JPS6091245A - 実時間ｘ線撮影装置 - Google Patents
実時間ｘ線撮影装置Info
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- JPS6091245A JPS6091245A JP59197743A JP19774384A JPS6091245A JP S6091245 A JPS6091245 A JP S6091245A JP 59197743 A JP59197743 A JP 59197743A JP 19774384 A JP19774384 A JP 19774384A JP S6091245 A JPS6091245 A JP S6091245A
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- scintillator
- fluorescent
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- radiation
- photographing device
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- Pending
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は実時間Ｘ線撮影検査技術に関する。
遮られて見えない物体の検査法は周知であり、手荷物の
Ｘ線透視検査装置はその一例である。
Ｘ線透視検査装置はその一例である。
物体を通過したＸ線はその物体の性質と密度に応じて多
少とも吸収される。物体を透過した放射線（Ｘ線）は入
力放射線変換部に衝突し、この変換部において放射線の
エネルギーは可視画像に表示可能な形に変換される。こ
の入力放射線変換部は放射Ｘ線を可ネＲ光に変換するシ
ンチレータ等であってよい。このシンチレータはフォト
ダイオードの回路系に接続されている。この回路系の出
力信号はテレビジョン受像機に通常使用されている回線
を伝送中に信号処理を施される。
少とも吸収される。物体を透過した放射線（Ｘ線）は入
力放射線変換部に衝突し、この変換部において放射線の
エネルギーは可視画像に表示可能な形に変換される。こ
の入力放射線変換部は放射Ｘ線を可ネＲ光に変換するシ
ンチレータ等であってよい。このシンチレータはフォト
ダイオードの回路系に接続されている。この回路系の出
力信号はテレビジョン受像機に通常使用されている回線
を伝送中に信号処理を施される。
上述のように構成した装置は遮られて見えない物体を経
験的に分析するため使用可能であるが、溶接部の検査等
に使用でれる非破壊試験（ＮＤＴ）用分析技術としては
精度又は感ＩＷに関して光分であるとは言えない。
験的に分析するため使用可能であるが、溶接部の検査等
に使用でれる非破壊試験（ＮＤＴ）用分析技術としては
精度又は感ＩＷに関して光分であるとは言えない。
放射線撮影系と光学系との複合装置を使用して満足すべ
き画像分解能が得られるということを明らか処したが、
これは驚くべきことである。
き画像分解能が得られるということを明らか処したが、
これは驚くべきことである。
かかる成果は、シンチレータとして螢光スクリーンを使
用し、又低強変の大刀光学像を映像信号に変換する高分
解能撮像管によってスクリーン上の画像を検出すること
Ｋより達成可能である。
用し、又低強変の大刀光学像を映像信号に変換する高分
解能撮像管によってスクリーン上の画像を検出すること
Ｋより達成可能である。
従って、本発明は遮られて見えない物体の検査装置を提
供するものであって、該装置はＸ線のビームを発生させ
、このＸ線ビームを螢光を発するシンチレータに向かう
行路に導く装置と、被検物体をＸ線ビームの行路内に配
ｆｌ＆する装置と、シンチレータから発しｆｃ螢光放射
を検出する光学装置と、該螢光放射を画像処理する装置
と、該画像処理された放射を読取り可能ｆｃ様式で表示
する装置とを包含する。
供するものであって、該装置はＸ線のビームを発生させ
、このＸ線ビームを螢光を発するシンチレータに向かう
行路に導く装置と、被検物体をＸ線ビームの行路内に配
ｆｌ＆する装置と、シンチレータから発しｆｃ螢光放射
を検出する光学装置と、該螢光放射を画像処理する装置
と、該画像処理された放射を読取り可能ｆｃ様式で表示
する装置とを包含する。
シンチレータは螢光スクリーンであってよく、好ましく
は低強変の大刀光学像を映像信号に変換するようにした
、高分解能の撮像管と組会わせて使用される。かかる撮
像’ｉＦ′ｉｓ＋Ｔ（シリコン増倍ターゲット）管を言
み、その市販品としては直径’ＩＯｒｍのＳＩＴ管と直
径／ＡＷｒＭのＳＩＴ管とがある。直径１６調のＳＩＴ
管は直径グθ聴のＳＩＴ管と類似のものであるが、相違
する点はシリコン増倍ターゲットの前方に単一段のイメ
ージ増倍管が配役はれていることと口径１１０ｒｒａの
縮小レンズ系を備えていることと妊ある。
は低強変の大刀光学像を映像信号に変換するようにした
、高分解能の撮像管と組会わせて使用される。かかる撮
像’ｉＦ′ｉｓ＋Ｔ（シリコン増倍ターゲット）管を言
み、その市販品としては直径’ＩＯｒｍのＳＩＴ管と直
径／ＡＷｒＭのＳＩＴ管とがある。直径１６調のＳＩＴ
管は直径グθ聴のＳＩＴ管と類似のものであるが、相違
する点はシリコン増倍ターゲットの前方に単一段のイメ
ージ増倍管が配役はれていることと口径１１０ｒｒａの
縮小レンズ系を備えていることと妊ある。
上記各種ＳＩＴ管と組合わせて使用するに適当な螢光ス
クリーン形シンチレータとしては、金属板上に螢光物質
を支持した増感形（ＫＹＯににＯ）スクリーンが市販さ
れているが、これは薄い鉛箔の上に多結晶性炭酸カルシ
ウムを被覆したものである。
クリーン形シンチレータとしては、金属板上に螢光物質
を支持した増感形（ＫＹＯににＯ）スクリーンが市販さ
れているが、これは薄い鉛箔の上に多結晶性炭酸カルシ
ウムを被覆したものである。
