JPS6288133A - 磁気記憶体 - Google Patents
磁気記憶体Info
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- JPS6288133A JPS6288133A JP22831185A JP22831185A JPS6288133A JP S6288133 A JPS6288133 A JP S6288133A JP 22831185 A JP22831185 A JP 22831185A JP 22831185 A JP22831185 A JP 22831185A JP S6288133 A JPS6288133 A JP S6288133A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気的記録装置(磁気ディスク装置、磁気ド
ラム装置及び磁気テープ装置等)に用いられる磁気記憶
体(以下記憶体と呼ぶ)に関し、詳しくは、記憶体の金
属磁性薄膜媒体(以下金属媒体と呼ぶ)上の保護膜に関
する。
ラム装置及び磁気テープ装置等)に用いられる磁気記憶
体(以下記憶体と呼ぶ)に関し、詳しくは、記憶体の金
属磁性薄膜媒体(以下金属媒体と呼ぶ)上の保護膜に関
する。
本発明は、金属媒体上尾酸化物、窒化物、炭化物及び炭
素分から選ばれる少なくとも1種の物質より成る薄膜が
被覆された記憶体に於いて、更に該薄膜の表面、細孔部
及び該薄膜により被覆されない金属媒体の表面に、少な
くとも炭素数が19〜34の直鎖飽和アルコールの混合
物を被覆せしめることにより、記憶体と記録再生ヘッド
(以下ヘッドと呼ぶ)間の摩擦係数を著るしく低下させ
父上記直鎖飽和アルコールの混合物が記憶体の構成金属
セして/或いは、該構成金属の自然酸化物及び上記酸化
物、窒化物、炭化物、炭素に吸着させたものであ、す、
これによシ記憶体の機械的信頼性と防食効果を飛躍的に
向上させたものである。
素分から選ばれる少なくとも1種の物質より成る薄膜が
被覆された記憶体に於いて、更に該薄膜の表面、細孔部
及び該薄膜により被覆されない金属媒体の表面に、少な
くとも炭素数が19〜34の直鎖飽和アルコールの混合
物を被覆せしめることにより、記憶体と記録再生ヘッド
(以下ヘッドと呼ぶ)間の摩擦係数を著るしく低下させ
父上記直鎖飽和アルコールの混合物が記憶体の構成金属
セして/或いは、該構成金属の自然酸化物及び上記酸化
物、窒化物、炭化物、炭素に吸着させたものであ、す、
これによシ記憶体の機械的信頼性と防食効果を飛躍的に
向上させたものである。
金属媒体を有する記憶体に於いては、ヘッドとの接触に
耐えるだけの充分な機械的信頼性と金属媒体を腐食から
守る耐食性を有する保護膜を被覆せしめる事が必須であ
る。
耐えるだけの充分な機械的信頼性と金属媒体を腐食から
守る耐食性を有する保護膜を被覆せしめる事が必須であ
る。
従来、Rh、Cr、N1−P、Au等の金属7−t−保
護膜として被覆する事が、特公昭47−49605゜四
48−14241.同413−418131.同55−
6257.%開昭55−75108.同58−2652
0等で提案されているが、記憶体の耐食性を光分に確保
するには、該金属層の厚みft+oooX以上にせねば
ならず、又機械的信頼性は極めて低いものである。又特
公昭49−29645゜同52−17402.同58−
57616.特開昭57−117126等に湿式・乾式
両表面処理法による酸化物層の形成が提案されているが
、該表面処理法によシ、金属磁性薄膜媒体の磁気特性が
変化し、又得られた磁気記憶体の機械的信頼性及び耐食
性も不充分であった。又特公昭49−26565、同5
0−50.!d5.同51−15967゜同52−18
001.同34−29242.同34−34602.同
55−29500 、同57−405.!15.同57
−58751.同58−57614、同58−5761
5.特開昭5l−474Q l 、同51− + 48
406 、同55−108950.1町57−1471
55.同57−189559、同58−155634.
