JPS63100383A - 電気回路網の検査装置 - Google Patents

電気回路網の検査装置

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Publication number
JPS63100383A
JPS63100383A JP61245450A JP24545086A JPS63100383A JP S63100383 A JPS63100383 A JP S63100383A JP 61245450 A JP61245450 A JP 61245450A JP 24545086 A JP24545086 A JP 24545086A JP S63100383 A JPS63100383 A JP S63100383A
Authority
JP
Japan
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roller
array
terminal points
terminal
capacitance
Prior art date
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Pending
Application number
JP61245450A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Yamaguchi
剛 山口
Akira Busujima
明 毒島
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Via Mechanics Ltd
Original Assignee
Hitachi Seiko Ltd
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント基板等の電気回路網の接続の欠陥の
有無を検査する電気回路閑の検査装置に関する。
(従来の技術〕 絶縁基板上に多数の端子点を設け、これら端子点のうち
の所要のものどうしをプリント配線により接続し、端子
点に電気部品を接続することにより所定の機能を発揮せ
しめる装置はプリント基板として知られている。このよ
うな装置において、電気部品と、装着する前の回路基板
(以下、このような基板をベアボードという)は、同一
のものが多数製造されるが、これら製造されたベアボー
ドの中には、回路に欠陥を有するものが存在するおそれ
がある。そして、このような欠陥のあるベアボードを使
用した場合、装置は所期の機能を発揮することはできな
い、このため、製造されたベアボードは1枚毎に回路欠
陥の有無をチエツクされる。
ところで、−Cにベアボード製造時においては、回路網
設計時に存在する回路の接続関係の情報を使用すること
が不可能である場合が多い、したがって、この場合、製
造されたベアボードの回路の接続関係は未知である。そ
こで、ベアボードのチエツクには、多くの場合次のよう
な手法が用いられる。即ち、まず、誘電体層をベアボー
ドと導電プレートとで挾み、ベアボードの回路と導電プ
レートとの間の容量を測定する装置を備える0次いで、
数枚又は数十枚のベアボードについて各端子点の容量を
測定し、各ベアボードの同一端子点について測定された
容量の分布を観察し、ある範囲外に分布する端子点を有
するベアボードを欠陥があるものとして除外し、それ以
外のベアボードは欠陥がないものとする。そして、以後
のチエツクは当該欠陥がないものとされたベアボードの
各端子点の容量を基準とし、検査対象のベアボードの各
端子点の容量を測定し、これらの容量が、対応する基準
の容量の誤差範囲内にあるときそのベアボードは欠陥な
しと判定し、誤差範囲外にあるとき欠陥ありと判定する
。以下、このような検査に用いる装置を図により説明す
る。
第3図は従来のベアボード検査装置の系統図である0図
で、1は検査対象となるベアボード、2は導電プレート
、3はベアボード1と導電プレート2の間に挿入された
誘電体層である。4はベアボード1の端子穴(端子点)
であり、ここに所定の電気部品が挿入される。
端子点4は多数形成されている。5はベアボードlの回
路を形成する導体であり、所定の端子点間を電気的に接
続する。6はこの検査装置のプローブであり、それぞれ
各端子点4に任意に挿入される。7はプローブ6を所定
の位置に移動させ、その位置の端子点4に挿入させるX
−Y位置決め装置、8はプローブ6が接触した端子点4
の容量を測定する容量測定装置である。9はX−Y位置
決め装置7および容量測定装置8を制御する制御コンピ
ュータである。
X−Y位置決め装置7は制御コンピュータ9の指令によ
り各端子点4にプローブ6を順次接触せしめる。プロー
ブ6が端子点4に接触する度に制御コンピュータ9は容
量測定装置8に対してその端子点4の容量を測定する指
令を出力して容量を測定せしめる。この容量は、その端
