JPS6247080Y2 - - Google Patents

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JPS6247080Y2
JPS6247080Y2 JP621382U JP621382U JPS6247080Y2 JP S6247080 Y2 JPS6247080 Y2 JP S6247080Y2 JP 621382 U JP621382 U JP 621382U JP 621382 U JP621382 U JP 621382U JP S6247080 Y2 JPS6247080 Y2 JP S6247080Y2
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sample
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pipe
inlet
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JP621382U
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は分析装置の試流導入部構造に関し、更
に詳述すれば流路の汚染を最小にすると共に、構
成部品点数を減少した試料導入部構造に関する。
分析装置には濃度既知の校正試料を用いて装置
を校正した後、定量に供するものがある。例え
ば、プロセスガスクロマトグラフにおいては、長
期間に亘り無保守状態で微量分析を行うものが多
いが、この場合には必要な分析精度を確歩するた
めに、一定の期間が経過する毎に濃度既知の校正
用ガスを用いてガスクロマトグラフの校生をする
ことがなされており、試料導入部もこの目的に沿
つた構造となされている。例えば、実開昭50−
74392号(実公昭51−43837号)には第1図に示す
試料導入部が開示されている。この導入部は試料
流路に関して下流側に配置された吸引ポンプPを
作動させることにより、試料空気導入口から吸
入された試料空気は実線矢印方向に流れて六方バ
ルブよりなるサンプリングバルブSVに連結され
た計量管Lを通つた後、吸引ポンプPに導かれ、
次いでポンプPの吐出側から系外に吐出される。
そして、サンプリングバルブSVが切換れられる
と、計量管L内の試料空気がキヤリヤーガスCの
流れているガスクロマトグラフ流路内に導入され
るものである。また、前記サンプリングバルブ
SVとポンプPとの間における試料流路には閉止
弁V3を有する標準試料導入路が接続されてお
り、分析時は閉止弁V3が閉じられて標準ガスボ
ンベB中の標準ガスが試料流路内に流入されない
ようになつている。校正時には、吸引ポンプPが
停止させられると共に、閉止弁V3が開かれ、ボ
ンベB内の標準ガスが標準試料導入路を通つて試
料流路に供給され、前記試料空気の流れと逆方向
(点線矢印方向)に流れて計量管L内を通り、試
料空気導入口から系外に放出される。この状態
においてサンプリングバルブSVが切換えられる
と、計量管L内の標準試料がガスクロマトグラフ
流路内に導入されガスクロマトグラフの校正が行
なわれるものである。
しかし、上記導入部によれば閉止弁V3の閉止
時において、試料流路を流れる試料空気が試料流
路から標準試料導入路内に拡散して侵入して閉止
弁V3に至るが、閉止弁V3は複雑な内部構造にな
つているため、ここを試料空気中の目的成分や妨
害成分で汚染され、蓄積されることがあり、この
状態で校正時においてポンプPを停止すると共
に、閉止弁V3を開いてボンベB中の標準ガスを
試料流路内に供給すると、前記閉止弁V3に蓄積
された汚染成分が標準ガス中に流出混合されて計
量管Lに送られる。このため、ガスクロマトグラ
フの校正は上記汚染された標準ガスで行なわれる
こととなり、この場合にはガスクロマトグラフに
よる測定値は誤差を含むものとなる。
本考案は上記事情を改善するためになされたも
ので、試料吸引ポンプの試料吸引量よりも小量の
校正試料を常時校正試料導入路から試料流路に供
給し続けることにより汚染されやすい閉止弁を省
略し得、これにより校正試料の汚染を確実に防止
し得ると共に、構成部品点数を減少させた、分析
装置の試料導入部構造を提供することを目的とす
るものである。
以下、本考案の一実施例につき第2図を参照し
て説明する。
第2図中1は6箇の入出部2a〜2fを有する
六方バルブよりなるサンプリングバルブ2の入出
