JPS628740B2 - - Google Patents
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- JPS628740B2 JPS628740B2 JP5213480A JP5213480A JPS628740B2 JP S628740 B2 JPS628740 B2 JP S628740B2 JP 5213480 A JP5213480 A JP 5213480A JP 5213480 A JP5213480 A JP 5213480A JP S628740 B2 JPS628740 B2 JP S628740B2
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- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 210000002700 urine Anatomy 0.000 description 2
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は尿中の蛋白、糖、潜血、PH等を検査す
る自動検査装置等に供する反射光量検出装置に関
するものである。
る自動検査装置等に供する反射光量検出装置に関
するものである。
上記自動検査装置においてテープ上に尿を滴下
し、その呈色状態を光学的に検査するにあたり、
受光素子とテープの距離が変化すると測定結果に
誤差が生ずる問題があつた。従来、この対策とし
て光源とテープ、テープと受光素子の距離を十分
とり変化の割合を少なくするもの、また光源とテ
ープ、テープと受光素子の距離が変動しない様に
固定するもの、或いは光源として積分球を用いる
もの等があつた。
し、その呈色状態を光学的に検査するにあたり、
受光素子とテープの距離が変化すると測定結果に
誤差が生ずる問題があつた。従来、この対策とし
て光源とテープ、テープと受光素子の距離を十分
とり変化の割合を少なくするもの、また光源とテ
ープ、テープと受光素子の距離が変動しない様に
固定するもの、或いは光源として積分球を用いる
もの等があつた。
しかし、上記における第1の方法は光源とテー
プ、テープと受光素子の距離が長くなるので感度
が落ち、装置が大きくなる欠点を有し、また第2
の方法は動く物体を測定する場合には構造が複雑
になる欠点を有し、さらに第3の方法は光源とと
もに高価となる欠点を有していた。
プ、テープと受光素子の距離が長くなるので感度
が落ち、装置が大きくなる欠点を有し、また第2
の方法は動く物体を測定する場合には構造が複雑
になる欠点を有し、さらに第3の方法は光源とと
もに高価となる欠点を有していた。
本発明は上記従来型の欠点を除去するもので、
以下図面に示す実施例に基づいて本発明を説明す
ると、1は自動検査装置におけるシート状の被検
査体Aを移送する適当な空間を形成した移送路
で、その移送路1の底面2にたいして鉛直線上の
上方にフオトランジスタ等の受光素子3を設け、
その側方にランプ等の光源4を配設し、受光素子
3の光軸にたいして光源4の光軸を傾斜させると
共に、被検査体Aが受光素子3より最も下つた位
置、すなわち、被検査体Aと受光素子3との距離
が最も大きいとき、受光素子3で受光しうる照射
面積を最大になるように同光軸を設定する。
以下図面に示す実施例に基づいて本発明を説明す
ると、1は自動検査装置におけるシート状の被検
査体Aを移送する適当な空間を形成した移送路
で、その移送路1の底面2にたいして鉛直線上の
上方にフオトランジスタ等の受光素子3を設け、
その側方にランプ等の光源4を配設し、受光素子
3の光軸にたいして光源4の光軸を傾斜させると
共に、被検査体Aが受光素子3より最も下つた位
置、すなわち、被検査体Aと受光素子3との距離
が最も大きいとき、受光素子3で受光しうる照射
面積を最大になるように同光軸を設定する。
以上の様な構成において、例えば移送路1のク
リアランスが0.8mmであるとして、当該移送路1
内に被検査体Aを送り込み光源4から光を照射す
ると、その反射光を受光素子3が受ける場合、光
源4と被検査体A、同被検査体Aと受光素子3の
距離が変化しても、受光素子3で受光しうる照射
面積は照射面イ〜ハに示されるように所定の関係
で変化し、例えば、受光素子3と被検査体Aとの
距離が大きくなり(照射面ハの位置)、光源4か
ら離れるため反射光量が減少しても、受光しうる
照射面積が大きくなるため、受光する光量は照射
面積の増加に応じて増加し、反射光量の減少をカ
バーする。また反対に照射面イのように被検査体
Aが浮き上り、受光素子3と被検査体Aとの距離
が小さくなり、被検査体Aが光源4に近付くため
の生じる反射光量の増加に対し、受光しうる照射
面積を小さくして、受光する光量を抑えるように
作用する。
リアランスが0.8mmであるとして、当該移送路1
内に被検査体Aを送り込み光源4から光を照射す
ると、その反射光を受光素子3が受ける場合、光
源4と被検査体A、同被検査体Aと受光素子3の
距離が変化しても、受光素子3で受光しうる照射
面積は照射面イ〜ハに示されるように所定の関係
で変化し、例えば、受光素子3と被検査体Aとの
距離が大きくなり(照射面ハの位置)、光源4か
ら離れるため反射光量が減少しても、受光しうる
照射面積が大きくなるため、受光する光量は照射
面積の増加に応じて増加し、反射光量の減少をカ
バーする。また反対に照射面イのように被検査体
Aが浮き上り、受光素子3と被検査体Aとの距離
が小さくなり、被検査体Aが光源4に近付くため
の生じる反射光量の増加に対し、受光しうる照射
面積を小さくして、受光する光量を抑えるように
作用する。
これにより、第2図の曲線aに示す如く、受光
素子3と被検査体Aの距離がクリアランス値内で
変化しても、反射光量を被検査体Aの位置に関係
なく略一定として、受光素子3の出力レベルの変
動をなくし、測定結果を安定させることができ
る。なお、同図における曲線bは、照射面積が変
