JPS61198001A - 金属材上の異種金属位置検出方法 - Google Patents
金属材上の異種金属位置検出方法Info
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- JPS61198001A JPS61198001A JP1522085A JP1522085A JPS61198001A JP S61198001 A JPS61198001 A JP S61198001A JP 1522085 A JP1522085 A JP 1522085A JP 1522085 A JP1522085 A JP 1522085A JP S61198001 A JPS61198001 A JP S61198001A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明はストライプメッキ条、インレイクラツド材等
の金属材上の異種金属材（すなわちメッキ材、インレイ
材等）の位置を検出する方法に関するものである。
の金属材上の異種金属材（すなわちメッキ材、インレイ
材等）の位置を検出する方法に関するものである。
［従来の技術及び発明が解決しようとする問題点］一般
にリードフレーム材は、ベース材にメッキ法又はクラッ
ド法により異種金属がストライプ状に一条又は数状接着
されてなるものである（第４図参照〉。かかる異種金属
が所定位置に接着されているか否かについては、該リー
ドフレーム材が静止している状態では光学的な方法等に
より高精度に測定することができるが、接着ライン上で
走行している状態での簡便かつ正確な測定方法は未だ見
出されていない。したがってメッキ又はクラッド作業に
おける頭出しは顕微鏡で位置を確認した後開始している
が、作業途中の位置については正確な位置測定は困難な
のが現状である。
にリードフレーム材は、ベース材にメッキ法又はクラッ
ド法により異種金属がストライプ状に一条又は数状接着
されてなるものである（第４図参照〉。かかる異種金属
が所定位置に接着されているか否かについては、該リー
ドフレーム材が静止している状態では光学的な方法等に
より高精度に測定することができるが、接着ライン上で
走行している状態での簡便かつ正確な測定方法は未だ見
出されていない。したがってメッキ又はクラッド作業に
おける頭出しは顕微鏡で位置を確認した後開始している
が、作業途中の位置については正確な位置測定は困難な
のが現状である。
ところで、この製造ライン上での位置測定については従
来よりいくつかの方法が試みられている。
来よりいくつかの方法が試みられている。
例えば、イメージセンサを用いる方法（特開昭５５−１
３６９０２号公報）や反射式光電スイッチ等を用いる方
法（特開昭５４−５７４３０号公報）等があるが、いず
れも光学的方法であるため、例えば鉄とアルミニウムの
ように同色に近いもの“の境界位置を検出する場合には
反射率も同程度になるので検出方法が難しくなるし、ま
た金属条の表面状態がわずかに変化しただけでも反射率
が大きく変化するので、位置の認識ができなくなる欠点
がある。
３６９０２号公報）や反射式光電スイッチ等を用いる方
法（特開昭５４−５７４３０号公報）等があるが、いず
れも光学的方法であるため、例えば鉄とアルミニウムの
ように同色に近いもの“の境界位置を検出する場合には
反射率も同程度になるので検出方法が難しくなるし、ま
た金属条の表面状態がわずかに変化しただけでも反射率
が大きく変化するので、位置の認識ができなくなる欠点
がある。
このように走行中の金属条の表面にある異種金属の位置
を簡便かつ正確に検出する方法は未だ確立しておらず、
従ってメッキ条やインレイクラツド材の長手方向の位置
精度を保証することは困難なのが現状である。
を簡便かつ正確に検出する方法は未だ確立しておらず、
従ってメッキ条やインレイクラツド材の長手方向の位置
精度を保証することは困難なのが現状である。
