JPS626221A - 液晶セル - Google Patents

液晶セル

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JPS626221A
JPS626221A JP60145558A JP14555885A JPS626221A JP S626221 A JPS626221 A JP S626221A JP 60145558 A JP60145558 A JP 60145558A JP 14555885 A JP14555885 A JP 14555885A JP S626221 A JPS626221 A JP S626221A
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JP
Japan
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liquid crystal
electrode layer
picture element
bus bar
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Application number
JP60145558A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Yamazoe
山添 博司
Katsuhiko Kumakawa
克彦 熊川
Hisahide Wakita
尚英 脇田
Isao Oota
勲夫 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS626221A publication Critical patent/JPS626221A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は映像や、アルファ・二二一メリツタな表示に用
いることの出来る液晶セルに関する。特に本発明は向上
したコントラストを有する液晶セルを提供するものであ
る。
従来の技術 現在、液晶セルは時計・電卓の簡単な駆動タイプのもの
から、ポータプル・コンピューターやワード・プロセッ
サー等の大容量情報表示のだめのマトリックス駆動タイ
プのものに発展しつつある。
ところが、液晶自身はマトリックス駆動に本質的に不向
きな点がある。実際、コントラストの点では、20o本
程度の走査線を有するマトリックス駆動においては不満
足である。さらに走査線が500本以上程度の大規模な
マトリックス駆動を行う場合にはコントラストの劣化が
致命的である。
近年、前述の点を解決し、よシ大規模なマトリックス駆
動を行う液晶セルの開発が盛んである。
一つの開発の方向として各絵素に薄膜トランジスターを
用いた液晶セルを目ざす方向がある、この場合、半導体
としては、単結晶硅素、多結晶硅素、非晶質硅素、セレ
ン化カドミウムCCdSe :1等を用いている。〔例
えば、日経エレクトロニクス1984年9月10日号(
屋351)や1984年11月19日号(扁366)〕
0 しかし、この種の液晶セルの製造には、微細加工の際、
マスクが少なくとも4層必要なこと、工程がかなり複雑
であること等の問題点があり、従って、製造歩留りも悪
くなる傾向にある。すなわち、これらのことから製品の
値段が高くなり、また、大規模マトリックス駆動による
液晶セルの製造においては歩留りの著るしい低下をきた
す。
もう一つの開発の方向としては、各絵素に非直線素子を
用いた液晶セルを目ざす方向がある。本発明はこの方向
に沿ったものである。この種の液晶セルの製造には、薄
膜トランジスターの場合に比べて、マスクの層数が小さ
いこと、工程が簡単であること、従って製造歩留りが向
上し、製品値段を比較的低くし得ること等の利点がある
非直線素子としては非直線抵抗やPNあるいはPIN・
ダイオード、シヲットキー・ダイオードが使われる。こ
の種の、非直線素子を用いた液晶セルは知られている。
〔例えば、テレビジョン学会誌、VOI 3B 、 A
4 (1984) ]。この液晶セルの片側の基板の構
造を第4図に示す。第4図は構成斜視図である。第4図
において、31は絶縁性基体、32は熱酸化タンタル、
33は絵素電極層で通常は錫を添加した酸化インジウム
(以後これをITOと称する)で形成され、34はタン
タル層、35は陽極酸化タンタル層、3eはポリ・イミ
ド層、37はクロム層である。
このような液晶セルは構造が簡単で、微細加工の際、マ
スクは3層必要とするのみであわ、従って、薄膜トラン
ジスターの場合に比べ、製造工程が簡単となり、歩留り
も向上する。
また、製造工程はや\複雑であるが、各絵素に複数個の
非直線素子を縦続接続したような液晶セル用基板の例は
、日経エレクトロニクス、1984年11月19日号(