同58−108050等の酸化物膜そして、特公昭55
−59047、%開昭55−75951.同58−17
9958、同58−179959.同5B−17994
0等の各種化合物膜は、潤滑性に劣り、又耐食性を確保
するには、やはり1000^厚以上の膜厚にせねばなら
なかった。又特開昭57−152517の二価フェノー
ル等の防錆剤は、初期の防食性効果を長期に護り維持す
る事が困難であった。他方、潤滑膜として特公昭34−
55521゜特開昭55−145206.同56−41
524の炭素質膜は、他の保護膜にくらべ、優れた潤滑
性を示し、記憶体の機械的信頼性を高めたものの、ヘッ
ドと記憶体との接触を繰シ返すことによ)、該ヘッドと
記憶体との静摩擦係数が増大し、ついには、記憶体の回
転スピンドルモーターが停止する、いわゆるリンギング
現象を起こし、又ピンホールの発生も多く、防食効果が
なかった。又潤滑学会第27期春季研究発表会予稿集P
157〜raO(+985)等に極性基を有する炭化水
素の潤滑効果について述べであるが、いずれを用いても
効果があるわけではなく、逆効果を招く場合も有シ、そ
の使用にあたっては更に工夫が必要であシ、その潤滑効
果は不充分であった。
護膜として被覆する事が、特公昭47−49605゜四
48−14241.同413−418131.同55−
6257.%開昭55−75108.同58−2652
0等で提案されているが、記憶体の耐食性を光分に確保
するには、該金属層の厚みft+oooX以上にせねば
ならず、又機械的信頼性は極めて低いものである。又特
公昭49−29645゜同52−17402.同58−
57616.特開昭57−117126等に湿式・乾式
両表面処理法による酸化物層の形成が提案されているが
、該表面処理法によシ、金属磁性薄膜媒体の磁気特性が
変化し、又得られた磁気記憶体の機械的信頼性及び耐食
性も不充分であった。又特公昭49−26565、同5
0−50.!d5.同51−15967゜同52−18
001.同34−29242.同34−34602.同
55−29500 、同57−405.!15.同57
−58751.同58−57614、同58−5761
5.特開昭5l−474Q l 、同51− + 48
406 、同55−108950.1町57−1471
55.同57−189559、同58−155634.
同58−108050等の酸化物膜そして、特公昭55
−59047、%開昭55−75951.同58−17
9958、同58−179959.同5B−17994
0等の各種化合物膜は、潤滑性に劣り、又耐食性を確保
するには、やはり1000^厚以上の膜厚にせねばなら
なかった。又特開昭57−152517の二価フェノー
ル等の防錆剤は、初期の防食性効果を長期に護り維持す
る事が困難であった。他方、潤滑膜として特公昭34−
55521゜特開昭55−145206.同56−41
524の炭素質膜は、他の保護膜にくらべ、優れた潤滑
性を示し、記憶体の機械的信頼性を高めたものの、ヘッ
ドと記憶体との接触を繰シ返すことによ)、該ヘッドと
記憶体との静摩擦係数が増大し、ついには、記憶体の回
転スピンドルモーターが停止する、いわゆるリンギング
現象を起こし、又ピンホールの発生も多く、防食効果が
なかった。又潤滑学会第27期春季研究発表会予稿集P
157〜raO(+985)等に極性基を有する炭化水
素の潤滑効果について述べであるが、いずれを用いても
効果があるわけではなく、逆効果を招く場合も有シ、そ
の使用にあたっては更に工夫が必要であシ、その潤滑効
果は不充分であった。
上述の如〈従来技術では、記憶体とヘッドとの接触によ
る記憶体とヘッドの物理的劣化、及びリンギング現象そ
して記憶体の金属媒体の耐食性を充分に確保出来ないと
いう問題を有する。
る記憶体とヘッドの物理的劣化、及びリンギング現象そ
して記憶体の金属媒体の耐食性を充分に確保出来ないと
いう問題を有する。
そこで本発明はこの様な問題点を解決するもので、その
目的とするところは、酸化物、窒化物、炭化物及び炭素
よシ選げれる少なくとも1種の物質より成る薄膜の保護
膜の耐食性を改善するとともにヘッドとの摩擦係数を改
善し、長期信頼性に優れた金幽媒体全有する記憶体を提
供するところにある。
目的とするところは、酸化物、窒化物、炭化物及び炭素
よシ選げれる少なくとも1種の物質より成る薄膜の保護
