JPS6265467A - 駆動回路基板の製造方法 - Google Patents
駆動回路基板の製造方法Info
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- JPS6265467A JPS6265467A JP60204408A JP20440885A JPS6265467A JP S6265467 A JPS6265467 A JP S6265467A JP 60204408 A JP60204408 A JP 60204408A JP 20440885 A JP20440885 A JP 20440885A JP S6265467 A JPS6265467 A JP S6265467A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 24
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims abstract description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 10
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 10
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 208000032544 Cicatrix Diseases 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000014121 butter Nutrition 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 231100000241 scar Toxicity 0.000 description 1
- 230000037387 scars Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は薄膜スイッチング素子をマトリックス状に配列
してなる表示装置用の駆動回路基板の製造方法に関する
。
してなる表示装置用の駆動回路基板の製造方法に関する
。
エレクトロルミネッセンスパネル9発光ダイオード、プ
ラズマパネル、螢光表示管、液晶パネル等の表示デバイ
スは、表示部の薄型化が可能であり計測機器、事務機器
やコンピュータ等の端末表示装置あるいは特殊な表示装
置への用途として要求が高まっている。これらの中で薄
膜トランジスタのスイッチング素子マトリックスアレイ
を用いたエレクトロルミネッセンスパネルや液晶表示装
置は、低消費電力化や低コスト化が可能であるために表
示デバイスとして注目され、近年各所で開発されている
(例えばIEEE Transactions onp
ilectron 1)evices、Vol E
D−20,No、11.November1973、
PP995−1001参照)。
ラズマパネル、螢光表示管、液晶パネル等の表示デバイ
スは、表示部の薄型化が可能であり計測機器、事務機器
やコンピュータ等の端末表示装置あるいは特殊な表示装
置への用途として要求が高まっている。これらの中で薄
膜トランジスタのスイッチング素子マトリックスアレイ
を用いたエレクトロルミネッセンスパネルや液晶表示装
置は、低消費電力化や低コスト化が可能であるために表
示デバイスとして注目され、近年各所で開発されている
(例えばIEEE Transactions onp
ilectron 1)evices、Vol E
D−20,No、11.November1973、
PP995−1001参照)。
第3図(a) 、 (b) 、 (C)は一般的な薄膜
トランジスタアレイを用いたディスプレイパネルの等何
回路と表示素子の構造を示す平面図およびその断面図で
ある。アドレス配線<111(ll1.lit、・・1
1.、)は横方向に並ぶ薄膜トランジスタ03のゲート
電極を共通にドライブし、データ配線(1の(12+
、 12*・・12fl)は縦方向に並ぶ薄膜トランジ
スタQ3のソース電極に画像信号を与える。薄膜トラン
ジスタαJの各々はアドレス配線αυとデータ配線(l
りの各交点に対応した画素毎に用いられ、各ドレイン電
極は表示素子αSと共にキャパシタIにも接続されてい
る。表示素子へりは、例えば液晶やエレクトロルミネッ
センス素子である。具体的に液晶表示装置を例にとると
、アドレス配線αυ、データ配線αの、トランジスタa
3およびキャパシタα4を集積形成した駆動回路基板と
これに対向する透明電傷を全面に形成した基板との間に
液晶層を挾持することKより構成される。
トランジスタアレイを用いたディスプレイパネルの等何
回路と表示素子の構造を示す平面図およびその断面図で
ある。アドレス配線<111(ll1.lit、・・1
1.、)は横方向に並ぶ薄膜トランジスタ03のゲート
