JPH0674920A - Ｘ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法 - Google Patents
Ｘ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法Info
- Publication number
- JPH0674920A JPH0674920A JP4250366A JP25036692A JPH0674920A JP H0674920 A JPH0674920 A JP H0674920A JP 4250366 A JP4250366 A JP 4250366A JP 25036692 A JP25036692 A JP 25036692A JP H0674920 A JPH0674920 A JP H0674920A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- image
- neutron
- transmission image
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検体の欠陥の存在の検知性を向上させる方
法を提供する。 【構成】 被検体１のＸ線の電子的透過像と中性子線の
電子的透過像とが同一幾何的条件を満たすように各線源
と被検体１とを配置し、被検体透過放射線が面状の放射
線蛍光コンバータ２に入射して発光する蛍光を撮像管４
で撮像して電子的透過像を求め、これを各画素ごとに画
像処理５して、Ｘ線透過像の画像情報と中性子透過像の
画像情報の内、一方を輝度信号とし、他方を色相信号と
して合成してＣＲＴ装置７で表示する。
法を提供する。 【構成】 被検体１のＸ線の電子的透過像と中性子線の
電子的透過像とが同一幾何的条件を満たすように各線源
と被検体１とを配置し、被検体透過放射線が面状の放射
線蛍光コンバータ２に入射して発光する蛍光を撮像管４
で撮像して電子的透過像を求め、これを各画素ごとに画
像処理５して、Ｘ線透過像の画像情報と中性子透過像の
画像情報の内、一方を輝度信号とし、他方を色相信号と
して合成してＣＲＴ装置７で表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、非破壊検査において
欠陥の存在の検知性を向上させた画像表示方法に関する
ものである。
欠陥の存在の検知性を向上させた画像表示方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、非破壊検査において被検体のＸ線
の電子的透過像（ＴＶ像）と中性子線の電子的透過像
（ＴＶ像）とを用いる場合、各透過像の明暗を比較する
ことにより欠陥の存在を発見している。
の電子的透過像（ＴＶ像）と中性子線の電子的透過像
（ＴＶ像）とを用いる場合、各透過像の明暗を比較する
ことにより欠陥の存在を発見している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のような方法によ
り欠陥の存在を発見しようとする場合の問題点を、たと
えば、アルミニウム製品中の腐食の存在検査を例にとっ
て説明する。ここで、一般に、Ｘ線や中性子線の被検体
透過像では、被検体中の吸収・散乱の強い部分の画像が
比較的暗くなり、吸収の弱い部分の画像が比較的明るく
なる。アルミニウム製品中の軽度の腐食部分は水酸化ア
ルミニウムが付着し、アルミニウム母材の肉厚は減損し
ていないが、重度の腐食部分は水酸化アルミニウムが付
着し、アルミニウム母材が減損している。この軽度の腐
食部分については、Ｘ線画像は一様の明るさであるが、
中性子線画像では、中性子線がアルミニウムではほとん
ど減衰せず、水酸化アルミニウム中の水素で大きく減衰
するため、各部分の腐食の程度に比例して当該部が暗く
なる。この様に軽度の腐食では、中性子線透過像の各部
分の明暗を比較することにより容易に腐食部分を特定す
ることが可能である。なお、一般に、Ｘ線透過像は金属
母材の肉厚情報を与え、中性子線透過像では水素の存在
情報を与える。
り欠陥の存在を発見しようとする場合の問題点を、たと
えば、アルミニウム製品中の腐食の存在検査を例にとっ
て説明する。ここで、一般に、Ｘ線や中性子線の被検体
透過像では、被検体中の吸収・散乱の強い部分の画像が
比較的暗くなり、吸収の弱い部分の画像が比較的明るく
なる。アルミニウム製品中の軽度の腐食部分は水酸化ア
ルミニウムが付着し、アルミニウム母材の肉厚は減損し
ていないが、重度の腐食部分は水酸化アルミニウムが付
着し、アルミニウム母材が減損している。この軽度の腐
食部分については、Ｘ線画像は一様の明るさであるが、
中性子線画像では、中性子線がアルミニウムではほとん
ど減衰せず、水酸化アルミニウム中の水素で大きく減衰
するため、各部分の腐食の程度に比例して当該部が暗く
なる。この様に軽度の腐食では、中性子線透過像の各部
