JPH0341933A - 放射線画像処理方法および撮影装置 - Google Patents
放射線画像処理方法および撮影装置Info
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- JPH0341933A JPH0341933A JP2051086A JP5108690A JPH0341933A JP H0341933 A JPH0341933 A JP H0341933A JP 2051086 A JP2051086 A JP 2051086A JP 5108690 A JP5108690 A JP 5108690A JP H0341933 A JPH0341933 A JP H0341933A
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/482—Diagnostic techniques involving multiple energy imaging
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、工業用分析装置あるいは医療用放射線診断装
置等に用いられる放射線画像処理方法および撮影装置に
関するものである。
置等に用いられる放射線画像処理方法および撮影装置に
関するものである。
従来の技術
被写体の一方向から放射線を照射し、透過した放射線に
より得られる透過像の成分は、基本的に吸収係数と厚さ
の積からなっている。
より得られる透過像の成分は、基本的に吸収係数と厚さ
の積からなっている。
放射線透過の基本原理を述べる。被写体を透過する放射
線について考える。特定のエネルギーＥの放射線の入射
強度な１ａ（Ｅ）、透過強度を１（ε）とし、・厚さを
Ｘとすると、次式が成立する。
線について考える。特定のエネルギーＥの放射線の入射
強度な１ａ（Ｅ）、透過強度を１（ε）とし、・厚さを
Ｘとすると、次式が成立する。
１（Ｅ）＝ ｌ５（Ｅ）ｅｘｌｌ （ＩＩ （Ｅ）Ｘ
Ｘ）上式で示されるように、透過放射線強度変化は７１
（Ｅ）とＸの変化である。すなわち透過放射線画像には
常に被写体の厚さの情報が含まれている。
Ｘ）上式で示されるように、透過放射線強度変化は７１
（Ｅ）とＸの変化である。すなわち透過放射線画像には
常に被写体の厚さの情報が含まれている。
発明が解決しようとする課題
透過画像に被写体の厚さ情報が常に含まれているので、
その画像は単に影としての形状的意味しか持たない。
その画像は単に影としての形状的意味しか持たない。
本発明は、このような従来技術の課題を解決する放射線
画像処理方法および撮影装置を提供することを目的とす
る。
画像処理方法および撮影装置を提供することを目的とす
る。
課題を解決するための手段
本発明は、同一の被写体に対して２種類以上の異なるエ
ネルギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から照
射して得られる放射線透過画像情報を得、その１つのエ
ネルギーもしくはエネルギー帯の放射線により得られる
前記放射線透過画像情報の各画素の値を対数化した画像
情報と、他のエネルギーもしくはエネルギー帯の放射線
により得られる前記放射線透過画像情報の各画素の値を
対数化した画像情報と、の各画素の値の比を取つる。
ネルギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から照
射して得られる放射線透過画像情報を得、その１つのエ
ネルギーもしくはエネルギー帯の放射線により得られる
前記放射線透過画像情報の各画素の値を対数化した画像
情報と、他のエネルギーもしくはエネルギー帯の放射線
により得られる前記放射線透過画像情報の各画素の値を
対数化した画像情報と、の各画素の値の比を取つる。
作用
本発明では、上記のように対数変換画像に於ける被写体
の画像濃度情報の比を取ることにより、被写体の厚さの
情報を消去し、被写体を構成する原子番号、材料のみの
情報の画像を得ることができる。
の画像濃度情報の比を取ることにより、被写体の厚さの
情報を消去し、被写体を構成する原子番号、材料のみの
情報の画像を得ることができる。
実施例
以下に本発明の実施例を図面を参照して説明する。
本発明の原理を第１図に基すいて説明する。
異なる放射線のエネルギーをＥ７、Ｅ１、入射放射線の
強度をＩｓ （Ｅｌ）、Ｉｓ （Ｅｌ）、被写体を透過
した放射線の強度をＩ＋（Ｅｌ）、ｌ２（Ｅｌ）とする
と、被写体を透過した画像の透過画像濃度情報は次のよ