扁366)にある。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、第2図のような構造をもつ基板において
非直線素子の両端の電流−電圧特性の閾値電圧(電流の
立ち上り電圧)、あるいは液晶用として知られている他
の種の非直線素子(PINダイオード等含む)のそれは
Ov〜3vの範囲にあるが、液晶セルの駆動の都合上、
前記閾値電圧がより高い方が望ましい場合がある。
また、前記非直線素子の電流−電圧特性の非直線性をよ
り著るしくする方が通常望ましい。かくすることにより
、液晶セルの表示品質を向上させることが出来る。
さらに、前記非直線素子の電気容量が比較的小さい方が
液晶セルの駆動の点で望ましいことが多い。
前述の三点の実現のためには、前記非直線素子を縦続接
続すればよいが、だソ単に、非直線素子を複数個並べる
ことは、素子の占有面積の観点から、あるいは製造の工
程の複雑さの観点から望ましいことではない。
本発明は、前述の問題点に鑑み、これを解決した液晶セ
ルを提供するものである。
問題点を解決するだめの手段 本発明は前記問題点を解決するために、液晶層を挾持す
る少なくとも一方の基板において、絶縁性基体の主表面
上に、バス・バー電極層と絵素電極層とが所望の間隙部
を隔てて対向するように設けられ、かつ前記間隙部上お
よび前記パス・パー電極層と前記絵素電極層のうち少な
くとも前記間隙部の近傍の上に非直線特性層と導体層が
この順に積層されてなり、かつ前記非直線特性層が複数
の半導体層を積層してなることを特徴とする液晶セルを
提供するものである。ここに言う、非直線特性層とは、
この層が2個の導体層で挾持されたとき、この内導体層
間の電流−電圧特性が非直線性を示すようなものである
ことを意味している。
とりわけ、前記半導体層が硅素、炭化硅素、窒化ガリウ
ム、酸化ニッケル、酸化ビスマス、酸化亜鉛、酸化錫、
硫化カドミウム、硫化亜鉛から形成されることが望まし
い。
さらに本発明は、前言ごバス・バー電極層と、前記絵素
電極層とが同種の透明導電物質からなることを特徴とす
る液晶セルを提供するものである。
この液晶セルの製造においては、マスクは2層要するの
みで、製造工程は非常に簡単になる。
作用 本発明の前記問題点の解決原理は以下の通りである。ま
ず、非直線素子が2個縦続接続されているのは、つぎの
如く考えれば自明である。すなわち、絵素電極層−非直
線特性層−導体層が1個の非直線素子であり、導体層−
非直線特性層−バスパー電極層がもう1個の非直線素子
であり、またこの2個の非直線素子は導体層により縦続
に接続されている。
また、前記2個の非直線素子は、同一の、たとえば島状
の非直線特性層を共用しており、従って、占有面積は小
さくなっており、製造の工程も簡単である。このことは
、すなわち、本発明に関係する非直線素子の構造が如何
に簡単かは、日経エレクトロニクス、1984年11月
19日号(&356)の場合と比べれば自明である。
つぎに、バス・バー電極層と、絵素電極層とが同種の透
明導電物質から形成した場合、本発明に係る基板の製造
においては、マスクは2層必要とするのみで、工程は簡
単となる。
半導体島の積層が電流−電圧特性において、非直線特性
を招来することは、半導体層−半導体層界面での接合の
障壁、半導体層中の粒界の障壁、半導体層中のプール・
フレンケル電導、キャリアの注入、導体層との界面での
ショットキー障壁等から理解される。
実施例 (実施例1) 第1図を用いて本発明に関する実施例を説明する。第1
図は構成斜視図である。第1図において、1は絶縁性基
体、2は絵素電極層、3はバス・バー電極層、4は第1
半導体層、5は第2半導体層、6は導体層、7は間隙部
である。第1図において、絵素電極層2−第1及び第2
半導体層4と6−導体層6の積層、および導体層6−第
2及び第1半導体層5と4−バス・バー電極層3の積層
がそれぞれ、単一の非直線素子であり、同図から明瞭な
如く、これらの非直線素子は縦続接続されている。
低アルカリ硼硅酸ガラス(コーニング社製#7059 
)を絶縁性基体1とし、前記基体を約200°Cに加熱
し、酸化カドミウム粉末と酸化錫粉末から成形したター
ゲットを用いて、純アルゴン雰囲気中で、高周波マグネ
トロン・スパッター装置でスパッターして、前記基体上
に透明導電体膜を得た。つぎに通常のフォト・リングラ
フイー法及びアルゴン・イオンを使用したイオン・ビー
ム・エッチ法で前記透明導電体膜を微細加工して、絵素
電極層2およびバス・バー電極層3を得た。
つぎに、厚さ約3000人の硅素膜をアルゴン雰囲気中
でスパッターすることにより形成する。
つぎに、この上に厚さ約4000人の酸化亜鉛膜を、酸
素を25%含むアルゴン雰囲気中でスパッター法で形成
するか(サンプルA)、厚さ約3000人の酸化ニッケ
ル膜を、酸素を30%含むアルゴン雰囲気中でスパッタ