分の明暗を比較することにより容易に腐食部分を特定す
ることが可能である。なお、一般に、Ｘ線透過像は金属
母材の肉厚情報を与え、中性子線透過像では水素の存在
情報を与える。
【０００４】一方、重度の腐食部分については、腐食に
よるアルミニウム母材の肉厚の大幅な減損や該減損によ
り腐食で生じた水酸化アルミニウムの剥離・脱落が重畳
している部分がしばしば存在する。この様な場合は、腐
食が著しいにもかかわらず、中性子画像の当該部分が該
肉厚減損と腐食で生じた水酸化アルミニウムの剥離・脱
落とにより、中性子画像の当該部分が明るくなり、あた
かも腐食がないか、または、腐食が軽度であるかの様な
画像となる。この様な場合、Ｘ線透過像と中性子線透過
像の各部分の明暗を比較するだけでは腐食部分を誤って
特定したり、また、腐食の存在を見落としたりする問題
がある。
よるアルミニウム母材の肉厚の大幅な減損や該減損によ
り腐食で生じた水酸化アルミニウムの剥離・脱落が重畳
している部分がしばしば存在する。この様な場合は、腐
食が著しいにもかかわらず、中性子画像の当該部分が該
肉厚減損と腐食で生じた水酸化アルミニウムの剥離・脱
落とにより、中性子画像の当該部分が明るくなり、あた
かも腐食がないか、または、腐食が軽度であるかの様な
画像となる。この様な場合、Ｘ線透過像と中性子線透過
像の各部分の明暗を比較するだけでは腐食部分を誤って
特定したり、また、腐食の存在を見落としたりする問題
がある。
【０００５】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであり、金属母材の肉厚情報と水素の存在情報
を輝度信号と色相信号の対に変換し、これらをテレビ・
カラー信号に合成することによりカラー表示し、被検体
の欠陥の存在の検知性が向上する方法を提供することを
目的としているものである。
れたものであり、金属母材の肉厚情報と水素の存在情報
を輝度信号と色相信号の対に変換し、これらをテレビ・
カラー信号に合成することによりカラー表示し、被検体
の欠陥の存在の検知性が向上する方法を提供することを
目的としているものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、この発明では、Ｘ線と中性子線の各透過像が光学的
には、同一の幾何的形状を満たす様に各線源と被検体と
を配置し、各透過像中の各画素について、その明るさの
同一任意領域中の平均的明るさ、または基準とする一定
の明るさからの変位量をそれぞれ求め、一方（例えば、
Ｘ線透過像）の変位量を輝度信号とし、他方（例えば、
中性子線透過像）の変位量を色相信号として合成して表
示することにより金属母材の肉厚情報と水素存在量とを
輝度・色相の合成されたテレビ・カラー色調情報として
各画素ごとにＣＲＴに表示し、被検体の欠陥の存在の検
知性を向上させる。アルミニウム製品中の腐食の存在検
査を例にとれば、例えば、輝度の低い赤部分は減肉のな
い非腐食部分を表し、輝度の低い青部分は減肉のない軽
度の腐食部分を表し、輝度の高い赤部分は薄肉の非腐食
部分を表し、輝度の高い青部分は減肉を伴う重度の腐食
部分を表す様に調整して、これら各部分の検知性を向上
するとともに、母材減肉により腐食で生じた水酸化アル
ミニウムが剥離・脱落し、あたかも腐食がないか、また
は、腐食が軽度であるかの様な画像となっている領域の
特定を容易にし、もってアルミニウム製品中の腐食部分
の検知性を向上させるものである。
め、この発明では、Ｘ線と中性子線の各透過像が光学的
には、同一の幾何的形状を満たす様に各線源と被検体と
を配置し、各透過像中の各画素について、その明るさの
同一任意領域中の平均的明るさ、または基準とする一定
の明るさからの変位量をそれぞれ求め、一方（例えば、
Ｘ線透過像）の変位量を輝度信号とし、他方（例えば、
中性子線透過像）の変位量を色相信号として合成して表
示することにより金属母材の肉厚情報と水素存在量とを
輝度・色相の合成されたテレビ・カラー色調情報として
各画素ごとにＣＲＴに表示し、被検体の欠陥の存在の検
知性を向上させる。アルミニウム製品中の腐食の存在検
査を例にとれば、例えば、輝度の低い赤部分は減肉のな
い非腐食部分を表し、輝度の低い青部分は減肉のない軽
度の腐食部分を表し、輝度の高い赤部分は薄肉の非腐食
部分を表し、輝度の高い青部分は減肉を伴う重度の腐食
部分を表す様に調整して、これら各部分の検知性を向上
するとともに、母材減肉により腐食で生じた水酸化アル
ミニウムが剥離・脱落し、あたかも腐食がないか、また
は、腐食が軽度であるかの様な画像となっている領域の
特定を容易にし、もってアルミニウム製品中の腐食部分
の検知性を向上させるものである。
【０００７】
【作用】この発明では、被検体のＸ線の電子的透過像と
中性子線の電子的透過像とが同一幾何的条件を満たす様
に各線源と被検体とを配置し、被検体透過放射線が面状