うになる。
強度をＩｓ （Ｅｌ）、Ｉｓ （Ｅｌ）、被写体を透過
した放射線の強度をＩ＋（Ｅｌ）、ｌ２（Ｅｌ）とする
と、被写体を透過した画像の透過画像濃度情報は次のよ
うになる。
１＋（Ｅｌ）ｄ＠（Ｅｔ ）ｅｘｐ （−ｕ （Ｅｌ
）Ｘ Ｘ） （１）１２（Ｅｌ）”
ｌ５（Ｅｌ）ｅｘＦｌ （−Ｉｔ （Ｅｌ）Ｘ Ｘ）
（２）この画像の対数変換画像は次のような式
であられされる。なお対数変換は自然対数変換を使用す
る。
）Ｘ Ｘ） （１）１２（Ｅｌ）”
ｌ５（Ｅｌ）ｅｘＦｌ （−Ｉｔ （Ｅｌ）Ｘ Ｘ）
（２）この画像の対数変換画像は次のような式
であられされる。なお対数変換は自然対数変換を使用す
る。
１ｎｌｔ（Ｅｌ）ｌｎｌｅ（Ｅｌ）−／ｊ （Ｅｌ）Ｘ
Ｘ （３）Ｉｎ１２（Ｅｌ）：１ｎｌｅ（
Ｅｌ）−１１（Ｅｌ）Ｘ Ｘ （４）対数
変換画像における被写体の画像濃度情報はエネルギーＥ
＋、Ｅ２に対して次式のようになる。
Ｘ （３）Ｉｎ１２（Ｅｌ）：１ｎｌｅ（
Ｅｌ）−１１（Ｅｌ）Ｘ Ｘ （４）対数
変換画像における被写体の画像濃度情報はエネルギーＥ
＋、Ｅ２に対して次式のようになる。
Ｉｎｆｓ（Ｅｌ）−１ｎｌ＋（Ｅｌ）＝μ（Ｅｌ）ＸＸ
’ （５）ｌｎｉｓ（Ｅｌ）−１ｎ１２（
Ｅｌ）”μ（Ｅｌ）Ｘ Ｘ （６）ここでｌ
５（Ｅ）は入射強度であり、画面全体に均一に入射する
ので、定数として取り扱うことが可能である。そこで（
５）、（６）式を用いて被写体の画像濃度情報の比を計
算すると、次式の様にμ（Ｅｌ）／μ（Ｅｌ）に比例す
る。
’ （５）ｌｎｉｓ（Ｅｌ）−１ｎ１２（
Ｅｌ）”μ（Ｅｌ）Ｘ Ｘ （６）ここでｌ
５（Ｅ）は入射強度であり、画面全体に均一に入射する
ので、定数として取り扱うことが可能である。そこで（
５）、（６）式を用いて被写体の画像濃度情報の比を計
算すると、次式の様にμ（Ｅｌ）／μ（Ｅｌ）に比例す
る。
被写体の画像濃度情報の比・・・μ（Ｅ→／μ（Ｅｌ）
（７）（７）式から解るように、被写体の画像濃度情
報の比をとることにより被写体の厚さの情報を消去する
ことができる。
（７）（７）式から解るように、被写体の画像濃度情
報の比をとることにより被写体の厚さの情報を消去する
ことができる。
すなわち被写体の物性そのもののパラメータとして画像
を表示することが可能となる。多くの元素、材料のエネ
ルギーＥ１、 Ｅｌに対する吸収係数が予め解ってい
るので、被写体の画像濃度情報の比から被写体を構成す
る元素、材料の同定が可能となる。
を表示することが可能となる。多くの元素、材料のエネ
ルギーＥ１、 Ｅｌに対する吸収係数が予め解ってい
るので、被写体の画像濃度情報の比から被写体を構成す
る元素、材料の同定が可能となる。
Ｅ１、 Ｅｌのエネルギーの入射放射線源として放射
性同位元素（ラジオアイソトープ、略してＲｒと記す）
を使用する場合は、第１表に示すＲ■から選択すること
ができる。
性同位元素（ラジオアイソトープ、略してＲｒと記す）
を使用する場合は、第１表に示すＲ■から選択すること
ができる。
第１表
一例として、第１表の中から１２９１．２４１Ａ、を選
択し、２種類のエネルギーの放射線を用いて種々の材料
を照射し、得られた透過画像の対数化画像における種々
の材料の画像濃度情報の比をとった結果を第２図に示す
。この結果を見ると、Ｃ，Ｏ，Ｎ等の原子番号の小さい
元素はｌ−１，４の範囲に、Ａｌ、Ｓｌは２前後に、Ｔ
ｉより原子番号の大きな元素は２．８〜３゜２の範囲に
分布する。原子番号の２０以下では原子番号と画像濃度
情報の比が比例間係にあり、画像濃度情報の比から元素
、材料の同定が可能となる。
択し、２種類のエネルギーの放射線を用いて種々の材料
を照射し、得られた透過画像の対数化画像における種々
の材料の画像濃度情報の比をとった結果を第２図に示す
。この結果を見ると、Ｃ，Ｏ，Ｎ等の原子番号の小さい
元素はｌ−１，４の範囲に、Ａｌ、Ｓｌは２前後に、Ｔ
ｉより原子番号の大きな元素は２．８〜３゜２の範囲に
分布する。原子番号の２０以下では原子番号と画像濃度
情報の比が比例間係にあり、画像濃度情報の比から元素
、材料の同定が可能となる。
さらに、より大まかにいえは、Ａｌを基準とすれば、画
像′ａ度情報の比が小さければＣを中心とした樹脂、大
きければ金属といった判別が可能となる。
像′ａ度情報の比が小さければＣを中心とした樹脂、大
きければ金属といった判別が可能となる。
他の一例として２”Ａｍ、”３Ｇｄを使用して得られた
透過画像の対数化画像における画像濃度情報の比をとっ
た結果を第３図に示す。エネルギーを変えることにより