ー法で形成した(サンプルB)。つぎに、この上にクロ
ム膜を、スパッター法で形成した。これらのスパッター
法は高周波マグネトロン・スパッター装置によった。
さらに、フォト・リソグラフィー法でもって、所望のレ
ジスト・パターンを形成する。つぎに、硫酸セリウム(
CeSO4’11の飽和水溶液と塩酸の混液で前記クロ
ム膜を加工して、導体層6を得る。さらに、約60’C
の燐酸水溶液で前記酸化亜鉛膜または前記酸化ニッケル
膜を加工して、第2半導体層5を得る。つぎに、CHF
3を含むガスを使用したプラズマ・エッチにより前記硅
素層を加工して、第1半導体層4を得る。かくて、第1
図のような基板を得た。
つぎに、通常の如く、ポリ・イミド等の配向膜を形成し
、前記配向膜をラビングする。つぎに対向する基板との
間に、所望の液晶を注入・封止して液晶セルを得た。さ
らに、偏光板をとりつけ、ツイスト・ネマティック型の
液晶パネルを得た。
本実施例では、走査線32本、信号線32本のマトリク
ス表示において、透過型でコントラストを測定した。駆
動法は電圧平均化法を採用した。
コントランドは、各絵素に非直線素子を有しない農賃の
液晶パネルの場合に比べて、サンプルA。
サンプルBとも30%以上向上した。
本実施例では、以上の説明から明らかな如く、マスクは
2層要するのみである。また、第1図において、バス・
バー電極層3と、絵素電極層2の間で測定された電流−
電圧特性は著るしい非直線性を示すことは別の実験で確
認された。また、前記電流−電圧特性は、全く、電圧の
正負に関して対称であった。
また、本実施例においては、前記電流−電圧特性の閾値
は約4v以上となり、これは、液晶パネルの駆動を考え
る場合、はソ望ましい値である。
さらに、非直線素子に付随する電気容量、すなわち、第
1図において、バス・バー電極層3と、絵素電極層2の
間に存在する電気容量は、扱いうる電流値をはy同等と
した場合、第4図における非直線素子の容量とはy同し
か、それ以下であった。
第1図から、本発明に係る非直線特性を由来する部分の
占有面積がいかに小さくし得るか、よく理解される。こ
れは、日経エレクトロニクス、1984年11月19日
号(扁356)の場合と比較すれば、明瞭である。
(実施例2) 本発明に関する第1図に類似した構造の液晶セルに係る
実施例を説明する。
市販の錫を含む酸化イジウム膜(ITO膜)を全面に有
するソーダガラスを購入した。この場合、絶縁性基体1
はソーダガラスである。つぎに、この上に、下地加熱を
行い、電子ビーム加熱蒸着法で約4000人のクロム膜
を形成する。さらに、通常のフォト・リソグラフィー法
及び、実施例1と同様の方法で前記クロム膜を加工し、
塩化第2鉄水溶液と塩酸の混液で前記ITO膜を加工し
て、第1図のバス・バー電極層3と絵素電極層2を得る
。但し、前記バス・バー電極層と絵素電極層は、この段
階では、ITO膜とクロム膜の二層構造となっている。
つぎに、サンプルCでは、前述の下地の上に酸化ビスマ
ス粉末をターゲットとして、酸素を20%含むアルゴン
雰囲気でスパッターすることにより、厚さ約30oo人
の酸化ビスマス膜を得た。
さらに、この上に、前述と同様の雰囲気で酸化錫粉末を
ターゲットとして、厚さ約3000人の酸化錫膜を得た
。サンプルDでは、厚さ約3000人の酸化ニッケル膜
を、酸素を30%含むアルゴン雰囲気中で、酸化ニッケ
ル粉末をターゲットとして、スパッター法で形成した。
その上に、厚さ約3000人の窒化ガリウム膜を、窒素
を60%含むアルゴン雰囲気中で、金属ガリウムをター
ゲットとして形成した。これらのスパッター法は、高周
波マグネトロン・スパッター装置によった。
さらに、この上に、サンプルC,サンプルDともに、電
子ビーム加熱蒸着法で厚さ約1μm のアルミニウム膜
を形成する8さらに、フォト・リソグラフィー法でもっ
て、所望のレジスト・パターンを形成し、そのあと、約
60’Cの燐酸−硝酸−酢酸混液によシ、前記アルミニ
ウム膜を加工して、第1図の導体層6を得る。さらに、
酸素を若干含むアルゴンのイオン・シャワーを照射して
、サンプルCの場合には酸化錫膜と酸化ビスマス膜を、
サンプルDの場合には窒化ガリウム膜と酸化ニッケル膜
を加工して、それぞれ、第2半導体層5および第1半導
体層4を得る。つぎに前記クロム膜のうち、露出した部
分を、実施例1と同様の方法で除去して、第1図と類似
の基板を得た。
つぎに、実施例1と同様にして液晶パネル製作した。実
施例1と同様に表示のコントラストの測定をしたところ
、各絵素に非直線素子を有しない通常の液晶パネルの場
合に比べて、サンプルC、サンプルDとも、コントラス
トの値は約40%以上向上した。
本実施例では、以上の説明から明らかな如く、マスクは
2層要するのみである。また、バス・バー電極層と、絵