膜の耐食性を改善するとともにヘッドとの摩擦係数を改
善し、長期信頼性に優れた金幽媒体全有する記憶体を提
供するところにある。
本発明の記憶体は、基体上に金属媒体を形成した後、C
r、Ti、Ta、Nbから選ばれる少なくとも!桟の物
質よりなる被膜の形成の有無て於いて、酸化物、窒化物
、炭化′吻及び炭素より選ばれる少なくとも1種の物質
より成る薄II!4を形成し、更に該薄膜の表面に炭素
数が19〜34の直鎖飽オロアルコールの混合#を被覆
せしめた事を特徴とする。
r、Ti、Ta、Nbから選ばれる少なくとも!桟の物
質よりなる被膜の形成の有無て於いて、酸化物、窒化物
、炭化′吻及び炭素より選ばれる少なくとも1種の物質
より成る薄II!4を形成し、更に該薄膜の表面に炭素
数が19〜34の直鎖飽オロアルコールの混合#を被覆
せしめた事を特徴とする。
Cr、Ti、Ta、N’bは金属媒体と酸化物、窒化物
、炭化物及び炭素間の密着性をより確かにする目的で被
覆し、七の膜厚は、50〜200にで光分である。
、炭化物及び炭素間の密着性をより確かにする目的で被
覆し、七の膜厚は、50〜200にで光分である。
酸化物は、5iO1,TiO2,Cr、O,等、窒化物
はTiN 、 Ta2N 、 A!N 、 Si、N、
等、炭化物は、SiC、TiC等、炭素は、ダイ・ヤモ
ンド状、グラファイト状、アモルファス状のいずれでも
良く、膜厚は、150人〜800X形成する。以上は、
真空蒸着法、スパッタリング法、イオンブレーティング
法やCVD法のいずれの方法でも形成可能である。
はTiN 、 Ta2N 、 A!N 、 Si、N、
等、炭化物は、SiC、TiC等、炭素は、ダイ・ヤモ
ンド状、グラファイト状、アモルファス状のいずれでも
良く、膜厚は、150人〜800X形成する。以上は、
真空蒸着法、スパッタリング法、イオンブレーティング
法やCVD法のいずれの方法でも形成可能である。
次に炭素数が19〜34の直鎖飽和アルコールの混合物
であるが、全ての炭素数のアルコールを含む必要はなく
、融点が60℃〜約95℃を示すアルコールがほぼ均尋
に混合されていれば良い。
であるが、全ての炭素数のアルコールを含む必要はなく
、融点が60℃〜約95℃を示すアルコールがほぼ均尋
に混合されていれば良い。
上記アルコールは適切な溶媒で11k度を調節し、スピ
ンコード法、スプレー法、等運引き上げ法思の既知の方
法で塗布するか、真空蒸着法で形成しても良い。いずれ
の方法でも膜厚は約50〜200^が適当である。
ンコード法、スプレー法、等運引き上げ法思の既知の方
法で塗布するか、真空蒸着法で形成しても良い。いずれ
の方法でも膜厚は約50〜200^が適当である。
本発明の上記の構成によれば、金属媒体の上に防食効果
膜の硬度に優れ、又摩擦係数の低い、酸化物、窒化物、
炭化物、炭素から選ばれる少なくとも1種の物質より成
る薄膜が形成されるが、該薄膜の膜欠陥が発生し製造工
程上、該欠陥を皆無にすることは不可能である。そこで
、該薄膜とまつた〈性質の異なる直鎖飽和アルコールを
更に被覆することにより、該アルコールは、該欠陥にも
浸透し金属媒体の表面に配向的に形成される。これによ
り金属媒体を水分等の腐食環境から守る一方、該アルコ
ールが極めて塑性流動変形性に優れる事から、記憶体と
ヘッド間の摩耗を減じる作用が犬きく、該アルコールの
融点が60℃〜95℃と幅広く又高いので、種々の環境
(高温時等)でもその作用が失なわれる事はなく、該記
憶体の機械的信頼性が低下することは無い。又該アルコ
ールの混合物被膜の下層として高硬度膜を形成する事に
よシ、該アルコールの混合被膜とへノド間の機械的信頼
性が飛−的に向上した。
膜の硬度に優れ、又摩擦係数の低い、酸化物、窒化物、
炭化物、炭素から選ばれる少なくとも1種の物質より成
る薄膜が形成されるが、該薄膜の膜欠陥が発生し製造工
程上、該欠陥を皆無にすることは不可能である。そこで
、該薄膜とまつた〈性質の異なる直鎖飽和アルコールを
更に被覆することにより、該アルコールは、該欠陥にも
浸透し金属媒体の表面に配向的に形成される。これによ
り金属媒体を水分等の腐食環境から守る一方、該アルコ
ールが極めて塑性流動変形性に優れる事から、記憶体と
ヘッド間の摩耗を減じる作用が犬きく、該アルコールの
融点が60℃〜95℃と幅広く又高いので、種々の環境
