JPS6249264A - 配線試験装置 - Google Patents

配線試験装置

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JPS6249264A
JPS6249264A JP60174778A JP17477885A JPS6249264A JP S6249264 A JPS6249264 A JP S6249264A JP 60174778 A JP60174778 A JP 60174778A JP 17477885 A JP17477885 A JP 17477885A JP S6249264 A JPS6249264 A JP S6249264A
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JP
Japan
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test
measurement point
measurement
measuring points
wiring
Prior art date
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Pending
Application number
JP60174778A
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English (en)
Inventor
Taiichi Miho
美保 泰一
Takeo Ogawa
小川 武男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6249264A publication Critical patent/JPS6249264A/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 与えられた配線データに基づいて測定点をM tJNし
、試験プログラノ・に基づいて前記選択された測定点間
の配線の試験を行う配線試験4A置であって。
配線によって接続されている一連の測定点をすべて短絡
した状態で絶縁試験を行・さように構成することによっ
−0前記試験プログラムの作成工数の節減を図ったもの
(産業−にの利用分野) 本発明は配線網の検査に使用する配線試験装置に関する
ものである。
配線試験装置は、たとえばプリン1−配線板等の配線網
が設81どおりに正シ、<配線され−(いるか古かを試
験する装置であり、試験は、NtW機援用設計システム
(CA11)等によっζ作られた配線データと、これに
基づいて作られ人:ケス1−プ覧」グラムと61ニした
がって進められ、−・力の測定点と他力の測定点との間
の導jmあるいは絶縁が配線テ゛−夕に一致するか否か
の試験を行うものである。
配線+I+t:験の内容は1基本的には導通試験および
絶縁試験の2種類に大別さね、導i1m試験では当面注
目する一方の測定点(IJ I−’、 /L注目測定点
称−4る)と他方の測定点(+24下、相手側測定点と
称する)との間で−・幻−で行・)。
ごれに対し絶縁試験では、試験時間の短縮等の見114
から、 l1寸I測定点に幻して絶Hされている筈の全
測定点を短絡し7.これと注目測定点との間の絶縁を測
定する。その結果、絶縁不良が検出されなければその注
目測定点にコ召」る絶縁試験を終了シフ、絶縁不良が検
出された場合には、続いて相二[11’l 端子の中か
ら不良測定点を特定するための試験をおごなう。
試験の対象、1:すイ〕配線網(lす1.試験対象と称
−4” 7+ )には1通常、■トリノ々ス扶乙、=配
列さオl/、−多数の^り定点を設け、各測定点には、
l、: 、にfiばにy座標ζ4rりI応さl鼾た)′
トレス等の絶対的な番υ (以上、絶対番号と称する)
がIJλら41.’(いる。
一方、配線試験装置〃側には、試験対象側の全測定点と
接触eきる。1、・)Qこ配列された複数のプローブ(
探釧)を有するブ11−ブ盤を備え−Cいる。各ブLl
−ブには試験対象θ)測定点に与λられ゛(いる絶対番
号1Lは別に固自の一連番号(ll’J−ト、ブL1−
ゾ番号吉称−4イ))かりえらJ’1.−(お幻、前記
ケス1プログラムは、このブト2−ブ番号の舶C4二進
ぬられる。1、うに構成され゛(いる。
なお、絶縁試験には、注1−1測定!jlj以夕)の↑
ン・測定点を相「側副定点4どし7−(行):4−ルシ
ry−t−テスト、汁[1測定点、Lり若いプローブ番
号の・全測定点を相手側測定点とし′C行うローう件+
−1・テスト1F?よびll−[1端子、lり高いブl
−1−ブ番号の全測定点を相手+1llI渕定点^して
行・)ハイショー1−テスtZrとのノ)法かあ’H+
この際、配線試験装置は、ナス1ゾClグラムの作成時
間をも含め、試験が短時間Cおこなわれるように構成さ
れていることが望まし7い。
〔従来の技術) 第3図は従来例の構成図ごあり。
lは、ナス1−ブl−1グラムに基づい゛ζ、各部の制
御を行う制御部。
2は、制御部1からりえられるt)11測定、、、jの
71ルスに基づいて、試験対象5に設TJられている複
数の測定点の中から注目測定点を選択する第一・の選択
回路。
3は、制御部1からりえられる相手側測定点のアI・レ
スに基づいて1試験対象5に設置Jられている複数の測
定点の中からjP Li端端子の間で61シ線試験をお
こなう相=「側副定点を選択するする第一の選択回路。
相手側測定点との間の導通または絶縁を測定する測定Z
:(。
5は試験対象。
6は、第一の選択回路2によ−1.−C選択された注「
1測定点を測定器4の一力の端子64二接続“4゛る第
一・の接続回路。
7は、第一のiff tR回路3に11、っ°(i巽(
戻された相手側測定点を測定器4の他方の端子に接続す
る第二の接M回路である。
また、第4図は試験対象5の・部の例を承3図であり2
図ζこおいてo−ciは測定点であり)、数字はプロー
ブ番υ−を表ず。またご11らの測定点の間は実線のよ
)に配線されているが、X印によ1.て承ず断線と点線
によっ(示」−絶縁不良がある、ことを表し−Cいる。
ここで、配線によって接続さねでいる−・連の測定点q
す0σ4′1Gりの組に対する配線試験は、以Fの順序
によっておこなっている。
1、プローブ番号が最若番の測定yj、(σ0唆注目渕
定点とするローショートテスl−またはブ「I−ブ番号
が鼠高番の測定+j、ta71を注目測定点と−4るハ
・イシゴートチスト 11.測定点4)oと測定点04,の間の導通試験をお
こない,導通不良が検出さ才1なければ.引続いて測定
点0と測定点@との間,お、l、び測定点qりと測定.
