JPS62299774A - 配線試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 〔概要〕 被試験対象内配線網に設けられた複数の測定点間の導通
及び絶縁検査を行う配線試験装置であって、指定された
絶縁検査対象の複数の測定点を選択する選択回路の動作
不良により、選択漏れとなるのを解決するために、一括
して短絡する複数の測定点の最若番と最若番とを予め記
憶させて置き、その間の測定点を順次リアルタイムにチ
ェックするように構成することにより、絶縁検査での信
頼性をより向上することが可能となる。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、被試験対象内配線網に設けられた複数の測定
点間の導通及び絶縁検査を行う配線試験装置に関する。

通常、複数の配線間の絶縁検査を行う場合、１つの配線
、即ち１つの測定点と他の測定点間に所定電圧（例えば
、１００Ｖ）を印加して接続検査を行い、その接続がな
いことを持って絶縁検査良と判定している。

従って、所定測定点の絶縁検査を行っている時は、その
測定点が選択され、接続されていることを前提としてい
る。

しかし、万一所定測定点が選択されて無かった場合でも
絶縁検査は良と判定されてしまうことになる。

かかる絶縁検査のための選択が行われているか否かを確
実にチェ７りする方法は、正確な絶縁検査を行う上で重
要な事項となる。

〔従来の技術〕

第３図は従来例を説明するブロック図を示す。

第３図は、例えば印刷配線板等の試験対象ユニット８の
内部配線網の導通試験及び絶縁検査を行う配線試験装置
１０の構成を示し、その構成は、装置内の各種動作を制
御する制御部ｌと、内部配線網の導通試験及び絶縁検査
を行うための測定点を選択する測定点選択回路９を有す
る選択部２．３と、 内部配線網の導通試験及び絶縁検査を行う測定器４と、 配線網を有する印刷配線板等の入出力端子との接続を行
う接続回路５．６と、 制御部１にて内部配線網の導通試験及び絶縁検査を行う
ための処理手順や処理データ等をプログラム化して格納
しているファイルをセットするファイル部７等を具備し
て構成されている。

例えば、回路部品を接続する電気配線を回路設計に基づ
いて、配線図形に表現した印刷配線板である試験対象ユ
ニット８の入出力端子に対して、配線試験装置１０を接
続回路５．６で接続する。

この状態で、ファイル部７に予めセットしているファイ
ルに格納する試験対象ユニット８の検査プログラムに基
づき、制御部１は選択ばｉＹ＆２．　３に対して所定端
子を選択させ、それに対応する信号を接続回路５．６を
介して入力し、その状態を測定器４にて検査し、その結
果を制御部１は測定器４より受信する。

ぞれ接続回路５．６を介して接続し、測定器４によりそ
の両側定点間に所定電圧を印加して、その時の絶縁抵抗
値にて絶縁の良否を制御部１で判定（例えば、ＩＯＭΩ
以上を良とする）する。

尚、測定点への接続は測定の効率を挙げるために、例え
ば弾力性ある検査棒を測定点に接触させることにより行
っているものとする。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記方法で絶縁検査を行う場合、検査対象となる一方の
測定点と他方の測定点との間の導通がないことを持って
絶縁検査良と判定している。

３の誤動作等の原因で、実際に選択されて無い場合、選
択漏れとなった測定点に例え絶縁不良があったとしても
、絶縁検査良と判定してしまうと言う問題点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の詳細な説明するブロック図を示す。

第１図に示す原理ブロック図は、配線試験装置にて、内
部配線網の導通試験及び絶縁検査を行うための測定点を
選択する選択部２０．３０の構成を示し、その構成は、 第３図で説明した測定点選択回路９と、試験対象となる
測定範囲内各側定点に対応した選択状況を記憶する複数
の測定範囲記憶回路から構成される測定範囲記憶手段（
測定範囲記憶部）４１と、絶縁検査を行うために測定点
選択回路９で選択指定された複数の測定点が、選択され
ているか否かを、測定範囲記憶手段（測定範囲記憶部）
４１内の対応する測定範囲記憶回路に記憶しているデー
タに基づき判断する複数の判断手段（判断部’）　４２
（０）〜４２（ｎ）とを具備するチェック回路４０とか
ら構成されている。

〔作用〕

絶縁検査対象の複数の測定点を選択する測定点選択回路
９の動作不良による測定点の選択漏れを解決するために
、まず一方の測定点と、他の全ての測定点を一括短絡と
したもう一方の測定点を選択する。

この時、一括して短絡する複数の測定点の最若番と最若
番とを各測定点に対応する記憶回路を有する。測定範囲
記憶手段（測定範囲記憶部）４１で記憶して置き、その
記憶内容と接続回路５　（又は接続回路６）へ出力され
る選択信号とを基にして、各測定点に対応する複数の判
断手段（判断部）４２（０）〜４２　（ｎ）で、その間
の測定点を順次リアルタイムにチェックするように構成
することにより、絶縁検査での信頬性の向上を簡易な方
法で図ることが可能となる。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第２図に示す実施例により具体的に
説明する。

第２図は本発明の詳細な説明するブロック図を示す。尚
、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。

本実施例の測定範囲記憶部４１は、その測定範囲内の複
数の測定点に対応して設けられた測定範囲記憶回路４１
（０）〜４１（ｎ）からなり、この各測定範囲記（ｔＪ
回路４１（０）〜４１（ｎ）　は２つのフリップフロッ
プＦＦＩ、２から構成されている。