シンチレータからの螢光放射のため撮像管の映像出力信
号にはノイズが含まれることになるが、かかる映像出力
をλ進数ディジタル信号として画像分解能が！／２×３
／２ビットのダイオードマトリックスに入力し、ｇ進数
ディジタル信号として出力することにより上記映像出力
の画像処理の可能なことが分かった。このディジタル化
された画像情報は、画像の再表示に先立って、コントラ
スト・ストレッチング法、ノイズ平均化法、積分法等の
諸技法を駆使して更にノイズ低減処理を施される。画像
処理は実時間で実行されるが、かかる画像はその情報を
ビデオテープに蓄積することができるし、その画像は在
来の写真フィルムの画像と同等の品質を有する。
号にはノイズが含まれることになるが、かかる映像出力
をλ進数ディジタル信号として画像分解能が！／２×３
／２ビットのダイオードマトリックスに入力し、ｇ進数
ディジタル信号として出力することにより上記映像出力
の画像処理の可能なことが分かった。このディジタル化
された画像情報は、画像の再表示に先立って、コントラ
スト・ストレッチング法、ノイズ平均化法、積分法等の
諸技法を駆使して更にノイズ低減処理を施される。画像
処理は実時間で実行されるが、かかる画像はその情報を
ビデオテープに蓄積することができるし、その画像は在
来の写真フィルムの画像と同等の品質を有する。
ＳＩＴ管の映像出力の信号処理に使用される機器として
はＭｌｃｒｏｃｏｎｓｕ Ｉ ｔａｎｔ社から市販され
ているＩｎｔｅｌｌｅｃｔ ／ ００ Ｓｙｓｔｅｍ等
がある。
はＭｌｃｒｏｃｏｎｓｕ Ｉ ｔａｎｔ社から市販され
ているＩｎｔｅｌｌｅｃｔ ／ ００ Ｓｙｓｔｅｍ等
がある。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｉｌ＋ 遮られて見えない物体の検査装置であって、Ｘ
線のビームを発生させ、このＸ線ビームをある行程に沿
って導く装置と、該行路中に配置された螢光シンチレー
タ装置と、物体を上記Ｘ線発生装置と上記シンチレータ
装置との間の上記行路中に配置する装置と、シンチレー
タから放出された螢光放射を検出する光学装置と、該検
出された放射を画像処理して該放射を読取り可能な様式
で表示する装置とを包含することを特徴とする検査装置
。 （２）該光学装置がＳＩＴ撮像管である特許請求の範囲
第（１）項に記載の装置。 （３）該螢光シンチレータが金属板上に螢光物質を支持
した増感形スクリーンである特許請求の範囲第（１１項
又は第（２）項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB08325117A GB2149630A (en) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | Real time radiographic inspection |
| US8325117 | 1983-09-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6091245A true JPS6091245A (ja) | 1985-05-22 |
Family
ID=10549026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59197743A Pending JPS6091245A (ja) | 1983-09-20 | 1984-09-20 | 実時間ｘ線撮影装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0139441A3 (ja) |
| JP (1) | JPS6091245A (ja) |
| AU (2) | AU3325384A (ja) |
| GB (1) | GB2149630A (ja) |
| NO (1) | NO843712L (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4926452A (en) * | 1987-10-30 | 1990-05-15 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
| US5621811A (en) * | 1987-10-30 | 1997-04-15 | Hewlett-Packard Co. | Learning method and apparatus for detecting and controlling solder defects |
| US5561696A (en) * | 1987-10-30 | 1996-10-01 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for inspecting electrical connections |
| AU656727B2 (en) * | 1990-06-08 | 1995-02-16 | Cintex Of America, Inc. | X-ray generating apparatus and associated method |
| US5583904A (en) * | 1995-04-11 | 1996-12-10 | Hewlett-Packard Co. | Continuous linear scan laminography system and method |
| US5687209A (en) * | 1995-04-11 | 1997-11-11 | Hewlett-Packard Co. | Automatic warp compensation for laminographic circuit board inspection |
| DE19814101A1 (de) * | 1998-03-30 | 1999-10-14 | Fresenius Medical Care De Gmbh | Verfahren zur luftdichten Verbindung zweier Membranen |
