JPS6252040B2 - - Google Patents
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- JPS6252040B2 JPS6252040B2 JP59022076A JP2207684A JPS6252040B2 JP S6252040 B2 JPS6252040 B2 JP S6252040B2 JP 59022076 A JP59022076 A JP 59022076A JP 2207684 A JP2207684 A JP 2207684A JP S6252040 B2 JPS6252040 B2 JP S6252040B2
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Classifications
-
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- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D15/00—Electrolytic or electrophoretic production of coatings containing embedded materials, e.g. particles, whiskers, wires
- C25D15/02—Combined electrolytic and electrophoretic processes with charged materials
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Description
本発明は、溶液中に懸濁された封入すべき粒子
のための懸濁安定剤を有する、非金属物質の粒子
が封入された金属層を電気メツキ的に析出させる
ための浴もしくは電解液に関する。 異種物質の粒子が封入された金属層の電気メツ
キ的析出(電気メツキ分散析出と略される)は分
散材料を製造するための便利な方法である。電解
中に、浴内に懸濁された粒子はマトリツクス金属
と一緒に陰極上に析出しかつ金属マトリツクスに
よつて包囲されかつ封入される。 この場合、電解液内に懸濁された粒子を申し分
なく湿潤すべきである、浴内に含有され、懸濁安
定剤として作用する表面活性剤の種類及び特性が
電気メツキ分散析出の品質にとつて重要な役割を
演じる。上記湿潤条件が満されないか又は不十分
であれば、電解液を撹拌又は他の方法で運動させ
ても粒子は電解液内で急速に沈殿する、その結果
浴の懸濁した粒子の濃度が電解中に変化しかつ析
出したマトリツクス金属内での粒子分布が不均一
になる。 西独国特許第2644035号明細書によれば、電解
液に懸濁安定剤として、カルボキシル基及び/又
はスルホン酸基を結合させることにより両性特性
を付与した極めて特殊なイミダゾリン誘導体を添
加することによつて電気メツキ分散析出を有効に
実施することができる。該特許明細書には陽イオ
ン活性懸濁安定剤は記載されていない。 陽イオン活性物質は既にその懸濁安定剤として
の使用可能性が研究されたが、米国特許第
4222828号明細書には、前記目的のためには、長
鎖状フルオロ炭化水素基を含有するような陽イオ
ン活性物質のみが適当であると記載されている。 ところが驚異的にも、それにもかかわらず前記
米国特許明細書の技術思想とは異なり、弗素を含
有しない特定の陽イオン活性物質が電気メツキ分
散析出において優れた懸濁安定剤であることが判
明した。これらの新たに見出された物質は特定の
陽イオン活性イミダゾリン誘導体である。このこ
とは西独国特許第2644035号明細書の技術思想に
よれば、イミダゾリン誘導体は懸濁安定剤として
使用可能であるためには両性特性を有するべきで
あると見なされていたが故に一層予測困難なこと
であつた。 従つて、本発明の対象は、懸濁安定剤を含有す
る電気メツキ分散析出用浴であり、該浴は懸濁安
定剤が一般式: 〔式中、R1は少なくとも4個の脂肪族結合した炭
素原子を有する1価の飽和もしくは不飽和炭化水
素基又はこれらの複数の炭化水素基の混合物を表
わし、R2はメチレン基、エチレン基、プロピレ
ン基又はイソプロピレン基を表わしかつXは−
NH2、−NHR3、−NR3R4、−OH又は−OR5を表わ
し、該式中R2、R4及びR5はメチル基、エチル
基、プロピル基又は5個までの−O−CH2−CH2
基を有するポリグリコールエーテル基を表わす〕
で示される陽イオン活性イミダゾリン誘導体であ
ることを特徴とする。 上記一般式において、R1が8〜18個、有利に
は16〜18個(獣脂基)の炭素原子を有する脂肪族
の飽和及び不飽和炭化水素基の混合物、特にヘプ
タデセニル基であり、R2がエチレン基を表わし
かつXが第一級アミノ基又はヒドロキシル基であ