電極を共通にドライブし、データ配線(1の(12+
、 12*・・12fl)は縦方向に並ぶ薄膜トランジ
スタQ3のソース電極に画像信号を与える。薄膜トラン
ジスタαJの各々はアドレス配線αυとデータ配線(l
りの各交点に対応した画素毎に用いられ、各ドレイン電
極は表示素子αSと共にキャパシタIにも接続されてい
る。表示素子へりは、例えば液晶やエレクトロルミネッ
センス素子である。具体的に液晶表示装置を例にとると
、アドレス配線αυ、データ配線αの、トランジスタa
3およびキャパシタα4を集積形成した駆動回路基板と
これに対向する透明電傷を全面に形成した基板との間に
液晶層を挾持することKより構成される。
また最近ではここで使われている薄膜トランジスタの0
N−OFF特性等が改善され補助容量となるキャパシタ
Iがなくても実質的には表示素子(1りとなる液晶自体
のもつ容量だけで書込んだ画像情報の保持タイムを充分
長くとれるようになった。
N−OFF特性等が改善され補助容量となるキャパシタ
Iがなくても実質的には表示素子(1りとなる液晶自体
のもつ容量だけで書込んだ画像情報の保持タイムを充分
長くとれるようになった。
このようにアクティブマトリックス型の表示装置はアド
レス配線の走査毎に−ライン分の画像データを書込む線
順次走査方式を採用したとしても表示素子Q5のデユー
ティ比はぼ100%で駆動することができるために見易
い画像が得られることが特長である。
レス配線の走査毎に−ライン分の画像データを書込む線
順次走査方式を採用したとしても表示素子Q5のデユー
ティ比はぼ100%で駆動することができるために見易
い画像が得られることが特長である。
第3図(b)及び第3図(C)は第3図(a)に示す薄
膜トランジスタプレイを用いた表示装置用駆動回路基板
の部分平面図及び人−人′断面図でちる。
膜トランジスタプレイを用いた表示装置用駆動回路基板
の部分平面図及び人−人′断面図でちる。
まず例えばガラス板のような透明絶縁性基板翰上K M
OやCrのような金属導電体でアドレス配線(11++
・・・11゜)とゲート電極Qυのパターンを形成し、
次いでこれらの導電体パターン上を例えばStO,等の
絶縁膜(至)で覆う。そうしてゲート電極Qυ上に位置
するところに3−Bi等の半導体薄膜パターンc!3を
形成し次いでこの半導体薄膜パターンの上の一部に重な
るソース電極(ハ)とドレイン電極(至)を形成する。
OやCrのような金属導電体でアドレス配線(11++
・・・11゜)とゲート電極Qυのパターンを形成し、
次いでこれらの導電体パターン上を例えばStO,等の
絶縁膜(至)で覆う。そうしてゲート電極Qυ上に位置
するところに3−Bi等の半導体薄膜パターンc!3を
形成し次いでこの半導体薄膜パターンの上の一部に重な
るソース電極(ハ)とドレイン電極(至)を形成する。
このソース電極(ハ)はアドレス配線(11,、・・・
]1n)と絶縁膜器を介して直交するデータ配線(12
1・・12r、)に接続されており、またドレイン電極
(至)はITO等の透明導電膜からなる表示用の画素電
極(2)K接続するようにして表示装置用駆動回路基板
を構成していた。
]1n)と絶縁膜器を介して直交するデータ配線(12
1・・12r、)に接続されており、またドレイン電極
(至)はITO等の透明導電膜からなる表示用の画素電
極(2)K接続するようにして表示装置用駆動回路基板
を構成していた。
しかしながら、これらのスイッチングトランジスタを含
むアクティブマトリックス素子を高密度に集積し、且つ
大面積の液晶表示装置を得るには高度なマスク合せ技術
が必要となる。すなわち、大面積になると使用する材料
あるいはマスクの収縮があり、必要となるトランジスタ
の特性を均一に作ることが困難となるものであった。
むアクティブマトリックス素子を高密度に集積し、且つ
大面積の液晶表示装置を得るには高度なマスク合せ技術
が必要となる。すなわち、大面積になると使用する材料
あるいはマスクの収縮があり、必要となるトランジスタ
の特性を均一に作ることが困難となるものであった。
また、このような従来のTPT (薄膜トランジスタ)
の構造ではゲート電極Cυとソース電極(ハ)およびド
レイン電極(至)とが重なる部分でキャパシタ成分(C
0)が存在する。箇々のキャパシタ成分はわずかだが大
面積で高密度の表示装置用駆動回路基板とする場合には
一本のアドレス配線αυKまつわるキャパシタ成分の総
和が大きくなや、電気信号の波形歪が起り正しい画像情
報を書込むことが困難となっていた。
の構造ではゲート電極Cυとソース電極(ハ)およびド
レイン電極(至)とが重なる部分でキャパシタ成分(C
0)が存在する。箇々のキャパシタ成分はわずかだが大
面積で高密度の表示装置用駆動回路基板とする場合には
一本のアドレス配線αυKまつわるキャパシタ成分の総
和が大きくなや、電気信号の波形歪が起り正しい画像情
報を書込むことが困難となっていた。
