JPS6247504A - 形状検査装置 - Google Patents
形状検査装置Info
- Publication number
- JPS6247504A JPS6247504A JP60186555A JP18655585A JPS6247504A JP S6247504 A JPS6247504 A JP S6247504A JP 60186555 A JP60186555 A JP 60186555A JP 18655585 A JP18655585 A JP 18655585A JP S6247504 A JPS6247504 A JP S6247504A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明は、プレス成形部品などの形状の検査を不良品
を見つけるのに利用される形状検査装置に関し、特に、
検査対象パターンおよび標準パターンを電気的な画像処
理によって比較する装置に関する。
を見つけるのに利用される形状検査装置に関し、特に、
検査対象パターンおよび標準パターンを電気的な画像処
理によって比較する装置に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
従来から次のような形状検査装置が実用化されている。
例えばプレス機械から順次送り出されてくる部品を搬像
装置（ＣＯＤなどを用いたテレビカメラ）で撮像し、白
黒２値化した部品形状の画像データ（これを検査対象パ
ターンと称する）を１ｎでメモリに一時記憶する。また
同じデータ形式で、部品の正しい形状の画像データ（こ
れを標準パターンと称す）を予め作成してメモリに記憶
しておく。
装置（ＣＯＤなどを用いたテレビカメラ）で撮像し、白
黒２値化した部品形状の画像データ（これを検査対象パ
ターンと称する）を１ｎでメモリに一時記憶する。また
同じデータ形式で、部品の正しい形状の画像データ（こ
れを標準パターンと称す）を予め作成してメモリに記憶
しておく。
そしてマイクロコンピュータなどを用いた画像処理装置
により、検査対象パターンと標準パターンとの基準位置
を合致させて両パターンを比較し、両パターンのマツチ
ング度を検査する。
により、検査対象パターンと標準パターンとの基準位置
を合致させて両パターンを比較し、両パターンのマツチ
ング度を検査する。
従来のパターンマツチングは次のように行われている。
検査対象パターンおよび標準パターンは、線幅が１ドツ
トの輪郭線で表現された画像データとする（但し線画に
限定されるわけではない）。
トの輪郭線で表現された画像データとする（但し線画に
限定されるわけではない）。
まず検査対象パターンと標準パターンとの基準位置を合
致させる。次に、標準パターンの黒ドツト（輪郭線上の
点）に対応する位置の検査対象パタ−ンのドツトが白か
黒か（ＩＩ １１１か″“ＯＩＴか）を調べる。検査対
象パターンのそのドツトが黒ドツト“７′°であれば標
準パターンと一致しており、白トッド′０″であれば不
一致である。標準パターンの黒ドツトの全てについて上
記の検査を行い、一致したドツトの合３１数を求める。
致させる。次に、標準パターンの黒ドツト（輪郭線上の
点）に対応する位置の検査対象パタ−ンのドツトが白か
黒か（ＩＩ １１１か″“ＯＩＴか）を調べる。検査対
象パターンのそのドツトが黒ドツト“７′°であれば標
準パターンと一致しており、白トッド′０″であれば不
一致である。標準パターンの黒ドツトの全てについて上
記の検査を行い、一致したドツトの合３１数を求める。
そして一致したドツト数が予め定めた基準値より多けれ
ば検査対象パターンを正常と判定し、一致ドット数が基
準値より少なければ不良と判定する。
ば検査対象パターンを正常と判定し、一致ドット数が基
準値より少なければ不良と判定する。
ところが上述した従来の形状検査装置では、次のような
形状不良を検出するのが難しいという問題があった。
形状不良を検出するのが難しいという問題があった。
検査対象パターンのほとんど全体が標準パターンによく
一致しているが、一部で不一致があり、しかもその不一
致部分が大きな凸部や四部であるとする。一般的にはプ
レス成形部品などに大きな凸部や凹部が生じた場合、そ
れは不良品として扱われる。しかし従来の形状検査装置
では、凹部や凸部の形状不良が大きくても、それが輪郭
線上の極く一部にしか生じていなければ、前−述の一致
ドット数はそれほど減少せず、従って正常と判断されや
すい。
一致しているが、一部で不一致があり、しかもその不一
致部分が大きな凸部や四部であるとする。一般的にはプ
レス成形部品などに大きな凸部や凹部が生じた場合、そ
れは不良品として扱われる。しかし従来の形状検査装置
では、凹部や凸部の形状不良が大きくても、それが輪郭