、原子番号５０以下の材料に対して比例関係にあり、前
例に比へて元素、材料の同定範囲が広がる。
透過画像の対数化画像における画像濃度情報の比をとっ
た結果を第３図に示す。エネルギーを変えることにより
、原子番号５０以下の材料に対して比例関係にあり、前
例に比へて元素、材料の同定範囲が広がる。
＋１１９ｃ ｄ、５？ｃｏに間しても他のＲ１との組合
せにより同様のことが可能になる。
せにより同様のことが可能になる。
放射線源としてｘｙＡ源を使用する場合は、Ｘ線の発生
方法、Ｘ管の種類、印加電圧などによりエネルギースペ
クトル（線質）が変化する。さらには、被写体の厚さが
厚くなると、被写体を透過したＸ線のエネルギースペク
トル（線質）が変化する。そこで特定のＸ＊Ｒを用いて
前もって一定厚の各種材料に対して得られたコントラス
ト比を取得しておく必要がある。Ｘ線のエネルギーを変
える方法として、Ｘ線管に印加する電圧を変化する方法
がある。ざらにＣｕ等の金属をフィルターとして用いる
と、エネルギーの分離がより良くなる。
方法、Ｘ管の種類、印加電圧などによりエネルギースペ
クトル（線質）が変化する。さらには、被写体の厚さが
厚くなると、被写体を透過したＸ線のエネルギースペク
トル（線質）が変化する。そこで特定のＸ＊Ｒを用いて
前もって一定厚の各種材料に対して得られたコントラス
ト比を取得しておく必要がある。Ｘ線のエネルギーを変
える方法として、Ｘ線管に印加する電圧を変化する方法
がある。ざらにＣｕ等の金属をフィルターとして用いる
と、エネルギーの分離がより良くなる。
このようにして印加電圧と金属フィルターを組み合わせ
てＸ線の実効エネルギーを変えることにより、Ｒ１を用
いたのと同様な結果が得られる。
てＸ線の実効エネルギーを変えることにより、Ｒ１を用
いたのと同様な結果が得られる。
実効エネルギーの絹合せとしては、実効エネルギー１０
〜８０ＫｅＶでは実効原子番号が２０以下の材料に対し
て、４０〜２００にｅＶでは実効原子番号が２０以上の
材料に対して有効である。
〜８０ＫｅＶでは実効原子番号が２０以下の材料に対し
て、４０〜２００にｅＶでは実効原子番号が２０以上の
材料に対して有効である。
以上は、対数化した画像濃度情報の比を求める方法を述
べたが、次に、より簡単な画像処理についてのべる。２
種類のエネルギーを用いて得られた被写体の透過画像の
対数化画像を用いて、一方の画像に係数をかけて両者を
減算すると、係数が前述の画像濃度情報の比に等しくな
ると、１ｊｉＩ算後の画像から被写体の像が消去されて
いる。言い替えると、係数値を変化させて減算後の画像
を観察し、被写体の各部分の消去のされ方を観察し、消
去された部分の画像濃度情報の比を係数値として取得で
きる。
べたが、次に、より簡単な画像処理についてのべる。２
種類のエネルギーを用いて得られた被写体の透過画像の
対数化画像を用いて、一方の画像に係数をかけて両者を
減算すると、係数が前述の画像濃度情報の比に等しくな
ると、１ｊｉＩ算後の画像から被写体の像が消去されて
いる。言い替えると、係数値を変化させて減算後の画像
を観察し、被写体の各部分の消去のされ方を観察し、消
去された部分の画像濃度情報の比を係数値として取得で
きる。
第４図にその概略図を示す。２種類のエネルギーを用い
て得られた被写体の透過画像の対数化画像（ａ）、
（ｂ）の一方の画像（ｂ）に係数Ｘをかけて両者を減算
し、Ｘを変化させて画像処理後の画像（Ｃ）を観察し、
例えば図中三角形状の被写体が画面から消去されたとき
の係数を得ることにより、三角形状の画像濃度情報の比
に一致し、三角形状の材質の同定が可能となる。
て得られた被写体の透過画像の対数化画像（ａ）、
（ｂ）の一方の画像（ｂ）に係数Ｘをかけて両者を減算
し、Ｘを変化させて画像処理後の画像（Ｃ）を観察し、
例えば図中三角形状の被写体が画面から消去されたとき
の係数を得ることにより、三角形状の画像濃度情報の比
に一致し、三角形状の材質の同定が可能となる。
また、被写体の近傍に例えばＡ１等の基準となる物体を
配置し、基準となる物体の画像濃度情報の比の値で正規
化することにより後の同定が非常にやりやすくなる。
配置し、基準となる物体の画像濃度情報の比の値で正規
化することにより後の同定が非常にやりやすくなる。
次に、画像表示方法について述べる０画像源度情報の比
を情報とした画像は、その濃淡がそのまま被写体の実効
原子番号に比例した画像であるが、画像濃度情報をカラ
ー化することにより、実効原子番号の差異をより明確に
表示することが可能となる。
