JPS6252987B2 - - Google Patents

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JPS6252987B2
JPS6252987B2 JP54087486A JP8748679A JPS6252987B2 JP S6252987 B2 JPS6252987 B2 JP S6252987B2 JP 54087486 A JP54087486 A JP 54087486A JP 8748679 A JP8748679 A JP 8748679A JP S6252987 B2 JPS6252987 B2 JP S6252987B2
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JP
Japan
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horizontal
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false
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JP54087486A
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Fumio Nagumo
Hiroshi Yamazaki
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Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPS5612178A publication Critical patent/JPS5612178A/ja
Publication of JPS6252987B2 publication Critical patent/JPS6252987B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/625Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of smear

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、CCD(Charge Coupled Device:
電荷結合素子)やBBD(Bucket Brigade
Device:電荷転送素子)等をイメージセンサと
して用いた固体撮像装置に関する。
従来より例えばCCD撮像装置としては、用い
られるCCDの構造により大別されれるフレー
ム・トランスフア型およびインターライン・トラ
ンスフア型の二種類のものが提案されている。
フレーム・トランス型CCD撮像装置は、第1
図に原理的な構造を示すように、各々一絵素に対
応する複数の受光素子1aをマトリクス状に配列
して成る受光部1と、この受光部1にて得られる
信号電荷を一時記憶する複数の蓄積素子2aをマ
トリクス状に配列して成る蓄積部2と、この蓄積
部2から信号電荷を一水平ライン毎に読出す水平
転送レジスタ部3とを備えたCCDをイメージセ
ンサとして用いている。上記受光部1は、第2図
Aおよび第2図Bに示すような2相クロツク信号
φS1,φS2が供給されており、一フイールド期間
1F中の第1のクロツク信号φS1が逆バイアスさ
れている期間Ta2では該受光部1を形成している
半導体表面がアキユームレーシヨン状態になつて
いるので、撮像光の照射によつて発生する電子・
正孔対が再結合し、CCD電極下に蓄積されず、
不活性状態を維持し、上記第1のクロツク信号φ
S1が高電位状態となつている期間Ta3中に撮像光
に応じて発生する電子がCCD電極下に蓄積され
る。このようにして得られる信号電荷は、次の垂
直転送期間Ta1中に受光部1から蓄積部2に転送
される。上記蓄積部2は、第2図Cおよび第2図
Dに示すような2相クロツク信号φM1,φM2が供
給されており、この2相クロツク信号φM1,φM2
によつて、上記信号電荷を一水平走査期間1H毎
に一水平ライン分ずつ水平転送レジスタ部3に転
送する。上記水平転送レジスタ部3に入つた信号
