NO843712L - Apparat for roentgenstraale-undersoekelse av gjenstander i sann tid - Google Patents
Apparat for roentgenstraale-undersoekelse av gjenstander i sann tidInfo
- Publication number
- NO843712L NO843712L NO843712A NO843712A NO843712L NO 843712 L NO843712 L NO 843712L NO 843712 A NO843712 A NO 843712A NO 843712 A NO843712 A NO 843712A NO 843712 L NO843712 L NO 843712L
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- scintillator
- equipment
- beam path
- real estimate
- fluoroscopic
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
Description
Foreliggende oppfinnelse angår radiografisk inspeksjonstek-nikk i sann tid.
Forskjellige metoder for inspeksjon av skjulte gjenstander er velkjent, f.eks. inspeksjon av bagasje ved hjelp av røntgen-utstyr. Røntgenstråler som passerer gjennom en gjenstand ab-sorberes i større eller mindre grad, alt avhengig av gjen-standens art og tetthet. Den stråling som overføres gjennom gjenstanden treffer en mottager/omformer hvor strålingsenergi-en omformes til en form som tillater visuell fremvisning. En sådan mottager/omformer kan f.eks. være en scintillator hvor røntgenstrålingen omformes til synlig lys og som er koblet til et fotodiodesystem. Det frembragte signal omvandles så på en måte som vanligvis utnyttes i TV-systemer.
Sådanne systemer finner anvendelse ved empirisk analyse av skjulte gjenstander, men de er ikke tilstrekkelig nøyaktige eller følsomme for såkalt "ikke-destruktiv utprøvning", slik som f .eks. finner sted ved undersøkelse av sveiser.
Det er imidlertid overraskende funnet at hensiktsmessig sam-menkoblede radiografiske og optiske systemer kan anvendes for dette formål og herunder gi tilfredsstillende oppløsning.
Dette kan oppnås i praksis ved å anvende fluoroskopiske skjer-mer som scintillator samt ved å observere den således oppnådde avbildning ved hjelp av kameraer som er følsomme for lavt lysnivå samt har høy oppløsningsevne.
Foreliggende oppfinnelse gjelder således apparat for under-søkelse av skjulte gjenstander og som omfatter utstyr for å frembringe og rette røntgenstråler langs en bestemt strålebane mot en fluoroskopisk scintillator, utstyr for å anbringe den gjenstand som skal undersøkes i nevnte strålebane, optisk utstyr for å påvise fluoroskopisk, fotometrisk utstråling fra scintillatoren, organer for hensiktsmessig behandling av nevnte utstråling samt utstyr for å fremvise den behandlede
utstråling for meningsfylt avlesning.
Scintillatoren kan være en fluoroskopisk skjerm og anvendes fortrinnsvis i tilslutning til kameraer utført for å oppnå høy oppløsningsevne ved lavt lysnivå. Sådanne kameraer omfatter målforsterkende kameraer på silisiurn-basis (SIT). Kommersielt tilgjengelige sådanne kameraer omfatter et 40 mm dia. SIT kamera og et 16 mm dia. I SIT kamera som er lik nevnte 40 mm SIT kamera, bortsett fra en enkelttrinns billedforsterker for-an målet og 40 mm linsesystem for forminskning. Passende fluoroskopiske skjerm-scintillatorer for anvendelse sammen med disse SIT kameraer omfatter den kommersielt tilgjengelige fluorometalliske forsterkerskjerm (Kyokko) som består av poly-krystallinsk kalsium-wolframat belagt på tynt blyfolie.
Skjønt fluoressensen frembringer et "støyrikt" videoutgangs-signal fra kameraet, er det funnet i henhold til foreliggende oppfinnelse at utgangssignalet kan hensiktsmessig databehand-les ved digitalisering til en 512x512x8 bit oppløsnings-matrise. Dette digitaliserte bilde kan ytterligere behandles ved sådanne funksjoner som kontrastøkning, middelverdiutled-ning og integrering før fremvisning på nytt. Avbildningsbe-handlingen utføres i sann tid, skjønt vedkommende bilde kan lagres på videobånd og har en kvalitet som tilsvarer avbildning på vanlig fotografisk film.