を情報とした画像は、その濃淡がそのまま被写体の実効
原子番号に比例した画像であるが、画像濃度情報をカラ
ー化することにより、実効原子番号の差異をより明確に
表示することが可能となる。
第３図を参考にすれば、画像情報の比の値が大きい方を
青系統、小さい方を赤系統に色分けを行うと、実効原子
番号の差異がより認識し易くなる。
青系統、小さい方を赤系統に色分けを行うと、実効原子
番号の差異がより認識し易くなる。
次に第２図を参考にすると、画像情報の値の比を３種類
の帯域に分け、１−１．５の範囲を赤、１．５〜２．５
の範囲を緑色、２．５以上を青と表示すると、赤は樹脂
類を表し、緑はアルミニウム、シリコンを表し、青はそ
れ以外の金属を表すことになる。このような分類を行う
ことにより、例えば手荷物検査のように中身が未知な被
写体の撮影においても、従来の濃度情報、形状のみの画
像のみならず、材料のおおよその判別が可能である。す
なわち赤であれば樹脂のような有機物、もしかすれば爆
発物かという推測が可能となる。
の帯域に分け、１−１．５の範囲を赤、１．５〜２．５
の範囲を緑色、２．５以上を青と表示すると、赤は樹脂
類を表し、緑はアルミニウム、シリコンを表し、青はそ
れ以外の金属を表すことになる。このような分類を行う
ことにより、例えば手荷物検査のように中身が未知な被
写体の撮影においても、従来の濃度情報、形状のみの画
像のみならず、材料のおおよその判別が可能である。す
なわち赤であれば樹脂のような有機物、もしかすれば爆
発物かという推測が可能となる。
なお、その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割さ
れた領域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画
像濃度情報として表示してもよい。
れた領域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画
像濃度情報として表示してもよい。
また、各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画像：８
度情報とし、分割された領域毎にカラーの配色を指定し
て表示してもよい。
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画像：８
度情報とし、分割された領域毎にカラーの配色を指定し
て表示してもよい。
また、各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をソ（７）９１域の新しい画
像濃度情報とし、分割された領域の特定の領域にカラー
の配色を指定して表示してもよい。予め判別している特
定の元素および材料に対し、２種類以上の異なるエネル
ギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から照射し
て得られる放射線透過画像情報を得、１つのエネルギー
もしくはエネルギー帯の放射線により得られる前記放射
線透過画像情報の各画素の値を対数化した画像情報と、
他のエネルギーもしくはエネルギー帯の放射線により得
られる前記放射線透過画像情報の各画素の値を対数化し
た画像情報との各画素の値の比を取った値を、それぞれ
の元素の原子番号、材料の実効原子番号に対応させた画
像濃度情報として表示してもよい。
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をソ（７）９１域の新しい画
像濃度情報とし、分割された領域の特定の領域にカラー
の配色を指定して表示してもよい。予め判別している特
定の元素および材料に対し、２種類以上の異なるエネル
ギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から照射し
て得られる放射線透過画像情報を得、１つのエネルギー
もしくはエネルギー帯の放射線により得られる前記放射
線透過画像情報の各画素の値を対数化した画像情報と、
他のエネルギーもしくはエネルギー帯の放射線により得
られる前記放射線透過画像情報の各画素の値を対数化し
た画像情報との各画素の値の比を取った値を、それぞれ
の元素の原子番号、材料の実効原子番号に対応させた画
像濃度情報として表示してもよい。
また、予め元素の原子番号、材料の実効原子番号に対応
したカラー色を設定し、前記各画素の値の比を取った値
を元素の原子番号、材料の実効原子番号を対応させてカ
ラー表示してもよい。
