JPS6260190A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPS6260190A
JPS6260190A JP60201045A JP20104585A JPS6260190A JP S6260190 A JPS6260190 A JP S6260190A JP 60201045 A JP60201045 A JP 60201045A JP 20104585 A JP20104585 A JP 20104585A JP S6260190 A JPS6260190 A JP S6260190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pair
line
information
bit lines
inverse
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60201045A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Kashimoto
栢本 浩
Shigeo Tsuruoka
鶴岡 重雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP60201045A priority Critical patent/JPS6260190A/ja
Publication of JPS6260190A publication Critical patent/JPS6260190A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、カラム選択部での高速化を計った半導体記憶
装置に関する。
〔発明の概略〕
本発明は、半導体記憶装置において、一対のビット線と
接地電源との間に一対の高抵抗負荷を備え付けることに
より、カラム選択部での高速化を計ったものである。
〔従来の技術〕
第3図は、従来の半導体装置のカラムのセンス方式の一
例を示した図であυ、そのタイミング波形を第4図に示
す。第3図の回路において、1はメモリアレイ中の1つ
の7リツプフロツプ型のメモリセルであり、ワード線W
Lと一対のビット線BL 、BLが接続されている。ま
た、該一対のビット線BL 、BLには、一対の負荷用
N型MO8FKTQ旧、QN2のソースが接続されてお
シ、そのそれぞれのゲートとドレインは電圧電源に接続
されている。2はカラム選択部であり、一対のN型MO
8FETQ*s 、QN4から成り立ってお)、そのド
レインは該一対のビット線B L ’t B Lに、ソ
ースはセンスアンプの入力線となる一対のデータ線DB
、DBにそれぞれ接続されており、カラム選択部制御信
号Vaによって制御されている。
上記の回路の動作を説明する。待機状態において、該一
対のビット線BL 、BLの電位であるVム。
Vmは、該一対の負荷用NWM OS F E T Q
Nt 。
Q■によってVo o −V〒+ui+ ΔV (但し
、vDDは電圧電源、 VtlINはQNI 、 QN
s p QNs l QN4の閾値電圧、ΔVはQNI
 、 QNIのリーク電流あるいはサブスレッシュホー
ルド電流などによる電圧増昇分)までプルアップされて
いる。
読み出し状態においては、Vaが低レベル(以後(L)
と示す)から高レベル(以後(H)と示す)に移り、す
なわち、カラム選択部が待機状態から動作状態に移り、
更に該ワード線WLが(L)から(H)に移って、メモ
リセルの情報がBL。
BLに伝達され始める。しかし、上記で述べたように、
BL、BLは待機状態ではVoo−Vtm*+ΔVの電
位にある為QN3 p QN4はオフ状態であり、メモ
刀セルの情報がBL 、BLに現われ始めても、すぐK
Q*s、QN4がオンすることはなく、BL。
BLのいずれか一方の電位がVDD −VtnN以下に
達した時初めてそれに対応するQNs e QNaのい
ずれか一方のトランジスタがオンし、そのビット線の情
報が対応するデータ線に伝達される。つまり、読み出し
時において、メモリセルの情報がビット線に現われ始め
てから、その情報がデータ線に伝達されるまで、カラム
選択部において第4図に示す1.だけの遅延時間が生じ
ることになる。
〔発明が解決しようとする問題点及び目的〕しかし、従
来技術の回路においては、半導体記憶装置が待機状態の
時、ビット線の電位がVan −Vt IN+ΔVと、
はとんど電圧電源付近にまでプルアップされているため
% Vaが(H)K移ってもカラム選択部内のN型M 
OS F E T QNa 、 QN4はオンしない。
そのために、メモリセルの情報がビット#に現われ始め
ても、その情報はすぐにデータ線まで伝達されず、ビッ
ト線のいずれか一方の電位がVoo −Vt1x以下に
達した時初めてそれに対応するカラム、選択部内のN型