線上の極く一部にしか生じていなければ、前−述の一致
ドット数はそれほど減少せず、従って正常と判断されや
すい。
［発明の目的Ｊ
この発明は上述した従来の問題点に鑑みなされたもので
、その目的は、正常な形状の輪郭中の掻く微細な部分に
しか形状不良が含まれていなくても、その不良による凹
凸がある程度大きければ確実にそれを検出できるように
した形状検査装置を提供することにある。
、その目的は、正常な形状の輪郭中の掻く微細な部分に
しか形状不良が含まれていなくても、その不良による凹
凸がある程度大きければ確実にそれを検出できるように
した形状検査装置を提供することにある。
［発明の概要］
こ□の発明に係る形状検査装置は、検査対象パターンを
記憶する手段と、パターンの輪郭について許容幅を定め
た標準パターンを記憶する手段と、上記検査対象パター
ンと上記標準パターンとの基準位置を合致させて両パタ
ーンを比較し、検査対象パターンが上記許容幅内に収ま
るか否かを判定する比較手段とを備えたものである（第
１図参照）［発明の実施例］ 第２図において、検査対象物品が撮像装置ゴで搬像され
、前処理によって白黒２値化された線幅が１ドツトの輪
郭線からなる画像データ、すなわち検査対象パターンが
得られる。第４図（Ａ）に検査対象パターンの一例を示
している。プロセッサ４の制御のもとで、Ｒ像装置１で
得られた検査対象パターンがデータ取込部２を介して画
像メモリ３に格納される。ワークメモリ５には標準パタ
ーンの画像データが予め格納されている。第４図（Ｂ）
に標準パターンの一例を示している。標準パターンは白
黒２値化された輪郭線からなるが、その線幅は１ドツ１
〜ではなく、予め許容幅として定めた数ドツトの線幅の
輪郭線で構成されている（部分毎に線幅を異ならせても
良い。）。プロセッサ４は、検査対象パターンと標準パ
ターンとの基準位置を合致させて両パターンを比較し、
検査対象パターンが上記許容幅内に収まるか否かを判定
し、その判定結果を出力部６で表示する。 第４図に示
した検査対象パターンと標準パターンは基準位置を合致
さけた状態である。検査対象パターンおよび標準パター
ンの各ドツトを（ｘ 、 ｙ ）のアドレスで特定する
。検査対象パターンにおけるアドレス（ｘ 、 ｙ ）
の１ドツト（１ビツト）のデータをＺ （ｘ 、 ｙ
）と表わす。黒ドツトであればＺは′１″であり、白ド
ツトであればＺは“０゛である。同様に、標準パターン
におけるアドレス（ｘ 、 ｙ ）のデータをＨ（Ｘ
、 ｖ ）とすると、輪郭線中のドツトのＨは１″であ
り、池の部分のＨは０゛′である。
記憶する手段と、パターンの輪郭について許容幅を定め
た標準パターンを記憶する手段と、上記検査対象パター
ンと上記標準パターンとの基準位置を合致させて両パタ
ーンを比較し、検査対象パターンが上記許容幅内に収ま
るか否かを判定する比較手段とを備えたものである（第
１図参照）［発明の実施例］ 第２図において、検査対象物品が撮像装置ゴで搬像され
、前処理によって白黒２値化された線幅が１ドツトの輪
郭線からなる画像データ、すなわち検査対象パターンが
得られる。第４図（Ａ）に検査対象パターンの一例を示
している。プロセッサ４の制御のもとで、Ｒ像装置１で
得られた検査対象パターンがデータ取込部２を介して画
像メモリ３に格納される。ワークメモリ５には標準パタ
ーンの画像データが予め格納されている。第４図（Ｂ）
に標準パターンの一例を示している。標準パターンは白
黒２値化された輪郭線からなるが、その線幅は１ドツ１
〜ではなく、予め許容幅として定めた数ドツトの線幅の
輪郭線で構成されている（部分毎に線幅を異ならせても
良い。）。プロセッサ４は、検査対象パターンと標準パ
ターンとの基準位置を合致させて両パターンを比較し、
検査対象パターンが上記許容幅内に収まるか否かを判定
し、その判定結果を出力部６で表示する。 第４図に示
した検査対象パターンと標準パターンは基準位置を合致
さけた状態である。検査対象パターンおよび標準パター
ンの各ドツトを（ｘ 、 ｙ ）のアドレスで特定する
。検査対象パターンにおけるアドレス（ｘ 、 ｙ ）
の１ドツト（１ビツト）のデータをＺ （ｘ 、 ｙ
）と表わす。黒ドツトであればＺは′１″であり、白ド
ツトであればＺは“０゛である。同様に、標準パターン
におけるアドレス（ｘ 、 ｙ ）のデータをＨ（Ｘ
、 ｖ ）とすると、輪郭線中のドツトのＨは１″であ
り、池の部分のＨは０゛′である。
また検査パターンおよび標準パターンの画面サイズは、
それぞれＸ方向にＮ１ｙ方向にＭとする。
それぞれＸ方向にＮ１ｙ方向にＭとする。
第３図はプロセッサ４によるパターンマツチングの処理
手順の一例を示している。まず、ステップ３０１で前処
理として検査パターンと標準パターンの基準位置を合致