素電極層の間で測定された電流−電圧特性は著るしい非
直線性を示すことは別の実験で確認された。また、前記
電流−電圧特性は、電圧の正負に関して全く対称であっ
た。  −また、本実施例においては、前記電流−電圧
特性の閾値は約4v以上となり、これは、液晶パネルの
駆動を考える場合、はソ望ましい値である。
さらに、非直線素子に付随する電気容量、すなわち、第
1図において、バス・バー電極層3と、絵素電極層2の
間に存在する電気容量は、扱いうる電流値をはソ同等と
1−た場合、第4図における非直線素子の容量とはソ同
しか、それ以下であった。
第1図から、本発明に係る非直線特性を由来する部分の
占有面積がいかに小さくし得るか、よく理解される。こ
れは、日経エレクトロニクス、1984年11月19日
号(墓356)の場合と比較すれば、明瞭である。
(実施例3) 第2図を用いて本発明に関する実施例を説明する。第2
図は構成斜視図である。第2図において11は絶縁性基
体、12は絵素電極層、13はバス・バー電極層、14
は第1半導体層、15は第2半導体層、16は導体層、
17は間隙部である。
第2図において、絵素電極層12−第1及び第2牛導体
層14と15−導体層16の積層、および導体層16−
第2及び第1半導体層15と14−バス・バー電極層1
3の積層がそれぞれ、単一の非直線素子であり、同図か
ら明瞭な如く、これらの非直線素子は縦続接続されてい
る。
低アルカリ硼硅酸ガラス(コーニング社製#7059)
を絶縁性基体11とし、前記基体を約150℃に加熱し
、高周波マグネトロン・スパッター装置で、錫を含む酸
化インジウム透明導電体層(いわゆるITO膜を形成し
、通常のフォト・リソグラフィー法及び塩化第2鉄水溶
液と塩酸との混液による蝕刻法でもって、前記rTo膜
を微細加工して、絵素電極層12およびバス・バー電極
層13を得だ。
つぎに、サンプルEでは、実施例2と同様にして、厚さ
約3000人の酸化ビスマス膜を得た。
サンプルFでは、実施例2と同様にして厚さ約3000
人の酸化錫膜を得た、 つぎに、サンプルE、サンプルFともに、水素を5%含
むアルゴン雰囲気中で、高周波マグネトロン・スパッタ
ー装置によるスパッターによって、厚さ約300o人の
硅素膜を得た。さらに、この上に、電子ビーム加熱蒸着
法によシフロム膜を得た。
さらに、実施例2と同様にして、前記クロム膜を微細加
工して導体層16を得た。つぎに、CHF3を含むガス
を使用したプラズマ・エッチにより前記硅素層を加工し
て、第2半導体層15を得る。
かくて、第2図のような基板を得た。
つぎに、通常の如く、ポリ・イミド等の配向膜を形成し
、前記配向膜をラビングする。つぎに対向する基板との
間に、所望の液晶を注入・封止して液晶セルを得た。さ
らに、偏光板をとりつけ、ツイスト・ネマティック型の
液晶パネルを得た。
本実施例では、走査線32本、信号線32本のマトリク
ス表示において、透過型でコントラストを測定した。駆
動法は電圧平均化法を採用した。
コントラストは、各絵素に非直線素子を有しない通常の
液晶パネルの場合に比べて、サンプルE、サンプルFと
も30%以上向上した。
本実施例では、以上の説明から明らかな如く、マスクは
2層要するのみである。また、第2図において、バス・
バー電極層13と、絵素電極層12の間で測定された電
流−電圧特性は著るしい非直線性を示すことは別の実験
で確認された。また、前記電流−電圧特性は、全く電圧
の正負に関して対称であった、 また、本実施例((おいては、前記電流−電圧特性の閾
値は約4v以上となり、これは、液晶パネルの駆動を考
える場合、はy望ましい値である。
さらに、非直線素子に付随する電気容量、すなわち、第
2図において、バス・バー電極層13と絵素電極層12
の間に存在する電気容量は、扱いうる電流値とはソ同等
とした場合、第4図における非直線素子の容量とはy同
しか、それ以下であった。
第2図から、本発明に係る非直線特性を由来する部分の
占有面積がいかに小さくし得るか、よく理解される。こ
れは、日経エレクトロニクス、1984年11月19日
号(A356)の場合と比較すれば、明瞭である。
(実施例4) 第3図を用いて本発明に関する実施例を説明する。第3
図は構成斜視図である。第3図において、21は絶縁性
基体、22は絵素電極層、23はバス・バー電極層、2
4は第1半導体層、25は第2半導体層、26は第3半
導体層、27は導体層、28は間隙部である。第3図に
おいて、絵素電極層22−第1.第2および第3半導体
層、24゜25と26−導体層27の積層、および導体
層27−第3.第2および第1半導体層、26.25と
24−バス・バー電極層23の積層がそれぞれ、単一の
非直線素子であり、同図から明瞭な如く、これらの非直
線素子は縦続接続されている。
市販の錫を含む酸化インジウム膜(ITO膜)を全面に
