JPH0568662B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、パルス形成回路等から出力されたパ
ルスのパルス幅が所定の範囲、いわゆる検査規格
に入つているか否かを判定するためのパルス幅検
査方法に関するものである。

従来例の構成とその問題点 パルス幅の検査の１つに、被測定パルスのパル
ス幅の絶対値は考慮せず、パルス幅が所定の範囲
に入つているか否かを判定するための検査があ
る。

この検査を自動化するにあたり、従来は水晶発
振器等で発生させた高い周波数の基準パルスを測
定時間あるいは、測定精度を考慮した低い周波数
にまで分周してパルス幅測定用のカウントパルス
を得、このカウントパルスが、被測定パルス幅の
中に含まれる数を計数する方法が広く採用されて
いる。

ところで、この検査方法では、基準パルス発生
回路装置、分周器、計数カウンタ等を用意しなけ
ればならず、検査装置の回路が複雑でかつ、構成
が大がかりなものとなつてしまう。

発明の目的 本発明の目的は、検査装置の構成を大規模、か
つ、複雑化させることなく被検査パルスのパルス
幅が所定の範囲に入つているか否かを検査するパ
ルス幅検査方法を提供することにある。

発明の構成 上記の目的を達成する本発明のパルス幅検査方
法は、前縁が入力された被検査パルスの前縁と一
致し、パルス幅が検査規格におけるパルス幅の下
限値に等しく設定された第１のパルスを第１のパ
ルス形成手段によつて作り、さらに、前縁が前記
第１のパルスの後縁と一致し、パルス幅が前記検
査規格におけるパルス幅の上限値と下限値の差と
等しく設定された第２のパルスを第２のパルス形
成手段で作り、さらに、前縁が前記検査パルスの
後縁と一致する第３のパルスを第３のパルス形成
手段で作るとともに、前記第３のパルスのパルス
幅は、前記被検査パルスの後縁が前記検査規格の
下限値以下であるとき、前記第２のパルスの前縁
に達することのない長さに設定され、前記第３の
パルスと前記第２のパルスとを論理積により、前
記被検査パルスのパルス幅が前記検査規格内に入
つているか否かを判定する方法である。この方法
によれば、簡易な回路装置を用意するだけでパル
ス幅を検査することができる。

実施例の説明 第１図は、本発明のパルス幅検査方法で使用す
る検査装置の回路構成を示す図であり、第２図は
第１図で示す検査装置要部の動作波形図を示す。
以下、これらの図面を参照して本発明の一実施例
を詳細に説明する。

まず、説明の便宜上、被検査パルス幅および検
査規格を次のように設ける。すなわち、被検査パ
ルスの標準パルス幅をW₀、検査規格におけるパ
ルス幅の下限値をW₁、上限値をW₂とする。した
がつて、被検査パルス幅W₀、下限値W₁および上
限値W₂の間に、W₁≦W₀≦W₂の関係が成立すれ
ば、被検査パルスのパルス幅が、検査規格内に入
つていると判定される。

次に、回路動作を説明する。

第２図ａに示す被検査パルスは、入力端子１を
介して第１のパルス形成手段２の正エツヂトリガ
端子側に入力される。このパルス形成手段２は、
たとえば、単安定マルチバイブレータ（以下モノ
マルチと称する）３、抵抗R₁、コンデンサC₁で
構成されている。このように構成されたパルス形
成手段２においては、抵抗R₁とコンデンサC₁の
値を任意に選択することにより、被検査パルスを
所定のパルス幅のパルスに変換することができ、
モノマルチ３の出力側（Q₁）に出力される第１
のパルスを、第２図ｂに示すように、前縁が第２
図ａに示す被検査パルスの前縁イと一致し、パル
ス幅W₃が検査規格パルス幅の下限値W₁に等しく
なるように設定する。

このようにして発生させた第１のパルスは、導
線４を通じて、第２のパルス形成手段５を形成す
る主要素であるモノマルチ６の負のエツヂトリガ
端子７に加えられる。ここで、第２のパルス形成
手段５を構成する抵抗R₂、コンデンサC₂の値を
選択し、パルス形成手段５の出力側（Q₂）に出
力されるパルスを第２図ｃに示すように、前縁が
前記第１のパルスの後縁ハと一致し、パルス幅
W₄が上限値W₂と下限値W₁との差と等しくなる
ように設定する。第２のパルスは、導線８を介し
て２入力形の論理積回路９へ、一方の入力として
加えられる。

