JPS6279340A - 放射線透視診断装置 - Google Patents

放射線透視診断装置

Info

Publication number
JPS6279340A
JPS6279340A JP60217892A JP21789285A JPS6279340A JP S6279340 A JPS6279340 A JP S6279340A JP 60217892 A JP60217892 A JP 60217892A JP 21789285 A JP21789285 A JP 21789285A JP S6279340 A JPS6279340 A JP S6279340A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
dose
expression
signal
inspected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60217892A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromi Sadamura
定村 弘洋
Hiroshi Maeda
宏 前田
Masaru Fukuoka
福岡 勝
Kazuaki Oishi
和明 大石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP60217892A priority Critical patent/JPS6279340A/ja
Publication of JPS6279340A publication Critical patent/JPS6279340A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/043Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、放射線透視による診断装置に係り、特に変・
E機器等の密閉容器に好適な放射、線透視診断装置に関
する。
〔発明の背景〕
可搬、移動の困難な密閉容器をもつ機器として密閉形電
気機器や原子力機器など浦々の対象を勿がある。ここで
は、その中の密閉形電気機器を一例に掲げて説明する。
密閉容器をもつ電気機器は、SF6ガス等の絶縁媒体を
用いた遮断器や断路器などが知られている。このような
密閉形開閉装置は、開離する一対の接触子装置を配置し
ており、開路の際に接触子にアークが発生する。遮断に
÷の場合は、短絡電流によって、また、Ur路器の場合
はループ電流によって接触子装置が損傷を受+7る。そ
して損i易の程度に応じて部品の9.換が行なわれる訳
であるが、ここで部品交換の賛否の判定が問題となって
くる。
その理由は、損傷を受ける接触子装置が絶縁媒体である
SF、ガスを封入した不透明な金属容器に収納されてい
るために接触子装置の損傷程要を容易に検出できないこ
とである。このような理由で、密閉形電気機器、即ち、
電力用Jべ断器や断路器などでは外部より接触子装置の
損傷程度を測定あるいけ検出する方式が望まれている。
不透明な金属容器の内部に収納する装置、あるいは2部
品を容易に検出する方法として放#j線を透過する方法
かある。
従来、X線による検査には第3図に示すように。
X線管装置1から照射されたX線によって生じる被検査
物3および4の透視像をイメージインチ7/フアイア3
1を介して撮塘’&32よQカメラコントローラ33を
経て、画像表示装置;34′\(、Q号を送シ透視像を
再製表示させる。イメージインテン7フアイア管と撮悸
管の組み合わせ方式によるX線透視装置が用いられてい
る。しかし、第3図に示す従来の:@置では被検査物の
透視像全体を熾像管32へ投影して水平垂直走査を行な
ってぃたため、透視視野が大きくなると、イメージイン
テンシファイア管長さLが長くなシ狭隘な場所に設置し
て検査を行うことが困難である。また、装置の可搬性に
も欠けている。
一方、特開昭55−133622号公報によれば、X線
撮像装置を用いた密閉形電気機器の診断法が示きれてい
るが、前述のように、撮像装置の可搬性に問題があった
従って、第4し1に示すようなフィルムによる透過写真
方法で診断が行なわれている。密閉容器2の内部にはシ
ールド3.接触子装置k4など数種の部品がほぼ同心円
状に配置されている。そして、前述の各部品を透過した
X線は、その透過厚みにより減衰され、濃淡の像として
、フィルム35上に得られる。ここで発明者らは7−ル
ド3に着目した透視像を得たい場合や、接触子装置4に
着目した透視像を得たい場せがある。従来のフィルムに
よる透過写真方法で行なう場合は、撮影条件(X、N管
の管電圧、管電流、照射時間フィルムの種類)を変えて
撮影を行なう8喪があった。
つまシ、説明を簡単にするため、第5図で説明する。
密閉容器内に構成される部品のX線透過厚みがt。〜t
、と考え(a)図のような段状の被験体を考える。(a
)図に示した被験体にX線を照射し、得られたフィルム
35の濃度は透過厚み1..1.の部分は濃度はDo、
Dnとなシ同じように透過厚みtl + Fの部分は濃
度D+ 、 Dt  となって(b)図に示す(1)の
ような関係を得る。ここでI o 、 In、 I。
■、は各々透過厚みF + tIll t、 + t2
  に対応した透過X線@量である。
ここで、発明者らが識別出来る濃度差をΔDninと考