る懸濁安定剤が特に有利である。 次に実施例により本発明を詳細に説明する。 例 1 脱イオン化水中に以下の物質: 1当り固形スルフアミン酸塩600〜680gの濃度
のスルフアミン酸ニツケル水溶液 630ml/ 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 5g/ 及び 硼酸(H3BO3) 40g/ を溶かす。該溶液2.5の基礎電解液として使用
しかつ該溶液を実験中機械的撹拌機を用いて運動
させる。陽極としては、炭化ニツケルから成る板
(DIN 1702)を、陰極としては寸法50×100mmの
ニツケル合金X10CrNiTi189から成る板を使用す
る。実験の実施前に、陰極を自体公知方法で電解
的に脱脂し、陽極エツチングしかつ前ニツケル化
する。 次いで、前記基礎電解液に粒度約2μmの炭化
珪素(SiC)150g/を撹拌混入しかつ懸濁安
定剤0.8g/を加える。この場合には、この安
定剤は1−アミノエチル−2−アルキル−アルケ
ニル−イミダゾリンであり、この場合“−アルキ
ル−アルケニル”は、特に獣脂内に存在するよう
な16〜18個の炭素原子を有するアルキル基とアル
ケニル基の混合物であると理解されるべきであ
る。 次いで、SiCの電気メツキ分散析出を50±1℃
の浴温度で実施する。この場合、浴のPH値は約
3.8〜4.0である。 多数の個別実験を種々の陰極電流密度を用いて
実施する、この場合電解時間は陰極で約20μmの
層厚さが析出するように選択する。このためには
約20μmの層厚さは2A/dm2の陰極電流密度で
約1時間で施されるが、同じ層厚さは10A/dm2
で約10分間で達成されることを基準にすべきであ
る。個別実験で使用した電流密度及びこの際達成
された析出したNiマトリツクス中への懸濁され
たSiC粒子の封入率(重量%で)を以下の第1表
に示す。
のための懸濁安定剤を有する、非金属物質の粒子
が封入された金属層を電気メツキ的に析出させる
ための浴もしくは電解液に関する。 異種物質の粒子が封入された金属層の電気メツ
キ的析出(電気メツキ分散析出と略される)は分
散材料を製造するための便利な方法である。電解
中に、浴内に懸濁された粒子はマトリツクス金属
と一緒に陰極上に析出しかつ金属マトリツクスに
よつて包囲されかつ封入される。 この場合、電解液内に懸濁された粒子を申し分
なく湿潤すべきである、浴内に含有され、懸濁安
定剤として作用する表面活性剤の種類及び特性が
電気メツキ分散析出の品質にとつて重要な役割を
演じる。上記湿潤条件が満されないか又は不十分
であれば、電解液を撹拌又は他の方法で運動させ
ても粒子は電解液内で急速に沈殿する、その結果
浴の懸濁した粒子の濃度が電解中に変化しかつ析
出したマトリツクス金属内での粒子分布が不均一
になる。 西独国特許第2644035号明細書によれば、電解
液に懸濁安定剤として、カルボキシル基及び/又
はスルホン酸基を結合させることにより両性特性
を付与した極めて特殊なイミダゾリン誘導体を添
加することによつて電気メツキ分散析出を有効に
実施することができる。該特許明細書には陽イオ
ン活性懸濁安定剤は記載されていない。 陽イオン活性物質は既にその懸濁安定剤として
の使用可能性が研究されたが、米国特許第
4222828号明細書には、前記目的のためには、長
鎖状フルオロ炭化水素基を含有するような陽イオ
ン活性物質のみが適当であると記載されている。 ところが驚異的にも、それにもかかわらず前記
米国特許明細書の技術思想とは異なり、弗素を含
有しない特定の陽イオン活性物質が電気メツキ分
散析出において優れた懸濁安定剤であることが判
明した。これらの新たに見出された物質は特定の
陽イオン活性イミダゾリン誘導体である。このこ
とは西独国特許第2644035号明細書の技術思想に
よれば、イミダゾリン誘導体は懸濁安定剤として
使用可能であるためには両性特性を有するべきで
あると見なされていたが故に一層予測困難なこと
であつた。 従つて、本発明の対象は、懸濁安定剤を含有す
る電気メツキ分散析出用浴であり、該浴は懸濁安
定剤が一般式: 〔式中、R1は少なくとも4個の脂肪族結合した炭
素原子を有する1価の飽和もしくは不飽和炭化水
素基又はこれらの複数の炭化水素基の混合物を表
わし、R2はメチレン基、エチレン基、プロピレ
ン基又はイソプロピレン基を表わしかつXは−
NH2、−NHR3、−NR3R4、−OH又は−OR5を表わ
し、該式中R2、R4及びR5はメチル基、エチル
基、プロピル基又は5個までの−O−CH2−CH2
基を有するポリグリコールエーテル基を表わす〕
で示される陽イオン活性イミダゾリン誘導体であ
ることを特徴とする。 上記一般式において、R1が8〜18個、有利に
は16〜18個(獣脂基)の炭素原子を有する脂肪族
の飽和及び不飽和炭化水素基の混合物、特にヘプ
タデセニル基であり、R2がエチレン基を表わし
かつXが第一級アミノ基又はヒドロキシル基であ