の放射線蛍光コンバータに入射して発光する蛍光を撮像
管で撮像して電子的透過像（ＴＶ像）を求め、これを各
画素ごとに画像処理して、一方（例えば、Ｘ線透過像）
の画像情報を輝度信号とし、他方（例えば、中性子線透
過像）の画像情報を色相信号として合成して表示するこ
とにより、金属母材の肉厚情報と水素の存在情報とをテ
レビ・カラー色調情報として各画素ごとにＣＲＴに表示
して、被検体の欠陥の存在の検知性を向上させる。
中性子線の電子的透過像とが同一幾何的条件を満たす様
に各線源と被検体とを配置し、被検体透過放射線が面状
の放射線蛍光コンバータに入射して発光する蛍光を撮像
管で撮像して電子的透過像（ＴＶ像）を求め、これを各
画素ごとに画像処理して、一方（例えば、Ｘ線透過像）
の画像情報を輝度信号とし、他方（例えば、中性子線透
過像）の画像情報を色相信号として合成して表示するこ
とにより、金属母材の肉厚情報と水素の存在情報とをテ
レビ・カラー色調情報として各画素ごとにＣＲＴに表示
して、被検体の欠陥の存在の検知性を向上させる。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明において使用する装置の概略
図であり、１は被検体であり、２は面状の放射線蛍光コ
ンバータであり、Ｘ線に感応して発光するものと中性子
線に感応して発光するものとを適宜用いる。３は前記放
射線蛍光コンバータの像を写す鏡であり、４は前記鏡の
像を撮像する撮像管であり、具体的にはＳＩＴ管または
カルニコン管等である。５は画像データ収集・処理・記
憶装置であり、前記撮像管の撮像電気信号を各画素ごと
にアナログ増幅し、各画素の明るさに比例したディジタ
ル信号に変換した後、記憶素子に記憶するとともに別
途、画素ごとに演算処理を行い、任意の画素領域中の画
素の平均的明るさ、または基準とする一定の明るさから
の各画素の変位量を求め、別の記憶素子に記憶する。６
はテレビ用カラー信号発生器であり、前記各画素の任意
画素領域中の画素の平均的明るさ、または基準とする一
定の明るさからの変位量を、例えば、Ｘ線透過像につい
ては輝度信号とし、例えば、中性子線透過像については
色相信号としてテレビのカラー信号化する。７は画像デ
ータ表示用ＣＲＴ装置であり、前記テレビ用カラー信号
発生器で各画素ごとに発生されたカラー信号を表示す
る。８はカラー・プリンタであり、前記画像データ表示
用ＣＲＴ装置に表示された画像のコピー出力を出す。９
は遮光された暗箱であり、前記、放射線蛍光コンバータ
２、鏡３、 撮像管４を収納する。
図であり、１は被検体であり、２は面状の放射線蛍光コ
ンバータであり、Ｘ線に感応して発光するものと中性子
線に感応して発光するものとを適宜用いる。３は前記放
射線蛍光コンバータの像を写す鏡であり、４は前記鏡の
像を撮像する撮像管であり、具体的にはＳＩＴ管または
カルニコン管等である。５は画像データ収集・処理・記
憶装置であり、前記撮像管の撮像電気信号を各画素ごと
にアナログ増幅し、各画素の明るさに比例したディジタ
ル信号に変換した後、記憶素子に記憶するとともに別
途、画素ごとに演算処理を行い、任意の画素領域中の画
素の平均的明るさ、または基準とする一定の明るさから
の各画素の変位量を求め、別の記憶素子に記憶する。６
はテレビ用カラー信号発生器であり、前記各画素の任意
画素領域中の画素の平均的明るさ、または基準とする一
定の明るさからの変位量を、例えば、Ｘ線透過像につい
ては輝度信号とし、例えば、中性子線透過像については
色相信号としてテレビのカラー信号化する。７は画像デ
ータ表示用ＣＲＴ装置であり、前記テレビ用カラー信号
発生器で各画素ごとに発生されたカラー信号を表示す
る。８はカラー・プリンタであり、前記画像データ表示
用ＣＲＴ装置に表示された画像のコピー出力を出す。９
は遮光された暗箱であり、前記、放射線蛍光コンバータ
２、鏡３、 撮像管４を収納する。
【０００９】図２は、この発明において、被検体のＸ線
の電子的透過像と中性子線の電子的透過像とが同一幾何
的条件を満たす様に、各線源から被検体に入射する放射
線ビームの平行度（広がり）を一致させる手段を概念的
に示すものである。図２Ａにおいて、１１はＸ線源であ
り、１２はＸ線ビームの広がりをそろえるためのコリメ
ータであり、鉄等の金属から成る。図２Ｂにおいて、１
３は小型密封中性子加速管であり、加速された重水素
が、加速管の終端位置の三重水素から成る１４に示すタ
ーゲットに衝突して１４ＭｅＶの高速中性子を発生す
る。１５は高速中性子減速体であり、鉛、ビスマス等の
金属から成り、高速中性子を非弾性散乱により、効率的
に中速中性子に減速する。１６はポリエチレンから成る
コリメータであり、中速中性子を効率的に減速して熱中
性子にするとともに、この熱中性子ビームの広がりをそ
ろえる。ここで、両コリメータ１２，１６の形状を一致
させて、Ｘ線ビームの広がりと熱中性子ビームの広がり
とを一致させる。このような手段により、被検体のＸ線