(高温時等)でもその作用が失なわれる事はなく、該記
憶体の機械的信頼性が低下することは無い。又該アルコ
ールの混合物被膜の下層として高硬度膜を形成する事に
よシ、該アルコールの混合被膜とへノド間の機械的信頼
性が飛−的に向上した。
〔実施例1〕
鏡面仕上げされたディスク状アルミニウム合金基板上に
非磁性合金メッキとしてNiP合金メッキを約20μm
の厚さにメッキ後、研磨によりi5μ携の厚き、表面粗
さ0.05μ惧以下にし、更に金属磁性薄膜としてCo
−N1−P合金全豹(107μ慣厚にメッキした。
非磁性合金メッキとしてNiP合金メッキを約20μm
の厚さにメッキ後、研磨によりi5μ携の厚き、表面粗
さ0.05μ惧以下にし、更に金属磁性薄膜としてCo
−N1−P合金全豹(107μ慣厚にメッキした。
次にマグネットロンスパッタ装置で、Crf100^、
S10.全500X連続して形成した。
S10.全500X連続して形成した。
史だ下記処理成約z−(5’/Iデイスクの場合)をデ
ィスク片面に滴下後1500rpmで20秒間回転させ
るスピンコードを行ない、直鎖飽、+11アルコールの
混合物を塗布した。
ィスク片面に滴下後1500rpmで20秒間回転させ
るスピンコードを行ない、直鎖飽、+11アルコールの
混合物を塗布した。
〔実施例2〕
実施例1と同様にして金属媒体f、有するディスクを作
製した。
製した。
?XKマグネトロンスパッタ装置で、T1を50又、炭
素質膜(アモルファス状)を400X形成した。
素質膜(アモルファス状)を400X形成した。
次に実施例1とIu]様にして直鎖飽和アルコールの混
合物を塗布した。
合物を塗布した。
〔実施例5〕
研磨きれたN1−P合金メッキディスク基板にマグ木ト
ロンスパッタ装置でOrをll100A、次いで、00
− N i −Or合金(Co−50at%N1−7.
5 a t%0r)v9ooX、更にTiNfjr:5
00A形成した。
ロンスパッタ装置でOrをll100A、次いで、00
− N i −Or合金(Co−50at%N1−7.
5 a t%0r)v9ooX、更にTiNfjr:5
00A形成した。
スパッタ中は、酸素分圧f 8X I O−’ tor
r以下に保ち、上記51Sを連続形成した。
r以下に保ち、上記51Sを連続形成した。
次に実施例1の直鎖飽和アルコールの混合物を抵抗加熱
方式で蒸着し、膜厚を100又とした。
方式で蒸着し、膜厚を100又とした。
(蒸着中の真空度を8X In−’ torrとした。
〕〔実施例4〕
実施例i同様の金属媒体を有するディスクを作製した。
テトラメトをンシランをブタノールに希゛沢した後、(
++j)酢酸を添加し加分分屏収とした。
++j)酢酸を添加し加分分屏収とした。
(固形分濃度はS i 04 /2として計痺して05
%とした。) スピンコード法により(ディスク片面づつ)、ディスク
表面全体に上記のカ日水分解液を滴下し、1000 r
p mで20秒間回転し、65℃で10分間予白焼成
を行った後に200℃で2時間本焼成を行った。
%とした。) スピンコード法により(ディスク片面づつ)、ディスク
表面全体に上記のカ日水分解液を滴下し、1000 r
p mで20秒間回転し、65℃で10分間予白焼成
を行った後に200℃で2時間本焼成を行った。
次に、下記処理収約2Tni:(5V4デイスクの場合
)をディスク片面に滴下後+50Orpmで20秒間回
転させるスピンコードを行ない、直鎖飽和アルコールの
混合物を塗布した。
)をディスク片面に滴下後+50Orpmで20秒間回
転させるスピンコードを行ない、直鎖飽和アルコールの
混合物を塗布した。
処理液
〔実施例5〕
実施例1同様の金属媒体を有するディスクを作製した。
次にマグネトロンスパッタ装置を用い、Taを100ス
、TaOを500又形成した後、実施列4と同様に直鎖
飽和アルコールの混合j勿を塗布(7た。
、TaOを500又形成した後、実施列4と同様に直鎖
飽和アルコールの混合j勿を塗布(7た。
〔比較例1〕
実施例1に於いて、01〜と510.の形成を除いて、
金属媒体に[■接直鎖飽和丁ルコールの1合物を塗布し
た。
金属媒体に[■接直鎖飽和丁ルコールの1合物を塗布し
た。
[比較例2〕
実施例1に於いて、直鎖飽和アルコールの混合物の塗布
を行なわないディスクを作製した。
