JPS628153B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS628153B2
JPS628153B2 JP55161424A JP16142480A JPS628153B2 JP S628153 B2 JPS628153 B2 JP S628153B2 JP 55161424 A JP55161424 A JP 55161424A JP 16142480 A JP16142480 A JP 16142480A JP S628153 B2 JPS628153 B2 JP S628153B2
Authority
JP
Japan
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continuity
contact
conductor
jig
interface
Prior art date
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Expired
Application number
JP55161424A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5786063A (en
Inventor
Kenzo Endo
Takeshi Akimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP55161424A priority Critical patent/JPS5786063A/ja
Publication of JPS5786063A publication Critical patent/JPS5786063A/ja
Publication of JPS628153B2 publication Critical patent/JPS628153B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54Testing for continuity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、印刷回路基板の如き電気部品に形
成された導体回路網が設計どおり正しく配線され
ているか否かを検査するのに用いられる導通検査
用治具に関するものである。
印刷回路基板は、絶縁体の基板面上に銅箔およ
びスルーホールで構成された導回路網が設けられ
て成るものである。この回路網が図面通り正しく
配線されているかどうか検査するために導通検査
機を使用しているが、この使用時には、被検査体
である回路網の回路状態をデータとして検査機に
取り込む必要がある。このため導通検査用治具と
して、導通接触端子を有したインターフエイスが
用いられる。このインターフエイスは、保持板
と、該保持板に板面から突出・復帰自在に保持さ
れた複数個の導通接触端子とから成るもので、保
持板における導通接触端子の配置は、被検査体に
おけるスルーホールの配置に対応している。従つ
てインターフエイスを被検査体に重ねたとき、各
導通接触端子が各スルーホールに接触することに
なるので、被検査体の回路状態を、各スルーホー
ルにおける所定の導通の有無という形で知ること
ができる。
しかし、保持板における導通接触端子の配置
が、被検査体におけるスルーホールの配置に、何
時も完全に一致しているとは限らない。例えば、
インターフエイスとしては、保持板面に、縦線と
横線から成る格子模様を描き、格子の全交点に導
通接触端子を配置した構造のものが用いられてい
るとする。他方、被検査体は、回路構成の如何に
よつては、対応する交点の全部にスルーホールが
設けられているとは限らず、一部の交点には、ス
ルーホールの代りに導体回路が配線されているこ
とがある。すると、インターフエイスを被検査体
に重ねた場合、その導体回路の幅の大小などによ
り、対応した位置にある導通接触端子がその導体
回路に接触したりしなかつたりして、インターフ
エイスにつながる検査機に、導体回路の状態を示
す正しいデータが得られないことがある。このた
め現在は、被検査体におけるスルーホールの配置
状況に応じスルーホールの存在しない交点位置で
は、インターフエイスにおける対応位置の導通接
触端子が被検査体に接触しないようマスキング治
具を用い、被検査体におけるスルーホールのみが
対応するインターフエイスの導通接触端子に接触
するようにして、被検査体における導体回路の状
態を検査している。このことを第1図を参照して
具体的に説明する。
第1図は、従来のインターフエイス(導通検査
用治具)の使用状況を示す断面図である。同図に
おいて、インターフエイスは、保持板2に板面か
ら突出・復帰自在に保持された多数の導通接触端
子3から成つており、導通接触端子3の先端は、
印刷回路基板5における対応位置のスルーホール
6に接触しており、対応位置にスルーホールがな
く導体回路7が存在する場合には、該回路7と対
応する導通接触端子3とが接触しないようマスキ
ング治具4が用いられている。マスキング治具4
は、インターフエイスまたは被検査体と同等程度
の面積をもつ絶縁板から成り、インターフエイス
と被検査体との間に配置されたとき、スルーホー
ルと導通接触端子が対応している位置では両者間
の接触を妨げないように穴をうがたれ、スルーホ
ールが存在せず、導体回路と導通接触端子が対応
している位置では、両者間の接触を妨げるため
に、穴を設けない構成となつている。なお、第1
図において、1は導通検査機であつて、インター
フエイスを介して入力される導通の有無データに
より、印刷回路基板5における回路状態の良否を
検査する装置である。
上述した如き従来のインターフエイスは、上述