したカラー色を設定し、前記各画素の値の比を取った値
を元素の原子番号、材料の実効原子番号を対応させてカ
ラー表示してもよい。
次に、本発明の一実施例の撮影装置を第５図に示す。エ
ネルギーの異なる放射線源の一例としての、ＲＩｖＡ源
（１）、（２）と、放射線検出手段の一例としてのライ
ン状の放射線センサ３を用い、被写体４を矢印の方向に
移動させて被写体４の透過画像を得る。放射線センサと
しては半導体センサとしてＳｉ、 ＧｅＳ ＧａＡｓ
、ＣｄＴｅ、 Ｈ３１の中から選択して使用、または
シンチレータ＋フォトダイオードの組合せを使用するこ
とができる。画像取得方法としては、１回撮影に１線源
を使用して２回撮影する方法と、同時に２線罐を使用し
、半導体放射線センサからの出力パルスを波高弁別し、
同時に異なるエネルギーの透過画像を得る方法がある。
ネルギーの異なる放射線源の一例としての、ＲＩｖＡ源
（１）、（２）と、放射線検出手段の一例としてのライ
ン状の放射線センサ３を用い、被写体４を矢印の方向に
移動させて被写体４の透過画像を得る。放射線センサと
しては半導体センサとしてＳｉ、 ＧｅＳ ＧａＡｓ
、ＣｄＴｅ、 Ｈ３１の中から選択して使用、または
シンチレータ＋フォトダイオードの組合せを使用するこ
とができる。画像取得方法としては、１回撮影に１線源
を使用して２回撮影する方法と、同時に２線罐を使用し
、半導体放射線センサからの出力パルスを波高弁別し、
同時に異なるエネルギーの透過画像を得る方法がある。
後者の波高弁別を用いれば、線源にＸ線を用いる際も印
加電圧を変えたり、金属フィルターを使用しなくても異
なるエネルギーの透過画像を得ることができる。このよ
うにして得られた透過画像を画像濃度情報処理手段の一
例としての処理部５により対数変換、さらには画像濃度
情報の比をとり表示部６にて表示すればよい。
加電圧を変えたり、金属フィルターを使用しなくても異
なるエネルギーの透過画像を得ることができる。このよ
うにして得られた透過画像を画像濃度情報処理手段の一
例としての処理部５により対数変換、さらには画像濃度
情報の比をとり表示部６にて表示すればよい。
また本発明に用いられることのできる放射線センサとし
て、感度の直線性の良いきじん性蛍光体を塗布したパネ
ルまたはイメージインテンシッフイア−の様な面センサ
を使用してもよい・また、放射線源として、γ線を放出
する核種のうち、コバルト５７（５７Ｃｏ）、カドミウ
ムｔｏ９（１０９Ｃｄ）、よう素１２９（１２９＋）、
ガドリニウム１５３（１５３Ｇｄ）、アメリシウム２４
１（２４ｌＡｍ）から１種類もしくは２種類を組み合わ
せて使用してもよい。
て、感度の直線性の良いきじん性蛍光体を塗布したパネ
ルまたはイメージインテンシッフイア−の様な面センサ
を使用してもよい・また、放射線源として、γ線を放出
する核種のうち、コバルト５７（５７Ｃｏ）、カドミウ
ムｔｏ９（１０９Ｃｄ）、よう素１２９（１２９＋）、
ガドリニウム１５３（１５３Ｇｄ）、アメリシウム２４
１（２４ｌＡｍ）から１種類もしくは２種類を組み合わ
せて使用してもよい。
また、放射線源にＸ線を用い、Ｘ線発生器に印加する電
圧と金属フィルターとの鞘合せを変えることによりＸ＆
ｔの実効エネルギーを変えて使用してもよい。
圧と金属フィルターとの鞘合せを変えることによりＸ＆
ｔの実効エネルギーを変えて使用してもよい。
また、放射線源にＸ線を用い、Ｘ線発生器に印加する電
圧と、Ｘ線発生器から発生するエネルギー範囲に吸収端
を有する金属フィルターとの組合せにより、Ｘ線の実効
エネルギーを変えて使用してもよい。
圧と、Ｘ線発生器から発生するエネルギー範囲に吸収端
を有する金属フィルターとの組合せにより、Ｘ線の実効
エネルギーを変えて使用してもよい。
発明の詳細
な説明したところから明らかなように、本発明によれば
・ 異なるエネルギーの放射線を用いて得られる被写体
の透過画像の対数変換を行い、その画像濃度情報の比を
とることにより、被写体を構成する元素、材料の同定、
分析が可能となる。
・ 異なるエネルギーの放射線を用いて得られる被写体
の透過画像の対数変換を行い、その画像濃度情報の比を
とることにより、被写体を構成する元素、材料の同定、
分析が可能となる。
また、画像濃度情報をカラー化することにより、被写体
を構成する元素、材料の同定、分析がさらに容易となる
。
を構成する元素、材料の同定、分析がさらに容易となる
。
第１図は放射線透過の基本原理を示す正面図、第２．３
図は原子番号と画像Φ吸収係数比の相関を示すグラフ、
第４図は本発明における放射線画像処理方法の一実施例
