JPS6255966A - 赤外線検知装置 - Google Patents

赤外線検知装置

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JPS6255966A
JPS6255966A JP60196383A JP19638385A JPS6255966A JP S6255966 A JPS6255966 A JP S6255966A JP 60196383 A JP60196383 A JP 60196383A JP 19638385 A JP19638385 A JP 19638385A JP S6255966 A JPS6255966 A JP S6255966A
Authority
JP
Japan
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layer
photoelectric conversion
conversion layer
recombination
infrared ray
Prior art date
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Pending
Application number
JP60196383A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuo Yoshikawa
吉河 満男
Michiharu Ito
伊藤 道春
Tetsuo Saito
哲男 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6255966A publication Critical patent/JPS6255966A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 亜鉛を含むカドミュウムテルルまたは水銀カドミュウム
テルルをもって光電変換層または再結合層が形成されて
いるカドミュウムテルル/水銀カドミュウムテルル系の
MIS型の赤外線検知装置である。亜鉛を含むカドミュ
ウムテルルまたは水銀カドミュウムテルルは、結晶成長
中に格子不整転位が動きにくく、格子定数を異にする他
の半導体との界面(本発明においては、光電変換層と再
結合層との界面)においても、その界面に極めて近接し
た領域以外には格子不整転位が発生しないので、光電変
換層で発生した電子が光電変換層中で再結合することが
なく感度が向上する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は赤外線検知装置に関する。特に、カドミュウム
テルル/水銀カドミュウムテルル系のMIS型の赤外線
検知装置の感度を向上する改良に関する。
〔従来の技術〕
従来技術に係るカドミュウムテルル/水銀カドミュウム
テルル系のMIS型の赤外線検知装置の層構造を第4図
に示す。図において1はカドミュウムテルル基板であり
、2は一導電型の水銀カドミュウムテルル層よりなる再
結合層であり、3−再結合層よりカドミュウムの混晶比
が大きい水銀カドミュウムテルル層よりなる光電変換層
であり、4は絶縁物層であり、5は第1の電極であり、
6は第2の電極であり一般に接地される。
これを動作させるには、第1の電極5に負電圧を印加し
て第1の電極5の下部領域にポテンシャルウェル7を形
成しておき、この状態で赤外線を光電変換層3に入射す
ると、赤外線によって励起された正孔が上記のポテンシ
ャルウェル7に集まってここに溜り、第1の電極5と第
2の電極6との間の反転層容量を変化させる。そこで、
この反転層容量の変化を読み取って入射赤外線を代表す
る信号とする。その後、第1の電極5に正電圧を印加し
て上記のポテンシャルウェルを消滅させてポテンシャル
ウェルに溜っていた正孔を放出して再結合層2で再結合
させる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
再結合層を構成する水銀カドミュウムテルルの混晶比と
光電変換層を構成する水銀カドミュウムテルルの混晶比
とが相違するので、これら2層の界面には格子不整転位
が不可避的に発生し、これが光電変換層中に広がってい
るため1.光電変換層中で発生した電子の一部が、光電
変換層中で再結合してしまいポテンシャルウェルには到
達せず、入射赤外線によって励起された正孔の一部しか
信号発生に寄与せず、感度が劣るという欠点がある。
本発明の目的はこの欠点を解消することにあり、感度の
向上された水銀カドミュウムテルル(Hgt−、Cd、
Te) /水銀カドミュウムテルル(Hg1−。
Cd Te)系のMIS型の赤外線検知装置を提供する
ことにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために本発明が採った手段は、カ
ドミュウムテルルまたは水銀カドミュウムテルルよりな
る光電変換層9と再結合層8とを有するMIS型の赤外
線検知装置の光電変換層9または再結合層8は亜鉛を含
む水銀カドミュウムテルルをもって構成することにある
〔作用〕
上記の欠点は、水銀カドミュウムテルルのへテロ界面に
発生する格子不整転位が水銀カドミュウムテルル層中に
広がることに原因があるから、格子不整転位が水銀カド
ミュウムテルル層中に広がらないようにすれば解消しう
る筈である。
ところで、本発明の発明者は、亜鉛を僅かに例えば約1
0”cm−3含む水銀カドミュウムテルルは、結晶強度
が大きく、成長中に格子不整転位が水銀カドミュウムテ
ルル中を動きにくく、その結果、格子不整転位が当初発
生した領域すなわちペテロ界面に極めて近接した領域の
みに閉じ込められるという性質を発見した。
本発明は、この新たに発見された性質(亜鉛を僅かに含
む水銀カドミュウムテルルが、結晶強度が大きく、成長
中に格子不整転位が水銀カドミュウムテルル中を動きに
くいという性質)を活用して、MIS型の赤外線検知装
置を構成する光電変換層と再結合層とのいづれかの層は
亜鉛を含む水銀カドミュウムテルルをもって形成するこ
ととしたものであり、実験の結果によれば、感度が3d
B程度に向上するほか、雑音も3dB程度に低減される
亜鉛を含む水銀カドミュウムテルルの層を光電変換層と
するか再結合層とするかによる利害得失は全くない8い
づれにせよ、光電変換層も再結合層もl工程をもって形
成することが一般であるから、いづれの層を亜鉛を含む
水銀カドミュウムテルル層としてもまた双方を亜鉛を含
む水銀カドミュウムテルル層としてもよい。
〔実施例〕
以下、図面を参照しつ一1本発明の一実施例に係る赤外
線検知装置についてさらに説明する。
第2図参照 液相成長法、メタルオーガニックCVD法、分子線エピ
タキシー法等を使用して、カドミュウムテルル基板l上
