JPS6270701A - 磁気測長装置 - Google Patents
磁気測長装置Info
- Publication number
- JPS6270701A JPS6270701A JP21149385A JP21149385A JPS6270701A JP S6270701 A JPS6270701 A JP S6270701A JP 21149385 A JP21149385 A JP 21149385A JP 21149385 A JP21149385 A JP 21149385A JP S6270701 A JPS6270701 A JP S6270701A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- scale
- signals
- signal
- specific point
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
＜１）産業上の利用分野
本発明は、磁気リニアスケールと磁気センサーの組合わ
せにより距離測定を行うようにした磁気測長装置に関す
る。
せにより距離測定を行うようにした磁気測長装置に関す
る。
＜２〉従来の技術
一定の間隔で着磁された磁気リニアスケールと磁気抵抗
素子等の磁気センサーとを組合わせ、一方を基準点から
測定点まで移動することにより検出される磁束の変ｆヒ
をパルス数としてカラン１〜することで距離測定を行う
ことが知られている。磁気リニアスケールは、Ｎ極およ
びＳＮ！が交互に一定の間隔で並ぶように着磁されるの
が一般的である。
素子等の磁気センサーとを組合わせ、一方を基準点から
測定点まで移動することにより検出される磁束の変ｆヒ
をパルス数としてカラン１〜することで距離測定を行う
ことが知られている。磁気リニアスケールは、Ｎ極およ
びＳＮ！が交互に一定の間隔で並ぶように着磁されるの
が一般的である。
〈３）発明が解決しようとする問題点
このような従来の磁気測長装置では、磁束の変化数だけ
を検出しているので、特定点、例えば定規の目盛で「０
」に相当する点を検出することができないという問題点
があった。
を検出しているので、特定点、例えば定規の目盛で「０
」に相当する点を検出することができないという問題点
があった。
（４）問題点を解決するための手段及び作用本発明は上
記の点にかんがみてなされたもので、１寺定点の検出等
のより高度な距離測定を目的とし、この目的を達成する
ために複数種類の記録信号を多重させて磁気リニアスケ
ールを着磁することにより複数種類の磁束変（ヒを検出
するように構成されている。
記の点にかんがみてなされたもので、１寺定点の検出等
のより高度な距離測定を目的とし、この目的を達成する
ために複数種類の記録信号を多重させて磁気リニアスケ
ールを着磁することにより複数種類の磁束変（ヒを検出
するように構成されている。
り５）実施例
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
第１図乃至第３図は本発明による磁気測長装置の第１の
実施例を示す概略図、特性図、回路図である。第１図に
おいて磁気リニアスケール１に接近して磁気抵抗素子２
が設けられ、磁気リニアスケール１から生ずる磁束を磁
気抵抗素子２で検出するようにしている。磁気抵抗素子
２は、第２図に示す磁場・抵抗変化率の特性を有する。
実施例を示す概略図、特性図、回路図である。第１図に
おいて磁気リニアスケール１に接近して磁気抵抗素子２
が設けられ、磁気リニアスケール１から生ずる磁束を磁
気抵抗素子２で検出するようにしている。磁気抵抗素子
２は、第２図に示す磁場・抵抗変化率の特性を有する。
磁気リニアスケール１は第２図の下部に波形を示す２つ
の信号Ａ、Ｂを重畳して着磁されている。着磁は、テー
プレコーダーにおける磁気テープと記録ヘッドの関係の
如く、信号Ａ、Ｂを重畳した信号を記録ヘッドに流しつ
つ磁気リニアスケール１を移動させることにより行われ
る。信号Ｂの周期は信号Ａの周期の奇数倍となるように
選択され、第２図に示す例では信号Ｂは信号Ａの３倍の
周期を持っている。
の信号Ａ、Ｂを重畳して着磁されている。着磁は、テー
プレコーダーにおける磁気テープと記録ヘッドの関係の
如く、信号Ａ、Ｂを重畳した信号を記録ヘッドに流しつ
つ磁気リニアスケール１を移動させることにより行われ
る。信号Ｂの周期は信号Ａの周期の奇数倍となるように
選択され、第２図に示す例では信号Ｂは信号Ａの３倍の
周期を持っている。
このような磁気スケール１を第１図に示す如く配置して
、磁気抵抗素子２との間で相対的な位置変化を与え、第