の電子的透過像と中性子線の電子的透過像とは同一幾何
的条件を満たすことになり、各画像の同一位置の画素
は、被検体の同一位置をそれぞれ示すことになる。
の電子的透過像と中性子線の電子的透過像とが同一幾何
的条件を満たす様に、各線源から被検体に入射する放射
線ビームの平行度（広がり）を一致させる手段を概念的
に示すものである。図２Ａにおいて、１１はＸ線源であ
り、１２はＸ線ビームの広がりをそろえるためのコリメ
ータであり、鉄等の金属から成る。図２Ｂにおいて、１
３は小型密封中性子加速管であり、加速された重水素
が、加速管の終端位置の三重水素から成る１４に示すタ
ーゲットに衝突して１４ＭｅＶの高速中性子を発生す
る。１５は高速中性子減速体であり、鉛、ビスマス等の
金属から成り、高速中性子を非弾性散乱により、効率的
に中速中性子に減速する。１６はポリエチレンから成る
コリメータであり、中速中性子を効率的に減速して熱中
性子にするとともに、この熱中性子ビームの広がりをそ
ろえる。ここで、両コリメータ１２，１６の形状を一致
させて、Ｘ線ビームの広がりと熱中性子ビームの広がり
とを一致させる。このような手段により、被検体のＸ線
の電子的透過像と中性子線の電子的透過像とは同一幾何
的条件を満たすことになり、各画像の同一位置の画素
は、被検体の同一位置をそれぞれ示すことになる。
【００１０】図３は、被検体のＸ線の電子的透過像と中
性子線の電子的透過像とにおいて、任意の画素領域中の
画素の平均的明るさ、または基準とする一定の明るさか
らの各画素の変位量を求め、別の記憶素子に記憶する方
法を概念的に示すものである。図３Ａにおいて、１は被
検体を示し、図３Ｂにおいて、２２は被検体のＸ線透過
像を示す。２３は透過像中の任意の画素領域であり、こ
の領域内について各画素の平均的明るさ、または基準と
する一定の明るさからの各画素の変位量を求める。ま
た、図３Ｃにおいて、２４は被検体の中性子線透過像を
示し、２５は透過像中の任意の画素領域であり、この領
域内について各画素の平均的明るさ、または基準とする
一定の明るさからの各画素の変位量を求める。ここで、
任意領域内の各画素の平均的明るさ、または基準とする
一定の明るさからの各画素の変位量は、記憶素子に記憶
されている各画素ごとの明るさからの信号を読み出し
て、下式により演算して求める。
性子線の電子的透過像とにおいて、任意の画素領域中の
画素の平均的明るさ、または基準とする一定の明るさか
らの各画素の変位量を求め、別の記憶素子に記憶する方
法を概念的に示すものである。図３Ａにおいて、１は被
検体を示し、図３Ｂにおいて、２２は被検体のＸ線透過
像を示す。２３は透過像中の任意の画素領域であり、こ
の領域内について各画素の平均的明るさ、または基準と
する一定の明るさからの各画素の変位量を求める。ま
た、図３Ｃにおいて、２４は被検体の中性子線透過像を
示し、２５は透過像中の任意の画素領域であり、この領
域内について各画素の平均的明るさ、または基準とする
一定の明るさからの各画素の変位量を求める。ここで、
任意領域内の各画素の平均的明るさ、または基準とする
一定の明るさからの各画素の変位量は、記憶素子に記憶
されている各画素ごとの明るさからの信号を読み出し
て、下式により演算して求める。
【００１１】
【数１】
【００１２】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、金属母材の肉厚情報と、水素の存在情報と
テレビ・カラー色調情報として各画素ごとにＣＲＴに表
示して、被検体の欠陥の存在の検知性を向上させること
が可能である。アルミニウム製品を例にとって説明すれ
ば、腐食によるアルミニウム母材の肉厚の大幅な減損や
該減損により腐食で生じた水酸化アルミニウムの剥離・
脱落がこれに重畳している場合でも、あたかも腐食がな
いか、または、腐食が軽度であるかの様な画像となる可
能性を排除して検査画像を表示することが可能である。
明によれば、金属母材の肉厚情報と、水素の存在情報と
テレビ・カラー色調情報として各画素ごとにＣＲＴに表
示して、被検体の欠陥の存在の検知性を向上させること
が可能である。アルミニウム製品を例にとって説明すれ
ば、腐食によるアルミニウム母材の肉厚の大幅な減損や
該減損により腐食で生じた水酸化アルミニウムの剥離・
脱落がこれに重畳している場合でも、あたかも腐食がな
いか、または、腐食が軽度であるかの様な画像となる可
能性を排除して検査画像を表示することが可能である。
【図１】この発明において使用する装置の概略図であ
る。
る。
【図２】この発明において、被検体のＸ線の電子的透過
像と中性子線の電子的透過像とが同一幾何的条件を満た
す様に、各線源から被検体に入射する放射線ビームの平
行度（広がり）を一致させる方法を概念的に示すもので
ある。
像と中性子線の電子的透過像とが同一幾何的条件を満た
す様に、各線源から被検体に入射する放射線ビームの平
