JPS6239706A - 複合金属条の幅検出方法 - Google Patents
複合金属条の幅検出方法Info
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- JPS6239706A JPS6239706A JP17989985A JP17989985A JPS6239706A JP S6239706 A JPS6239706 A JP S6239706A JP 17989985 A JP17989985 A JP 17989985A JP 17989985 A JP17989985 A JP 17989985A JP S6239706 A JPS6239706 A JP S6239706A
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- Japan
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- metal
- rays
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- fluorescent
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- Pending
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、金属母材の表面に異種金属を部分的に接合さ
せて形成される複合金属条、すなわち、いわゆるインレ
イ条の位置及び幅測定法に関するものである。
せて形成される複合金属条、すなわち、いわゆるインレ
イ条の位置及び幅測定法に関するものである。
第１ａ図及び第１ｂ図に示す様に、銅、銅合金、ステン
レス鋼等の安価な金属材料を母材１とし、金、銀等貴金
属あるいはハンダ等の低融点金属等異種金属２を部分的
に接合された、いわゆるインレイ条と呼ばれる複合金属
条３は、電気接点、半導体用リードフレーム等の材料と
して使用されている。この場合、複合材の要求特性及び
製造コストを下げるために、上記異種金属２の位置（ａ
、 ｃ）及び幅（ｂ）は、正確に測定され保証される必
要がある。
レス鋼等の安価な金属材料を母材１とし、金、銀等貴金
属あるいはハンダ等の低融点金属等異種金属２を部分的
に接合された、いわゆるインレイ条と呼ばれる複合金属
条３は、電気接点、半導体用リードフレーム等の材料と
して使用されている。この場合、複合材の要求特性及び
製造コストを下げるために、上記異種金属２の位置（ａ
、 ｃ）及び幅（ｂ）は、正確に測定され保証される必
要がある。
そのため、従来は、金属条の長さ方向の数点を選んで、
ノギスによる測定、あるいは、読取顕微鏡等を用いた拡
大目視測定が行われていた。しかしながら、この様な方
法は多大な労力を要するばかりか、長さ方向の全長に亘
り、仕様を保証することは極めて困難であった。
ノギスによる測定、あるいは、読取顕微鏡等を用いた拡
大目視測定が行われていた。しかしながら、この様な方
法は多大な労力を要するばかりか、長さ方向の全長に亘
り、仕様を保証することは極めて困難であった。
なお、印刷物等の識別に使用されている光学的測定法は
、ある限定された用途には利用できるが、一般の金属条
の場合は、金属面からの反射が判別出来ず、利用できな
い。
、ある限定された用途には利用できるが、一般の金属条
の場合は、金属面からの反射が判別出来ず、利用できな
い。
本発明は、この様な情況を配慮してなされたものであり
、金属母材の表面に異ＩＩ！金属条を部分的に接合させ
て形成される複合金属条を連続又は、断続的に長さ方向
に走行させ、該複合金属条の異種金属境界部に小径のＸ
線を照射することによって、発生させた螢光Ｘ線量の多
少を計測し、前記異種金属条の位置及び／又は幅を検出
することを特徴とする。
、金属母材の表面に異ＩＩ！金属条を部分的に接合させ
て形成される複合金属条を連続又は、断続的に長さ方向
に走行させ、該複合金属条の異種金属境界部に小径のＸ
線を照射することによって、発生させた螢光Ｘ線量の多
少を計測し、前記異種金属条の位置及び／又は幅を検出
することを特徴とする。
すなわち、直径が第２図に示す様に、異種金属境界部４
に、たとえば、２〜０．１ｍｍφのＸ線５を照射し、発
生する特性Ｘ線（螢光Ｘ線）の波長が金属固有のもので
あることを利用して、母材金属の特性Ｘ線量と、異種金
属の特性Ｘ線量を区別して測定し、それぞれの多少を比