３図に示す磁気抵抗素子２と抵抗３との介在回路で磁束
を検出することにより、第２図右上に示す信号Ａ１およ
びＢ１が得られる。
、磁気抵抗素子２との間で相対的な位置変化を与え、第
３図に示す磁気抵抗素子２と抵抗３との介在回路で磁束
を検出することにより、第２図右上に示す信号Ａ１およ
びＢ１が得られる。
信号Ａ１およびＢ１はバンドパスフィルターにより個々
の周波数成分に分離される。
の周波数成分に分離される。
第４図および第５図は第２の実施例を示す概略図および
回路図である。図中第１図乃至第３図と同じ構成部分に
は同じ参照番号を付して説明を省略する。
回路図である。図中第１図乃至第３図と同じ構成部分に
は同じ参照番号を付して説明を省略する。
この実施例では正弦波状の検出出力を得るように磁気リ
ニアスケール１に対して２つの磁気抵抗素子２１．２２
が用いられ、第５図に示すように基準電圧を２つの磁気
抵抗素子２１．２２で分圧することにより検出信号Ａ２
、Ｂ２を得ている。
ニアスケール１に対して２つの磁気抵抗素子２１．２２
が用いられ、第５図に示すように基準電圧を２つの磁気
抵抗素子２１．２２で分圧することにより検出信号Ａ２
、Ｂ２を得ている。
磁気抵抗素子２１，２２の間隔り、は記録信号の波長と
の関係で定められ、信号Ａに対しても信号Ｂに対しても
（Ｎ土工／４）波長（Ｎは零または自然数）となる長さ
に選択される。検出信号Ａ２、Ｂ２は先の実施例と同様
にバンドパスフィルターにより個々の周波数成分に分離
される。
の関係で定められ、信号Ａに対しても信号Ｂに対しても
（Ｎ土工／４）波長（Ｎは零または自然数）となる長さ
に選択される。検出信号Ａ２、Ｂ２は先の実施例と同様
にバンドパスフィルターにより個々の周波数成分に分離
される。
この実施例では２つの磁気抵抗素子２１．２２を使用す
ることにより、検出信号Ａ２、Ｂ２として正弦波状の出
力が得られるので、ゼロクロス検出を容易に行うことが
できる。
ることにより、検出信号Ａ２、Ｂ２として正弦波状の出
力が得られるので、ゼロクロス検出を容易に行うことが
できる。
第６図および第７図は第３の実施例を示す概略図および
回路図である。図中第１図乃至第５図と同じ構成部分に
は同じ参照番号を付して説明を省略する。
回路図である。図中第１図乃至第５図と同じ構成部分に
は同じ参照番号を付して説明を省略する。
この実施例では第２の実施例に比較して約２倍の検出出
力を得るように４つの磁気抵抗素子２１．２２．２３．
２４が用いられている。磁気抵抗素子２１．２２．２３
．２４は第６図に示すように配置され、間隔Ｌ２は間隔
はＬｌに等しく、また間隔Ｌ３は信号Ｂの１／２波長と
なるように選択される。磁気抵抗素子２１．２２．２３
．２４は第７図に示すようにブリッ、ジ４を構成し、磁
気抵抗素子２１および２３の抵抗値が大であるときに磁
気抵抗素子２２および２４の抵抗値が小となるように配
線される。ブリッジ４の出力は差動増幅気５よにり増幅
され、検出信号へ３、Ｂ３として出力される。
力を得るように４つの磁気抵抗素子２１．２２．２３．
２４が用いられている。磁気抵抗素子２１．２２．２３
．２４は第６図に示すように配置され、間隔Ｌ２は間隔
はＬｌに等しく、また間隔Ｌ３は信号Ｂの１／２波長と
なるように選択される。磁気抵抗素子２１．２２．２３
．２４は第７図に示すようにブリッ、ジ４を構成し、磁
気抵抗素子２１および２３の抵抗値が大であるときに磁
気抵抗素子２２および２４の抵抗値が小となるように配
線される。ブリッジ４の出力は差動増幅気５よにり増幅
され、検出信号へ３、Ｂ３として出力される。
この実施例では４つの磁気抵抗素子２１．２２．２３．
２４を用いてブリッジを構成することにより第２の実施
例における検出信号Ａ２、Ｂ２に比較して約２倍の振幅
を持つ検出信号へ３、Ｂ３を得ることができる。
２４を用いてブリッジを構成することにより第２の実施
例における検出信号Ａ２、Ｂ２に比較して約２倍の振幅
を持つ検出信号へ３、Ｂ３を得ることができる。
次に本発明による磁気測長装置の用途の一つとして特定
点の検出について説明する。特定点を検出するには磁気
リニアスケール１は第８図に示す信号Ａ、Ｂにより着磁
され、信号Ｂの立上り位置が特定点とされる。信号Ａお
よびＢの検出は上述した第１乃至第３の実施例の如くに
して行われ、検出信号Ｂ１、Ｂ２またはＢ３の立上りや
立下りにより特定点の検出が行われる。
点の検出について説明する。特定点を検出するには磁気
リニアスケール１は第８図に示す信号Ａ、Ｂにより着磁
され、信号Ｂの立上り位置が特定点とされる。信号Ａお
よびＢの検出は上述した第１乃至第３の実施例の如くに
して行われ、検出信号Ｂ１、Ｂ２またはＢ３の立上りや
立下りにより特定点の検出が行われる。