有する低アルカリ什硅酸ガラス(コーニング社製5yo
s9)を購入した。この場合、絶、縁性基体21は低ア
ルカリ硼硅酸ガラスである。
つぎに実施例3と同様にして、前記ITO膜を加工して
、第3図のバス・バー電極層23と絵素電極層22を得
る。
前述の基体を、プラズマ・cvn (化学蒸着)装置の
反応室内に設置し、前記基体の温度を320℃に保つ。
まず、反応室内にジ・ボラン(B2H6)を4000p
pm含むヘリウム稀釈シラン(SIH4)ガスを導入し
、同時にロータリーポンプで排気しつつ、0.6Tor
r程度の真空度に保つように調整する。つぎに、この雰
囲気に13.56 Mtlzの高周波電力を加え、プラ
ズマを生起させる、このとき、硼素を含む非晶質硅素が
、前記基体の上に沈積する。生成されだ非晶質硅素膜の
厚みが約400゜人になるようにする。つぎに、反応室
を窒素ガス流で洗って後、前述と同様にして、すなわち
、ヘリウムで稀釈した純シラン(8iH4)  ガスを
導入し、この雰囲気でプラズマを生起させ、不純物を全
ど含まない。厚さ約3000人の非晶質硅素膜を形成す
る。さらに、反応室を窒素ガス流で洗って後、前述と同
様にして、すなわち、ホスフィン(P)f、)を3o○
Oppm 含むヘリウム稀釈シラン(5iH4)ガスを
導入し、この雰囲気でプラズマを生起させ、燐を含む、
厚さ約4000人の非晶質硅素膜を得た。
つぎに、電子ビーム加熱蒸着法により、この上に、厚さ
約6000人のクロム膜を形成した。
さらに、実施例1と同様にして前記クロム膜を加工して
導体層27を得た。つぎに、CHF3を含むガスを使用
したプラズマ・エッチにより前述の三層の非晶質硅素膜
を加工して、第1.第2.第3半導体層を得る。かくて
、第3図のような基板を得た。
つぎに、通常の如く、ポリ・イミド等の配向膜を形成し
、前記配向膜をラビングする。つぎに対向する基板との
間に、所望の液晶を注入、封止して液晶セルを得だ。さ
らに、偏光板をとりつけ、ツイスト・ネマティック型の
液晶パネルを得だ。
本実施例では、走査線32本、信号線32本のマトリク
ス表示において、透過型でコントラストを測定した。駆
動法は電圧平均化法を採用した。
コントラストは、各絵素に非直線素子を有しない通常の
液晶パネルの場合に比べて、30%以上向上した。
本実施例では、以上の説明から明らかな如く、マスクは
2層要するのみである。まだ、第3図において、バス・
バー電極層23と、絵素電極層22の間で測定された電
流−電圧特性は著るしい非直線性を示すことは別の実験
で確認された。また、前記電流−電圧特性は、全く、電
圧の正負に関して対称であった。
また、本実施例においては、前記電流−電圧特性の閾値
は約4v以上となり、これは、液晶パネルの駆動を考え
る場合、はソ望ましい値である。
さらに、非直線素子に付随する電気容量、すなわち、第
3図において、バス・バー電極層3と、絵素電極層2の
間に存在する電気容量は、扱いうる電流値をはソ同等と
した場合、第4図における非直線素子の容量とはソ同し
か、それ以下であった。
第3図から、本発明に係る非直線特性を由来する部分の
占有面積がいかに小さくし得るか、よく理解される。こ
れは、日経エレクトロニクス、1984年11月19日
号(扁356)の場合と比較すれば、明瞭である。
発明の効果 以上要するに、本発明はマトリックス表示において、向
上した表示特性と、製造が簡単で、しかも、駆動回路が
簡単な液晶セルを開示するものであり、情報端末等の分
野において、産業上、資すること犬である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は本発明の詳細な説明するだめ
の、基板の絵素付近の斜視図、第4図は従来の液晶セル
の基板の絵素近傍の斜視図である。 1・・・・・・絶縁性基体、2・・・・・絵素電極層、
3・・・・・・バス・バー電極層、4・・・・・・第1
半導体層、5・・・・・・第2半導体層、6・・・・・
・導体層、7・・・・・・間隙部、11・・・・・・絶
縁性基体、12・・・・・・絵素電極層、13・・・・
・・バス・バー電極層、14・・・・・・第1半導体層
、15・ 第2半導体層、16・・・・・・導体層、1
7・・・・・・間隙部、21・・・・絶縁性基体、22
・・・・・絵素電極層、23・・・・・・バス・バー電
極層、24・・・・・・第1半導体層、25・・・・・
・第2半導体層、26・・・・・・第3半導体層、2了
・・・・・・導体層、28・・・・・・間隙部、31・
・・・・・絶縁性基体、32・・・・・・熱酸化タンタ
ル、33・・・・・・絵素電極層、34・・・・・・タ
ンタル層、35・・・・・・陽極酸化タンタル層、36
・・・・・・ポリ・イミド層、37・・・・・・クロム
層、 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名3−