子点4に接続されている導体5と導電プレート2との間
の容量であり、当該導体5の面積に比例する。したがっ
て、同一導体に接続されているすべての端子点4は、測
定誤差の範囲内でほぼ同一の容量となる。
このようにして、プローブ6はすべての端子点4に接触
し、それらの容量が測定される。これらの容量をチエツ
クすることにより、前述のようにベアボードの欠陥の有
無が判定される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記ベアボードの検査装置を用いた容量測定動作をさら
に詳細にみると、まず、プローブ6を最初の端子点4の
真上まで移動させ、次にこれを降下させてその端子点4
と接触せしめ、この状態で容量を測定し、測定が終了す
るとプローブを引上げ、次いでプローブ6を次の端子点
4の真上まで移動させるという動作を繰返すことになる
ところで、−mにベアボードに設けられる端子点の数は
数百以上である場合が多く、したがって、上記動作を考
慮するとベアボードのチエツクには極めて長時間を要す
るという欠点があった。近年、測定回数を減少させるた
め種々の方法が考案されているが、それらによってもま
だ相当数の測定回数を要し、依然としてチエツクに長時
間を要することに変りはない。
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決。
し、検査に要する時間を短縮することができる電気回路
網の検査装置を提供するにある。
〔問題点を解決するための手段〕
れた多数の電極と、これら電極が接触した端子点の容量
を各端子点毎に個別に測定する容量測定手段と、ローラ
の転動と容量測定手段の測定を制御する制御手段とを備
えてい乞、ことを特徴とする。
〔作 用〕
ローラを基板上に転動させると、その外周に設けられた
電極が、基板におけるいくつかの端子点と接触する。制
御手段は、この状態において容量測定手段を制御し、接
触している端子点の容量を個別に測定させる。これら容
量の測定が終了すると、制御手段は再びローラを所定量
転動せしめ、ローラ外周の電極をいくつかの新しい端子
点と接触せしめる。このようにしてローラの転動と容量
測定を繰返えす。
〔実施例〕
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図は本発明の実施例に係る電気回路網の検査装置の
系統図である0図で、1はベアボード、2は導電プレー
ト、3は誘電体層、4は端子点、5は導体であり、これ
らは第3図に示すものと同じである。10はベアボード
1上を転動するローラ、11はローラlOの絶縁体の外
筒、12は外筒11上に配設された電極、13はローラ
10の絶縁体の内筒である。14はローラ10の転動を
駆動制御するローラ制御装置、15は電極12が接触し
た端子点4の容量を測定する容量測定装置、16はロー
ラ制御装置14と容量測定装置15の動作を制御する制
御コンピュータである。上記ローラ10のさらに詳細な
構成を第2図(a)。
(b)に示す。
第2図(a)、  (b)はローラの一部破断側面図お
よび線II A −]I t\に沿う断面図であ、る、
各図で、第1図に示す部分と同一部分には同一符号が付
しである。電極12は外筒11を貫通して設けられてい
る。内筒13は回転せず、ローラ10が転動しても常に
図示の状態に固定されている。17は内筒13に設けら
れた突出導体であり、ローラ10の長手方向に沿って多
数設置されている。これら各突出導体17は内筒13か
ら同一方向(図では垂直下方)に突出しており、その先
端は外筒11内面において電極12と接触可能となって
いる。18は電極選択スイッチであり、各突出導体17
と接続される多数の端子18aとこれら端子18aと接
触する接触子18bで構成される。接触子18bは容量
測定装置15に接続されている。
なお、電極選択スイッチ18は実際にはトランジスタ等
の素子を用いたスイッチング回路が使用されるが、理解
を容易にするため機械的なスイッチとして示されている
。19は電極選択スイッチ18の各端子18aと対応す
る各突出導体17とを接続するリード線である。
ここで、外筒11に設けられる電極1・2の配置につい
て述べる。通常、ベアボード1に設けられる端子点の位
置は、不規則に定められるものではなく、ある大きさの
メツシュの交点上のいずれかに定められる。したがって
、それらは、1つの縦横の列上において単位間隔の任意
の整数倍の位置にある。このように配置された端子点4
と接触させるため、ローラ10の外筒11を展開したと
き、各電極12は、ベアボード1上の各点にすべて端子
点が設けられているのと同様の配列で配置される。これ
により、ローラ10の所定角度の転動毎に、電極12は
ベアボード1上の端子点401つの列において、端子点
4が存在し得るすべての位置に存在することとなる。
次に、本実施例の動作を説明する。制御コンピュータ1