る懸濁安定剤が特に有利である。 次に実施例により本発明を詳細に説明する。 例 1 脱イオン化水中に以下の物質: 1当り固形スルフアミン酸塩600〜680gの濃度
のスルフアミン酸ニツケル水溶液 630ml/ 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 5g/ 及び 硼酸(H3BO3) 40g/ を溶かす。該溶液2.5の基礎電解液として使用
しかつ該溶液を実験中機械的撹拌機を用いて運動
させる。陽極としては、炭化ニツケルから成る板
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ニツケル合金X10CrNiTi189から成る板を使用す
る。実験の実施前に、陰極を自体公知方法で電解
的に脱脂し、陽極エツチングしかつ前ニツケル化
する。 次いで、前記基礎電解液に粒度約2μmの炭化
珪素(SiC)150g/を撹拌混入しかつ懸濁安
定剤0.8g/を加える。この場合には、この安
定剤は1−アミノエチル−2−アルキル−アルケ
ニル−イミダゾリンであり、この場合“−アルキ
ル−アルケニル”は、特に獣脂内に存在するよう
な16〜18個の炭素原子を有するアルキル基とアル
ケニル基の混合物であると理解されるべきであ
る。 次いで、SiCの電気メツキ分散析出を50±1℃
の浴温度で実施する。この場合、浴のPH値は約
3.8〜4.0である。 多数の個別実験を種々の陰極電流密度を用いて
実施する、この場合電解時間は陰極で約20μmの
層厚さが析出するように選択する。このためには
約20μmの層厚さは2A/dm2の陰極電流密度で
約1時間で施されるが、同じ層厚さは10A/dm2
で約10分間で達成されることを基準にすべきであ
る。個別実験で使用した電流密度及びこの際達成
された析出したNiマトリツクス中への懸濁され
たSiC粒子の封入率(重量%で)を以下の第1表
に示す。
【表】
表から明らかなように、1〜20A/dm2の全電
流密度にわたつて極めて良好な封入率が達成され
る。この場合、最良の結果は5A/dm2の電流密
度における7.3重量%の率である。 得られた分散析出物の基体に対する接着力を陰
極薄板を90゜曲げることにより試験した。接着力
は全ての場合優れていることが判明した。析出物
の脆弱化はいかなる場合も観察されなかつた。 例 2 例1を繰返すが、但しこの場合には懸濁安定剤
として1−アミノエチル−2−アルキル−アルケ
ニル−イミダゾリンの代りに1−ヒドロキシエチ
ル−2−ヘプタデセニル−イミダゾリンを使用す
る。この場合も、最高7.3重量%の粒子封入率と
同時に良好に接着した非脆弱性の分散析出物が得
られる。 例 3 例1を繰返すが、但しこの場合にはSiC粒子の
代りに粒度0.4μmの炭化チタン粒子(TiC)100
g/を使用する。析出したNiマトリツクス内
に粒子最高5重量%の封入率が達成される。 例 4 例1を繰返すが、但しこの場合にはSiC粒子の
代りに粒度0.6μmの酸化アルミニウム粒子
(Al2O3)100g/を使用する。析出したNiマト
リツクスへの粒子最高6重量%の封入率が達成さ
れる。 例 5 例1を繰返すが、但しこの場合はSiC粒子の代
りに粒度3〜5μmの二酸化チタン粒子
(TiO2)100g/を使用する。析出したNiマト
リツクス中に粒子最高8重量%の封入率が達成さ
れる。 例 6 CoSO4・7H2O 430〜470g/ NaCl 15〜20g/ 及び H3BO3 25〜35g/ から成る基礎電解液を懸濁安定剤としての酸化ア
ルミニウム粒子100g/及び1−アミノエチル
−2−アルキル−アルケニル−イミダゾリン0.8
g/の添加物と一緒に使用する。該電解液はPH
値4.3〜5.0を有する。コバルト電極を用いて50℃
で分散析出を実施する、Coマトリツクス中への
Al2O3最高5重量%の封入率が達成される。 例 7 以下の浴及び条件: スルフアミン酸ニツケル溶液 315ml/ 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 30g/ 硼酸(H3PO3) 30g/ PTFE(Fluon L 170)(粒度3〜4μm)
50g/ ラウリル硫酸ナトリウム(助安定剤として)
0.10g/ 1−アミノエチル−2−アルキル−アルケニル−
イミダゾリン 0.80g/ 浴温度 50℃ 浴運動 撹拌 PH値 4.0〜4.5 電流密度 2A/dm2 層厚さ 20μm を用いて自己潤滑性ポリテトラフルオルエチレン
の粒子の分散析出を実施する。 例 8 以下の浴及び条件: スルフアミン酸ニツケル 630ml/ 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 5g/ 硼酸(H3BO3) 30g/ 1−アミノエチル−2−アルキル−アルケニル−
イミダゾリン 0.80g/ ラウリル硫酸ナトリウム 0.10g/ 浴温度 50℃ PH値 3.8〜4.0 層厚さ 25μm 電流密度 2A/dm2 浴運動 撹拌 窒化硼素種CS(粒度5μm) 50g/ を用いて自己潤滑性窒化硼素(BN)の粒子の分