える。いま第5図に示す(1)の曲線にて透過厚みt、
とt2の濃°度差D2−D、=ΔDがΔninより小さ
い場合、即ち、ΔDくΔDninなる関係にあるとき、
我々は得られた透視像でt、とt2 の識別が不可能と
なる。このような場合は、相対感度の高いフィルムを用
いて、用じ透過線量L +12に対してD’l + D
’2なる濃度になるようにする。
そして、D’2  D’l =ΔD′なる濃度差を得る
つまり、ΔD’>ΔDninを満足するようにしてt、
とt、の識別を可能とする。
また、露出条件(X線管の管電圧、管電流、照射時間)
を変え、透過厚み1..12に対する透過線量I、、I
、を増減させ、その濃度差を大きくする方法もある。
いず九の方法も、前述のように、再び撮影を行なわなけ
ればならず、試験時間を多く費やすことになる。
また、写真処理(現象、定着、水洗い、乾燥など)に費
やす時間も大である。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、−匿の撮影で数種の透視濃淡像を得ら
れるようにし、変目イ機器等の密閉容器内部に収納され
た各部品及び装置の診断に好適で狭隘な場所での撮影に
好適な放射線透視診断装置を提供することにある。
〔発明の概安〕
本発明は、X線透視像の濃淡はX線の透過@量に比例し
、識別は透視像の濃淡差ΔDにより決定されること等に
着眼し、X線の透過線量を電気映像信号としてとらえ、
記憶装置に記憶させ、予め記憶しておいた入力値と出力
値を対応づける関数式、もしくは1図表と入力である心
気映像の濃淡信号を用いて出力値を決定させ1画像の強
調を行うことにより、一度の撮影で数種の護淡像分得る
ようにしたものである。
また、記憶する手段で予め記憶しておいた被検査物特有
の厚みと透過線量の対応図表を用い、照射線tを決定す
るようにして診断するようにしたものである。さらに、
その診断装置の撮像装置はイメージセンナとイメージセ
ンナを駆動させる駆kJJ装置とから構成し、狭隘な場
所での使用を容易とし変電機器等の密閉容器の診断に好
適な診断装置を提供するものである。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施しリを第1図に示す。
(a)図は装置全体のブロック図、(b)図は映漂信号
の処理を示すブロック図、(C)図は撮像装置の構成を
示すf+祝図である。
第1図においてX線発生装置1から照射されたX線は被
検査物2〜4で減衰され螢光板5に透視像を形成する。
螢光板5の背面には?)i数個のイメージセンサ6、増
幅器および漬分器7とマルチプレクサ8が収納して透視
視野内に配置して構成され、走査用、駆動機構9によジ
暗箱15内を、移動する。複数個のイメージセンサ、即
ち、受光素子(例えばフォトダイオードアレイ)6は被
検査物2〜4を透過して螢光板5・\入射するX@線量
に対応したアナログ電気信号を出力する。この信号は増
幅器7により増幅されたのち、積分が行なわれる。そし
てマルチプレクサ9により一画素毎の情報量となるよう
に各チャンネル毎に切換えが行なわれ、A−D変換され
て記憶装fiffilOに記憶される。記憶装ffjt
10には予め入力値(即ち、イメージセンナからの出力
信号であり、′I#淡を表す%気吹像信号である。これ
は透過線量に相当するものである)と出力値(即ち、i
i!li像表示装置13・\の出力信号である)を対応
づける関数式、もしくは1図表が記憶されている。
入力値はその関数式、もしくは、図表によシ変換されD
−A変換して画像表示装[13へ透視映像信号分出力す
る。即ち、入力信号?変換(特に。
i珈像の強調を行なう)して出力する。
出力される映像は嘴軸m、縦軸nの画素で構成きれてい
る。各画素の信号は第1図(b)に示すように、アドレ
スコントローラ19によって制(財)され各画素の入力
値と出力値を対応づける関数式もしくは図表により出力
が行なわれる。
記憶装置Itioに予め記憶ざぜる関数式もしくは図表
は、その目的にまり種々のものが考えられる。
第2図に示す(a)〜(e)はその一実施例を示したも
のである。いま、入力信号をx1出力信号をyと定義し
た場合、(a)の関数式は1 y=x               ・・・(1)こ
れは入出力信号が一対一で対応している場合でるる。こ
のような場合、入力信号I、、12に対する出力信号差
を0.−0. =Δd と考えると、第5図の説、明で
、前述したと同(末、ΔdくΔpmの関係にある時、得
られた透視映像に対し、その識別が不可能となる。そこ
で(2)式のような関数式を定義しくb)図のような関
係を得る。
O各x (x +  y = 0 X25x(■y = 0 即ち、入力信号1.、I2に対しθ1.θ2のような出
力信号を得、その信号差をΔd′〉Δf)=in〉Δd
となるようにすることができる。従って入力信号I、、
I2に対応した識別可能な出力信号差を得ることができ
る。佼するに、(2)式の関数式において定数aを変え
て数種の傾きを持った関数式を定義し、記憶装置10に
記)1嫌さえしておけば。
−回の撮影で(照射で)関数式の傾き(即ち、入出力感
度)に対応した数の儂淡像を得ることができる。この事
は増りも直さず、第1図(a)に示す密閉容器2内に配
置された接触子装置4に注目した透視像を得た見または
、接融子装置4を無視してシールド3に注目した透視像
を得ることができる。即ち、診断に要する時間の大巾な