の説明から明らかなように、被検査体の回路構成
が異なる毎に、別々のマスキング治具を必要とし
この治具の費用がかさむこと、またマスキング治
具を検査の都度、被検査体に貼り合わせるという
余分な工程が必要なこと、また貼り合わせの際に
位置合わせがうまく行かないと、導通接触端子と
スルーホールの接触不良を生じることがある、な
どの欠点があつた。
この発明は、上述のような従来の導通検査用治
具の欠点を除去するためになされたものであり、
従つてこの発明の目的は、マスキング治具を不要
ならしめる導通検査用治具を提供することにあ
る。
この発明の構成の要点は、従来のインターフエ
イスにおいて、導通接触端子の先端部を絶縁体で
構成し、該接触端子に接触する被検査導体部が端
子先端に直接接触する平坦な回路導体であるとき
は導通せず、被検査導体部がスルーホールの如き
凹みを有するものであるときは、絶縁体から成る
先端が凹みに嵌合し、先端の絶縁体部分を除く導
体部分が凹みの周囲部分に接触することにより導
通し、マスキング治具を要せずして、それと同等
の効果を戻し得るように構成した点にある。
次に図を参照してこの発明の一実施例を説明す
る。
第2図は、この発明の一実施例の使用状況を示
す断面図である。同図において、第1図における
のと同じ物には同じ符号が付してある。この発明
の実施例が、従来のインターフエイスと相違する
点は、導通接触端子3の先端を絶縁体8で構成し
た点にある。
第1図を参照する。先端を絶縁体8で構成した
導通接触端子3を保持板2における格子の全交点
位置に保持して成る導通検査用治具を、図示の如
く、印刷回路基板5に重ねた場合、スルーホール
6に対応した導通接触端子3は、その先端が絶縁
体8で構成されているにもかかわらず、先端がス
ルーホール内に嵌合するので、端子3の絶縁体8
を除く導体部分がスルーホールの周囲の導体部分
に接触し、両者の間は導通することができる。他
方、スルーホールが存在せず、回路導体7に対応
した導通接触端子3は、その先端の絶縁体8の故
に、回路導体7と導通することはない。
第3図は、導通接触端子3の先端を構成する絶
縁体8の各種形状を示す断面図であるが、イ,
ロ,ハの何れの形状のものを用いても、ほゞ同一
の効果を得ることができる。
以上述べた如き構成であるから、この発明にお
いては、次の如き効果を得ることができる。
(1) マスキング治具を使用することなく導通検査
ができるので、マスキング治具製作費用とマス
キング治具と印刷回路基板との貼り合わせに要
する工程が不要である。
(2) マスキング治具の使用時に合わせズレにより
接触不良が従来は発生していたが、これが皆無
となり、正確な導通検査が行なえるようになつ
たので製品の信頼性が向上した。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のインターフエイスの使用状況
を示す断面図、第2図は、この発明の一実施例の
使用状況を示す断面図、第3図は、導通接触端子
の先端を構成する絶縁体の各種形状を示す断面
図、である。 符号説明、1…導通検査機、2…保持板、3…
導通接触端子、4…マスキング治具、5…印刷回
路基板、6…スルーホール、7…導体回路、8…
絶縁体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 保持板と、該保持板に板面から突出・復帰自
    在に保持された複数個の導通接触端子とから成る
    導通検査用治具において、該接触端子の先端部を
    絶縁体で構成し、接触端子に接触する被検査導体
    部が端子先端に直接接触するものであるときは導
    通せず、被検査導体部が凹みを有し、凹みに嵌合
    した端子先端の絶縁体部分を除く導体部分が凹み
    の周囲部分に接触するものであるときは導通する
    ようにしたことを特徴とする導通検査用治具。
JP55161424A 1980-11-18 1980-11-18 Jig for inspecting electric conduction Granted JPS5786063A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55161424A JPS5786063A (en) 1980-11-18 1980-11-18 Jig for inspecting electric conduction

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JP55161424A JPS5786063A (en) 1980-11-18 1980-11-18 Jig for inspecting electric conduction

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5786063A JPS5786063A (en) 1982-05-28
JPS628153B2 true JPS628153B2 (ja) 1987-02-20

Family

ID=15734835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55161424A Granted JPS5786063A (en) 1980-11-18 1980-11-18 Jig for inspecting electric conduction

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JPS5786063A (en) 1982-05-28

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