又、同じく本実施例の判断部４２（０）〜４２　（ｎ）
は、２つのＯＲＩ、２と２つのＡＮＤＩ、２とから構成
されている。

尚、第２図に示すブロック図は、測定点をｊ測定点から
ｎ測定点までとし、その時の測定範囲記憶回路４Ｈｉ）
　〜４１（ｎ）と、判断部４２（ｉ）　〜４２（ｎ）及
び測定点選択回路９とから構成される選択部２゜（３０
）の構成状況を示す。

上記構成の選択部２０　（３０）内側定範囲記憶回路４
１（＋）〜４Ｈｎ）に、制御部１から測定範囲が通知さ
れる。

即ち、測定範囲の最若番を記憶させるために、信号Ｄｉ
を“ハイ（Ｈ）　　”にし、最若番セットパルスＦＩＩ
ＮＳを送り、測定範囲記憶回路４Ｈ３）内ＦＦＩにセッ
トする。

次に、測定範囲の最若番を記憶させるために、信号Ｄｎ
を“Ｈ”にし、最若番セットパルスＭＡＸＳを送り、測
定範囲記憶回路４１　（ｎ）内ＦＦ２にセットする。尚
、信号ＣＬＲはセント状態のクリア信号である。

これにより、測定範囲記憶回路４１（ｔ）内ＰＦＩの出
力端子Ｑと憶回路４１（ｎ）内ＦＦ２の出力端子Ｑとが
“Ｈ”となる。ＦＦＩの出力端子Ｑが“■（”となった
ことにより、判断部４２（ｉ）内０Ｉ２１の出力が“Ｈ
”となり、それをＡＮＤＩの１つの入力端子に送出する
。

この時、測定点ｉが正確に選択されていれば、接続回路
６からの信号が測定点選択回路９を介して選択信号５Ｅ
Ｌｉが“Ｈ”となってＡＮＤＩのもう１つの入力端子に
送出され、ＡＮＤＩで論理積条件が取られ、出力信号０
ＵＴ１ｉが“Ｈ”となって、次の測定点（ｉ＋１）（即
ち、判断部４２（ｉ　＋　１）に対応する）のＯＲＩへ
送出される。

上記の論理演算が判断部４２（ｉ）から判断部４２（ｎ
）まで行われる。即ち、判断部４２（ｎ−１）の出力信
号０ＵＴＩ　（ｎ　−１）が“■■”となり、それが判
断部４２（ｎ）内ＡＮ旧に送出される。

判断部４２（ｎ）内ＡＮ旧は、測定点ｎが正確にＪｊ３
訳されていることを表示する選択信号５ＥＬｎが“Ｈ”
となって人力し、この論理積条件で出力信号０ＵＴＩｎ
が制御部１に送出される。

同時に、測定範囲記憶回路４１ｎ内ＦＦＩの出力端子Ｑ
が“■１”となっていることから、ＡＮＤ２の論理積条
件が取られ、ＯＲ２を介して最若番まで選択されている
ことを表示する信号０ＵＴ２ｒｌが制御部ｌに送出され
る。

このように、制御部」が選択部２０　（３０）から測定
筒・囲の最若番測定点ｎに対応する判断部４２（ｎ）の
出力信号０ＵＴｉｎ及び出力信号０［ＩＴ２ｎを確認す
ることにより、測定範囲内全測定点が確実に選択されて
いると判断し、次の絶縁検査に移る。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、配線試験装置における絶
縁検査が、より確実に信頼性を持って実施出来ると言う
効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の詳細な説明するブロック図、第２図は
本発明の詳細な説明するブロック図、第３図は従来例を
説明するブロック図、をそれぞれ示す。 図において、 １は制御部、 ２．３，２０．３０は選択部、　　４は測定器、５．６
は接続回路、　　　　７はファイル部、８は試験対象ユ
ニー／　）、　９は測定点選択回路、４０はチェック回
路、　　　４１は測定範囲記憶部、４１（ｉ）　〜４Ｈ
ｎ）は測定範囲記憶回路、４２（０）〜４２（ｎ）は判
断部、 をそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 複数の入出力端子を有し、当該端子間を形成している配
   線網に設けられた複数の測定点から、試験対象の１つの
   測定点と、他の複数の測定点との間の絶縁検査を行う時
   、測定点選択回路（９）で選択した前記他の複数の測定
   点を一括して短絡させて絶縁検査を行う配線試験装置で
   あって、 試験対象となる測定範囲を記憶する測定範囲記憶手段（
   ４１）と、 絶縁検査を行うために前記測定点選択回路（９）にて選
   択された複数の測定点のすべてが正常に選択されている
   か否かを前記測定範囲記憶手段（４１）に記憶されてい
   るデータに基づき判断する複数の判断手段（４２（０）
   〜４２（ｎ））とを具備して構成されるチェック回路（
   ４０）を設け、 選択された試験対象測定点間の絶縁検査を行う前に、前
   記測定点選択回路（９）にて選択された該試験対象測定
   点を前記測定範囲記憶手段（４１）と、選択された各測
   定点に対応する前記判断手段（４２（ｉ））とで逐次チ
   ェックすることを特徴とする配線試験装置。