を示すブロック図、第５図は本発明にかかる撮影装置の
一実施例を示す斜視図である。 １、２・・・放射線源、３・・・放射線検出手段、４・
・・被写体、５・・・画像濃度情報処理手段、６・・・
表示手段。
図は原子番号と画像Φ吸収係数比の相関を示すグラフ、
第４図は本発明における放射線画像処理方法の一実施例
を示すブロック図、第５図は本発明にかかる撮影装置の
一実施例を示す斜視図である。 １、２・・・放射線源、３・・・放射線検出手段、４・
・・被写体、５・・・画像濃度情報処理手段、６・・・
表示手段。
Claims (26)
- （１）同一の被写体に対して２種類以上の異なるエネル
ギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から照射し
て得られる放射線透過画像情報を得、その１つのエネル
ギーもしくはエネルギー帯の放射線により得られる前記
放射線透過画像情報の各画素の値を対数化した画像情報
と、他のエネルギーもしくはエネルギー帯の放射線によ
り得られる前記放射線透過画像情報の各画素の値を対数
化した画像情報との各画素の値の比を取った値を画像濃
度情報とすることを特徴とする放射線画像処理方法。 - （２）各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報をカラー化して表示することを特徴と
する請求項１記載の放射線画像処理方法。 - （３）各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域毎にカラーの配色を指定して表示することを特徴とす
る請求項１記載の放射線画像処理方法。 - （４）各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画像濃度
情報として表示することを特徴とする請求項１記載の放
射線画像処理方法。 - （５）各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画像濃度
情報とし、分割された領域毎にカラーの配色を指定して
表示することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像
処理方法。 - （６）各画素の値の比を取った値を画像濃度情報とし、
その画像濃度情報を複数の領域に分割し、分割された領
域の画像濃度情報の平均値をその領域の新しい画像濃度
情報とし、分割された領域の特定の領域にカラーの配色
を指定して表示することを特徴とする請求項１に記載の
放射線画像処理方法。 - （７）予め判別している特定の元素および材料に対し、
２種類以上の異なるエネルギーまたはエネルギー帯の放
射線を同一方向から照射して得られる放射線透過画像情
報を得、１つのエネルギーもしくはエネルギー帯の放射
線により得られる前記放射線透過画像情報の各画素の値
を対数化した画像情報と、他のエネルギーもしくはエネ
ルギー帯の放射線により得られる前記放射線透過画像情
報の各画素の値を対数化した画像情報との各画素の値の
比を取った値を、それぞれの元素の原子番号、材料の実
効原子番号に対応させた画像濃度情報として表示するこ
とを特徴とする放射線画像処理方法。 - （８）予め元素の原子番号、材料の実効原子番号に対応
したカラー色を設定し、前記各画素の値の比を取った値
を元素の原子番号、材料の実効原子番号を対応させてカ
ラー表示することを特徴とする請求項１記載の放射線画
像処理方法。 - （９）多くの元素の特定の２種類のエネルギーに対する
吸収係数の比を予め求めておき、被写体を構成する各部
分の特定部分の画像コントラストの比と照合することに
より、特定部分を構成する元素もしくは材料を同定する
ことを特徴とする請求項１項に記載の放射線画像処理方
法。 - （１０）特定の元素の２種類のエネルギーに対する吸収
係数の比を基準として、他の多くの元素及び材料の吸収
係数の比を正規化し、正規化された吸収係数の比と被写
体を構成する各部分の特定部分の画像コントラストの比
と照合することにより、特定部分を構成する元素もしく
は材料を同定することを特徴とする請求項１または９に
記載の放射線画像処理方法。 - （１１）被写体中に特定の元素もしくは材料からなる基
準物体を置き、基準物体の２種類のエネルギーに対する
画像コントラストの比と、被写体を構成する各部分の特
定部分の画像コントラストの比と照合することにより、
特定部分を構成する元素もしくは材料を同定することを