6にはベアボード1の各端子点4の位置(座標)がすべ
て記憶されている。最初、ローラ10は一方側端部(例
えば左端)に位置せしめられる。制御コンピュータ16
の指令により、ローラ制御装Tt14が働き、ローラ1
0を所定角度転動させると、ローラ10の長手方向に配
列された電極12の1つの列はベアボード1上の左端の
端子点4の列に一部する。制御コンピュータ16は、こ
の列のどの位置に端子点4が存在するかを記憶している
ので、容量測定装置15に指令を出力し、電極選択スイ
ッチ18を端子点4の存在位置に応じて操作せしめる。
即ち、電極選択スイッチ18の接触子18bは、端子点
4が接触している電極1z鬼と接続されている端子18
aを順次選択することになる。そして、この選択毎に容
量測定装置は当該端子点4の容量を測定する。
このようにして、ベアボード1上の最初の列に存在する
すべての端子点4の容量測定が終了すると、制御コンピ
ュータ16はローラ制御装置14に指令を出力し、ロー
ラ10を再び同一方向に所定角度転動せしめる。これに
より、電極120次の列がベアボード1上の端子点4の
次の列に一部するとともに、それら各電極12は外筒1
1内面において各突出導体17の先端に接触する。この
状態で、制御コンピュータ16から容量測定装置15に
指令が出力されることにより、前述と同様にして容量測
定が実行される。以下、ベアボード1上の右端の端子点
4の列の容量測定まで同一動作が繰返えされる。
このように、本実施例では、ローラを転動させることに
より、ローラ上の電極の列とベアボード上の端子点の列
とを一致させ、当該列に存在する端子点の容量測定を行
うようにしたので、従来装置において各端子点毎にプロ
ーブの下降、引上げおよび移動を行う必要はなく、これ
により検査時間を飛躍的(通常のベアボードで1/10
)に短縮することができる。
なお、上記実施例の説明では、同一円周上にある電極に
対して1つの突出導体を共通に使用する例について説明
したが、すべての電極それぞれに突出導体を設け、又は
リード線を接続するようにしてもよい。
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明では、基板上にローラを転動
させて各端子点とローラ上の各電極とを接触させ、これ
により容量測定を行うようにしたので、従来装置のよう
にプローブの下降、引上げおよび移動を行う必要はなく
、検査時間を大幅に短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係る電気回路網の検査装置の
系統図、第2図(a)、(b)は第1図に示すローラの
一部破断側面図および断面図、第3図は従来の電気回路
網の検査装置の系統図である。 1・・・・・・・・・ベアボード、4・・・・・・・・
・端子点、5・・・・・・・・・導体、10・・・・・
・・・・ローラ、11・・・・・・・・・外筒、12・
・・・・・・・・電極、13・・・・・・・・・内筒、
14・・・・・・・・・ローラ制御装置、15・・・・
・・・・・容量測定装置、16・・・・・・・・・制御
コンピュータ、17・・・・・・・・・突出導体、18
・・・・・・・・・電極選択スイッチ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電気的素子を接続する多数の端子点およびこれら端子点
    の所要のものどうしを接続する電気回路を設けた基板上
    を転動するローラと、このローラの外周に前記端子点と
    接触可能に配置された多数の電極と、これら電極が接触
    した各端子点の容量を個別に測定する容量測定手段と、
    前記ローラの転動および前記容量測定手段の測定を制御
    する制御手段とを備えていることを特徴とする電気回路
    網の検査装置。
JP61245450A 1986-10-17 1986-10-17 電気回路網の検査装置 Pending JPS63100383A (ja)

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JP61245450A JPS63100383A (ja) 1986-10-17 1986-10-17 電気回路網の検査装置

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JPS63100383A true JPS63100383A (ja) 1988-05-02

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009080121A (ja) * 2008-10-27 2009-04-16 Hioki Ee Corp 回路基板検査方法および回路基板検査装置

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