| WO2001077654A1 (en) * | 2000-03-23 | 2001-10-18 | Star V-Ray Co., Ltd. | Digital imaging apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS536867A (en) * | 1976-07-09 | 1978-01-21 | Shinei Kk | Method of manufacturing capacitor |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1240468A (en) * | 1967-08-08 | 1971-07-28 | Emi Ltd | Improvements relating to television cameras |
| GB1299130A (en) * | 1970-11-24 | 1972-12-06 | Nikolai Vasilievich Rabodzei | Closed-circuit tv inspection x-ray microscope |
| US3758723A (en) * | 1972-01-18 | 1973-09-11 | Imagex Inc | X-ray inspection system |
| US3829688A (en) * | 1972-05-04 | 1974-08-13 | Raytheon Co | High intensity radiation imaging system |
| US4020346A (en) * | 1973-03-21 | 1977-04-26 | Dennis Donald A | X-ray inspection device and method |
| US3903416A (en) * | 1973-05-07 | 1975-09-02 | Picker Corp | Method and apparatus for inspecting tires |
| NL7507601A (nl) * | 1974-07-17 | 1976-01-20 | Max Planck Gesellschaft | Werkwijze en inrichting voor het onderzoeken van een voorwerp door middel van een stralenbundel. |
| GB1508909A (en) * | 1976-07-20 | 1978-04-26 | Dynamic Tech Ltd | Apparatus for radiography |
| DE2735400C2 (de) * | 1977-08-05 | 1979-09-20 | Heimann Gmbh, 6200 Wiesbaden | Vorrichtung zum Prüfen von Gepäckstücken mitteis Röntgenstrahlung |
| GB2110037B (en) * | 1981-09-23 | 1986-09-03 | Arthur Percy Cable | A radiographic examination system |
| US4387141A (en) * | 1982-05-12 | 1983-06-07 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | X-Ray screens based on phosphor mixtures of CaWO4 and rare earth tantalates |
-
1983
- 1983-09-20 GB GB08325117A patent/GB2149630A/en not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-09-05 EP EP84306076A patent/EP0139441A3/en not_active Withdrawn
- 1984-09-18 NO NO843712A patent/NO843712L/no unknown
- 1984-09-18 AU AU33253/84A patent/AU3325384A/en not_active Abandoned
- 1984-09-20 JP JP59197743A patent/JPS6091245A/ja active Pending
-
1987
- 1987-04-06 AU AU71135/87A patent/AU581812B2/en not_active Ceased
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS536867A (en) * | 1976-07-09 | 1978-01-21 | Shinei Kk | Method of manufacturing capacitor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0139441A3 (en) | 1987-03-25 |
| NO843712L (no) | 1985-03-21 |
| AU3325384A (en) | 1985-03-28 |
| AU581812B2 (en) | 1989-03-02 |
| GB8325117D0 (en) | 1983-10-19 |
| EP0139441A2 (en) | 1985-05-02 |
| GB2149630A (en) | 1985-06-12 |
| AU7113587A (en) | 1987-07-23 |
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