更にはゲート電極31)パターンエツジの段差部に於け
る絶縁lI@は単に薄くなってキャパシタ成分が増すば
かりでが〈ストレスで絶all■のクラックやピンホー
ルが発生しやすくなり結果的にはアドレス配線αυとデ
ータ配線α2および画素電極C241との電気的短絡を
発生し易くしていた。
る絶縁lI@は単に薄くなってキャパシタ成分が増すば
かりでが〈ストレスで絶all■のクラックやピンホー
ルが発生しやすくなり結果的にはアドレス配線αυとデ
ータ配線α2および画素電極C241との電気的短絡を
発生し易くしていた。
この発明は上述した問題に鑑みなされたもので、多層配
線相互の電気的短絡を防止し得る構造であるばかりでな
く、大規模のトランジスタマトリックスアレイの微細パ
ターン部に於ける正確なマスク合せを省略するなど製造
工程の簡略化を図ることのできる表示装置用駆動回路基
板の製造方法を提供するものである。
線相互の電気的短絡を防止し得る構造であるばかりでな
く、大規模のトランジスタマトリックスアレイの微細パ
ターン部に於ける正確なマスク合せを省略するなど製造
工程の簡略化を図ることのできる表示装置用駆動回路基
板の製造方法を提供するものである。
すなわち本発明は、駆動回路基板の基台となる透明ガラ
ス基板の一主面上にアドレス配線を形成し、次いで絶縁
膜と透明導電膜を付着する工程と、透明導電膜上にホト
レジストを塗布しこのホトレジストを基板裏面側よりア
ドレス配線ヲホト’vスクとして露光してアドレス配線
上の透明導電膜をエツチングする工程と、半導体薄膜を
付着しアドレス配線上の所定領域にこの半導体薄膜の島
状パターンと形成する工程と、新たなホトレジスト九よ
り透明導電膜を所望のパターンとする工程と、前記アド
レス配線と絶縁膜を介して交差し所定箇所で前記透明導
電膜からなるソース電極に接続をなすデータ配線を形成
する工程とからなる。
ス基板の一主面上にアドレス配線を形成し、次いで絶縁
膜と透明導電膜を付着する工程と、透明導電膜上にホト
レジストを塗布しこのホトレジストを基板裏面側よりア
ドレス配線ヲホト’vスクとして露光してアドレス配線
上の透明導電膜をエツチングする工程と、半導体薄膜を
付着しアドレス配線上の所定領域にこの半導体薄膜の島
状パターンと形成する工程と、新たなホトレジスト九よ
り透明導電膜を所望のパターンとする工程と、前記アド
レス配線と絶縁膜を介して交差し所定箇所で前記透明導
電膜からなるソース電極に接続をなすデータ配線を形成
する工程とからなる。
本発明によれば、大面積でかつ超高密度のアクティブマ
トリックス表示装置等の駆動回路基板を作る上で要素技
術となるTPT部の微細パターンマスク合せ技術が不要
となるなど製造工程の簡略化が図れるばかりでなく、ゲ
ート電極とソース電極およびドレイン電極の短絡を無く
すとともにキャパシタ成分も少なくすることが出来る。
トリックス表示装置等の駆動回路基板を作る上で要素技
術となるTPT部の微細パターンマスク合せ技術が不要
となるなど製造工程の簡略化が図れるばかりでなく、ゲ
ート電極とソース電極およびドレイン電極の短絡を無く
すとともにキャパシタ成分も少なくすることが出来る。
以下本発明の実施例を第1図(a)〜(e)及び第2図
を併用して説明する。
を併用して説明する。
第1図(a)〜(e)は本発明の一実施例を示す工場断
面図、第2図は本発明の製造方法の一実施例によって得
られた表示装置用駆動回路基板を示す平面図である。ま
ずく例えばガラス基板からなる厚さ約1uの透明な絶縁
性基板(1)上にスパッタ法や電子ビーム(B−GUN
)蒸着法により厚さ約100OAのMO等の金属膜を
堆積し、ホトレジストを用いてアドレス配線(2)とこ
のアドレス配線(2)の所定箇所より延設されるゲート
電極C2Bを形成する。
面図、第2図は本発明の製造方法の一実施例によって得
られた表示装置用駆動回路基板を示す平面図である。ま
ずく例えばガラス基板からなる厚さ約1uの透明な絶縁
性基板(1)上にスパッタ法や電子ビーム(B−GUN
)蒸着法により厚さ約100OAのMO等の金属膜を
堆積し、ホトレジストを用いてアドレス配線(2)とこ
のアドレス配線(2)の所定箇所より延設されるゲート
電極C2Bを形成する。
次K例えばプラズマ、光、マイクロ波、熱等を利用した
CVD法もしくはスパッタリング法により約2000人
のシリコン酸化gl(siot)からなる第1の絶縁膜
(3)を堆積しアドレス配線(2)及びゲート電極Qυ
上を覆う。このあと図示しないが基板周辺のアドレス配
線(2)から電極を取り出す為にホトレジスト・パター
ンを用いてこの第1の絶a IgI(3)に開孔を施こ
しておく。
CVD法もしくはスパッタリング法により約2000人
のシリコン酸化gl(siot)からなる第1の絶縁膜
(3)を堆積しアドレス配線(2)及びゲート電極Qυ
上を覆う。このあと図示しないが基板周辺のアドレス配
線(2)から電極を取り出す為にホトレジスト・パター
