JPS6293020A - 連続式タンデム圧延機における板厚測定装置の校正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はストリップの連続式タン１デム圧延機において
、このラインに設けた板厚測定装置を通板中に校正する
方法に係る。

周知のように、特にストリップ圧延においては高効率（
高生産、高品質）化を指向し、従来のバッチ式タンデム
圧延機から連続式タンデム圧延機への変遷が顕著である
。一方ユーザーでの薄板加工技術の向上に伴い、ストリ
ップ製品の板厚精度の要求レベルは益々高くなっている
。

このような中で、連続式タンデム圧延機における板厚測
定装置の測定精度は極めて重要であり。

特にブリキ材のような板厚の薄いストリップでは、板ｎ
のＬ％、即ち２μのオーダが問題となる。従って如何に
板厚測定装置の測定精度を維持していくかが大きな課題
となる。

通常かかる設備では、板厚測定装置としてＸ線板厚計が
多用され、また板厚計には測定誤差を伴うのが通例であ
る。板厚計の測定誤差には雑音。

設定誤差、ドリフト等板厚計固有の誤差と、Ｘ線放射口
に付着する水、圧延油等を原因とする測定空間内異物に
よる誤差がある。

前者の誤差は固有値であり補正により容易に解体−？％
噺スム１７１１−訊ス嶋く　鳩央の玉薯１士　界蜘の社
Ｍ　ｆｆｉが時間とともに変化するため、放射口に付着
した異物を含めた状態で透過Ｘ線強度をみる必要がある
。従って異物が放射口に付着した状態での、逐一校正が
必要となる。

従来このような板厚計校正の手段として１例えば特開昭
５７−４０８０４号、或いは特開昭５７−３９３０９号
公報のように、測定する厚みに応じた基準校正板により
その前後１０％を含む３点校正を行うところのノーマル
校正法が知られる。然しその校正にはＸ線上に鋼板がな
い状態（非通板時）であることが前提であり、連続式タ
ンデム圧延機のようにストリップが常時通板している圧
延機の板厚計の校正法としては不適当である。

かかる事情から、連続式タンデム圧延機の場合は、実際
的にはロール組替え等のライン休止時に（Ｘ線上に鋼板
がない状態）に、頻繁な校正ができないことを前提に、
どのような板厚でも測定が可能なように、板厚計測定範
囲全域の検量線作成を行うところのバックアップ校正法
を適用している。

（発明が解決しようとする問題点） 然しこの７ヘンクアンプ校正法は手動で行う必要がある
こと、広い板厚範囲の校正を一挙に行わざるを得ないの
で、ノーマル校正法に比して測定誤差も大きくなること
、そして何よりも校正ｍ度を多くとることが出来ないと
いう欠点をもっている。このため通常は、ラップチェッ
クと称しコイルの肉厚より平均板厚を推定する方法によ
り精度維持に努めているが、肉厚のΔ１１定は圧延済の
コイルであるため、精度異状を確認したときは既に板Ｊ
ブ精度不良なコイルが発生した後となる。

本発明はかかる事情から、オペレータの手を煩わせるこ
となく、圧延中（通板中）に短時間にＩ）ｈ記校正が出
来るようにし、これによって高い校正頻度の確保と、よ
り高い板厚測定精度の維持を図ることを目的としている
。

（問題点を解決するための手段） 本発明は、連続式タンデム圧延機一台に少なくとも２白
息」二の板厚計を配置し、その内の一台が常にストリッ
プ板巾方向の中央にて板厚を測定し、他の板厚計は圧延
中に後退して前記のノーマル校正を行うとともに、校正
は走間板厚変更指令、板厚変更点のジャー位置通過信号
或いは板厚変更点の板厚計到達信号等のトラッキング信
号により、ＡＧＯとして使用する板厚設定値の変更等を
行い、さらに校正済の板厚計をＡＭ定中の板厚計のチェ
ック補助のための比較器としての機能をもたせるように
したことを特徴としている。

（実施例） 以Ｆ本発明を図面に示す一実施例に基づいて具体的に説
明する。第１図（ａ）（ｂ）は本発明を実施するだめの
設備配置を示しているが、この例では圧延機１一台の出
側とシャーＸＳとの間に、少なくとも２台以上の板厚計
ＸＩ、板厚計Ｘ２が配置され、いずれかの一方は（板厚
計ＸＩ）ストリップ２の機中中央で板厚をΔＩｌｌ定し
、他方の板厚計×２はストリップ２の巾方向（矢印）に
後退して校正を行う。

校正は走１’ｌＪＩ板厚変更指令、板厚変更点のシャー
位１６通過信号或いは板厚変更点の板厚計到達信号る板
厚計の選択及び板厚設定値の変更等を行う時に自動的に
実施される。また校正済の板厚計はＡＧＣの操作信号と
して使用されている板厚計の比較器として直ちに制御系
に復帰する。これを第２図を用いて具体的に説明する。

