JPS6247751A - デ−タ処理装置の動作余裕度試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はデータ処理装置の試験方式に関し、特に自動的
な動作余裕度の試験方式に関する。

（従来の技術） 従来、この種の動作余裕度試験方式としては、イニシャ
ルプログラムロード後に試験プログラム制御部が動作物
理量を変更しながら試験プログラムを繰返して実行する
ことによって動作余裕度の試験を行っていた。

（発明が解決しようとする問題点）。

上述した従来の試験方式は、イニシャルプログラムロー
ドによってロードされた試験プログラム制御部および試
験プログラムの範囲内での動作余裕度試験であるため、
システム電源投入、またはリセットスイッチの押下げに
よる初期設定からイニシャルプログラムロードまでの機
能の自動的な動作余裕度試験が行われないという欠点が
あった。

本発明の目的は、被試験データ処理装置の現在の動作物
理量を調べて動作余裕度試験の継続または終了を判定す
るとともに、継続と判定てれたときには動作物理量を変
更し、動作物理量制御ステップにより動作物理量が変更
された後にリセットスイッチの押下げと同等なシステム
初期設定機能を起動することにより上記欠点を除去し、
初期設定からイニシャルプログラムロードまでの機能の
自動的な動作余裕度試験を行うことができるように構成
したデータ処理装置の動作余裕度試験方式を提供するこ
とにある。

（問題点を解決するための手段） データ処理装置の動作余裕度試験方式は、システム電源
の投入、またはリセットスイッチの押下げによって常駐
プログラムの診断を実行した後、外部記憶装置からＯＳ
をロードすることができるものでβす、第１〜第３の格
納領域を具備して構成したものである。

第１の格納領域は、データ処理装置の現在の動作物理量
を調べて動作余裕度試験の継続、または終了を判定する
判定ステップを格納するためのものである。

第２の格納領域ｔｒｉ、判定ステップにより継続と判定
されたときには、動作物理量を変更せしめる動作物理量
制御ステップを格納するためのものである。

第３の格納領域は、動作物理量制御ステップによシ動作
物理量が変更された後、システム初期設定を起動するシ
ステム初期設定制御ステップを格納するためのものであ
る。

（実施例） 次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は、本発明によるデータ処理装置の動作余裕度試
験方式を実現する一実施例を示すブロック図である。第
１図において、１はシステム初期設定制御部、２はＣＰ
Ｕ、３は主記憶部、４は磁気ディスク制御部、５は磁気
ディスク装置、６は動作物理量制御部、１は電源部、８
はＣＲＴディスプレイである。

主記憶部３において、３１はＲＯＭ部、３２はＲＡＭ部
であシ、ＲＯＭ部３１において３１１は初期診断プログ
ラム領域、３１２はＩＰＬプログラム領域である。磁気
ディスク装置６において、５１は機能試験プログラム領
域であシ、５１１は機能試験プログラム実行ステップ領
域、５１２は判定ステップ領域、５１３は動作物理量制
御ステップ領域、５１４はシステム初期設定制御ステッ
プ領域である。動作物理量制御部６において、６１は動
作物理量制御ステータスレジスタである。

第１図において、本発明を実現する一実施例は初期設定
部１と、ＣＰＵ２と、主記憶部３と、磁気ディスク制御
部４と、磁気ディスク装置５と、動作物理量ｆ７１１８
部６と、電源部７と、ＣＲＴディスプレイ８とから構成
されている。磁気ディスク装置５は機能試験プログラム
実行ステップと、判定ステップと、動作物理量制御ステ
ップと、システム初期設定制御ステップとから成る機能
試験プログラムを格納している。主記憶部３ば、初期診
断プログラムとＩＰＬプログラムとを含むＲＯＭ部３１
と、ＲＡ　Ｍ部３２とから成シ、動作物理量制御部６に
は、動作物理量制御ステータスが含まれている。

第２図は、判定スゲツブ惟域５１２に格納された判定ス
テップの処理を示すフローチャートである。第２図の処
理においては、動作物理量制御ステータスの読出しを行
った後に実行の終了を判定し、終了であれば終了メツセ
ージを出力して試験プログラムの実行を打切シ、継続で
あれば試験プログラムを実行して正常に終了する。

第３図は、動作物理量制御ステップ領域６１３に格納さ
れた動作物理量制御ステップの処理を示すフローチャー
トである。第３図の処理においては、動作物理量制御部
６が起動される。

第４図は、システム初期設定制御ステップ領域５１４に
格納されたシステム初期設定制御ステップの処理を示す
フローチャートである。第４図の処理においては、シス
テム初期設定制御部１が起動される。