電荷は、第3図B、および第3図Cに示すような
2相の水平転送クロツク信号φH1,φH2により水
平転送され、1絵素分ずつ読出される。なお、第
3図Aは、上記蓄積部2に供給されている第2の
クロツク信号φM2を示している。
上述の如きフレーム・トランスフア型CCD撮
像装置では、受光部1における受光蓄積時間すな
わち期間Ta3によつて電子シヤツタ時間が決まる
ので、一フイールド期間1F中の不活性期間Ta2
長くして、その分だけ受光蓄積時間(期間Ta3
短くすることによつてシヤツタスピードを速くす
ることができる。
しかし、上記受光部1には信号電荷の垂直転送
期間Ta1中にも撮像光を照射され続けているの
で、この光による垂直方向のスメア
(Smearing:垂直輝線)が発生し、スメアによつ
て画質が劣化されてしまう。上記画質の劣化は、
シヤツタスピードを速くする(期間Ta3を短くす
る)程、信号対スメア比が小さくなつて著しくな
る。
また、インターライン・トランスフア型CCD
撮像装置は、第4図に原理的な構造を示すよう
に、各絵素に対応してマトリクス状に配列された
複数の受光部11と、この受光部11の一側にト
ランスフア・ゲート12を介して設けられた各垂
直転送レジスタ部13と、上記受光部11の他側
にオーバーフロー・コントロール・ゲート14を
介して設けられた各オーバーフロー・ドレイン1
5と、上記垂直転送レジスタ部13の終端側に設
けられた水平転送レジスタ部16とを備えて成る
CCDをイメージセサとして用いている。上記受
光部11には、一フイールド期間1Fの最終側に
受光蓄積期間Tb3を有する第5図Aに示すような
クロツク信号φSが供給され、オーバーフロー・
コントロール・ゲート14には第5図Bに示すよ
うなゲートクロツク信号φ0FCが供給されてい
る。
上記受光蓄積期間Tb3中は、クロツク信号φS
が高位電位状態となつており、受光部11におい
て撮像光の照射量に応じた電荷を蓄積する。この
とき、ゲートクロツク信号φ0FCは、低電位状態
となつており、上記受光部11における蓄積電荷
がオーバーフローするまでオーバーフロー・ドレ
イン15に捨てられないように、オーバーフロ
ー・コントロール・ゲート14を閉成せしめてい
る。また、不活性期間Tb2中は、クロツク信号φ
Sが低電位状態でゲートクロツク信号φ0FCが高電
位状態となつており、撮像光の照射により受光部
11に発生される電荷がオーバーフロー・ドレイ
ン15に全て捨てられるように、オーバーフロ
ー・コントロール・ゲート14を開成せしめてあ
る。上記受光部11にて得られる信号電荷(蓄積
電荷)は、第5図Cに示すようなゲートクロツク
信号φTGで、一フイールド期間1F毎に期間Tb1
けトランスフア・ゲート12が開成されることに
よつて、垂直転送レジスタ部13に読出される。
このようにして、一フイールド期間1F毎に受光
部11から垂直転送レジスタ部13に読出される
信号電荷は、第5図Dおよび第5図Eに示すよう
な2相の垂直転送クロツク信号φV1,φV2に従つ
て、1水平走査期間1H毎にM水平ライン分ずつ
垂直転送され、水平転送レジスタ部16に読出さ
れる。上記水平転送レジスタ部16に入つた信号
電荷は、第6図Bおよび第6図Cに示すような2
相の水平転送クロツク信号φH1,φH2により水平
転送され、一絵素分ずつCCD外に読出される。
なお、第6図Aは、上記垂直転送クロツク信号φ
V2を示している。
上述の如きインターライン・トランスフア型
CCC撮像装置においては、電子シヤツタ時間を
受光蓄積期間Tb3によつて決めることができ、不
活性期間Tb2を長くし、その分受光蓄積期間Tb1
を短くすればシヤツタスピードが速くなる。とこ
ろで、受光部11を通じて入射した光は波長の長
い光ほどバルク表面から奥深く入りバルク中に電
荷を発生させ、この電荷がバルク中を横方向にも
拡散するので、信号電荷の垂直転送中に上記電荷
が垂直転送レジスタ部13に漏れ込んで垂直方向
のスメアが発生し、このスメアによつて画質が劣
化されてしまう。上記画質の劣化は、シヤツタス
ピードを速くする(受光蓄積期間Tb3を短くす
る)程信号対スメア比が小さくなつて、著しくな
る。
通常、動きを伴う被写体像を撮像する場合に
は、画質のブレを軽減させて解像度を向上するた
めにシヤツタスピードを速くする必要がある。し