散析出を実施する。 例 9 粒子封入率の浴内の粒子濃度に対する依存性を
調査する。浴組成及び実験条件はほぼ例1と同じ
であるが、但第2表に記載のように変更する:
流密度にわたつて極めて良好な封入率が達成され
る。この場合、最良の結果は5A/dm2の電流密
度における7.3重量%の率である。 得られた分散析出物の基体に対する接着力を陰
極薄板を90゜曲げることにより試験した。接着力
は全ての場合優れていることが判明した。析出物
の脆弱化はいかなる場合も観察されなかつた。 例 2 例1を繰返すが、但しこの場合には懸濁安定剤
として1−アミノエチル−2−アルキル−アルケ
ニル−イミダゾリンの代りに1−ヒドロキシエチ
ル−2−ヘプタデセニル−イミダゾリンを使用す
る。この場合も、最高7.3重量%の粒子封入率と
同時に良好に接着した非脆弱性の分散析出物が得
られる。 例 3 例1を繰返すが、但しこの場合にはSiC粒子の
代りに粒度0.4μmの炭化チタン粒子(TiC)100
g/を使用する。析出したNiマトリツクス内
に粒子最高5重量%の封入率が達成される。 例 4 例1を繰返すが、但しこの場合にはSiC粒子の
代りに粒度0.6μmの酸化アルミニウム粒子
(Al2O3)100g/を使用する。析出したNiマト
リツクスへの粒子最高6重量%の封入率が達成さ
れる。 例 5 例1を繰返すが、但しこの場合はSiC粒子の代
りに粒度3〜5μmの二酸化チタン粒子
(TiO2)100g/を使用する。析出したNiマト
リツクス中に粒子最高8重量%の封入率が達成さ
れる。 例 6 CoSO4・7H2O 430〜470g/ NaCl 15〜20g/ 及び H3BO3 25〜35g/ から成る基礎電解液を懸濁安定剤としての酸化ア
ルミニウム粒子100g/及び1−アミノエチル
−2−アルキル−アルケニル−イミダゾリン0.8
g/の添加物と一緒に使用する。該電解液はPH
値4.3〜5.0を有する。コバルト電極を用いて50℃
で分散析出を実施する、Coマトリツクス中への
Al2O3最高5重量%の封入率が達成される。 例 7 以下の浴及び条件: スルフアミン酸ニツケル溶液 315ml/ 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 30g/ 硼酸(H3PO3) 30g/ PTFE(Fluon L 170)(粒度3〜4μm)
50g/ ラウリル硫酸ナトリウム(助安定剤として)
0.10g/ 1−アミノエチル−2−アルキル−アルケニル−
イミダゾリン 0.80g/ 浴温度 50℃ 浴運動 撹拌 PH値 4.0〜4.5 電流密度 2A/dm2 層厚さ 20μm を用いて自己潤滑性ポリテトラフルオルエチレン
の粒子の分散析出を実施する。 例 8 以下の浴及び条件: スルフアミン酸ニツケル 630ml/ 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 5g/ 硼酸(H3BO3) 30g/ 1−アミノエチル−2−アルキル−アルケニル−
イミダゾリン 0.80g/ ラウリル硫酸ナトリウム 0.10g/ 浴温度 50℃ PH値 3.8〜4.0 層厚さ 25μm 電流密度 2A/dm2 浴運動 撹拌 窒化硼素種CS(粒度5μm) 50g/ を用いて自己潤滑性窒化硼素(BN)の粒子の分
散析出を実施する。 例 9 粒子封入率の浴内の粒子濃度に対する依存性を
調査する。浴組成及び実験条件はほぼ例1と同じ
であるが、但第2表に記載のように変更する:
【表】
第2表から明らかなように粒子封入率は浴内の
粒子濃度に伴い上昇する。 例 10 浴内の懸濁安定剤の濃度に対するマトリツクス
中への粒子封入率の依存性を調査する。浴組成及
び実験条件は例1とほぼ同じであるが、但し第3
表に記載のように変更する:
粒子濃度に伴い上昇する。 例 10 浴内の懸濁安定剤の濃度に対するマトリツクス
中への粒子封入率の依存性を調査する。浴組成及
び実験条件は例1とほぼ同じであるが、但し第3
表に記載のように変更する:
【表】
【表】
第3表から明らかなように、粒子封入率は浴中
の安定剤濃度に伴い上昇する、この場合1当り
0.6から0.8gへの安定剤濃度上昇で最大の封入率
上昇が見られる。
の安定剤濃度に伴い上昇する、この場合1当り
0.6から0.8gへの安定剤濃度上昇で最大の封入率
上昇が見られる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 懸濁安定剤を含有する電気メツキ分散析出用
浴において、懸濁安定剤が一般式: 〔式中、R1は少なくとも4個の脂肪族結合した炭
素原子を有する1価の飽和もしくは不飽和炭化水
素基又はこれらの複数の炭化水素基の混合物を表
わし、R2はメチレン基、エチレン基、プロピレ
ン基又はイソプロピレン基を表わしかつXは−