一−バスバ一覧棒漫 7− 間預部 17−  間7v帥 第3図       23−  バス、バー電極層z8
− 間′P¥、部 第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)液晶層を挾持する少なくとも一方の基板において
    、絶縁性基体の主表面上に、バス・バー電極層と絵素電
    極層とが所望の間隙部を隔てて対向するように設けられ
    、かつ前記間隙部上および前記バス・バー電極層と前記
    絵素電極層のうち少なくとも前記間隙部の近傍の上に、
    非直線特性層と導体層が順次積層されてなり、かつ前記
    非直線特性層が複数の半導体層を積層してなることを特
    徴とする液晶セル。
  2. (2)各半導体層が、硅素、炭化硅素、窒化ガリウム、
    酸化ニッケル、酸化ビスマス、酸化亜鉛、酸化錫、硫化
    カドミウム、硫化亜鉛からなることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の液晶セル。
  3. (3)バス・バー電極層と、絵素電極層とが同種の透明
    導電物質からなることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の液晶セル。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5107355A (en) * 1989-02-13 1992-04-21 Konica Corporation Liquid crystal display device having layered bus line structure
US5663020A (en) * 1993-02-03 1997-09-02 Sharp Kabushiki Kaisha Display apparatus having a two-terminal device including a zinc sulfide layer and a method for producing the same
US5734452A (en) * 1994-09-26 1998-03-31 Sharp Kabushiki Kaisha Two-terminal non-linear resistive device and a method for producing the same in which nickel or iron is an impurity in the zinc sulfide layer
US5757446A (en) * 1994-10-14 1998-05-26 Energy Conversion Devices, Inc. Liquid crystal display matrix array employing ovonic threshold switching devices to isolate individual pixels

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5107355A (en) * 1989-02-13 1992-04-21 Konica Corporation Liquid crystal display device having layered bus line structure
US5663020A (en) * 1993-02-03 1997-09-02 Sharp Kabushiki Kaisha Display apparatus having a two-terminal device including a zinc sulfide layer and a method for producing the same
US5734452A (en) * 1994-09-26 1998-03-31 Sharp Kabushiki Kaisha Two-terminal non-linear resistive device and a method for producing the same in which nickel or iron is an impurity in the zinc sulfide layer
US5757446A (en) * 1994-10-14 1998-05-26 Energy Conversion Devices, Inc. Liquid crystal display matrix array employing ovonic threshold switching devices to isolate individual pixels

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