かし、上述の如く従来の固体撮像装置において
は、シヤツタスピードを速くするとスメアによる
画質の劣化を生じてしまうので、シヤツタスピー
ドを速くすることができない。
そこで、本発明は、上述の如き従来例における
問題点に鑑み、各々の絵素に対応してマトリクス
状に配列された受光部に得られる信号電荷を順次
に水平転送部に転送し、該水平転送部から信号電
荷を読出すようにした固体撮像装置において、上
記受光部の垂直ライン方向の一端側に遮光が施さ
れ且つ複数の整数水平ライン分の偽絵素に対応す
る段数の垂直転送部を設けるとともに、上記各絵
素に対応した信号電荷および偽絵素に対応した偽
信号電荷を水平転送部から読出し、複数の整数水
平ライン分の偽信号電荷を対応画素毎に平均値演
算することにより、一水平ライン分の平均偽信号
を得、各一水平ラインの信号電荷から上記平均偽
信号を差引いて出力する外部演算回路を上記水平
転送部の出力側に設けたことを特徴することによ
つて、スメアによる画質の劣化を防止して、シヤ
ツタスピードを速くしても画質の良好な撮像信号
を得られる固体撮像装置を提供するものである。
以下、本発明について、一実施例を示す図面に
従つて詳細に説明する。
本発明に係る固体撮像装置の一実施例につい
て、その原理的な構造を第7図および第8図に示
す。
この実施例においては、第7図に示すように、
各絵素に対応してマトリクス状に配列された受光
部21、一垂直ライン毎の受光部21の各一側に
各々トランスフア・ゲート22を介して設けられ
た垂直転送レジスタ部23、上記一垂直ライン毎
の受光部21の各地側に各々オーバーフロー・コ
ントロール・ゲート24を介して設けられたオー
バーフロー・ドレイン25、信号電荷を読出すた
めの水平転送レジスタ部26、上記垂直転送レジ
スタ部23と、各垂直ライン間等を分離するため
のチヤンネルストツパ27とを備えて成るインタ
ーライン・トランスフア型CCD20がイメージ
センサとして用いられる。このCCD20には、
第8図に斜線を施して示すように2n水平ライン
(この例では4水平ライン)分の各受光部21′に
遮光が施されている。上記遮光の施された各受光
部21′は、撮像光が照射されることなく、偽受
光部として用いられる。
撮像光の照射によつて上記受光部21に発生さ
れる電荷は、オーバーフロー・コントロール・ゲ
ート24が低電位状(以下、論理「0」とい
う。)のゲートクロツク信号φ0FCによつて閉じら
れているときに、該受光部21に高電位状態(以
下、論理「1」という。)のクロツク信号φSが供
給されていると、オーバーフローするまで該受光
部21のポテンシヤルウエルに蓄積される。ま
た、論理「1」なる上記ゲートクロツク信号φ0F
によつて上記オーバーフロー・コントロール・
ゲート24が開かれ、且つ論理「0」なるクロツ
ク信号φSが上記受光部21に供給されていると
きには、上記撮像光による発生電荷はオーバーフ
ロー・ドレイン25に全て捨てられる。この実施
例では、上記受光部21,21′には、第9図A
に示すように、一フイールド期間1Fの最終側の
期間(以下、受光蓄積期間という。)TCだけ一フ
イールド期間1F毎に論理「1」となるようなク
ロツク信号φSが供給されている。また、上記オ
ーバーフロー・コントロール・ゲート24には、
第9図Bに示すように、上記期間TCおよび次の
一フイールド期間の最初の所定期間(以下、読出
期間という。)TRに亘る期間T0だけ一フイール
ド期間1F毎に論理「0」となるようなゲートク
ロツク信号φ0FCが供給されている。
上記一フイールド期間1F中の受光蓄積期間TC
に受光部21,21′に蓄積された信号電荷およ
び偽信号電荷は、第9図Cに示すように、上記読
出期間TR中に論理「1」となるようなゲートク
ロツク信号φTGでトランスフアー・ゲート22を
開くことによつて、上記受光部21から垂直転送
レジスタ部23に一フイールド周期1F毎に読出
される。上記垂直転送レジスタ部23への信号電
荷および偽信号電荷の読出しは、第9図Dに示す
ように論理「1」なる第1の垂直転送クロツク信
号φV1が該垂直転送レジスタ部23に供給された
状態で、且つ論理「0」なるクロツク信号φS
上記受光部21に供給されているときに、上記ト
ランスフア・ゲート22が開かれることによつ
