JPS6266714A - 自動タイミング測定法 - Google Patents
自動タイミング測定法Info
- Publication number
- JPS6266714A JPS6266714A JP20704485A JP20704485A JPS6266714A JP S6266714 A JPS6266714 A JP S6266714A JP 20704485 A JP20704485 A JP 20704485A JP 20704485 A JP20704485 A JP 20704485A JP S6266714 A JPS6266714 A JP S6266714A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- counter
- pulse
- pulse waveform
- waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はパルスタイミングの自動タイミング測定法に関
し、特にカウンタによる自動タイミング測定法に関する
。
し、特にカウンタによる自動タイミング測定法に関する
。
従来、この種のパルスタイミングの測定法では、波形確
認を省略して行なうか、波形確認を省略することができ
ない場合は、人手にニジオシロスコープを使用して波形
を確認して行なっていた。
認を省略して行なうか、波形確認を省略することができ
ない場合は、人手にニジオシロスコープを使用して波形
を確認して行なっていた。
パルスタイミングの測定をする場合において、波形確認
を省略する場合は、それにかかわる製品の品質、信頼性
が十分に保証されないという欠点があり、また、オシロ
スコープにニジ波形確認音する場合においては、長い測
定時間が要求されるとともに、その測定に携わる作業者
によっては品質にバラツキが生ずるという欠点がある。
を省略する場合は、それにかかわる製品の品質、信頼性
が十分に保証されないという欠点があり、また、オシロ
スコープにニジ波形確認音する場合においては、長い測
定時間が要求されるとともに、その測定に携わる作業者
によっては品質にバラツキが生ずるという欠点がある。
本発明のタイミング自動測定法は、測定レベルを任意に
設定できるカウンタと、そのカウンタの測定電圧を被測
定パルスのハイレベル下限電圧およびローレベル上限電
圧および両者のほぼ中間レベルの電圧の3段階のレベル
の電圧に設定する手段と、これら3段階のレベルにおい
て周波数を測定し、それらの測定値が同一周波数である
ことを確認する手段とを有する。
設定できるカウンタと、そのカウンタの測定電圧を被測
定パルスのハイレベル下限電圧およびローレベル上限電
圧および両者のほぼ中間レベルの電圧の3段階のレベル
の電圧に設定する手段と、これら3段階のレベルにおい
て周波数を測定し、それらの測定値が同一周波数である
ことを確認する手段とを有する。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。第1図にお
いて、1はパーソナルコンピュータ、2はカウンタ、3
は被試験物である。被試験物30カウンタ2への測定電
圧の指示およびカウンタ2からの測定データの判定をパ
ーンナルコンピュータ1が行なう。
いて、1はパーソナルコンピュータ、2はカウンタ、3
は被試験物である。被試験物30カウンタ2への測定電
圧の指示およびカウンタ2からの測定データの判定をパ
ーンナルコンピュータ1が行なう。
ここで、第2図に示されるパルスの波形の電圧が被試験
物3から入力されたものとすると、パーソナルコンピュ
ータ1は予め設定されていた3段階の測定電圧レベルa
、b、cの各ポイントで周波数測定を行なうようカウン
タ2に指示する。その結果、この場合においては、すべ
て同じ周波数として計数されるので、パーソナルコンピ
ュータ1はパルスの波形が正常であると判定される。
物3から入力されたものとすると、パーソナルコンピュ
ータ1は予め設定されていた3段階の測定電圧レベルa
、b、cの各ポイントで周波数測定を行なうようカウン
タ2に指示する。その結果、この場合においては、すべ
て同じ周波数として計数されるので、パーソナルコンピ
ュータ1はパルスの波形が正常であると判定される。
第3図に示されるパルスの波形の電圧が被試験物3から
入力された場合においても同様に周波数測定が行なわれ
るが、この場合においては、3段階の測定電圧レベルa
、b、cの各ポイントにおける周波数測定の結果がすべ
て同じにはならないので、この場合におけるパルスの波
形は異常であると判定される。
入力された場合においても同様に周波数測定が行なわれ
るが、この場合においては、3段階の測定電圧レベルa
、b、cの各ポイントにおける周波数測定の結果がすべ
て同じにはならないので、この場合におけるパルスの波
形は異常であると判定される。
以上説明したように、本発明はカウンタを使用すること
によって、パルスの周波数を測定することにより、自動
的にパルスの波形の正常性をチェックすることができる
ので、タイミング検査時間の短縮およびそれにかかわる
製品の品質、信頼性の向上を図ることができるという効
果がある。
によって、パルスの周波数を測定することにより、自動
的にパルスの波形の正常性をチェックすることができる
ので、タイミング検査時間の短縮およびそれにかかわる
製品の品質、信頼性の向上を図ることができるという効
果がある。
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は正常なパ
ルスの波形図、第3図は異常なパルスの波形図である。 l・・・・・・パーンナルコンピュータ、2・・・・・
・カウンタ、3・・・・・・被試験物、a、b、c・・
