JPS6247551A - 半導体基板の薄膜分解方法及び装置 - Google Patents

半導体基板の薄膜分解方法及び装置

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Publication number
JPS6247551A
JPS6247551A JP18750185A JP18750185A JPS6247551A JP S6247551 A JPS6247551 A JP S6247551A JP 18750185 A JP18750185 A JP 18750185A JP 18750185 A JP18750185 A JP 18750185A JP S6247551 A JPS6247551 A JP S6247551A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
liquid
semiconductor substrate
hydrofluoric acid
decomposition
Prior art date
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Pending
Application number
JP18750185A
Other languages
English (en)
Inventor
Ayako Shimazaki
嶋崎 綾子
Masanobu Ogino
荻野 正信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS6247551A publication Critical patent/JPS6247551A/ja
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  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野1 この発明は半導体基板の上に形成された酸化膜等の薄膜
を分解するための薄膜分解方法と該方法を実施するため
の装置に関するものである。
[発明の技術的背景] 半導体基板上に形成された酸化膜等の薄膜中にNa 、
に、Fe等の不純物が含まれていると、たとえその吊が
極く微量であっても半導体素子の電気的特性に大きな影
響を与えることはよく知られている。 それ故、素子の
電気的特性を向上させるには、これらの不純物の含有量
を正確に把握するとともに該薄膜形成時には該不純物の
混入をできるかぎり抑制することが必要である。
従来、半導体基板上の薄膜を分解してその中の不純物含
有量を測定するために第2図に示す構造の薄膜分解装置
が用いられていた。
第2図において、1はMlaを有する密閉容器であり、
該密閉容器1内には、弗化水素酸液りを入れたビーカー
2と、半導体基板Wを立てた状態で収容したウェハキャ
リア3と、該ウェハキャリア3を支持する支持台4と、
該支持台4に支持ざれるとともに該ウェハキャリア3の
直下位置に配回される分解液受皿5とが収容されている
。 この装置によって半導体基板上の薄膜fを分解する
ためには、図示の状態で常温に放置する。 放置によっ
て、ご−力−2内の弗化水素酸液りから発生した弗化水
素酸の蒸気が該薄膜「を徐々に分解し、その分解液lが
液滴となって分解液受皿5に溜まるので、所定時間後に
蓋を開いてウェハキャリア3を取り出すとともに分解液
受皿5中の分解液をマイクロピペットで回収した後、該
分解液をフレームレス原子吸光装置で分析して該薄膜中
の不純物量を測定していた。
[背景技術の問題点コ 前記公知の薄膜分解方法及び装置においては、弗化水素
酸液を常温で蒸発させていたので密閉容器内に弗化水素
酸の蒸気が飽和するまでに大変に長い時間を要する上、
密度の低い蒸気を薄膜に作用させるので薄膜分解にも大
変に長い時間を要して極めて非能率的であった。
[発明の目的] この発明の目的は、前記従来方法及び装置よりもはるか
に能率的に7a膜分解を行うことのできる新規な薄膜分
解方法及び装置を提供することである。
[発明の概要コ この発明による方法は、密閉容器内で弗化水素酸を加熱
して蒸気を発生させるとともに該蒸気を該容器の上方部
分で冷却且つ凝縮させて液滴となす一方、該容器内で半
導体基板を回転させつつ該半導体基板の薄膜上に該液滴
を滴下させることにより該薄膜を分解させることを特徴
とするものである。 この発明の方法によれば、従来方
法にくらべて著しく、短い時間で薄膜分解作業を行うこ
とができる。
本発明の薄膜分解装置は本発明方法を実施するためのも
のであり、密閉容器、該密閉容器中に設けられた弗化水
素酸の液槽、該液槽を加熱する加熱装置、該容器内の上
部に設けられた冷却部材、該冷却部材の下方に設けられ
た半導体基板の回転装置等の部分から構成されている。
[発明の実施例コ 以下に第1図を参照して本発明の一実施例について説明
する。
第1図において、1は蓋1aを有する密閉容器であり、
この密閉容器1の内部にはその内周壁に沿環状の壁6に
よって環状の液槽7が形成され、該液槽7内には超高純
度の弗化水素酸液りが溜められている。 密閉容器1の
中央には半導体基板Wを支持し且つ回転させるための回
転支持台8が設けられ、該回転支持台8はそれに固着さ
れた回転軸9を介して密閉容器1外の原動機10によっ
て鉛直軸線を中心に回転きれるようになっている。
回転支持台8の中央には半導体基板Wを載置するための
載置部8aが設けられ、該載置部8aの周囲に取り付け
られた環状の弾性押え片8bによって半導体基板Wを該
載置部8a上に押え付けるように構成されている。 ま