て、該第1の垂直転送クロツク信号φV1によるポ
テンシヤルウエルに信号電荷が転送されることに
よつて行われる。上記垂直転送レジスタ部23に
は、第1の垂直転送クロツク信号φV1および第9
図Eに示すように該第1の垂直転送クロツク信号
φV1と逆相の第2の垂直転送クロツク信号φV2
供給されている。
そして、上記読出期間TR中に受光部21から
垂直転送レジスタ部23に読出された信号電荷お
よび偽信号電荷は、上記第1および第2の垂直転
送クロツク信号φV1,φV2によつて、一フイール
ド期間1F中の一水平走査期間1H毎に一水平ライ
ン分ずつ、水平転送レジスタ部26に順次に読出
され、第10図Bおよび第10図Cに示すような
二相の水平転送クロツク信号φH1,φH2によつ
て、上記水平転送レジスタ部26から一絵素分ず
つCCD20外部に読出される。なお、第10図
Aは、上記第2の垂直転送クロツク信号φV2を示
している。
上述の如き実施例においては、受光蓄積期間T
Cによつて電子シヤツタ時間が決まるので、不活
性期間TAを長くして、その分だけ受光蓄積期間
Cを短くすればシヤツタスピードを速くするこ
とができる。
上記受光蓄積期間TCの設定により任意のシヤ
ツタスピードにて被写体像を撮像し、各受光部2
1に得られる信号電荷は、上記垂直転送レジスタ
部23を通じて水平転送レジスタ部26に転送さ
れる間に、各受光部21のバルク中を横方向に拡
散して該垂直転送レジスタ部23に漏れ込むスメ
ア電荷が重畳された状態で該水平転送レジスタ部
26から読出される。同様に、遮光を施した偽受
光部21′からの偽信号電荷は、上記垂直転送レ
ジスタ部23においてスメア電荷が重畳されて水
平転送レジスタ部26から読出される。ここで、
上記水平転送レジスタ部26から読出される偽信
号電荷は、偽受光部21′に撮像光が照射されて
いないので実際の画像信号成分を含まず、上記ス
メア電荷のみ含んだものとなつている。
このようにして、上記水平転送レジスタ部26
から読出される信号電荷および偽信号電荷は、撮
像出力信号として、バツフア増幅器31を介して
演算増幅器32の正側入力端子32aおよびアナ
ログ・デジタル変換器33に供給される。
上記アナログ・デジタル変換器33は、上記偽
受光部21′からの偽信号電荷から成る映像出力
信号を任意の整数mビツトのデジタル信号に変換
し、このデジタル信号を信号加算器34に供給す
る。この信号加算器34は、その加算出力信号が
1水平ライン分の1Hシフトレジスタ35を介し
て帰還されており、該1Hシフトレジスタ35か
ら上記2n水平ライン分の偽信号電荷を1水平ラ
イン分ずつ加算した(m+n)bitのデジタル信
号を出力させる。上記1Hシフトレジスタ35か
ら出力される(m+n)bitのデジタル信号は、
デジタル・アナログ変換器36によつて、上位m
桁分がアナログ信号に変換され、上記演算増幅器
32の負側入力端子32bに供給される。
上記(m+n)bitのデジタル信号を上位mbit
だけデジタル・アナログ変換して得られるアナロ
グ信号は、上記2n水平ライン分の偽信号電荷の
平均値に等しい一水平ライン分の偽信号電荷によ
る映像出力信号となる。すなわち、上記バツフア
増幅器31と演算増幅器32との間に配設したア
ナログ・デジタル変換器33、信号加算器34、
1Hシフトレジスタ35、およびデジタル・アナ
ログ変換器36は、上記2n水平ライン分の偽信
号電荷の平均値を演算している。なお、上記1H
シフトレジスタ35とデジタル・アナログ変換器
36との間に1/Nの除算器を設け、任意の整数N水 平ライン分の偽受光部からの偽信号電荷の平均値
を演算するようにしても良い。
上記演算増幅器32は、バツフア増幅器1を介
して供給される映像出力信号から上記偽信号電荷
の平均値のアナログ信号を差引いた演算出力信号
を出力端子38から出力する。
このような構成の実施例において、出力端子3
8には、各受光部21により得られる真の信号電
荷にスメア電荷が重畳されてなる映像出力信号か
ら、偽信号電荷(すなわちスメア電荷)の平均値
として与えられるアナログ信号を差引いた演算出
力信号すなわち、真の信号電荷による映像信号が
得られる。しかも、通常CCDをイメージセンサ
として用いる場合には該CCDにおけるランダム