!jA ’1カとの間の導通試験を1ンこなう。
iii.  iiの導通al(験におい゛(導通不良測
定点が検出された場合には,検出された導通不良測定点
をメト[1測定点^するA−ルシゴー1ーテス1による
絶縁試験をおこなう。
〔発明が解決し7ようとする問題点〕 L記構成の配線試験装置には,絶縁試験における注[1
測定点を決定Jる機能を設けζいない。したがっ゛0注
し1測定点はずべ−(うーストプログラムに、Lっで決
定Jる必要がある。
第4図に例示したように,配線によっ゛(接続されζい
る一連の測定点群(iD o o (fりに注「1シフ
”(おこな・う絶縁試験では,各測定点を注「1測定点
とするローシー1−1−テスト・ハイシヨートテスト・
あるいはオールショーI・テストが名えられる。
1−5かし,たとAは測定点■を1111測定点点し一
rAールンゴー1テスHこ、Lる絶縁試験をお、−なう
と、実際の絶縁不良測定点QσΦの他に,測定?iりb
d)oが一緒に検出される。
このように、測定点111′に含まれる他の測定点がイ
ミ良III定点(絶縁不良測定,:、< )として−緒
に検出さ相る、ことを避iJるため.最若番の測定y’
:A Oiγl[1測定係とする「」−シーJ−1テス
1−.あるいはに↓高番の測定点o唆t1[1渕定貞と
するハイショートテスト め、デスlプtiグラムの作成の際に最若番あるいは最
高番の測定点を決める必要がある。
前述のよ・)に、測定点の番号には,試験対象のツノか
ら定まる絶対番号と,グローブ盤の力から定まるグロー
ブ番号とがあるが,グローブ盤に設けられているグロー
ブの数が配線11(験装置の種類によっ−(界なるため
,絶対番号とグローブ番号との対応が一定していない。
この上・)な理由に,■、って、テストプログラム作成
の際.最若番あるいは最高番を決めるためにに時間を要
するという問題点がある。
また、q9と0の間のように,導通試験において導通不
良測定点か検出された場合,49をl+II測定点とす
るオールソー1−1−デス1−による絶縁試験をおこな
うが、このとき、実際の絶縁不良測定点■(pの他に測
定Jjλ[相]が一緒に検出されるという問題点がある
ずなわら、本発明のト1的は,デス1ブl:Iゲラムの
作成の際.最若番あるいは最高番を決めろ必要がなく,
測定点群に含まれる他の測定点が絶縁不良測定点とし7
゛ζ−緒に検出されることのない配線試験装置を提供す
ることにある。
c問題jFNを解決するための手段〕 第1図は本発明の原理ブロック図であり,第3図と共通
ずる符号1〜7は従来例と同一への対象であり,そのほ
か。
8は配線によって接続されている−・連の測定点を検出
する検出回路。
9は.第一の選tR回路2によって選択された測定点ま
たは検出回路8によって検出された測定点を選択する第
EEの選択回路。
IOは,第二の選択回路3に、l、って選択さi′Jた
測定点または検出回路8によって検出されなか,)だ測
定点を選択する第四の選択回路である。
〔作用〕
ずなわら、配線によって接続されζいる一連の測定点!