させる。続くステップ３０２と３０３で比較対象アドレ
ス（ｘ 、 Ｖ ）を（０゜０）に初期化する。
手順の一例を示している。まず、ステップ３０１で前処
理として検査パターンと標準パターンの基準位置を合致
させる。続くステップ３０２と３０３で比較対象アドレ
ス（ｘ 、 Ｖ ）を（０゜０）に初期化する。
次のステップ３０４で、アドレス（ｘ 、 Ｖ ） −
（０，０）の検査対象パターンのデータＺを読取り、Ｉ
Ｉ １ ＩＩか“０″かを判定する。Ｚ −ＩＩ Ｏ１
１であればステップ３０６に進み、アドレスＸをインク
リメン１〜し、ステップ３０７でアドレスＸが画面サイ
ズＮを越えていないことを確認し、再びステップ３０４
に進む。つまりステップ３０４では今度は、データＺ
（１，０）を読取り１′′か” ｏ ”をかを判定する
。
（０，０）の検査対象パターンのデータＺを読取り、Ｉ
Ｉ １ ＩＩか“０″かを判定する。Ｚ −ＩＩ Ｏ１
１であればステップ３０６に進み、アドレスＸをインク
リメン１〜し、ステップ３０７でアドレスＸが画面サイ
ズＮを越えていないことを確認し、再びステップ３０４
に進む。つまりステップ３０４では今度は、データＺ
（１，０）を読取り１′′か” ｏ ”をかを判定する
。
Ｚ ＝ ” １ ”であった場合、ステップ３０５を実
行し、同じアドレス（ｘ 、 ｙ ）の標準パターンの
データＨを読取り、１１１ Ｉ＋か０″かを判定する。
行し、同じアドレス（ｘ 、 ｙ ）の標準パターンの
データＨを読取り、１１１ Ｉ＋か０″かを判定する。
Ｈも１″であれば、検査パターンのアドレス（ｘ 、
ｙ ）の黒ドツトが標準パターンの輪郭線許容幅内に収
まっている。検査対象パターンのこの黒ドツトが標準パ
ターンの許容幅から外れていれば、データｌ−１（ｘ、
ｙ）はＯ″である。許容幅から外れていた場合はステッ
プ３１１に進み、出力６で「不良」を表示する。
ｙ ）の黒ドツトが標準パターンの輪郭線許容幅内に収
まっている。検査対象パターンのこの黒ドツトが標準パ
ターンの許容幅から外れていれば、データｌ−１（ｘ、
ｙ）はＯ″である。許容幅から外れていた場合はステッ
プ３１１に進み、出力６で「不良」を表示する。
データ１」も１″であれば、ステップ３０６に進む。こ
のようにしてＸ＝Ｎまでの検査を行う。
のようにしてＸ＝Ｎまでの検査を行う。
×方向にＮまで検査したならば、ステップ３０８に進み
、アドレスｙをインクリメントし、アドレスｙが画面サ
イズＭに達していないことをステップ３０９でｔＩｆ認
し、ステップ３０３に進む。
、アドレスｙをインクリメントし、アドレスｙが画面サ
イズＭに達していないことをステップ３０９でｔＩｆ認
し、ステップ３０３に進む。
検査対象パターンの輪郭線が全て標準パターンの許容幅
内に収まっていれば、（ｘ、ｙ）＝（Ｎ。
内に収まっていれば、（ｘ、ｙ）＝（Ｎ。
Ｍ）までの全両面について検査を終了した時点で、ステ
ップ３０９からステップ３１０に進み、出力部６′ｃ「
正常（ＯＫ）Ｊを表示する。そうではなくて、検査対象
パターンの輪郭線の１ドツトでも標準パターンの許容幅
から外れると、ステップ３１１で「不良（ＮＧ）ｌと表
示される。
ップ３０９からステップ３１０に進み、出力部６′ｃ「
正常（ＯＫ）Ｊを表示する。そうではなくて、検査対象
パターンの輪郭線の１ドツトでも標準パターンの許容幅
から外れると、ステップ３１１で「不良（ＮＧ）ｌと表
示される。
なお、検査対象パターンおよび標準パターンは実施例で
示したような線画に限定されるわけではなく、また許容
幅の情報を標準パターンにどのように含ませるかもさま
ざまに実施できる。
示したような線画に限定されるわけではなく、また許容
幅の情報を標準パターンにどのように含ませるかもさま
ざまに実施できる。
［発明の効果］
以北詳細に説明したように、この発明に係る形状検査装
置によれば、パターンの輪郭について許容幅を定めた標
準パターンに対し、検査対象パターンの一点でもその許
容幅から外れるとそれを形状不良と判定するように構成
したので、検査対象パターンの輪郭のほとんどが標準パ
ターンと正確に合致していても、極めて微細な個所で許
容幅を越える凹部や突起があれば、これを確実に不良と
して検出できる。
置によれば、パターンの輪郭について許容幅を定めた標
準パターンに対し、検査対象パターンの一点でもその許
容幅から外れるとそれを形状不良と判定するように構成
したので、検査対象パターンの輪郭のほとんどが標準パ
ターンと正確に合致していても、極めて微細な個所で許
容幅を越える凹部や突起があれば、これを確実に不良と
して検出できる。
第１図は特許請求の範囲に記載の構成要件を図解したブ
ロック図、第２図はこの発明の一実施例による形状検査
装置のブロック図、第３図は第２図の装置におけるプロ