ンを用いてこの第1の絶a IgI(3)に開孔を施こ
しておく。
次に例えばスパッタリング法やB−Qun 蒸着法によ
り厚さ約100OAのITO(インジウム・チン・オキ
サイド)等の透明導電M(4)を堆積させ、ひきつづい
て、プラズマ・CVD法によりフォスフイン等をドープ
した約500λのn”a−34膜(5)を堆積する(第
1図(a))。
り厚さ約100OAのITO(インジウム・チン・オキ
サイド)等の透明導電M(4)を堆積させ、ひきつづい
て、プラズマ・CVD法によりフォスフイン等をドープ
した約500λのn”a−34膜(5)を堆積する(第
1図(a))。
次にネガタイプのホトレジストを塗布し、絶縁性基板(
1)の背面より露光しゲート電極Cυおよびアドレス配
線(2)をマスクとするホトレジストパターン(6)を
形成しCDE (ケミカル・ドライ・エツチング)法で
n+層(5)のエツチングと塩酸系のウェットなエツチ
ングにより透明導電膜(4)を加工する(第1図(b)
)。
1)の背面より露光しゲート電極Cυおよびアドレス配
線(2)をマスクとするホトレジストパターン(6)を
形成しCDE (ケミカル・ドライ・エツチング)法で
n+層(5)のエツチングと塩酸系のウェットなエツチ
ングにより透明導電膜(4)を加工する(第1図(b)
)。
次にプラズマ等のCVD法くより厚さ約30001のア
モルファス・シリコン(a−!9i)からなる半導体薄
膜f@(力と5iot等の第2の絶縁膜(8)を連続的
に堆積させ、ホトレジストを用いてゲート電極0υ上に
位置するように第2の絶縁膜(8)及び半導体薄膜(力
の島状パターンを形成する。
モルファス・シリコン(a−!9i)からなる半導体薄
膜f@(力と5iot等の第2の絶縁膜(8)を連続的
に堆積させ、ホトレジストを用いてゲート電極0υ上に
位置するように第2の絶縁膜(8)及び半導体薄膜(力
の島状パターンを形成する。
このときn+層(5)はa−81加工時にとれる(第1
図(C))。
図(C))。
次にホトレジスト(9)を形成し透明導電gll(4)
からソース電極包υとドレイン電極(画素電極)−をエ
ツチングにより加工する(第1図(d))。
からソース電極包υとドレイン電極(画素電極)−をエ
ツチングにより加工する(第1図(d))。
このあと真空蒸着法やスパッタリング法により厚さ約5
00人のMOと厚さ約1μmのアルミニウムを連続的に
堆積し、ホトレジストを用いてソース電極(4I)を接
続しかつアドレス配線(2)と直交するデータ配線(1
〔と、第2の絶I&膜(7)の所定領域上に光遮蔽パタ
ーンαυを形成する。またこのとき、上記した基板周辺
のアドレス配線電極取出し部にもこの金属膜パターンを
形成することKよって表示装置用駆動回路基板を完成す
ることができる(第1図(e))。
00人のMOと厚さ約1μmのアルミニウムを連続的に
堆積し、ホトレジストを用いてソース電極(4I)を接
続しかつアドレス配線(2)と直交するデータ配線(1
〔と、第2の絶I&膜(7)の所定領域上に光遮蔽パタ
ーンαυを形成する。またこのとき、上記した基板周辺
のアドレス配線電極取出し部にもこの金属膜パターンを
形成することKよって表示装置用駆動回路基板を完成す
ることができる(第1図(e))。
尚、実施例では透明導電膜からなるソース電極およびド
レイン電極(画素電極)の加工を半導体薄膜の島状バタ
ーy加工の後に行っているが、工程の前後があっても同
様に作ることが出来る。
レイン電極(画素電極)の加工を半導体薄膜の島状バタ
ーy加工の後に行っているが、工程の前後があっても同
様に作ることが出来る。
また、半導体薄膜パターン上に第2の絶j#膜を介して
光遮蔽パターンを形成しているが、光にょつて導電率が
変化しない、もしくは比較的変化率の少ない半導体薄膜
を用いる場合にはこの第2の絶縁膜および光遮藪パター
ンは不要となる。
光遮蔽パターンを形成しているが、光にょつて導電率が
変化しない、もしくは比較的変化率の少ない半導体薄膜
を用いる場合にはこの第2の絶縁膜および光遮藪パター
ンは不要となる。
更に透明導電膜と半導体薄膜との間に設けたn+a−3
i層などのオーミック性材料は熱処理等を施こすことで
オーミック性を良くする方法を採用する場合にあっては
不要となる。
i層などのオーミック性材料は熱処理等を施こすことで
オーミック性を良くする方法を採用する場合にあっては
不要となる。
要するに本発明はソース電極及びドレイン電極(画素電
極)として透明導電膜を用い、ゲート電極あるいはアド
レス配線等の下地パターンを裏面露光のホトマスクとし
て採用することKより、ゲート電極パターン上にソース
電極及びドレイン電極(画素電極)が重ならないTPT
チャンネル領域を構成することができ、表示装置用駆動
回路基板の性能向上を図るばかりでなく、製造工程が簡
略化できるものである。
極)として透明導電膜を用い、ゲート電極あるいはアド