短縮を図ることができる。
他の実施例には(C)〜(e)図がある。
(C)図の場合の関数式は(3)式のようになる。
即ち、階段状の信号を得ることができる。そしてその出
力信号レベル毎に色調をもたせるように対応づけした表
、例えば、 のような対応表を記憶装置1tlQに予め記憶しておけ
ば、各々の出力信号レベルに対応した色調をもたせ、画
像表示装置!13へ出力させることもできる。
(d)の場合の関数式は、例えば、(4)式のようにな
る。
y=aV]こ □・・・(4) この場合は、主に入力値の下限値に対して出力値を増大
させる(即ち、入力値の下限に注目して出力の感度を増
大させること)ようKi!!li像信号の強調を行なう
(e)図の場合の関数式は1例えば、(5)式のように
なる y=ax2−一一一−−−−−−−−−・・(5)この
場合は主に入力値の上限値に対して出力値を増大させる
(即ち、入力値の上限に注目して出力の感度を増大させ
ること)ように1画像信号の強調を行なうものである。
このように、本発明は記憶装置10に予め記憶しておい
た入力値と出力値を対応づける関数式。
もしくは、図表と入力である濃淡信号を用いて出力値を
決定するようにしたため、一度のX線照射撮影で関数式
の数に対応した数の透視像を得ることができるため1例
えば、第1図(a)において、接触子装置it、4に注
目した透視像を得たり、または。
シールド3に注目した透視像を得ることが出来診断時間
の大巾な短縮を図ることができる。
また、X線を照射して得られる透過線量■はI=Ioe
−ハーーーーーーーーーー〜・・(6)■o:照射線量 μ:透過物質特有の吸収係数 X:透過物質の厚み で決定される。従って、被検査物特有の吸収係数μ、透
過厚みXと透過線量の対応図表を予め記憶容量に記憶さ
せておけば自動的に照射線量I。を決定することができ
る。
即ち、第1図(a)において記憶装置10に入力する信
号、つまり、透過a!計Iとする。記憶装置lOには 1o = I /e−”           −(6
)’の関数式を定義しておく。そして、X線を照射する
場合、予め被検査物の吸収係数μ、透過厚みXを記憶装
置に記憶させ、X線を照射さ−Irる。記憶装[10に
はI、μ、Xが入力され予め定義され記憶されている(
6)7式により照射線量がI。になるようにX線制却器
12に信号を伝達する。そして。
μ、Xに対応した透A線量工の対応図表、例えば、表I
    P2 表19表2に示すようにμ、Xに対応した工の対応表を
記憶装置10に記憶させておく。
μ、Xおよびどの表Noを用いるか任意に選択すること
により、透過線1工が決定される。そして(6y  式
によりIoが決定されこの信号は記憶装置10からX線
制却器12に伝達され透過線量が選択した■になるよう
な照射線ftI。にして照射される。
このように予め記憶しておいた被検査物特有の吸収係数
、および、透過厚みと透過線量の対応図表を用いて自動
的に照射線量を制仰するようにしたため、運転員による
照射線量のばらつきが無くなり1診断精度の向上が可能
となる。
″また、遠隔操作も容易となり、かつ安全性も向上する
さらに第1図(C)図に示すように、撮像装置15を螢
光板5と螢光板の背面に配置したイメージセッサ6とイ
メージセンサをIK烟させる。駆動装置9(モータ20
.ギヤ21,22、送りねじ23)から構成し、イメー
ジセッサ6を透視視野内で走査させ、透視像を得るよう
にした。従って撮像装置の奥行寸法tを大巾に低減する
ことが可能となった。このため、狂隘な場所でも撮影が
容易となυ、変!@器等の密閉容器に好適な診断装置を
提供する事ができる。
また、被検査物の吸収係数、透過厚みと透過線量の対応
図表によりX線の照射線量を自動的に制置することがで
きるため、撮影伯仲が、常に、一定となp、運転員によ
る誤差も無く撮像画像の信頼性を向上することができる
さらに、撮像装置にはイメージセッサを用いて透視視野
内をm動しながら映像と得るようにしたため、狭隘な場
所での使用に好適な装置を提供することが可能となる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、一度の撮影で数棟の濃淡イaを得るこ
とができ識別の精度を向上することができる。また診断
に委する時間も大巾Vこ短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例で(a)は装置全体のブロッ
ク図、(b)は映像信号の処理を表わすブロック図、(
C)は撮像装置の斜視図、第2図は入出力信号の関係を
示す図、第3図はI、I管と撮像管の組み合わせ方式に
よるX線装置の簡略図、第4図はフィルムによる透過写
真方法を示す簡略図、第5図はフィルム濃度を説明する
ために用いた図で(a)は密閉容器内部品の透過厚みを
モデル化した図(b)は透過線量と濃度を示す図である
。 l・・・X線発生装置、2・・・密閉容器、6・・・イ
メージセッサ、10・・・記憶装置、11・・・システ
ム制御器、12・・・X線制仰器、14・・・LIJI
I像記録装置、15・・・撮像装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、放射線源と被検量物をはさんで前記放射線源に相対
    向して配置された撮像装置と前記撮像装置の映像信号を
    画像処理する手段と画像表示装置を備えたものにおいて
    、 前記映像信号を記憶装置に記憶し予め記憶しておいた入