セッサが実行するパターンマツチングの処理手順を示す
フローチャート、第４図は第２図の装置における検査対
象パターンと標準パターンを例示した図である。 １・・・搬像装置 ３・・・画像メモリ ４・・・プロセッサ ５・・・ワークメモリ 第１図 第２図 第３図 第４図
ロック図、第２図はこの発明の一実施例による形状検査
装置のブロック図、第３図は第２図の装置におけるプロ
セッサが実行するパターンマツチングの処理手順を示す
フローチャート、第４図は第２図の装置における検査対
象パターンと標準パターンを例示した図である。 １・・・搬像装置 ３・・・画像メモリ ４・・・プロセッサ ５・・・ワークメモリ 第１図 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- （１）検査対象パターンを記憶する手段と、パターンの
輪郭について許容幅を定めた標準パターンを記憶する手
段と、上記検査対象パターンと上記標準パターンとの基
準位置を合致さて両パターンを比較し、検査対象パター
ンが上記許容幅内に収まるか否かを判定する比較手段と
を備えた形状検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60186555A JPS6247504A (ja) | 1985-08-27 | 1985-08-27 | 形状検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60186555A JPS6247504A (ja) | 1985-08-27 | 1985-08-27 | 形状検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6247504A true JPS6247504A (ja) | 1987-03-02 |
Family
ID=16190567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60186555A Pending JPS6247504A (ja) | 1985-08-27 | 1985-08-27 | 形状検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6247504A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01180070A (ja) * | 1988-01-11 | 1989-07-18 | Fuji Electric Co Ltd | 欠陥検査方式 |
| US6940527B2 (en) | 2002-11-15 | 2005-09-06 | Nippon Avionics Co., Ltd. | Inspection status display method |
| WO2023106013A1 (ja) | 2021-12-07 | 2023-06-15 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| JP2023084637A (ja) * | 2021-12-07 | 2023-06-19 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| WO2023119915A1 (ja) | 2021-12-21 | 2023-06-29 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| WO2023135914A1 (ja) | 2022-01-17 | 2023-07-20 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| WO2023135913A1 (ja) | 2022-01-14 | 2023-07-20 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| WO2023139900A1 (ja) | 2022-01-21 | 2023-07-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析の解析精度評価方法 |
| JP2023107176A (ja) * | 2022-01-21 | 2023-08-02 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析の解析精度評価方法 |
| WO2024047933A1 (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-07 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形品の製造方法 |