また、第２図ａに示した被検査パルスは、第３
のパルス形成手段１０を構成するモノマルチ１１
の負エツヂトリガ端子１２にも加えられる。この
パルス形成手段においても、第１，第２のパルス
形成手段でパルス幅が設定されたように、抵抗
R₃、コンデンサC₃の値を選択することにより、
モノマルチ１１の出力側（Q₃）に出力される第
３のパルスを、前縁が前記被検査パルスの後縁ロ
と一致し、かつ、パルス幅が被検査パルスのパル
ス幅が検査規格の下限値以下であるとき、第２の
パルスの前縁ハに達することのない長さに設定す
る。

このようにして作られた第３のパルスを第２図
ｄ〜ｆに示す。ところで、第２図ｄに示すパルス
は、被検査パルス幅が、検査規格のパルス幅の下
限値、すなわち、パルス幅が₁と等しいとき、第
２図ｅは、被検査パルス幅がW₀で表示される標
準パルスと等しいとき、第２図ｆは、被検査パル
ス幅がW₂で表示される検査規格の上限値のパル
ス幅と等しいときに発生される第３のパルス波形
である。

なお、第３のパルスのパルス幅は、前記第１お
よび第２のパルス形成手段により形成されるよう
な厳密なパルス幅を意味するのではなく、被検査
パルスの後縁ロが第２のパルスの領域内に入つて
いることが識別できる検査精度により、任意に狭
くするだけでよい。そして、この第３のパルス
は、導線１３を介して、論理積回路９へ、他方の
入力として加えられる。

論理積回路９では、入力される第２および第３
の２つのパルスの位相関係が比較され、この出力
側１４には被検査パルス幅が、検査規格内にある
か否かの判定結果を示す出力信号が導出される。
すなわち、被検査パルス幅が検査規格内にあると
判定される場合は、第２図ｃに示す第２のパルス
期間内に、第２図ｄ〜ｆに示すような第３のパル
スが存在している。したがつて、論理積回路９を
たとえば、NANDゲートで構成するとその出力
端子１４の出力論理レベルは低レベル“Ｌ”とな
り、負パルス（図示せず）が現われる。一方、被
検査パルス幅が検査規格外と判定される場合は、
第２のパルス期間内に第３のパルスが存在しな
い。このため、出力端子１４の論理レベルは、高
レベル“Ｈ”に保持され、出力論理レベルは変化
しない。

このような判定を自動的に行うためには、論理
積回路９の出力端子１４に生じる信号を、たとえ
ば、フリツプフロツプ（Ｆ／Ｆ）回路１５に加え
てパルス信号があればパルス幅デユーテイが50％
になるように波形整形した後、積分器１６で直流
電圧に変換し、この直流電圧をたとえば、電圧計
１７で読みとればよい。

発明の効果 本発明によれば、３個のパルス幅設定用のパル
ス形成手段と１個の論理積回路を組み合せるだけ
の比較的簡易な検査装置の使用によつて、被検査
パルス幅が、検査規格内にあるか否かの判定がで
きる効果が奏される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を説明するための検査装置の回
路構成を示す図であり、第２図は検査装置の要部
の動作波形図を示す。 １……入力端子、２……第１のパルス形成手
段、３，６，１１……単安定マルチバイブレー
タ、４，８，１３……導線、５……第２のパルス
形成手段、７，１２……負エツヂトリガ端子、９
……論理積回路、１０……第３のパルス形成手
段、１４……出力端子、１５……フリツプフロツ
プ回路、１６……積分器、１７……電圧計。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 前縁が入力された被検査パルスの前縁と一致
   し、パルス幅が検査規格におけるパルス幅の下限
   値に等しく設定された第１のパルスを第１のパル
   ス形成手段によつて作り、さらに、前縁が前記第
   １のパルスの後縁と一致し、パルス幅が前記検査
   規格におけるパルス幅の上限値と下限値の差と等
   しく設定された第２のパルスを第２のパルス形成
   手段で作り、さらに、前縁が前記被検査パルスの
   後縁と一致する第３のパルスを第３のパルス形成
   手段で作るとともに、前記第３のパルスのパルス
   幅は、前記被検査パルスの後縁が前記検査規格の
   下限値以下であるとき、前記第２のパルスの前縁
   に達することのない長さに設定され、前記第３の
   パルスと前記第２のパルスとを論理積により、前
   記被検査パルスのパルス幅が前記検査規格内に入
   つているか否かを判定することを特徴とするパル
   ス幅検査方法。