NH2、−NHR3、−NR3R4、−OH又は−OR5を表わ
し、該式中R3、R4及びR5はメチル基、エチル
基、プロピル基又は5個までの−O−CH2−CH2
基を有するポリグリコールエーテル基を表わす〕
で示される陽イオン活性イミダゾリン誘導体であ
ることを特徴とする電気メツキ分散析出用浴。 2 式中R1が20個までの脂肪族結合した炭素原
子を有する炭化水素基又はこれらの複数の炭化水
素基の混合物を表わす、特許請求の範囲第1項記
載の浴。 3 式中R1がアルキル基、アルケニル基、アル
カリル基、アルアルキル基又はアルアルケニル基
である、特許請求の範囲第2項記載の浴。 4 式中基R1が置換基として塩素、臭素又は沃
素を有する、特許請求の範囲第1項〜第3項のい
ずれか1項に記載の浴。 5 式中R1が8〜18個の炭素原子を有する脂肪
族の飽和及び不飽和炭化水素基の混合物であり、
R2がエチレン基を表わしかつXが第一級アミノ
基である、特許請求の範囲第1項〜第4項のいず
れか1項に記載の浴。 6 式中R1がヘプタデセニル基でありかつR2が
エチレン基でありかつXがHO基である、特許請
求の範囲第1項〜第4項のいずれか1項に記載の
浴。 7 懸濁助安定剤としてラウリル硫酸ナトリウム
を含有する、特許請求の範囲第1項〜第6項のい
ずれか1項に記載の浴。 8 基礎電解質として、脱イオン化水1当り スルフアミン酸ニツケル(1当り固形スルフア
ミン酸塩(NH2SO3)2Ni550〜700gの濃度)
300〜650ml 塩化ニツケル(NiCl2・6H2O) 5〜35g 及び 硼酸(H3BO3) 25〜45g を有する、特許請求の範囲第1項〜第7項のいず
れか1項に記載の浴。 9 基礎電解質として、水1当り 硫酸コバルト(CoSO4・7H2O) 400〜500g 塩化ナトリウム(NaCl) 10〜30g 及び 硼酸(H3PO3) 20〜40g を有する、特許請求の範囲第1項〜第7項のいず
れか1項に記載の浴。 10 分散相として金属炭化物、酸化物、硼化
物、珪化物、硫化物、窒化物、硫酸塩、合成物
質、硬質物質又はこれらの2種以上の物質の混合
物を有する、特許請求の範囲第1項〜第9項のい
ずれか1項に記載の浴。 11 粒度が約0.3〜15μmである、特許請求の
範囲第10項記載の浴。 12 PH値約3.5〜5を有する、特許請求の範囲
第1項〜第11項のいずれか1項に記載の浴。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AU48895/85A AU565008B2 (en) | 1984-02-10 | 1985-10-21 | Vehicle air conditioner |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3313871A DE3313871C1 (de) | 1983-04-16 | 1983-04-16 | Bad zur galvanischen Dispersionsabscheidung |
DE3313871.0 | 1983-04-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59193300A JPS59193300A (ja) | 1984-11-01 |
JPS6252040B2 true JPS6252040B2 (ja) | 1987-11-02 |
Family
ID=6196609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59022076A Granted JPS59193300A (ja) | 1983-04-16 | 1984-02-10 | 電気メツキ分散析出用浴 |
Country Status (5)
Country | Link |
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EP (1) | EP0122416B1 (ja) |
JP (1) | JPS59193300A (ja) |
AT (1) | ATE20763T1 (ja) |
DE (2) | DE3313871C1 (ja) |
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US5116903A (en) * | 1991-04-05 | 1992-05-26 | E. I. Du Pont De Nemours & Co. | Pigment dispersant resin: reaction product of imidazoline and alkylene carbonate adduct and a half blocked diisocyanate |
JP3945956B2 (ja) * | 2000-03-06 | 2007-07-18 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 複合めっき方法 |