雑音による画質の劣化を伴い、一水平ライン分の
スメア電荷を映像信号から差引いただけでは出力
端子38に得られる映像信号中のランダム雑音成
分が3dB増加しS/N比が3dBだけ悪化されてし
まうが、この実施例のように複数水平ライン分の
スメア電荷の平均値を映像出力信号から差引くこ
とによつて映像信号中のランダム雑音成分の増加
を防止することができる。
なお、上述の実施例では一般的なインターライ
ン・トランスフア型CCDにおける任意の整数水
平ライン分の受光部に遮光を施して偽受光部を形
成したが、該偽受光部は実質的に作用しないの
で、第11図に示すように最初からセンサ電極を
形成せずに、任意の複数水平ライン分の偽絵素に
対応する垂直転送レジスタ部23′を形成するよ
うにしても、上述の実施例と同様にランダム雑音
成分を増加させることなくスメア電荷を除去し
て、高品質の映像信号を得ることができる。第1
1図に示す実施例では、スメア電荷を得るための
垂直転送レジスタ部23′が水平転送レジスタ部
26と真の信号電荷を読出すための垂直転送レジ
スタ部23との間に設けてあるが、上記各垂直転
送レジスタ部23,23′を通じこの信号電荷の
垂直転送は一フイールド期間1F毎に繰返し行う
ので、上述の実施例と同様に垂直転送レジスタ部
23′に対応する偽絵素に応じた偽信号電荷とし
て複数水平ライン分のスメア電荷を得て、撮像出
力信号中のスメア電荷成分を相殺することができ
る。なお、この実施例における他の各構成要素に
ついては、上述の第7図に示した実施例と同一で
あるので、第1図中に同一番号を附して詳細な説
明を省略する。
また、本発明は、インターライン・トランスフ
ア型撮像装置のみでなく、例えば、第12図に示
すようにフレーム・トランスフア型CCD撮像装
置にも適用することができる。
すなわち、この実施例では、第12図中に実線
の斜線を施して示すように、マトリクス状に配列
された受光素子41aを有する受光部41のうち
の任意の複数水平ライン分の受光素子41a′と、
マトリクス状に配列された蓄積素子42aを有す
る蓄積部42とに遮光を施したフレームトランス
フア型CCD40がイメージセンサとして用いら
れる。上記遮光の施された受光素子41a′は、単
に垂直転送レジスタ部43として作動させる。上
記遮光を施してない各受光素子41aにて得られ
る信号電荷は、上記垂直転送レジスタ部43を通
つて蓄積部42に転送され、この蓄積部42から
水平転送レジスタ部44を介して読出される。上
記CCD40の水平転送レジスタ部44の出力側
には、上述の第7図に示した実施例と同様に、バ
ツフア増幅器51、アナログデジタル変換器5
3、信号加算器54、1Hシフトレジスタ55、
デジタル・アナログ変換器56および演算増幅器
52が接続されている。
このような構成の実施例においても、遮光の施
された受光素子41a′から成る垂直転送レジスタ
部43に対応する偽信号電荷として複数水平ライ
ン分のスメア電荷を得て、このスメア電荷の平均
値を演算したアナログ信号をデジタル・アナログ
変換器53から演算増幅器52に供給し、映像出
力信号中のスメア電荷成分を相殺することができ
る。
上述の各実施例の説明から明らかなように、本
発明によれば、複数水平ライン分のスメア電荷の
平均値にて、映像出力信号中のスメア電荷成分を
相殺するので、ランダム雑音を増加させることな
くスメア電荷による画質の劣化を防止することが
でき、シヤツタスピードを速くしても画質の良好
な撮像信号を得ることのできる固体撮像装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のフレーム・トランスフア型
CCD撮像装置の原理的な構造を示す模式的平面
図である。第2図および第3図はこの撮像装置の
動作を説明するための各タイムチヤートである。
第4図は従来のインターライン・トランスフア型
CCD撮像装置の原理的な構造を示す模式的平面
図である。第5図および第6図は、この撮像装置
の動作を説明するための各タイムチヤートであ
る。第7図は本発明のCCD撮像装置に適用した
場合の一実施例の原理的な構造を示す模式図であ
る。第8図はこの実施例におけるCCDの遮光状
態を示す模式図である。第9図および第10図
は、この実施例の動作を説明するための各タイム