    力値と出力値を対応づける関数式もしくは図表と入力で
    ある濃淡信号を用いて出力値を決定する手段を設けたこ
    とを特徴とする放射線透視診断装置。 2、特許請求の範囲第1項において、 予め記憶しておいた被検査物特有の厚みと透過放射線量
    の対応図表を用いて照射線量を決定することを特徴とす
    る放射線透視診断装置。 3、特許請求の範囲第1項において、 前記撮像装置は螢光板とこの螢光板の背面に配置された
    複数個のイメージセンサと、このイメージセンサを走査
    させる、駆動装置とからなることを特徴とする放射線透
    視診断装置。
JP60217892A 1985-10-02 1985-10-02 放射線透視診断装置 Pending JPS6279340A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60217892A JPS6279340A (ja) 1985-10-02 1985-10-02 放射線透視診断装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60217892A JPS6279340A (ja) 1985-10-02 1985-10-02 放射線透視診断装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6279340A true JPS6279340A (ja) 1987-04-11

Family

ID=16711395

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60217892A Pending JPS6279340A (ja) 1985-10-02 1985-10-02 放射線透視診断装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6279340A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5516330A (en) * 1978-07-20 1980-02-05 Fuji Elelctrochem Co Ltd Enclosed type cell
JP2006201131A (ja) * 2005-01-24 2006-08-03 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5516330A (en) * 1978-07-20 1980-02-05 Fuji Elelctrochem Co Ltd Enclosed type cell
JPS585509B2 (ja) * 1978-07-20 1983-01-31 富士電気化学株式会社 密閉式電池
JP2006201131A (ja) * 2005-01-24 2006-08-03 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4359759A (en) Bias lighting in a radiographic apparatus and method
JPH07230893A (ja) X線装置、半導体放射線検出器、および放射線検出情報を読み出す方法
JPS5932440A (ja) 放射線画像のサブトラクシヨン処理方法
EP0092157B1 (en) Two-dimensional radiation detecting apparatus
US4931643A (en) Autoradiography system for stimulable phosphor foils
JPH07171142A (ja) 放射線診断装置
GB2096440A (en) Radiography apparatus including a photographic film memory
JPS6279340A (ja) 放射線透視診断装置
US5260573A (en) Radiographical image reading apparatus
EP0599481A1 (en) A stimulable phosphor plate developer
JP2001501071A (ja) 補正システムを含む撮像装置及びx線検査装置
JP2005124620A (ja) X線透視撮影装置及び方法
JPS6091245A (ja) 実時間x線撮影装置
JPH02284397A (ja) X線診断断装置
US5006709A (en) X-ray diagnostics installation
US5229608A (en) Read-out system for a luminescent storage screen
JPS61172038A (ja) 物体の内部診断装置
JPS6124799B2 (ja)
JPS61167843A (ja) 物体の内部診断装置
JPS63189853A (ja) 放射線画像の記録読取方法
JPH1199146A (ja) X線断層撮影装置
Siedband Choosing and setting up TV systems for fluoroscopy
JPS61172037A (ja) 物体の内部診断装置
JPS6324694B2 (ja)
JPH05122610A (ja) X線撮影装置