Som et eksempel på det utstyr som anvendes for databehandling av SIT-utgangssignalet kan nevnes Microconsultants Intellect 100 systemet.
Claims (3)
1. Apparat for undersøkelse av skjulte gjenstander og som omfatter utstyr for å frembringe og rette røntgenstråler langs en bestemt strålebane, en scintillator-anordning i strålebanen og utstyr for å anbringe vedkommende gjenstand i nevnte strålebane mellom generatoren og scintillatoren, karakterisert ved optisk utstyr for å påvise fluoroskopisk utstråling fra scintillatoren, organer for hensiktsmessig behandling av den påviste utstråling således at den kan anvises for meningsfull avlesning.
2. Apparat som angitt i krav 1,
karakterisert ved at nevnte optiske utstyr utgjøres av et målforsterkende kamera på silisium-basis.
3. Apparat som angitt i krav 1 eller 2, karakterisert ved at nevnte fluoroskopiske scintillator utgjøres av en fluorometallisk avbildningsfor-sterkende skjerm.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB08325117A GB2149630A (en) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | Real time radiographic inspection |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NO843712L true NO843712L (no) | 1985-03-21 |
Family
ID=10549026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NO843712A NO843712L (no) | 1983-09-20 | 1984-09-18 | Apparat for roentgenstraale-undersoekelse av gjenstander i sann tid |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0139441A3 (no) |
| JP (1) | JPS6091245A (no) |
| AU (2) | AU3325384A (no) |
| GB (1) | GB2149630A (no) |
| NO (1) | NO843712L (no) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4926452A (en) * | 1987-10-30 | 1990-05-15 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
| US5561696A (en) * | 1987-10-30 | 1996-10-01 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for inspecting electrical connections |
| US5621811A (en) * | 1987-10-30 | 1997-04-15 | Hewlett-Packard Co. | Learning method and apparatus for detecting and controlling solder defects |
| EP0532637B1 (en) * | 1990-06-08 | 1995-03-22 | Par Technology Corporation | X-ray image generating apparatus and associated method |
| US5687209A (en) * | 1995-04-11 | 1997-11-11 | Hewlett-Packard Co. | Automatic warp compensation for laminographic circuit board inspection |
| US5583904A (en) * | 1995-04-11 | 1996-12-10 | Hewlett-Packard Co. | Continuous linear scan laminography system and method |
| DE19814101A1 (de) * | 1998-03-30 | 1999-10-14 | Fresenius Medical Care De Gmbh | Verfahren zur luftdichten Verbindung zweier Membranen |
| WO2001077654A1 (en) * | 2000-03-23 | 2001-10-18 | Star V-Ray Co., Ltd. | Digital imaging apparatus |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1240468A (en) * | 1967-08-08 | 1971-07-28 | Emi Ltd | Improvements relating to television cameras |
| GB1299130A (en) * | 1970-11-24 | 1972-12-06 | Nikolai Vasilievich Rabodzei | Closed-circuit tv inspection x-ray microscope |
| US3758723A (en) * | 1972-01-18 | 1973-09-11 | Imagex Inc | X-ray inspection system |
| US3829688A (en) * | 1972-05-04 | 1974-08-13 | Raytheon Co | High intensity radiation imaging system |
| US4020346A (en) * | 1973-03-21 | 1977-04-26 | Dennis Donald A | X-ray inspection device and method |
| US3903416A (en) * | 1973-05-07 | 1975-09-02 | Picker Corp | Method and apparatus for inspecting tires |