このような特定点を検出するための信号Ｂは、上述した
ような階段波に限定されることはなく、例えば正弦波の
発生または消滅する点を特定点としたり、周波数が変１
ヒする点を特定点とすることもできる。
ような階段波に限定されることはなく、例えば正弦波の
発生または消滅する点を特定点としたり、周波数が変１
ヒする点を特定点とすることもできる。
（６）発明の効果
以上で説明したように、本発明は複数種類の記録信号を
多重させて磁気リニアスケールを着磁することにより複
数種類の磁束変化を検出するようにしたので、特定点の
検出等のより高度な距離測定を行うことができる。
多重させて磁気リニアスケールを着磁することにより複
数種類の磁束変化を検出するようにしたので、特定点の
検出等のより高度な距離測定を行うことができる。
第１図乃至第３図は本発明による磁気測長装置の第１の
実施例を示し、第１図は概略図、第２図は特性図、第３
図は回路図である。第４図乃至第５図は本発明による磁
気測長装置の第２の実施例を示し、第４図は概略図、第
５図は回路図である。 第６図乃至第７図は本発明による磁気測長装置の第３の
実施例を示し、第６図は概略図、第７図は回路図である
。第８図は着磁信号の例を示す波形図である。 １、、、、、磁気リニアスケール ２、、、、、磁気抵抗素子 ２１．２２．２３．２４．、磁気抵抗素子特許出願人
日本電気ホームエレク トロニクス株式会社 代 理 人 弁理士 山 １） 武
樹！ＩｒＸＪ Ｍ３Ｎ ｖ５６図 第８図 ｊｌｌ！Ｓ図 ｍ７図
実施例を示し、第１図は概略図、第２図は特性図、第３
図は回路図である。第４図乃至第５図は本発明による磁
気測長装置の第２の実施例を示し、第４図は概略図、第
５図は回路図である。 第６図乃至第７図は本発明による磁気測長装置の第３の
実施例を示し、第６図は概略図、第７図は回路図である
。第８図は着磁信号の例を示す波形図である。 １、、、、、磁気リニアスケール ２、、、、、磁気抵抗素子 ２１．２２．２３．２４．、磁気抵抗素子特許出願人
日本電気ホームエレク トロニクス株式会社 代 理 人 弁理士 山 １） 武
樹！ＩｒＸＪ Ｍ３Ｎ ｖ５６図 第８図 ｊｌｌ！Ｓ図 ｍ７図
Claims (1)
- 磁気リニアスケールと該磁気リニアスケールの磁束を検
出する磁気センサーを有し、磁気リニアスケールと磁気
センサーとの相対的位置変化により測長を行う磁気測長
装置において、複数種類の記録信号を多重させて前記磁
気リニアスケールを着磁することにより複数種類の磁束
変化を検出するようにしたことを特徴とする磁気測長装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21149385A JPS6270701A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 磁気測長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21149385A JPS6270701A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 磁気測長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6270701A true JPS6270701A (ja) | 1987-04-01 |
Family
ID=16606861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21149385A Pending JPS6270701A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 磁気測長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6270701A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0516870Y2 (ja) * | 1987-10-16 | 1993-05-06 |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP21149385A patent/JPS6270701A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0516870Y2 (ja) * | 1987-10-16 | 1993-05-06 |
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