を行なわないディスクを作製した。
〔比較例5〕
実施例1に7吟いて、処理液全下記内容に変色L2てデ
ィスクを作製(7た。
ィスクを作製(7た。
処理液
〔比較例4〕
実施例1に於いて、処理液全下記内容に変更してディス
/7を作製した。
/7を作製した。
処理液
以上の実施例、比較例で述べたディスクの品質評価を、
aSS試験と耐湿試験で行った。aSSは、ディスク作
#直後のディスクと、80℃7日間の耐熱試験化みのデ
ィスク音用い、静摩擦係数と出力の低下率を求め、耐湿
試験は、80℃。
aSS試験と耐湿試験で行った。aSSは、ディスク作
#直後のディスクと、80℃7日間の耐熱試験化みのデ
ィスク音用い、静摩擦係数と出力の低下率を求め、耐湿
試験は、80℃。
80−%RH(7)環境にディスクを放置し、放置時間
の経過を追ってミツノングビゾド数を確認し、その増力
口した時点を寿命とした。
の経過を追ってミツノングビゾド数を確認し、その増力
口した時点を寿命とした。
尚本発明は、基板がプラスチックであるフロッピーディ
スクや磁気テープ類そして、光磁気デイスフにも適用が
可能であシ、その他、基板材料はガラス等も含めて実施
例に限定されない。
スクや磁気テープ類そして、光磁気デイスフにも適用が
可能であシ、その他、基板材料はガラス等も含めて実施
例に限定されない。
以上述べた様に本発明によれば、より薄膜で、機械的信
頼性と耐°食性を充分に確保した高密度記録対応のディ
スクの提供が可能になった。
頼性と耐°食性を充分に確保した高密度記録対応のディ
スクの提供が可能になった。
又ディスクドライバー等の磁気的記録装置が小型化等に
伴ない、より厳しい環境下で用いられ始めているが、本
発明品は、80℃の環境下で作動させても何等特性が劣
化しない高耐久対応のディスクである。
伴ない、より厳しい環境下で用いられ始めているが、本
発明品は、80℃の環境下で作動させても何等特性が劣
化しない高耐久対応のディスクである。
以 上
Claims (2)
- (1)基体上に金属磁性薄膜媒体が被覆され、この金属
磁性薄膜媒体上に酸化物、窒化物、炭化物及び炭素から
選ばれる少なくとも1種の物質より成る薄膜が被覆され
、更に該薄膜の表面に、少なくとも炭素数が19〜34
の直鎖飽和アルコールの混合物を被覆せしめた事を特徴
とする磁気記憶体。 - (2)金属磁性薄膜媒体と酸化物、窒化物、炭化物及び
炭素から選ばれる少なくとも1種の物質より成る薄膜と
の間にCr、Ti、Ta、Nbから選ばれる少なくとも
1種の物質より成る被膜が形成せしめられた事を特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の磁気記憶体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22831185A JPS6288133A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 磁気記憶体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22831185A JPS6288133A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 磁気記憶体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6288133A true JPS6288133A (ja) | 1987-04-22 |
Family
ID=16874451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22831185A Pending JPS6288133A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 磁気記憶体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6288133A (ja) |
-
1985
- 1985-10-14 JP JP22831185A patent/JPS6288133A/ja active Pending
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