次に、本発明の動作について第１図〜第４図を参照して
説明する。

システムの電源が投入されるとシステム初期設定制御部
１が起動され、システム初期設定制御部１ではＣＰＵ２
および主記憶部５の他、磁気デイスフ制御部４やＣＲＴ
ディスプレイ８のような周辺制御部に対しても初期設定
信号を発行する。初期設定信号を受取った各部は、それ
ぞれ初期状態に設定され、ＣＰＵ２は主記憶部３におい
て８０Ｍ部３１の初期診断プログラム領域３１１に格納
された初期診断プログラムの実行を起動する。ＲＯＭ領
域３１１上の初期診断プログラムはＲＡＭ部３２の他に
、ＩＰＬ動作に必要なノ・−ドコア部分の診断を実行し
た後、８０Ｍ部３１のＩＰＬプログラム領域３１２に格
納されたＩＰＬプログラムへ制御を渡す。

ＩＰＬプログラムは、磁気ディスク装置５の機能試験プ
ログラム領域５１に格納された機能試験プログラムをＲ
ＡＭ部３２にロードして機能試験プログラム実行ステッ
プ頭載５１１上の機能試験プログラム実行ステップへ制
御を渡す。

領域５１１上の機能試験プログラム実行ステップは、Ｃ
ＰＵ　２、ＲＡＭ部３２、磁気ディスク制御部４、磁気
ディスク装置５、ならびにＣＲＴディスプレイ８の正常
性を試験した後、判定ステンプ領域５１２上の判定ステ
ップへ制御を渡す。

判定ステップは、動作物理量制御ステータスの読出しに
よって動作物理量制御部６から動作物理量制御ステータ
スを読出し、実行終了判定によって、あらかじめ定めら
れたすべての動作物理量において初期診断プログラム、
ＩＰＬプログラム、ならびに機能試験プログラム実行ス
テップの一連の実行が終了したか否かを動作物理量制御
ステータスレジスタ６１に読出された動作物理量制御ス
テータスから判定して、未だに終了していなければ動作
物理量制御ステップに制御を渡し、終了していれば終了
メツセージの出力によってＣＲＴディスプレイ８上に終
了メツセージを出力して機能試験プログラムの実行を終
了する。

領域５１３上の動作物理量制御ステップでは、動作物理
量制御部６を起動した後、一定時間をおいてシステム初
期設定制御ステップ領域５１４上のシステム初期設定制
御ステップに制御を渡す。

動作物理量制御部６は、あらかじめ定められた動作物理
量の順に従って電源部１の電圧を変更する。

システム初期設定ＩＩＪ御ステップは、システム初期設
定制御部１を起動させる。

システム初期設定制御部１は、新しく設定された電圧条
件のもとて上記と同様にＣＰＵ２や主記憶部３の他、磁
気ディスク制御部４やＣＲＴディスプレイ８のような周
辺制御部へ初期設定信号を発行して、動作物理量制御ス
テータスレジスタ６１の内容が終了条件を示すまで、初
期診断プログラム領域３１１上の初期診断プログラム、
ＩＰＬプログラム領域４１２上のＩＰＬプログラム、お
よび機能試験プログラム領域６１上の機能試験プログラ
ムを繰返して実行する。

（発明の効果） 以上説明したように本発明は、動作物理量制御ステータ
スを判定して、あらかじめ設定されたすべての動作物理
量条件で試験が終了するまでシステム初期設定制御部を
起動することにより最初のシステム電源投入以外には人
手によらず、初期診断プログラムの実行から機能試験プ
ログラムの実行までの動作余裕度を自動的、かつ、短時
間で試験することができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるデータ処理装置の動作余裕度試
験方式の一実施例を示すブロック図である。 第２図は、第１図に示す判定ステップの実行を示す２０
−チャートである。 第３図は、第１図に示す動作物理量制御ステップの実行
を示すフローチャートである。 第４図は、第１図に示すシステム初期設定制御ステップ
の実行を示すフローチャートである。 １１１・・システム初期設定制御部 ２−−−ＣＰＵ ３・・・主記憶部 ３１・−−ＲＯＭ部 ５１１．３１２．５１−−参プログラム領域３２　・　
拳　・　ＲＡＭ　部 ４−・・磁気ディスク制御部 ５・・−磁気ディスク装置 ５１１〜６１４・・・プログラムステップ領域６・・・
動作物理量制御部 ６１・・・ステータスレジスタ ７・・・電源部 ８・・・ＣＲＴディスプレイ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. システム電源の投入、またはリセットスイッチの押下げ
   によつて常駐プログラムの診断を実行した後、外部記憶
   装置からＯＳをロードすることができるデータ処理装置
   の動作余裕度試験方式であつて、前記データ処理装置の
   現在の動作物理量を調べて動作余裕度試験の継続、また
   は終了を判定する判定ステップを格納するための第１の
   格納領域と、前記判定ステップにより継続と判定された
   ときには動作物理量を変更せしめる動作物理量制御ステ
   ップを格納するための第２の格納領域と、前記動作物理
   量制御ステップにより動作物理量が変更された後、シス
   テム初期設定を起動するシステム初期設定制御ステップ
   を格納するための第３の格納領域とを具備して構成した
   ことを特徴とするデータ処理装置の動作余裕度試験方式
   。