MO8FETがオンし、そのビット線の情報が対応する
データ線に伝達される。つまり、読み出し時において、
メモリセルの情報がビット線に現われ始めてからその情
報がデータ線に伝達されるまでに、カラム選択部におい
て第4図に示すtlだけの遅延時間が生じるという問題
点があった。
本発明は以上の問題点を解決するもので、その目的とす
るところは、読み出し時におけるカラム選択部での遅延
時間を少なくすることができる回路を備えた半導体記憶
装置を提供することにある。
〔問題を解決するための手段〕
本発明の半導体記憶装置は、 a)マトリクス状に配置されたメモリセルを備え、該メ
モリセルより情報の読み出しを行なう半導体記憶装置に
おいて、 b)該メモリセルの情報が出力される一対のビット線と
、 C)該ビット線の情報か、センスアンプの入力線となる
一対のデータ線へ伝播するのを制御するカラム選択部と
、 d)電圧電源と該一対のビット線との間に設けられた一
対の負荷用MOSトランジスタと、e)接地電源と該一
対のビット線との間に設けられた一対のポリシリコン高
抵抗負荷を具備することを特徴とする。
〔作用〕 本発明は、以上の回路構成にすることにより、すなわち
、一対のビット線と接地電源との間に一対の高抵抗負荷
を接続することにより、半導体記憶装置が待機状態の時
、ビット線の電位をVDD−Vt1lN−ΔV ’ (
但し、VDDは電圧電源、 VtgNはN型MO8FE
Tの閾値電圧、ΔV゛ は高抵抗負荷による電圧降下分
)まで下がった電位にすることができ、メモリセルの情
報がビット線に現われる以前にカラム選択部内のN型M
O8FETをオン状態にすることができる。このことに
よシ、メモリセルの情報がビット線に現われるとほとん
ど同時に、その情報をデータ線に伝達することができ、
読み出し時における半導体記憶装置内のカラム選折部で
の遅延時間を非常に少なくすることができる。
〔実施例〕
以下本発明について実施例に基づいて詳細に説明する。
第1図は、本発明の実施例を示す回路であり、そのタイ
ミング波形を第2図に示す。第1図において、1はメモ
リアレイ中の1つの7リツプフロツブ型のメモリセルで
あり、ワード線WLと一対のビット線BL、丁lが接続
されている。
また、該一対のビット線B L 、 =B Lには、一
対の負荷用N型MO8FETQ旧、QNzのソースが接
続されており、そのそれぞれのゲートとドレインは電圧
電源に接続されている。2はカラム選択部であり、一対
のN型M OS F E T QN3 、 Q10から
成り立っており、そのドレインは該一対のビット線BL
、BLに、ソースはセンスアップの入力線となる一対の
データ線DB、DBにそれぞれ接続されており、カラム
選択部制御信号Vaによって制御されている。更に、該
一対のビット線BL。
几と接地電源との間に一対の高抵抗負荷R□ 。
R2がそれぞれ接続されている。
上記の回路の動作を説明する。待機状態において一対の
ビット線BL 、BLの電位VA 、Vmは、該一対の
負荷用N型MO8FETQNI 、Qmtと、該一対の
高抵抗負荷R1、Rzによって分割された電位Vno 
−V?HN−ΔV°になっている。
読み出し状態においては、 Va が(L)から(H)
に移シ、すなわち、カラム選択部が待機状態から動作状
態に移υ、更に該ワード線WLが(L)から(H)K移
って、メモリセルの情報がBL 、BLに伝達され始め
る。この時、上記で述べたように、BL、BLは待機状
態ではVDD−vTIIN−ΔV“の電位にある為、カ
ラム選択部内の一対のN型M OS F E T QN
3 、 Q10は既にオンしており、BL、BLにメモ
リセルの情報が現われるのとほとんど同時に、その情報
がDB 、DBに伝達され、この間の遅延時間は従来に
比べると非常に少ない。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、一対のビット線BL
 、BLと接地電源の間に一対の高抵抗負荷R1,R2
を接続することにより、該一対のビット線の電位が電圧
電源付近まで上昇する恐れがないために、メモリセルの
情報読み出し時において、カラム選択部での遅延時間が
非常に少ない半導体記憶装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の読み出しの回路構成図第2図は、第
1図の読み出し動作タイミング図第3図は、従来の読み
出しの回路構成図第4図は、第6図の読み出し動作タイ
ミング図である。 1はメモリセル、2はカラム選択部%BL、BLはビッ
ト線、DB、DBはデータ線、WLはワード線zVaは
カラム選択部制御信号、vDDは電圧電源、v3.は接
地電源、 Vy曲は閾値電圧、ΔV。 ΔV°は電圧変化分、を里 はカラム選択部での遅延時
間、VA  、 VmはBL、BLOfi位、Rx、R
zは高抵抗負荷である。 i5q yt is レノ[!l 171EA is!