KR100709290B1 (ko) * | 2005-11-15 | 2007-04-19 | 한국과학기술연구원 | 금속 및 무기분말을 포함하는 복합체막 및 그 제조 방법 |
DE102005057384A1 (de) * | 2005-11-30 | 2007-05-31 | Nanogate Ag | Silikatumhüllte Teilchen in einer Metallschicht |
DE102014113543A1 (de) * | 2014-09-19 | 2016-03-24 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Medienbeständige Multilagenbeschichtung für ein Messgerät der Prozesstechnik |
CN107326405A (zh) * | 2017-06-23 | 2017-11-07 | 安庆市枞江汽车部件制造有限公司 | 一种汽车安全带卡扣的表面电镀加工工艺 |
Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
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DE2064199C3 (de) * | 1970-12-29 | 1974-09-12 | Friedr. Blasberg Gmbh & Co, Kg, 5650 Solingen | Saures galvanisches Zinkbad |
DE2236443C3 (de) * | 1972-07-25 | 1978-05-24 | Elektroschmelzwerk Kempten Gmbh, 8000 Muenchen | Wäßriges Bad zur Herstellung von metallischen Überzügen, die nichtmetallische, feinverteilte Feststoffe eingelagert enthalten |
US3891542A (en) * | 1973-11-05 | 1975-06-24 | Ford Motor Co | Method for insuring high silicon carbide content in elnisil coatings |
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US3996114A (en) * | 1975-12-17 | 1976-12-07 | John L. Raymond | Electroplating method |
US4222828A (en) * | 1978-06-06 | 1980-09-16 | Akzo N.V. | Process for electro-codepositing inorganic particles and a metal on a surface |
-
1983
- 1983-04-16 DE DE3313871A patent/DE3313871C1/de not_active Expired
-
1984
- 1984-02-10 JP JP59022076A patent/JPS59193300A/ja active Granted
- 1984-03-01 AT AT84102202T patent/ATE20763T1/de not_active IP Right Cessation
- 1984-03-01 DE DE8484102202T patent/DE3460286D1/de not_active Expired
- 1984-03-01 EP EP84102202A patent/EP0122416B1/de not_active Expired
- 1984-03-23 US US06/592,852 patent/US4479855A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0122416B1 (de) | 1986-07-16 |
DE3313871C1 (de) | 1984-05-24 |
JPS59193300A (ja) | 1984-11-01 |
EP0122416A1 (de) | 1984-10-24 |
DE3460286D1 (en) | 1986-08-21 |
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ATE20763T1 (de) | 1986-08-15 |
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