特徴とする請求項１または９に記載の放射線画像処理方
法。 - （１２）各種のエネルギーのγ、Ｘ線源を用いて撮影し
た代表的な元素または材料の透過画像の対数化画像を得
、特定の２種類のエネルギーによる対数化画像の画像コ
ントラストの比を予め取得し、２種類のエネルギーによ
り撮影された画像の対数化画像に於ける被写体を構成す
る各部分の特定部分の画像コントラストの比と照合する
ことにより、特定部分を構成する元素もしくは材料を同
定することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像処
理方法。 - （１３）基準物体としてアルミニウム（Ａｌ）を使用し
、Ａｌに対し２種類のエネルギーを用いて撮影された透
過画像の対数化画像の画像コントラスト比を基準として
、２種類のエネルギーにより撮影された被写体画像の対
数化画像に於ける被写体を構成する各部分の特定部分の
画像コントラストの比と照合することにより、特定部分
を構成する元素もしくは材料を同定することを特徴とす
る請求項１に記載の放射線画像処理方法。 - （１４）元素の原子番号または化合物材料の実効原子番
号が２０以下の元素または化合物材料の同定に放射線の
エネルギーが１０ＫｅＶ〜８０ＫｅＶの範囲の放射線を
使用することを特徴とする請求項１に記載の放射線画像
処理方法。 - （１５）元素の原子番号または化合物材料の実効原子番
号が２０以上の元素または化合物材料の同定に放射線の
エネルギーが４０ＫｅＶ〜２００ＫｅＶの範囲の放射線
を使用することを、特徴とする請求項１に記載の放射線
画像処理方法。 - （１６）２種類のエネルギーに対する被写体の透過画像
の対数化画像を用いて、いずれかの対数化画像に係数を
かけて両画像の差分をとり、係数を連続に変化し、画像
から被写体の各部分が消去されたときの係数の値から、
各部分を構成する元素、材料を同定することを特徴とす
る請求項１に記載の放射線画像処理方法。 - （１７）多くの元素の特定の２種類のエネルギーに対す
る吸収係数の比を予め求めておき、被写体を構成する各
部分が消去されたときの係数の値と照合することにより
、特定部分を構成する元素もしくは材料を同定すること
を特徴とする請求項１、９〜１６のいずれかの項に記載
の放射線画像処理方法。 - （１８）特定の元素の２種類のエネルギーに対する吸収
係数の比を基準として、他の多くの元素及び材料の吸収
係数の比を正規化し、正規化された吸収係数の比と被写
体を構成する各部分が消去されたときの係数の値と照合
することにより、特定部分を構成する元素もしくは材料
を同定することを特徴とする請求項１に記載の放射線画
像処理方法。 - （１９）被写体中に特定の元素もしくは材料からなる基
準物体を置き、基準物体の２種類のエネルギーに対する
画像コントラストの比と、被写体を構成する各部分が消
去されたときの係数の値と照合することにより、特定部
分を構成する元素もしくは材料を同定することを特徴と
する請求項１、９〜１８のいずれかの項に記載の放射線
画像処理方法。 - （２０）同一の被写体に対して２種類以上の異なるエネ
ルギーまたはエネルギー帯の放射線を同一方向から照射
する放射線源と、得られる透過放射線を検出する放射線
検出手段と、その得られた透過放射線から画像情報を得
、その１つのエネルギーもしくはエネルギー帯の放射線
により得られる前記放射線透過画像情報の各画素の値を
対数化した画像情報と、他のエネルギーもしくはエネル
ギー帯の放射線により得られる前記放射線透過画像情報
の各画素の値を対数化した画像情報との各画素の値の比
を取った値を画像濃度情報とする画像濃度情報処理手段
と、その内容を表示する表示手段とを備えたことを特徴
とする撮影装置。 - （２１）放射線源として、γ線を放出する核種のうち、
コバルト５７（５７Ｃｏ）、カドミウム１０９（１０９
Ｃｄ）、よう素１２９（１２９ｌ）、ガドリニウム１５
３（１５３Ｇｄ）、アメリシウム２４１（２４ｌＡｍ）
から１種類もしくは２種類を組み合わせて使用すること
を特徴とする請求項２０記載の撮影装置。 - （２２）放射線源にＸ線を用い、Ｘ線発生器に印加する
電圧と金属フィルターとの組合せを変えることによりＸ
線の実効エネルギーを変えて使用することを特徴とする
請求項２０記載の撮影装置。 - （２３）放射線源にＸ線を用い、Ｘ線発生器に印加する
電圧と、Ｘ線発生器から発生するエネルギー範囲に吸収
端を有する金属フィルターとの組合せにより、Ｘ線の実
効エネルギーを変えて使用することを特徴とする請求項