部2aにその一端が連結された吸入パイプで、そ
の他端側の試料吸入部3は試料空気の採集場所に
配置されている。前記入出部2aとサンプリング
バルブ2内で連通する入出部2bには計量管4の
一端が連結されていると共に、他端は入出部2e
と連結されている。また前記入出部2eとバルブ
2内で連通する入出部2fには試料パイプ5の一
端が連結されていると共に、その他端は吸引ポン
プ6の吸入側に連結され、ポンプ6を作動させる
ことにより、試料吸入部3から吸入された試料空
気は順次吸入パイプ1、入出部2a、入出部2
b、計量管4、入出部2e、入出部2f、試料パ
イプ5、吸引ポンプ6からなる試料流路を通過し
て、ポンプ6の吐出側から系外に吐出される。な
お、前記バルブ2の入出部2d,2cはガスクロ
マトグラフの試料注入部(図示せず)とパイプ
7,8によつて連結されている。また、9はポン
プ6の吐出側に連結されたパイプ、10はポンプ
6の動力供給用電線11に介装されたスイツチ
で、このスイツチ10を開閉することによりポン
プ6の停止、起動が行なわれるものである。
また、前記サンプリングバルブ2と吸引ポンプ
6の間の試料流路(試料パイプ5)には校正試料
導入管12の一端が連結されていると共に、その
他端は校正試料(ゼロガス、標準ガス等)を充填
したボンベ13の減圧弁に連結されており、この
ようにして構成された校正試料導入路を通して、
ボンベ13内に充填された校正試料が吸引ポンプ
6の吸引量よりも小さい流量で、常時試料流路に
流入している。
次に、上記導入部を備えたガスクロマトグラフ
を用いて繰返し分析を行ないながら、ガスクロマ
トグラフの校正を行なう場合につき説明する。ま
ず、サンプリングバルブ2内は実線で示す流路と
なつている。そしてボンベ13からは校正試料導
入管12を通して試料パイプ5に校正試料が常時
吸引ポンプ6の吸引量よりも小さい流量で供給さ
れている。このため、スイツチ10を入れて吸引
ポンプ6を作動させると校正試料は全量が吸引ポ
ンプ6方向に流れ(矢印A方向)、吸引ポンプ6
の吸引量と校正試料の供給量との差に相当する量
の試料空気が連続的に試料吸入部3から採集さ
れ、吸入パイプ1、入出部2a、入出部2b、計
量管4、入出部2e、入出部2f、試料パイプ5
を順次通過して吸引ポンプ6に至り、更に吐出パ
イプ9から系外に吐出されている。また、ガスク
ロマトグラフのキヤリヤーガスはパイプ7から入
出部2dに流入し、更に入出部2cを通りパイプ
8に流出している。そして、試料空気をガスクロ
マトグラフに導入して分析を行なう際には、上記
状態においてサンプリングバルブ2が切換えら
れ、バルブ2内の流路は点線で示す流路になる。
すると、ガスクロマトグラフのキヤリヤーガスは
パイプ7から入出部2dに流入し、点線の流路を
通つて入出部2eから計量管4に流入して計量管
内の試料空気と共に入出部2bを通り、更に点線
の流路を経由して入出部2cに至り、ここからパ
イプ8を介してガスクロマトグラフの流路に導入
され、試料空気の分析が行なわれる。一方、試料
空気は試料吸入部3から吸入され、吸入パイプ
1、入出部2a、点線の流路、入出部2fを順次
通り、更に試料パイプ5に流入し、ここで校正試
料導入管12から供給される校正試料と混合され
た後、ポンプ6を通つて吐出管9から系外に放出
される。次いで、サンプリングバルブ2が切換え
られ、量初の状態に復帰し、以後同様にして分析
が繰返される。
分析が繰返されて所定時間が経過すると、ガス
クロマトグラフの校正が行なわれる。即ち、最初
の状態に復帰した後、スイツチ10が切られ、こ
れによりポンプ6が停止し、この停止したポンプ
6により試料パイプ5と吐出パイプ9との間が閉
塞状態となる。このため、校正試料導入管12か
ら試料パイプ5に供給されている校正試料は試料
パイプ5を逆流し(矢印B方向)、入出部2f、
入出部2e、計量管4、入出部2b、入出部2
a、吸入パイプ1を順欠通過して試料吸入部1か
ら系外に連続的に放出される。またキヤリヤーガ
スはパイプ7、入出部2d、入出部2cを通りパ
イプ8に流入している。次いで、サンプリングバ
ルブ2が切換わると、バルブ2内の流路は点線で
示すものとなり、パイプ7から流入するキヤリヤ
ーガスは入出部2d、入出部2e、計量管4、入
出部2b、入出部2c、パイプ8を順次流れ、こ
れにより計量管内の校正ガスがガスクロマトグラ
フ流路内に導入されてガスクロマトグラフの校正
が行なわれると共に、校正試料導入管から供給さ