チヤートである。第11図は本発明の他の実施例
の原理的な構造を示す模式図である。第12図は
さらに本発明の他の実施例の原理的な構成を示す
模式図である。 20,40…CCD、21,41…受光部、2
1′…偽受光部、22…トランスフア・ゲート、
23,23′,43…垂直転送レジスタ部、24
…オーバーフロー・コントロール・ゲート、25
…オーバーフロー・ドレイン、26,44…水平
転送レジスタ部、31,51…バツフア増幅器、
32,52…演算増幅器、33,53…アナロ
グ・デジタル変換器、34,54…信号加算器、
35,55…1Hシフトレジスタ、36,56…
デジタル・アナログ変換器、42…蓄積部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 各々の絵素に対応してマトリクス状に配列さ
    れた受光部に得られる信号電荷を順次に水平転送
    部に転送し、該水平転送部から信号電荷を読出す
    ようにした固体撮像装置において、 上記受光部の垂直ライン方向の一端側に遮光が
    施され且つ複数の整数水平ライン分の偽絵素に対
    応する段数の垂直転送部を設けるとともに、上記
    各絵素に対応した信号電荷および偽絵素に対応し
    た偽信号電荷を水平転送部から読出し、 複数の整数水平ライン分の偽信号電荷を対応画
    素毎に平均値演算することにより、一水平ライン
    分の平均偽信号を得、 各一水平ライン分の信号電荷から上記平均偽信
    号を差引いて出力する外部演算回路を上記水平転
    送部の出力側に設けたことを特徴とする固体撮像
    装置。
JP8748679A 1979-07-12 1979-07-12 Solid image pickup unit Granted JPS5612178A (en)

Priority Applications (1)

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JP8748679A JPS5612178A (en) 1979-07-12 1979-07-12 Solid image pickup unit

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JP8748679A JPS5612178A (en) 1979-07-12 1979-07-12 Solid image pickup unit

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Publication Number Publication Date
JPS5612178A JPS5612178A (en) 1981-02-06
JPS6252987B2 true JPS6252987B2 (ja) 1987-11-09

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57133776A (en) * 1981-02-13 1982-08-18 Nec Corp Solid-state image pickup device
JPS5814682A (ja) * 1981-07-20 1983-01-27 Sony Corp 固体撮像装置
NL8104103A (nl) * 1981-09-04 1983-04-05 Philips Nv Televisie-opneeminrichting voorzien van een vaste-stof beeldopnemer.
JPS5939177A (ja) * 1982-08-28 1984-03-03 Hitachi Ltd 固体撮像装置の駆動方法
US4594612A (en) * 1985-01-10 1986-06-10 Rca Corporation Transfer smear reduction in line transfer CCD imagers
JP2602217B2 (ja) * 1987-01-07 1997-04-23 キヤノン株式会社 撮像装置

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