| NL7507601A (nl) * | 1974-07-17 | 1976-01-20 | Max Planck Gesellschaft | Werkwijze en inrichting voor het onderzoeken van een voorwerp door middel van een stralenbundel. |
| JPS536867A (en) * | 1976-07-09 | 1978-01-21 | Shinei Kk | Method of manufacturing capacitor |
| GB1508909A (en) * | 1976-07-20 | 1978-04-26 | Dynamic Tech Ltd | Apparatus for radiography |
| DE2735400C2 (de) * | 1977-08-05 | 1979-09-20 | Heimann Gmbh, 6200 Wiesbaden | Vorrichtung zum Prüfen von Gepäckstücken mitteis Röntgenstrahlung |
| GB2110037B (en) * | 1981-09-23 | 1986-09-03 | Arthur Percy Cable | A radiographic examination system |
| US4387141A (en) * | 1982-05-12 | 1983-06-07 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | X-Ray screens based on phosphor mixtures of CaWO4 and rare earth tantalates |
-
1983
- 1983-09-20 GB GB08325117A patent/GB2149630A/en not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-09-05 EP EP84306076A patent/EP0139441A3/en not_active Withdrawn
- 1984-09-18 NO NO843712A patent/NO843712L/no unknown
- 1984-09-18 AU AU33253/84A patent/AU3325384A/en not_active Abandoned
- 1984-09-20 JP JP59197743A patent/JPS6091245A/ja active Pending
-
1987
- 1987-04-06 AU AU71135/87A patent/AU581812B2/en not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU581812B2 (en) | 1989-03-02 |
| JPS6091245A (ja) | 1985-05-22 |
| AU3325384A (en) | 1985-03-28 |
| AU7113587A (en) | 1987-07-23 |
| EP0139441A2 (en) | 1985-05-02 |
| GB2149630A (en) | 1985-06-12 |
| EP0139441A3 (en) | 1987-03-25 |
| GB8325117D0 (en) | 1983-10-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6195413B1 (en) | Method and arrangement for detecting X-rays | |
| US7010092B2 (en) | Dual energy imaging using optically coupled digital radiography system | |
| US3848130A (en) | Selective material x-ray imaging system | |
| US5181234A (en) | X-ray backscatter detection system | |
| US4987584A (en) | Materials inspection system using x-ray imaging | |
| US4415980A (en) | Automated radiographic inspection system | |
| US5481584A (en) | Device for material separation using nondestructive inspection imaging | |
| JP2606828B2 (ja) | Ｘ線像を較正する装置 | |
| US5825032A (en) | Radiographic apparatus and image processing method | |
| NO931835L (no) | Hybridisert halvlederpikseldetektorgruppe til bruk ved digital radiografi | |
| JP2004508124A (ja) | 組織特異的撮影のためのｘ線検出器及び方法 | |
| US7377691B2 (en) | Radiographic apparatus that removes time lag by recursive computation | |
| NO843712L (no) | Apparat for roentgenstraale-undersoekelse av gjenstander i sann tid | |
| JPS60253197A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| CA2083064C (en) | X-ray backscatter detection system | |
| JPH05217689A (ja) | Ｘ線撮影装置およびｘ線撮影方法 | |
| JPH0341933A (ja) | 放射線画像処理方法および撮影装置 | |
| JP3545073B2 (ja) | 差分画像処理を用いた放射線透視法 | |
| JP3880033B2 (ja) | 結晶格子を有する物体の放射線撮影法による検査 | |
| WO2007055024A1 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
| Holdsworth et al. | Slot-beam digital mammography using a time-delay integration (TDI) CCD | |
| JPH0866388A (ja) | 放射線撮像装置 | |
| Kotwaliwale et al. | Calibration of a soft X-ray digital imaging system for biological materials | |
| JPH0480637A (ja) | シート材料のムラの評価方法及びそのための評価システム | |
| RU2200468C2 (ru) | Способ получения трансмиссионных рентгеновских томограмм |