+1’ t.:注目した配線試験の際には,絶縁試験の
前に導通試験をおこない,このとき導通試験をおこなっ
た測定点を検出回路8によっ(検出し記憶し7′(おく
次に絶縁試験では,検出回路8によって検出した測定点
を4べ°(を注[1測定点とし2て第ヨの選択回路9に
よって選択する。
一方,検出回路8にJ、って検出されなかった測定点を
すべて相手側測定点として第四の選択回路10によって
選択し,第三の選択回路9によっ゛ζ選択された注1」
測定点と.第四の選択回路10によっ゛ζ選択された相
手側測定点との間で絶縁試験をおこなう。
才なわら1配線によって接続れている一連の測定点を一
部つの注目測定点と1.てオールシJ−1テストに準し
た絶縁試験をおこな・)ことによ幻、B若番あるいは最
^番の測定点を見いだ−(必要をなくすることができる
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例の構成図であり。
検出回路8は2図示のよ・うに接続されたnullll
の叶回路8al 〜8an  −n([i+lのフリソ
グフl−1ノブ(FF)8b 1〜8 b nおよびn
1lllllのAND回路8cl〜8enによって構成
されており、一連の測定点群に含まれる測定点間の導通
試験の際に、注目測定点または相手側測定点として選択
された測定点がソリツブフロップ8bl〜8bnによっ
て記憶され、絶縁試験を実施する際、フリノプフF1ツ
ブ8bl〜8bnの記憶内容が読み出される。但しnは
測定点の総数である。
第三の選択回路9は1図示のように接続されたn+ff
lのOR回路9’l”□9nζこよって構成され′(お
り、第一の選択回路2によって選択された測定点1、た
は検出回路f(によって検出された測定点のいずれかが
注目測定点とし、で出力される。
第四の選JII!回路10は1図示の、1ン)に接続さ
れたntWのID回路10al〜Loanお4Lびn個
のOR回路10blへl0hnによって構成されて49
す、第二の選択回路3によって選択された測定点または
検出回路8によって検出されなか−2たへ11定点のい
ずれかが相1例測定点と(−7で出力される。
また、第一の接続回路6お、1、び第一の接続回路7は
、それぞれ図イくのように接続される口1固のメーク接
点形リレー(1ン)によって構成されており1第一:〜
17)接続、回路()お31′び第四の接続回路10に
よっ°r選択された測定器が、それぞわ短絡された・)
活で測定器4の一力の端子および他方の端子に接続さね
絶縁試験がおこなf月する。
〔発明の効果〕
以−1説明したよらに2本発明によれば、配線によって
接続されている一連の測定点を対象とする絶縁試験の際
、これらの測定点をずべ”ζ短絡した状態でオールショ
ートテスト ができる。
その結果.これらの測定点が絶縁不良測定点として検出
されることが無くなる。
また、テストプログラムの作成の際,最若番あるいは最
高番を決める必要がなく.シたがって。
テストプログラムの作成T数を節減することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理ブロック図。 第2図は一実施例の構成図。 第3図は従来例の構成図。 第4図は試験対象の一部の例である。 図中。 2は第一の選択回路,  3は第二の選択回路。 4は測定器,      5は試験対象。 6は第一の接続回路,  7は第二の接続回路。 8は検出回路.     9は第一!の選択回路。 10は第四の選択回路を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試験対象(5)に設けられている複数の測定点の中から
    当面の試験の対象とする一方の測定点を選択する第一の
    選択回路(2)と、 試験対象(5)に設けられている複数の測定点の中から
    当面の試験の対象とする他方の測定点を選択する第二の
    選択回路(3)と、 前記選択された一方の測定点と他方の測定点との間の導
    通または絶縁を測定する測定器(4)とを備え、 前記選択された一方の測定点に対する不良測定点を検出
    する配線試験装置において、 配線によって接続されている一連の測定点を検出する検
    出回路(8)と、 第一の選択回路(2)によって選択された測定点または
    検出回路(8)によって検出された測定点を選択する第
    三の選択回路(9)と、 第二の選択回路(3)によって選択された測定点または
    検出回路(8)によって検出されなかった測定点を選択
    する第四の選択回路(10)とを設けたことを特徴とす
    る配線試験装置。
JP60174778A 1985-08-08 1985-08-08 配線試験装置 Pending JPS6249264A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6191367B1 (en) 1995-03-03 2001-02-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Wiring construction body with conductive lines in a resin binder
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