レス配線等の下地パターンを裏面露光のホトマスクとし
て採用することKより、ゲート電極パターン上にソース
電極及びドレイン電極(画素電極)が重ならないTPT
チャンネル領域を構成することができ、表示装置用駆動
回路基板の性能向上を図るばかりでなく、製造工程が簡
略化できるものである。
第1図は本発明の駆動回路基板の製造、方法の一実施例
を示す工程の断面図、第2図は本発明の製造方法によっ
て得られた駆動回路基板を示す部分平面図、第3図は従
来のアクティブ・マトリックスを液晶表示装置用駆動回
路基板の模式的等価回路と表示素子の構造を示す図であ
る。 1・・・絶縁性基板 2・・アドレス配線21・・
・ゲート電極 3.8・・絶縁膜4 ・透明導電l
ll 41・・ソース電極42・・・ドレイン・
電極(画素電極)5・・n+層(オーミック層) 6.9・・ホトレジスト 7・・半導体薄膜パターンl
O・・データ配線 11 光遮蔽パターン代理人
弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 第 2 図 第 3 図
を示す工程の断面図、第2図は本発明の製造方法によっ
て得られた駆動回路基板を示す部分平面図、第3図は従
来のアクティブ・マトリックスを液晶表示装置用駆動回
路基板の模式的等価回路と表示素子の構造を示す図であ
る。 1・・・絶縁性基板 2・・アドレス配線21・・
・ゲート電極 3.8・・絶縁膜4 ・透明導電l
ll 41・・ソース電極42・・・ドレイン・
電極(画素電極)5・・n+層(オーミック層) 6.9・・ホトレジスト 7・・半導体薄膜パターンl
O・・データ配線 11 光遮蔽パターン代理人
弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 第 2 図 第 3 図
Claims (1)
- (1)絶縁性基板の一主面上にアドレス配線及びゲート
電極パターンを形成する工程と、 このアドレス配線及びゲート電極表面を覆う絶縁膜を形
成する工程と、 この絶縁膜上に透明導電膜を付着し、この透明導電膜上
に第1のホトレジストを塗布し、絶縁性基板の裏面より
アドレス配線及びゲート電極のパターンをホトマスクと
して露光しアドレス配線及びゲート電極上の透明導電膜
をエッチングする工程と、 第2ホトレジストによりこの透明導電膜に所望のパター
ンを施こしソース電極及びドレイン電極を形成する工程
と、 半導体薄膜を付着しゲート電極上の所定領域にこの半導
体薄膜を島状パターンとする工程と、前記アドレス配線
と前記絶縁膜を介して実質的に直交し、かつ前記ソース
電極に接続をなすデータ配線を形成する工程 とからなることを特徴とする駆動回路基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60204408A JPS6265467A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | 駆動回路基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60204408A JPS6265467A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | 駆動回路基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6265467A true JPS6265467A (ja) | 1987-03-24 |
Family
ID=16490051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60204408A Pending JPS6265467A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | 駆動回路基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6265467A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0218967A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-23 | Sharp Corp | 薄膜半導体装置 |
-
1985
- 1985-09-18 JP JP60204408A patent/JPS6265467A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0218967A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-23 | Sharp Corp | 薄膜半導体装置 |
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