た、載置部8aの周囲には半導体基板Wの薄膜fが分解
された分解液1を溜める環状の溝8Cが形成されている
。 該溝80の外周壁は載置部8aよりも高くなってお
り、半導体基板Wの薄膜f上に滴下した作用液が回転支
持台8から外部へ飛び散らぬように構成されている。
密閉容器1の外部底面には液槽7に沿って環状の加熱器
11が取り付けられており、液槽7内の弗化水素酸液し
はこの加熱器11により加熱されるようになっている。
密閉容器1の蓋1aの中心には孔が貫設され、この孔に
は円錐体12aを有する冷却部材12が嵌着されている
。 この冷却部材12は密閉容器中の弗化水素酸蒸気を
冷却凝縮させて液滴dとするためのものであり、円錐体
12aの上方には、液体窒素等の低温冷媒Cを貯溜して
おく冷媒室12bが該円錐体12aと一体に形成されて
いる。
円錐体12aはその頂点が回転支持台8の中心軸上に位
置するように密閉容器1の中に突出しており、該円錐体
12aの表面において凝縮した液滴dが回転支持台8上
の半導体基板Wの中心に落下するようになっている。 
なお、前記構成において、弗化水素酸の液や蒸気と接触
する部材は弗素樹脂で構成されるかもしくは弗素樹脂コ
ーティングされており、また、冷却部材12は熱伝導性
のよい素材で構成されている。 前記の如きI造の本発
明による薄膜分解装置を使用して半導体基板Wの薄膜f
を分解する時には、半導体基板Wを図の如くその薄膜f
を上にして回転支持台8に取り付けた後、液槽7内に超
高純度の弗化水素酸液りを注入して蓋1aを閉じ、更に
冷媒室12bに液体窒素等の冷媒Cを充填した後、加熱
器11で液槽7内の弗化水素酸液りを加熱して蒸発させ
る。
そして原動機10によって回転支持台8を所定の回転速
度で回転させつつ、弗化水素酸液りの蒸発を続けると、
密閉容器1内に蒸発した弗化水素酸の蒸気は冷却部材1
2の円錐体12aの表面において急冷されて凝縮し、液
滴dとなって回転支持台8上の薄111fの中心に落下
する。 この時、回転支持台8は回転されているため、
薄膜f上に落下しだ液滴dは半導体基板Wの中心から放
射状に且つ各方向に均等に輪を描いて広がり、その結果
、薄膜[の全面に均等に液が接触して薄膜fは溶解され
る。 そして、薄膜fの溶解成分を含んだ分解液では遠
心力によって載置部8aの外側の溝80内に流入し、そ
こに溜められる。
このようにして薄膜rがすべて除去された後、回転支持
台8を停止するとともに加熱器11の作動も停止させ、
蓋1aを開いて回転支持台8の溝8C内に溜められてい
る分解液lを回収してフレームレス原子吸光装置等で分
析する。
[発明の効果コ 前記の如き構造の本発明の薄膜分解装置を使用して半導
体基板上の薄膜を分解したところ、第2図の如き従来装
置で薄膜分解を行った場合にくらべ、薄膜厚が400X
の場合、分解必要時間は1/10になった。
従って、本発明方法及び装置によれば、従来方法及び装
置にくらべて著しく高能率で薄膜分解を行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の薄膜分解装置の一実施例を示す概略図
、第2図は従来の薄膜分解装置の概略図である。 1・・・密閉容器、 1a・・・蓋、 2・・・ビーカ
ー、3・・・ウェハキャリア、 4・・・支持台、 5
・・・分解液受皿、 6・・・壁、 7・・・液槽、 
8・・・回転支持台、 8a・・・載置部、 8C・・
・溝、 9・・・回転軸、10・・・原動機、 11・
・・加熱器、 12・・・冷W部材、 12a・・・円
錐体、 12b・・・冷媒室、 L・・・弗化水素酸液
、 l・・・分解液、 C・・・冷媒、W・・・半導体
基板、 「・・・薄膜。 第1 図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 密封容器内で弗化水素酸液を加熱して蒸気を発生さ
    せ、その蒸気を強制冷却して凝縮させることにより液滴
    を生じさせる一方、該密閉容器内で回転させている半導
    体基板の薄膜上に該液滴を滴下させることにより該液滴
    によつて該薄膜を分解させることを特徴とする半導体基
    板の薄膜分解方法。 2 密閉容器と、該密閉容器内に設けられた弗化水素酸
    の液槽と、該弗化水素酸を加熱して蒸発させるための加
    熱装置と、該密閉容器内の上部に設けられた蒸気冷却部
    材と、該蒸気冷却部材の下方に配置されるとともに半導
    体基板を回転させる装置とから成る半導体基板の薄膜分
    解装置。
JP18750185A 1985-08-28 1985-08-28 半導体基板の薄膜分解方法及び装置 Pending JPS6247551A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02106274U (ja) * 1989-02-14 1990-08-23
JPH02272359A (ja) * 1989-04-14 1990-11-07 Toshiba Ceramics Co Ltd ウェハ表面の不純物量の測定方法
US5501446A (en) * 1991-11-08 1996-03-26 Kabushiki Kaisha Ace Denken Paper strip transporting apparatus
JP2006338267A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Shinko Seisakusho Co Ltd 紙幣搬送装置

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