に、亜鉛を含みn型不純物としてインジュウムを10’
cm−3程度に含むn型の水銀カドミュウムテルル層8
を厚さ約5絡麿に形成する、この層は再結合層として機
能させるため、水銀程品比は0.85とする。この層8
の格子不整転位は、界面81と88とに極めて近接した
領域以外には発生しない。
つづいて、n型不純物としてインジュウムを1014C
11−3程度に含むn型の水銀カドミュウムテルル層9
を厚さ約10p腸に形成する。この層は光電f検層とし
て機能させるため、水銀混品比は (17とする。隣接
する層8が亜鉛を含む水銀カドミュウムテルル層である
から、格子不整転位は界面89に極めて近接した領域の
みに限定され、その領域以外には発生しない。
第1図、第3図参照 スパッタ法等を使用して、厚さIgmの硫化亜鉛層を形
成して絶縁物層4を形成する。
絶縁物層4上の一部領域に厚さ約2,000〜3.00
0への金層を形成して第1の電極5とする。
この工程は、リソグラフィー法を使用してもリフト十)
法を使用してもよい。
再結合層8に接触して金層を形成して第2の電極6とす
る。この第2の電極6は、第3図に示すように、一部の
領域において光電変換層9を除去しておいて、ここに絶
縁物層10を介して金層を形成する7種々な構造があリ
ラる。
以−1−の工程をもって製造された赤外線検知装置を動
作させるには、従来技術の項に述へたとおり、第1の電
極5に負電圧を印加して第1の電極5の下部領域にポテ
ンシャルウェル7を形成しておき、この状態で赤外線を
光電変換層3に入射すると、赤外線によって励起された
正孔が上記のポテンシャルウェル7に集まってここに溜
り、第1の電極5と第2の電極6との間の反転層容量を
変化させる。そこで、この反転層容量の変化を読み取っ
て入射赤外線を代表する信号とする。
その後、第1の電極5に正電圧を印加して上記のポテン
シャルウェルを消滅させポテンシャルウェルに溜ってい
た正孔を放出して再結合層8で再結合させる。このとき
、光電変換層8には、再結合層9との界面89に極めて
近い領域以外には格子不整転位が存在しないので、入射
赤外線によって励起された正孔の利用効率が向上して感
度が向上する。
〔発明の効果〕
以上説明せるとおり1本発明に係るカドミュウムテルル
または水銀カドミュウムテルルよりなる光電変換層と再
結合層とを有するMIS型の赤外線検知装置においては
、光電変換層または再結合層が亜鉛を含む水銀力1” 
ミュウムテルル層とされており、この亜鉛を含む水銀カ
ドミュウムテルル層中には、界面に極めて近接した領域
以外には格子不整転位が存在しないので、入射赤外線に
よって励起された正孔は、お−むね全量がポテンシャル
ウェルに到達して、信号発生に寄与し、感度がすぐれて
いる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係る赤外線検知装置の断
面図である。 第2図は、本発明の一実施例に係る赤外線検知装置のT
程Mで訊ス− 第3図は、本発明の一実施例に係る赤外線検知装置の第
2の電極領域を示す断面図である。 第4図は、従来技術に係る赤外線検知装置の断面図であ
る。 1・・―カドミュウムテルル基板、  2・・Φ従来技
術における再結合層(n型の水銀カドミュウムテルル層
)、  3轡・・従来技術における光電変換層(n型の
水銀カドミュウムテルル層)、4・Φ・絶縁物層(硫化
亜鉛層)、  5・・・第1の電極、  6・・9第2
の電極、  7拳φ・ポテンシャルウェル、 8・−・
本発明の再結合層(亜鉛を含む水銀カドミュウムテルル
層)、9φ・・本発明の光電変換層(n型の水銀カドミ
ュウムテルル層)、 10・・・絶縁物層。 エJL l刀 第2図 本発州 第1図 文2チお乙、インタ・1 第3図 従和攻財 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  カドミュウムテルルまたは水銀カドミュウムテルルよ
    りなる光電変換層(9)と再結合層(8)とを有するM
    IS型の赤外線検知装置において、前記光電変換層(9
    )を構成するカドミュウムテルルまたは水銀カドミュウ
    ムテルルと前記再結合層(8)を構成するカドミュウム
    テルルまたは水銀カドミュウムテルルとのいづれかは、
    亜鉛を含んでなることを特徴とする赤外線検知装置。
JP60196383A 1985-09-05 1985-09-05 赤外線検知装置 Pending JPS6255966A (ja)

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JP60196383A JPS6255966A (ja) 1985-09-05 1985-09-05 赤外線検知装置

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JP60196383A JPS6255966A (ja) 1985-09-05 1985-09-05 赤外線検知装置

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JPS6255966A true JPS6255966A (ja) 1987-03-11

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ID=16356957

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0459010A2 (en) * 1990-05-29 1991-12-04 Westinghouse Electric Corporation Integrated thermal imaging system
JPH05237921A (ja) * 1991-09-24 1993-09-17 Emery I Valyi 圧力成形プラスチック品調整用装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0459010A2 (en) * 1990-05-29 1991-12-04 Westinghouse Electric Corporation Integrated thermal imaging system
JPH05237921A (ja) * 1991-09-24 1993-09-17 Emery I Valyi 圧力成形プラスチック品調整用装置
JPH0757519B2 (ja) * 1991-09-24 1995-06-21 アイ.ヴァリー エメリー プラスチック予備成形体の調整装置

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