第２図の上段は、板厚変更を行う連続式タンデム圧延機
におけるストリップの厚み変化と板厚みの例示及びコイ
ルの溶接点■〜■を示し、２番［１の段は板厚計ｘ１の
設定値、自動校正のタイミング、測定モードを示し、３
番目の段は同じく板厚計Ｘ２の設定値、自動校正のタイ
ミング、測定モードを示し、最下段にはＡＧＣとして使
用する板厚計を示し、この図では現在は板厚計ｘ１がＡ
ＧＣにＯＮとなっている。

而して板厚計変更点の１つ前の冷延溶接点■がシャー×
Ｓの位置を通過すると、板厚計ｘ１の設定値を次の板厚
変更後の設定値（０，３０ｍａ＋）を設定し、板厚計Ｘ
ｉが校正に入る。このため板厚計Ｘ１は自動的にストリ
ップ２のエツジより外に退避し、そこで戻る。また板厚
計ＸＩが校正にはいる前にＡＧＣに使われる板厚計を板
厚計ｘ１から板厚計ｘ２に切り替える。板厚変更点Ａが
板厚計ｘ２に達したとき、ＡＧＯに使われる板厚計を板
厚計ｘ２から板厚計ＸＩに切り替え、同様に板厚計ｘ２
の設定値を板厚変更後の設定値（０，３０ｍｍ）に設定
し、板厚計ｘ２が校正に入る。

即ち前述の例では、板厚計０．３０ｓ＋ｓから０．２５
■層の板厚計変更点Ｂの一つ前の冷延溶接点■が、板厚
０．２ｍｍから０．３ｔ）＊ｍの板厚計変更点Ａである
ため、板厚計変更点Ａが板厚計ｘ２に到達したとき、Ａ
ＧＯに使われる板厚計を板厚計ｘ２から板厚計ＸＩに切
り替え、板厚計ｘ２の校正が完了した頃、　ＡＧＯに使
われる板厚計を再度板厚計×１から板厚計ｘ２にきりか
え、板厚計ｘ１の設定値を設定（０，２５■ｍ）Ｌ、板
厚計ＸＩが校正に入る。

前述した例は板厚計変更がかなり頻繁に行われた場合の
適用例であるが、もっと単純には第２図の冷延溶接点■
以降の厚みが、同じ０．３ｍｍであるスケジュールの場
合は、冷延溶接点■と■との間は全て板厚計Ｘｔとし、
冷延溶接点■と■との間は板厚計Ｘ２とすることになる
。

このようにして一部の校正時間（約３秒）と移動時間を
除き、両板厚計ＸＩ、Ｘ２が交互にＡＧＣ用、比較器用
（バックアップ）として機能することができる。若し両
板厚計の間で差が生じた場合には、いずれかの板厚計を
手動にて校正する。

第３図に、前記した本発明の校正方法を適用した実際の
圧延制御系に組み込んだ例を示している０点線で囲んだ
部分３は従来の張力ＡＧＣであり、説明は省略する。板
厚計Ｘ１．板厚計ｘ２の測定信号は設定値と比較され、
その偏差は増巾器４及びＡ／Ｄ変換器５を介してＡＧＯ
圧延制御系にＯＮとなる。前述の板厚変更点及び冷延溶
接点等のトラッキング、さらに板厚計の切り替え、校正
指令などは、プロセスコンピューター６から送られてく
る生産予定データ及び溶接点検出器の信号などをもとに
、プラントコントローラ７で判断し、板厚測定装置へ次
に校正すべき板厚設定値や校正のタイミングを送る。な
おこの図には第２図の校正動作フローを併せて図示して
いる。

（発明の効果） 本発明は以上説明した通りであるがこの方法によれば、
第４図のように従来の校正方法（点線）に比し、本発明
法（実線）はノーマル校正法であるので当然であるが、
優れた精度を確保できることは確認された。換言すれば
、本発明によればバッチ式タンデム圧延機の通板・・尻
抜け・ロール組替え等で適用されるストリップのない状
態での校正と同じ校正法を高頻度で連続式タンデム圧延
機において採用できる利点がある。特に多品種・多ロッ
ドでしかも板厚の薄い材料を同上圧延機で高精度で圧延
する際に大きな効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は未発明を実施するための設備配置例を示してい
る。第２図は本発明の校正動作フローの一例を図示して
いる。第３図は本発明の校正方法を適用した実際の圧延
制御系ブロック図である。 第４図は従来法と本発明方法による板厚測定精度ｌ・・
・圧延機、２・・・ストリップ、３・・・張力ＡＧＣ。 ４・・・増巾器、５・・・Ａ／Ｄ変換器、６・・・プロ
セスコンピューター、７・・・プラントコントローラ、
ｘｌ。 ｘ２・・・板厚計。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 一台の圧延機に設けた少なくとも２台以上の板厚測定装
   置の一方を、所定の指令によってストリップ中央から後
   退させて所要の設定値で校正を行うとともに、他の板厚
   測定装置をストリップ中央に位置させて板厚測定信号を
   得、校正の完了した一方の板厚測定装置をストリップ中
   央に復帰させ、切り替え信号により通常の制御系への入
   力を変更することを特徴とする連続式タンデム圧延機に
   おける板厚測定装置の校正方法。