1第1図 itント但し1す」イ乍り4ミンτ四 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)a)マトリクス状に配置されたメモリセルを備え
    、該メモリセルより情報の読み出しを行なう半導体記憶
    装置において、 b)該メモリセルの情報が出力される一対のビット線と
    、 c)該ビット線の情報が、センスアンプの入力線となる
    一対のデータ線へ伝播するのを制御するカラム選択部と
    、 d)電圧電源と該一対のビット線との間に設けられた一
    対の負荷用MOSトランジスタと、 e)接地電源と該一対のビット線との間に設けられた一
    対のポリシリコン高抵抗負荷を具備することを特徴とす
    る半導体記憶装置。
JP60201045A 1985-09-11 1985-09-11 半導体記憶装置 Pending JPS6260190A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60201045A JPS6260190A (ja) 1985-09-11 1985-09-11 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60201045A JPS6260190A (ja) 1985-09-11 1985-09-11 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6260190A true JPS6260190A (ja) 1987-03-16

Family

ID=16434495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60201045A Pending JPS6260190A (ja) 1985-09-11 1985-09-11 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6260190A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0573601U (ja) * 1991-10-09 1993-10-08 恵和商工株式会社 液晶表示装置
JPH075305A (ja) * 1993-04-19 1995-01-10 Keiwa Shoko Kk 光拡散シート材
JPH075101U (ja) * 1993-06-25 1995-01-24 恵和商工株式会社 複合シート材
JPH078802U (ja) * 1993-06-29 1995-02-07 恵和商工株式会社 ガラス貼着用シート材
JPH078803U (ja) * 1993-06-29 1995-02-07 恵和商工株式会社 光拡散シート材

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0573601U (ja) * 1991-10-09 1993-10-08 恵和商工株式会社 液晶表示装置
JPH075305A (ja) * 1993-04-19 1995-01-10 Keiwa Shoko Kk 光拡散シート材
JPH075101U (ja) * 1993-06-25 1995-01-24 恵和商工株式会社 複合シート材
JPH078802U (ja) * 1993-06-29 1995-02-07 恵和商工株式会社 ガラス貼着用シート材
JPH078803U (ja) * 1993-06-29 1995-02-07 恵和商工株式会社 光拡散シート材

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930007283B1 (ko) 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치
US4876669A (en) MOS static type RAM having a variable load
JPH0241113B2 (ja)
KR970023375A (ko) 데이터 유지회로
US4860257A (en) Level shifter for an input/output bus in a CMOS dynamic ram
JPS6260190A (ja) 半導体記憶装置
JPH02302993A (ja) 電源電圧追跡回路及びそれを適用したランダムアクセスメモリ装置
US6316812B1 (en) Static semiconductor memory device with expanded operating voltage range
JPS589514B2 (ja) 半導体メモリのコモンデ−タ線負荷回路
JPH0746510B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0746509B2 (ja) スタテイツクram
JPS6129496A (ja) 半導体記憶装置
JPH0729996A (ja) 半導体記憶装置
JPS6260189A (ja) 半導体記憶装置
JPH0467278B2 (ja)
JPH04278295A (ja) 半導体メモリ
JPS59203296A (ja) 半導体記憶装置
JP2690212B2 (ja) 半導体メモリ装置用電流検出型データバス増幅器
JPH087998B2 (ja) メモリ−回路
JP3158281B2 (ja) メモリ装置
JPS6251092A (ja) デ−タ線駆動回路
JPS6236796A (ja) 半導体メモリ
JP2557279B2 (ja) Sram用メモリセル回路
JP2940127B2 (ja) 半導体装置
JPH0273598A (ja) 電流検出装置