-
1985
- 1985-08-27 JP JP60186555A patent/JPS6247504A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01180070A (ja) * | 1988-01-11 | 1989-07-18 | Fuji Electric Co Ltd | 欠陥検査方式 |
| US6940527B2 (en) | 2002-11-15 | 2005-09-06 | Nippon Avionics Co., Ltd. | Inspection status display method |
| KR20240095283A (ko) | 2021-12-07 | 2024-06-25 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 프레스 성형 해석 방법, 프레스 성형 해석 장치 및 프레스 성형 해석 프로그램 |
| WO2023106013A1 (ja) | 2021-12-07 | 2023-06-15 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| JP2023084637A (ja) * | 2021-12-07 | 2023-06-19 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| KR20240108462A (ko) | 2021-12-21 | 2024-07-09 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 프레스 성형 해석 방법, 프레스 성형 해석 장치 및 프레스 성형 해석 프로그램 |
| WO2023119915A1 (ja) | 2021-12-21 | 2023-06-29 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| WO2023135913A1 (ja) | 2022-01-14 | 2023-07-20 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| KR20240119094A (ko) | 2022-01-14 | 2024-08-06 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 프레스 성형 해석 방법, 프레스 성형 해석 장치 및 프레스 성형 해석 프로그램 |
| WO2023135914A1 (ja) | 2022-01-17 | 2023-07-20 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析方法、プレス成形解析装置及びプレス成形解析プログラム |
| KR20240119282A (ko) | 2022-01-17 | 2024-08-06 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 프레스 성형 해석 방법, 프레스 성형 해석 장치 및 프레스 성형 해석 프로그램 |
| WO2023139900A1 (ja) | 2022-01-21 | 2023-07-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析の解析精度評価方法 |
| JP2023107176A (ja) * | 2022-01-21 | 2023-08-02 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形解析の解析精度評価方法 |
| KR20240121312A (ko) | 2022-01-21 | 2024-08-08 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 프레스 성형 해석의 해석 정밀도 평가 방법 |
| WO2024047933A1 (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-07 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形品の製造方法 |
| JP2024032070A (ja) * | 2022-08-29 | 2024-03-12 | Ｊｆｅスチール株式会社 | プレス成形品の製造方法 |
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