らない場合の反射光量曲線である。
素子3と被検査体Aの距離がクリアランス値内で
変化しても、反射光量を被検査体Aの位置に関係
なく略一定として、受光素子3の出力レベルの変
動をなくし、測定結果を安定させることができ
る。なお、同図における曲線bは、照射面積が変
らない場合の反射光量曲線である。
本発明は、以上にて説明した如く検出装置を構
成し、光源の光軸と反射光の光軸をずらすことに
より受光しうる照射面積を被検査体と受光素子の
距離に応じて変え、反射光量を補正することを特
徴とするもので、従つて受光素子3と被検査体A
との距離が変化しても、常に安定した反射光量と
共に安定した測定結果を得ることができ、また構
造が簡単にて小型化に適し、とくに動く物体を測
定する場合でも安価な反射光量検出装置を提供で
きる。
成し、光源の光軸と反射光の光軸をずらすことに
より受光しうる照射面積を被検査体と受光素子の
距離に応じて変え、反射光量を補正することを特
徴とするもので、従つて受光素子3と被検査体A
との距離が変化しても、常に安定した反射光量と
共に安定した測定結果を得ることができ、また構
造が簡単にて小型化に適し、とくに動く物体を測
定する場合でも安価な反射光量検出装置を提供で
きる。
第1図は本発明の一実施例を示す反射光量検出
装置の要部切欠側面図、第2図は同じく受光素子
に対する反射光量の特性曲線図である。 同図中、1は移送路、2は底面、3は受光素
子、4は光源、Aは被検査体。
装置の要部切欠側面図、第2図は同じく受光素子
に対する反射光量の特性曲線図である。 同図中、1は移送路、2は底面、3は受光素
子、4は光源、Aは被検査体。
Claims (1)
- 1 シート状の被検査体に対し光源より光を照射
し、被検査体で反射した光の量を測定する装置に
おいて、前記被検査体の載置面の略垂直上方に受
光素子を配設し、該受光素子の光軸に対し、光源
の光軸を傾斜するように光源を設け、該傾斜を被
検査体と受光素子との距離が最も大きいとき、受
光素子で受光しうる照射面積を最大となるように
し、被検査体と受光素子との距離が接近するにつ
れ受光素子で受光しうる照射面積を所定の割合で
小さくなるような角度に設定したことを特徴とす
る反射光量検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5213480A JPS56148041A (en) | 1980-04-18 | 1980-04-18 | Reflected light quantity detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5213480A JPS56148041A (en) | 1980-04-18 | 1980-04-18 | Reflected light quantity detector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56148041A JPS56148041A (en) | 1981-11-17 |
JPS628740B2 true JPS628740B2 (ja) | 1987-02-24 |
Family
ID=12906392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5213480A Granted JPS56148041A (en) | 1980-04-18 | 1980-04-18 | Reflected light quantity detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56148041A (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58175447U (ja) * | 1982-05-18 | 1983-11-24 | 株式会社ケツト科学研究所 | 白度計 |
JPS6246238A (ja) * | 1985-08-23 | 1987-02-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 生化学測定装置 |
JPS6247553A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-03-02 | Omron Tateisi Electronics Co | 生化学測定装置 |
JPS6254165A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | Omron Tateisi Electronics Co | 生化学測定装置 |
GB2193803A (en) * | 1986-07-04 | 1988-02-17 | De La Rue Syst | Monitoring diffuse reflectivity |
US5028139A (en) * | 1987-07-16 | 1991-07-02 | Miles Inc. | Readhead for reflectance measurement of distant samples |
JPH0365953U (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-26 | ||
GB0418108D0 (en) * | 2004-08-13 | 2004-09-15 | Leuven K U Res & Dev | Soil survey device |
-
1980
- 1980-04-18 JP JP5213480A patent/JPS56148041A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56148041A (en) | 1981-11-17 |
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