較して、境界部４の位置を測定するものである。
に、たとえば、２〜０．１ｍｍφのＸ線５を照射し、発
生する特性Ｘ線（螢光Ｘ線）の波長が金属固有のもので
あることを利用して、母材金属の特性Ｘ線量と、異種金
属の特性Ｘ線量を区別して測定し、それぞれの多少を比
較して、境界部４の位置を測定するものである。
すなわち、固定されたＸ線源に対し、境界部５が第３図
、第４図の様に左右にシフトした場合は、それぞれから
発生される螢光Ｘ線量が異なることに着目したものであ
る。ここで、それぞれの特性Ｘ線量Ｘ１及び／又はＸ２
の変化量を測定しても良いが、それぞれの比ＸＩ／Ｘ２
を演算させれば一層、精度を向上させられる。又、信号
の処理法としては、たとえば、Ｘ、／Ｘ２の比が常に一
定となる様、Ｘ線源５を左右に移動させることにより、
自動的に境界部４を検知し、位置（ａ、 ｃ）幅（ｂ）
を表示する等の従来技術が利用できる。
、第４図の様に左右にシフトした場合は、それぞれから
発生される螢光Ｘ線量が異なることに着目したものであ
る。ここで、それぞれの特性Ｘ線量Ｘ１及び／又はＸ２
の変化量を測定しても良いが、それぞれの比ＸＩ／Ｘ２
を演算させれば一層、精度を向上させられる。又、信号
の処理法としては、たとえば、Ｘ、／Ｘ２の比が常に一
定となる様、Ｘ線源５を左右に移動させることにより、
自動的に境界部４を検知し、位置（ａ、 ｃ）幅（ｂ）
を表示する等の従来技術が利用できる。
以下さらに本発明を実施例にて説明する。
実施例１
母材として厚さ０．１ｍｍ、幅３０ｍｍのリン青銅条の
ほぼ中央に、厚さ３μ幅５ｍ＋＋ｎの金−銀合金が部分
的にクラッドされた複合条を長さ方向に毎分５ｍの速さ
で移動させこの表面に、直径０．３＋ｎ＋ｎのＸ線を照
射し、そこから発生するＣｕの螢光Ｘ線ＸＣｕ及びＡｕ
螢光Ｘ線ＸＡｕを測定し、ＸＣｕ／ＸＡｕの大小を比較
することにより、境界部４の位置を±０．１ｎ＋ｍの精
度で測定することが出来た。ここでＸ線径は小さい方が
精度を上げられる。
ほぼ中央に、厚さ３μ幅５ｍ＋＋ｎの金−銀合金が部分
的にクラッドされた複合条を長さ方向に毎分５ｍの速さ
で移動させこの表面に、直径０．３＋ｎ＋ｎのＸ線を照
射し、そこから発生するＣｕの螢光Ｘ線ＸＣｕ及びＡｕ
螢光Ｘ線ＸＡｕを測定し、ＸＣｕ／ＸＡｕの大小を比較
することにより、境界部４の位置を±０．１ｎ＋ｍの精
度で測定することが出来た。ここでＸ線径は小さい方が
精度を上げられる。
本発明によれば、長さ方向の全長にわたり、極めて少な
い労力で、精度の高い１．インレイ条の位置、幅が測定
できる。
い労力で、精度の高い１．インレイ条の位置、幅が測定
できる。
第１ａ図及び第１ｂ図ないし第４図は、それぞれ、本発
明の一実施例に係る説明略図である。 １・・・金属母材 ２・・・異種金属３・・・
複合金属条 ４・・・異種金属境界部５・・・Ｘ
線照射部 特許出願人 古河電気工業株式会社 第１ａ図 第ｉｂ図 第２図 第３図 第１【図 手続補正書 ｎｎ和６１年 １ 月 ３１日 １、事件の表示 昭和６０年特許 願第１７９８９９号 ２発明の名称 複合金属条の幅検出方法 ３、補正をする者 事件、−の関係 特許出願人 （５２９） 古河電気工業株式会社 電 話 （５８１） ２２４１番（代表）５゜ ６、 Ｆ＋Ｉｉ正ノ対象 明ｍ占の「発明の詳細な
説明」の欄、図面り明細書第２頁第７行「接合された、
」を「接合させた、」に訂正する。 ２、同第８頁第５行「異ＩＩＩ金属条」を「異種金属条
」に訂正し、 同頁第１２〜１８行「直径が第２図に示す様に、・・・
たとえば、２〜０．１１＋１１φの」を「第２図に示す
様に、異種金属境界部４に、たとえば、直径が２〜０．
１ ｆｉφの」に訂正し、同頁第１９行「境界部５」を
「境界部４」に訂正する。 ８、同第４頁第７行ｒｘｓ源５を左右に移動」を「２個
のＸｇ源５をそれぞれ左右に移動」に訂正する。 偽、図面中、第８図及び第４図をそれぞれ訂正図の通り
に訂正する（参照数字４をそれぞれ記入する）。 第４図
明の一実施例に係る説明略図である。 １・・・金属母材 ２・・・異種金属３・・・
複合金属条 ４・・・異種金属境界部５・・・Ｘ
線照射部 特許出願人 古河電気工業株式会社 第１ａ図 第ｉｂ図 第２図 第３図 第１【図 手続補正書 ｎｎ和６１年 １ 月 ３１日 １、事件の表示 昭和６０年特許 願第１７９８９９号 ２発明の名称 複合金属条の幅検出方法 ３、補正をする者 事件、−の関係 特許出願人 （５２９） 古河電気工業株式会社 電 話 （５８１） ２２４１番（代表）５゜ ６、 Ｆ＋Ｉｉ正ノ対象 明ｍ占の「発明の詳細な
