，Ｙ両方向とし、スキャン率（幅）はＸ，Ｙ
方向で検査する輪郭部ができるだけ重複しないように例
えば７０％とする。図７は文字Ｓの輪郭部の欠けや汚れ
を検査するためのもので、そのスキャン方向および形状
に合わせてウインドウを設定する。ここでは、ウインド
ウＷＸ１〜ＷＸ４のスキャン方向をＸ、ウインドウＷＹ
１〜ＷＹ３のスキャン方向をＹとした例である。
したが、これは検査対象物の形状に応じて任意に設定す
ることが可能である。図６，図７にウインドウの設定例
を示す。図６は検査対象物の円形性を検査するためのも
ので、内部の文字２２（Ａ）は検査の必要がない（非検
査対象物）場合の例で、ウインドウ形状がリング状の例
である。そのスキャン方向は同一のウインドウＷＸＹ１
を用いてＸ，Ｙ両方向とし、スキャン率（幅）はＸ，Ｙ
方向で検査する輪郭部ができるだけ重複しないように例
えば７０％とする。図７は文字Ｓの輪郭部の欠けや汚れ
を検査するためのもので、そのスキャン方向および形状
に合わせてウインドウを設定する。ここでは、ウインド
ウＷＸ１〜ＷＸ４のスキャン方向をＸ、ウインドウＷＹ
１〜ＷＹ３のスキャン方向をＹとした例である。
【００１３】
【発明の効果】この発明によれば、複数のウインドウを
設定し、ウインドウ内画像輪郭部の走査ライン毎の変化
率に着目することにより、周辺のノイズパターンや非検
査部分を除去した的確な判定が可能となるため、微小な
欠けや汚れを高速かつ高精度に検出し得る利点がもたら
される。
設定し、ウインドウ内画像輪郭部の走査ライン毎の変化
率に着目することにより、周辺のノイズパターンや非検
査部分を除去した的確な判定が可能となるため、微小な
欠けや汚れを高速かつ高精度に検出し得る利点がもたら
される。
【図１】この発明の実施例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図２】この発明が適用される装置を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】画像とウインドウの具体例を説明するための説
明図である。
明図である。
【図４】図３におけるウインドウＷＸ１および対象物画
像を拡大して説明するための説明図である。
像を拡大して説明するための説明図である。
【図５】図４の変化率データを説明するための説明図で
ある。
ある。
【図６】ウインドウの設定例を説明するための説明図で
ある。
ある。
【図７】ウインドウの別の設定例を説明するための説明
図である。
図である。
１…テレビカメラ、２…２値化回路、３Ａ，３Ｂ…アド
レス発生回路、４Ａ，４Ｂ…Ｘ，Ｙ方向切り替え回路、
５…画像メモリ、６…ウインドウパターンメモリ、７…
位置検出回路、８…変化点抽出回路、９…変化点メモ
リ、１０…処理装置（ＣＰＵ）、１１…バス、２１…検
査対象物、２２…非検査領域、２３…撮像視野。
レス発生回路、４Ａ，４Ｂ…Ｘ，Ｙ方向切り替え回路、
５…画像メモリ、６…ウインドウパターンメモリ、７…
位置検出回路、８…変化点抽出回路、９…変化点メモ
リ、１０…処理装置（ＣＰＵ）、１１…バス、２１…検
査対象物、２２…非検査領域、２３…撮像視野。
Claims (3)
- 【請求項１】 検査対象物を撮像してその２値化画像の
輪郭部と対応する所定位置に複数の検査領域（ウインド
ウ）を設定し、このウインドウ内にある画像について予
め定められた方向からそれぞれスキャンし、その輪郭部
の各変化点の座標を順次抽出して画像メモリに格納し、
この格納された各座標を所定ライン間隔で検索し、前回
の検索ラインと今回の検索ラインの各変化点の差（変化
率）を求め、これを予め設定された上下限設定値とそれ
ぞれ比較することにより、検査対象物の輪郭部の欠けま
たは汚れを検出することを特徴とする外観検査方法。 - 【請求項２】 前記ウインドウを円形，矩形，多角形，
リング形状を含む任意の形状に設定可能にするととも
に、検査対象物の形状に合う領域のみスキャンすること
により周辺ノイズパターンの影響を除去し、検査対象物
の検査不必要な領域をマスクすることを特徴とする請求
項１に記載の外観検査方法。 - 【請求項３】 前記１つのウインドウを複数のゾーンに
分割し、各ゾーン毎に上下限設定値を設定しておくこと
により、前記変化率の異なる曲線上の欠けや汚れをゾー
ン毎に検出可能にしてなることを特徴とする請求項１に
記載の外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4196862A JP3031069B2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4196862A JP3031069B2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 外観検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0643113A JPH0643113A (ja) | 1994-02-18 |
| JP3031069B2 true JP3031069B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=16364898
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4196862A Expired - Lifetime JP3031069B2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3031069B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0441914A (ja) * | 1990-06-01 | 1992-02-12 | Nissan Motor Co Ltd | 内燃機関の排気処理装置 |
| JP4670090B2 (ja) * | 2000-08-11 | 2011-04-13 | 味の素株式会社 | 可撓性プラスチック容器の異物検査装置及びその異物検査方法 |
| JP4799426B2 (ja) * | 2007-01-10 | 2011-10-26 | 菱栄エンジニアリング株式会社 | 輪郭部の欠け検査方法およびその装置 |
-
1992
- 1992-07-23 JP JP4196862A patent/JP3031069B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0643113A (ja) | 1994-02-18 |
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