・・・・測定電圧レベル。
ルスの波形図、第3図は異常なパルスの波形図である。 l・・・・・・パーンナルコンピュータ、2・・・・・
・カウンタ、3・・・・・・被試験物、a、b、c・・
・・・・測定電圧レベル。
Claims (1)
- カウンタによるパルスの自動タイミング測定法において
、このカウンタの測定電圧を3つの段階のレベルの電圧
に設定し、このカウンタに加えられるパルスの電圧をこ
れら3つの段階のレベルの電圧においてそれぞれ計数し
、これら3つの段階における電圧の計数値がすべて等し
いとき、このパルスの波形が正常であると判定すること
を特徴とする自動タイミング測定法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20704485A JPS6266714A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | 自動タイミング測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20704485A JPS6266714A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | 自動タイミング測定法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6266714A true JPS6266714A (ja) | 1987-03-26 |
Family
ID=16533276
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20704485A Pending JPS6266714A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | 自動タイミング測定法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6266714A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11045035B2 (en) | 2015-09-18 | 2021-06-29 | K-Fee System Gmbh | Adapter for a single serve capsule |
US11084650B2 (en) | 2015-06-10 | 2021-08-10 | K-Fee System Gmbh | Portion capsule with a three-ply nonwoven fabric |
-
1985
- 1985-09-18 JP JP20704485A patent/JPS6266714A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11084650B2 (en) | 2015-06-10 | 2021-08-10 | K-Fee System Gmbh | Portion capsule with a three-ply nonwoven fabric |
US11045035B2 (en) | 2015-09-18 | 2021-06-29 | K-Fee System Gmbh | Adapter for a single serve capsule |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB1515245A (en) | Testing integrated circuits | |
JPS6266714A (ja) | 自動タイミング測定法 | |
US3430137A (en) | Method and apparatus for automatic measurements of corona inception and extinction voltages | |
JPS61278766A (ja) | カウンタ装置 | |
JP3516778B2 (ja) | 半導体試験装置における周波数測定方法 | |
JP3698269B2 (ja) | Lsiのディレイ測定方法 | |
JPS60173482A (ja) | 異常波形検査装置 | |
JP2944307B2 (ja) | A/dコンバータの非直線性の検査方法 | |
JPH03102266A (ja) | パルス幅測定器 | |
JP2638233B2 (ja) | 被測定icの試験方法 | |
JPS62108165A (ja) | Ic検査システム | |
JPH0568662B2 (ja) | ||
JPH0245771A (ja) | 半導体装置テスタ | |
JPH0577036B2 (ja) | ||
JPH03131777A (ja) | Icテスト方法 | |
JPH04128662A (ja) | Icの測定方法 | |
JPS6385377A (ja) | 半導体メモリ評価装置 | |
JPS63150674A (ja) | パルス幅積算測定装置 | |
JPS62137575A (ja) | 論理回路試験機 | |
JPS643555A (en) | Apparatus for inspecting deterioration of metallic material | |
JPS63168568A (ja) | ロジツクタイミングアナライザ | |
JPH01236641A (ja) | Lsi試験回路 | |
JPS6031066A (ja) | 論理集積回路の試験装置 | |
JPH02159571A (ja) | パルス信号計測装置 | |
JPH03206979A (ja) | 半導体製造装置 |