れる校正ガスは試料パイプ5、入出部2f、点線
の流路、入出部2a、吸入パイプ1を順次通過し
て試料吸入部3から系外に放出される、その後、
サンプリングバルブ2が切換わり、バルブ2内の
流路が実線のものとなり、これによりガスクロマ
トグラフの校正が終了して、以後前記分析状態に
復帰する。
本実施例においては、サンプリングバルブ2と
試料吸引ポンプ6との間の試料パイプ5に校正試
料導入管12を連結し、この導入管12から試料
パイプ5に校正試料を常時所定流量で供給してい
るため、試料パイプ5を流れる試料空気が導入管
12内に侵入してその内壁等に分析の目的成分又
は妨害成分を吸着させることがない。従つて、校
正時において計量管4に供給される校正試料は上
記吸着成分を全く含まないものであり、この校正
試料を用いて行なうガスクロマトグラフの校正は
正確なものである。また校正試料を常時供給し続
ける構造であるので、従来法と異なり、吸着成分
により汚染され易い閉止弁を校正試料導入管12
に介装する必要がない。従つて、この閉止弁の汚
染を考慮する必要が全くない上、必要部品点数が
減少し構造が簡単なものとなる。
なお、本実施例においては分析装置としてガス
クロマトグラフを用いると共に、試料及び校正試
料として気体試料を用いたがこれに限られず、液
状の分析試料を分析する分光光度計や液体クロマ
トグラフ等にも本構造は適用し得、その他本考案
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して差支えな
い。
而して、本考案は試料吸入部とサンプリングバ
ルブと試料吸引ポンプとを有し、サンプリングバ
ルブより下流側に試料吸引ポンプを配置した試料
流路を有する試料導入部構造において、サンプリ
ングバルブと試料吸引ポンプとの間の試料流路に
校正試料導入路を接続してなり、前記試料吸引ポ
ンプの試料吸引量よりも小量の校正試料を常時校
正試料導入路から試料流路に供給するよう構成し
たので、校正試料導入路の汚染を有効に防止し
得、装置の校正が正確なものとなる。更に閉止弁
等を要しないため構造が簡単となり製造上有利な
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の試料導入部構造を示すフロー線
図、第2図は本考案の一実施例を示すフロー線図
である。 2……サンプリングバルブ、3……試料吸入
部、4……計量管、5……試料パイプ、6……吸
引ポンプ、12……校正試料導入管、13……ボ
ンベ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料吸入部とサンプリングバルブと試料吸引ポ
    ンプとを有し、サンプリングバルブより下流側に
    試料吸引ポンプを配置した試料流路を有する試料
    導入部構造において、サンプリングバルブと試料
    吸引ポンプとの間の試料流路に校正試料導入路を
    接続してなり、前記試料吸引ポンプの試料吸引量
    よりも小量の校正試料を常時校正試料導入路から
    試料流路に供給するよう構成したことを特徴とす
    る分析装置の試料導入部構造。
JP621382U 1982-01-20 1982-01-20 試料導入部構造 Granted JPS58109060U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP621382U JPS58109060U (ja) 1982-01-20 1982-01-20 試料導入部構造

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JP621382U JPS58109060U (ja) 1982-01-20 1982-01-20 試料導入部構造

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Publication Number Publication Date
JPS58109060U JPS58109060U (ja) 1983-07-25
JPS6247080Y2 true JPS6247080Y2 (ja) 1987-12-24

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ID=30018996

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