行度（広がり）を一致させる方法を概念的に示すもので
ある。
【図３】被検体のＸ線の電子的透過像と中性子線の電子
的透過像とにおいて、任意の画素領域中の画素の平均的
明るさ、または基準とする一定の明るさからの各画素の
変位量を求め、別の記憶素子に記憶する方法を概念的に
示すものである。
的透過像とにおいて、任意の画素領域中の画素の平均的
明るさ、または基準とする一定の明るさからの各画素の
変位量を求め、別の記憶素子に記憶する方法を概念的に
示すものである。
１ 被検体 ２ 面状の放射線蛍光コンバータ ３ 鏡 ４ 撮像管 ５ 画像データ収集・処理・記憶装置 ６ テレビ用カラー信号発生器 ７ 画像データ表示用ＣＲＴ装置 ８ カラー・プリンタ ９ 遮光された暗箱 １１ Ｘ線源 １２ Ｘ線コリメータ １３ 小型密封型中性子加速管 １４ ターゲット（小型密封型中性子加速管内） １５ 高速中性子減速体 １６ 中性子コリメータ ２２ 被検体のＸ線透過像 ２３ Ｘ線透過像中の任意の画素領域 ２４ 被検体の中性子線透過像 ２５ 中性子線透過像中の任意の画素領域
Claims (1)
- 【請求項１】 非破壊検査において被検体の表示装置に
おけるＸ線の電子的透過像と中性子線の電子的透過像と
が同一幾何的条件を満たす場合にあって、透過像中の任
意の領域中の各電子的透過像の各画素について、Ｘ線の
電子的透過像中の各画素の明るさについて前記任意領域
中の平均値、または基準とする一定の明るさからの変位
量と中性子線の電子的透過像中の各画素の明るさについ
て前記任意領域中の平均値、または基準とする一定の明
るさからの変位量とを求め、各変位量のうち、一方を輝
度信号とし、他方を色相信号としてカラー表示すること
を特徴とするＸ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像
表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4250366A JPH0674920A (ja) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Ｘ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4250366A JPH0674920A (ja) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Ｘ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0674920A true JPH0674920A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=17206858
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4250366A Withdrawn JPH0674920A (ja) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Ｘ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0674920A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007127617A (ja) * | 2005-11-03 | 2007-05-24 | Tsinghua Univ | 高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルｘ線により材料識別する方法及びその装置 |
| JP2008076072A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Hitachi Engineering & Services Co Ltd | 表面が被覆された円筒部材の表面錆検出方法及びその装置 |
| JP2009200166A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Tdk Corp | セラミック電子部品の製造方法 |
| US10241061B2 (en) | 2015-09-09 | 2019-03-26 | Riken | Non-destructive inspection device and method |
| KR102294946B1 (ko) * | 2020-12-24 | 2021-08-30 | 주식회사 스탠더드시험연구소 | 소형 입자가속기를 이용한 이동형 중성자투과검사 장비 |
-
1992