説明」の欄、図面り明細書第２頁第７行「接合された、
」を「接合させた、」に訂正する。 ２、同第８頁第５行「異ＩＩＩ金属条」を「異種金属条
」に訂正し、 同頁第１２〜１８行「直径が第２図に示す様に、・・・
たとえば、２〜０．１１＋１１φの」を「第２図に示す
様に、異種金属境界部４に、たとえば、直径が２〜０．
１ ｆｉφの」に訂正し、同頁第１９行「境界部５」を
「境界部４」に訂正する。 ８、同第４頁第７行ｒｘｓ源５を左右に移動」を「２個
のＸｇ源５をそれぞれ左右に移動」に訂正する。 偽、図面中、第８図及び第４図をそれぞれ訂正図の通り
に訂正する（参照数字４をそれぞれ記入する）。 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、金属母材の表面に異種金属条を部分的に接合させて
形成される複合金属条を連続又は、断続的に長さ方向に
走行させ、該複合金属条の異種金属境界部に小径のＸ線
を照射することによつて、発生させた螢光Ｘ線量の多少
を計測し、前記異種金属条の位置及び／又は幅を検出す
ることを特徴とする複合金属条の幅検出方法。 ２、母材金属及び異種金属の螢光Ｘ線量のうち、どちら
か一方の絶対量の変化を計測することを特徴とした特許
請求の範囲第１項記載の複合金属条の幅検出方法。 ３、母材金属及び異種金属の螢光Ｘ線量の比を計測する
ことを特徴とした特許請求の範囲第１項記載の複合金属
条の幅検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17989985A JPS6239706A (ja) | 1985-08-15 | 1985-08-15 | 複合金属条の幅検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17989985A JPS6239706A (ja) | 1985-08-15 | 1985-08-15 | 複合金属条の幅検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6239706A true JPS6239706A (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=16073847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17989985A Pending JPS6239706A (ja) | 1985-08-15 | 1985-08-15 | 複合金属条の幅検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6239706A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2782385A1 (fr) * | 1998-08-14 | 2000-02-18 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Determination de la tache de mesure dans l'analyse par fluorescence x |
| US8246536B2 (en) | 2006-04-26 | 2012-08-21 | Hoya Corporation | Treatment tool insertion channel of endoscope |
-
1985
- 1985-08-15 JP JP17989985A patent/JPS6239706A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2782385A1 (fr) * | 1998-08-14 | 2000-02-18 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Determination de la tache de mesure dans l'analyse par fluorescence x |
| US8246536B2 (en) | 2006-04-26 | 2012-08-21 | Hoya Corporation | Treatment tool insertion channel of endoscope |
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