２０記載の撮影装置。 - （２４）放射線検出器としてきじん性蛍光材料を塗布し
たパネルを使用することを特徴とする請求項２０記載の
撮影装置。 - （２５）放射線検出手段としてイメージインテンシファ
イヤーを使用することを特徴とする請求項２０に記載の
撮影装置。 - （２６）放射線検出手段としてＳｉ、Ｇｅ、ＣａＡｓ、
ＣｄＴｅ、ＨｇＩのグループから選択されたいずれかの
半導体検出器を使用することを特徴とする請求項２０記
載の撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2051086A JPH0341933A (ja) | 1989-03-03 | 1990-03-01 | 放射線画像処理方法および撮影装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5228889 | 1989-03-03 | ||
| JP1-52288 | 1989-03-03 | ||
| JP2051086A JPH0341933A (ja) | 1989-03-03 | 1990-03-01 | 放射線画像処理方法および撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0341933A true JPH0341933A (ja) | 1991-02-22 |
Family
ID=26391612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2051086A Pending JPH0341933A (ja) | 1989-03-03 | 1990-03-01 | 放射線画像処理方法および撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0341933A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004515747A (ja) * | 2000-06-11 | 2004-05-27 | インスティチュート オブ ジオロジカル アンド ニュークリアー サイエンシーズ リミテッド | 非破壊的な肉の特性の測定方法 |
| JP2008119332A (ja) * | 2006-11-15 | 2008-05-29 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線断層撮影装置 |
| JP2009294209A (ja) * | 2008-06-06 | 2009-12-17 | General Electric Co <Ge> | 実効原子番号の算出からの物質組成の検出 |
| JP2011078528A (ja) * | 2009-10-06 | 2011-04-21 | Aloka Co Ltd | Ｘ線撮像装置 |
| JP5384115B2 (ja) * | 2006-12-20 | 2014-01-08 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2014181889A1 (ja) * | 2013-05-10 | 2014-11-13 | 株式会社テレシステムズ | Ｘ線パノラマ・ｃｔ撮影を利用した物質同定装置及び物質同定方法 |
| WO2016038667A1 (ja) * | 2014-09-09 | 2016-03-17 | 株式会社日立製作所 | Ｘ線撮像方法及び装置 |
| WO2019069522A1 (ja) * | 2017-10-06 | 2019-04-11 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
-
1990
- 1990-03-01 JP JP2051086A patent/JPH0341933A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN111163698A (zh) * | 2017-10-06 | 2020-05-15 | 佳能株式会社 | 图像处理设备、图像处理方法以及程序 |
| US11826186B2 (en) | 2017-10-06 | 2023-11-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method, and program |
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