- 1992-08-27 JP JP4250366A patent/JPH0674920A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007127617A (ja) * | 2005-11-03 | 2007-05-24 | Tsinghua Univ | 高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルｘ線により材料識別する方法及びその装置 |
| JP2008076072A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Hitachi Engineering & Services Co Ltd | 表面が被覆された円筒部材の表面錆検出方法及びその装置 |
| JP2009200166A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Tdk Corp | セラミック電子部品の製造方法 |
| US10241061B2 (en) | 2015-09-09 | 2019-03-26 | Riken | Non-destructive inspection device and method |
| KR102294946B1 (ko) * | 2020-12-24 | 2021-08-30 | 주식회사 스탠더드시험연구소 | 소형 입자가속기를 이용한 이동형 중성자투과검사 장비 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4521688A (en) | Three-dimensional and tomographic imaging device for x-ray and gamma-ray emitting objects | |
| US4415980A (en) | Automated radiographic inspection system | |
| US5253283A (en) | Inspection method and apparatus with single color pixel imaging | |
| EP0523771B1 (en) | Processing method in radiation image recording systems | |
| JP2008256603A (ja) | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 | |
| US5841148A (en) | Image processing apparatus | |
| JPH05342349A (ja) | 統計的画素サンプリングによってデジタル影像を処理してヒストグラムを作製する方法 | |
| US5617313A (en) | Image displaying method | |
| JPH0674920A (ja) | Ｘ線・中性子線併用非破壊検査装置の画像表示方法 | |
| JPS6091245A (ja) | 実時間ｘ線撮影装置 | |
| JPH07265286A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JPH0341933A (ja) | 放射線画像処理方法および撮影装置 | |
| GB2344242A (en) | X-ray image enhancement | |
| JP2002532713A (ja) | 結晶格子を有する物体の放射線撮影法による検査 | |
| JPH10104175A (ja) | 材質特定ｘ線検査装置 | |
| Tuomi et al. | Real-time video imaging of synchrotron X-ray topographs: Moving multiple diffraction stripes | |
| JPH0392705A (ja) | 燃料棒溶接部用ｘ線透過検査装置 | |
| JPH0480637A (ja) | シート材料のムラの評価方法及びそのための評価システム | |
| JPH04246783A (ja) | 画像表示方法 | |
| USH1627H (en) | Method of and apparatus for image processing using a variable focal spot size | |
| JPH09138203A (ja) | Ｘ線蛍光画像検査装置 | |
| JPH01153141A (ja) | 単色ｘ線像撮影方法 | |
| JP3022700U (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JPH06214028A (ja) | Ｘ線検出器 | |
| JPH06249799A (ja) | 電子線回折強度迅速精密計測装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991102 |