したがって、この発明の目的とするところは、作業ライ
ン上でインレイ材の位置ずれを連続的に、しかも高精度
に測定すると共に、位置ずを伴なう電圧変化を利用して
位置決めガイドを制御し全長にわたってインレイ材の位
置を所定寸法精度に収めることが可能な位置検出方法を
提供することにある。
ン上でインレイ材の位置ずれを連続的に、しかも高精度
に測定すると共に、位置ずを伴なう電圧変化を利用して
位置決めガイドを制御し全長にわたってインレイ材の位
置を所定寸法精度に収めることが可能な位置検出方法を
提供することにある。
［問題点を解決するための手段］
この発明の要旨とするところは、メッキ材又はインレイ
材の位置を渦電流式センサを用いＹ検出するようにした
ことにおる。
材の位置を渦電流式センサを用いＹ検出するようにした
ことにおる。
［作 用］
以下、この発明において用いられる渦電流式センサ及び
その作用を第５図を参照して説明する。
その作用を第５図を参照して説明する。
渦電流式センサは、金属（被覆測定物）５とセンサ６間
のギャップＧの微小変位を測定するもので、センサ６と
コントローラ７との組合せで構成されている。そして原
理的には、センサ６に内蔵されているコイル（図示せず
）に高周波電流を流すと高周波磁界が発生し、これに導
電体である被測定物５を接近させると被測定物５の表面
に渦電流が誘導される。渦電流はセンサ６に被測定物５
の距離（ギャップ）Ｇによって変化し、また被測定物５
の材質（導電率、透磁率など）によっても変化する。渦
電流が変化するとセンサ６のインピーダンスが変わるの
で、この変化で愛位距離を測定する。すなわち、センサ
６と被測定物５のギャップＧを一定にし且つ材質を変え
ると第６図に示すような特性を示す。例えば材質Ｍｌで
の出力が１００ｍＶ、材質Ｍ２での出力が３０ｍＶであ
る場合には、両材質Ｍｌ、Ｍ２の境界近傍では１００ｍ
Ｖから３００ｍＶまで出力が連続的に変化する。
のギャップＧの微小変位を測定するもので、センサ６と
コントローラ７との組合せで構成されている。そして原
理的には、センサ６に内蔵されているコイル（図示せず
）に高周波電流を流すと高周波磁界が発生し、これに導
電体である被測定物５を接近させると被測定物５の表面
に渦電流が誘導される。渦電流はセンサ６に被測定物５
の距離（ギャップ）Ｇによって変化し、また被測定物５
の材質（導電率、透磁率など）によっても変化する。渦
電流が変化するとセンサ６のインピーダンスが変わるの
で、この変化で愛位距離を測定する。すなわち、センサ
６と被測定物５のギャップＧを一定にし且つ材質を変え
ると第６図に示すような特性を示す。例えば材質Ｍｌで
の出力が１００ｍＶ、材質Ｍ２での出力が３０ｍＶであ
る場合には、両材質Ｍｌ、Ｍ２の境界近傍では１００ｍ
Ｖから３００ｍＶまで出力が連続的に変化する。
ところで、単独センサの場合にはセンサ６と被測定物５
のギャップＧに変動があると、この変動が出力に大きく
影響するので安定した測定は困難な場合が多い。そこで
第２図に示すように一対のセンサ６．６′をインレイ材
２の両境界に設置し、各々のセンサ６．６′の出力の差
で取り出ぜばインレイ材２の正規の位置からの位置ずれ
のみによる出力を２倍の感度で取り出すことができ、か
つギヤしプＧの変動があっても両センサ６．６′共に同
じ女動であるから互いに打消され、結局センサ６．６′
と被測定物５のギャップＧの影響をほとんど無くすこ
とができる。
のギャップＧに変動があると、この変動が出力に大きく
影響するので安定した測定は困難な場合が多い。そこで
第２図に示すように一対のセンサ６．６′をインレイ材
２の両境界に設置し、各々のセンサ６．６′の出力の差
で取り出ぜばインレイ材２の正規の位置からの位置ずれ
のみによる出力を２倍の感度で取り出すことができ、か
つギヤしプＧの変動があっても両センサ６．６′共に同
じ女動であるから互いに打消され、結局センサ６．６′
と被測定物５のギャップＧの影響をほとんど無くすこ
とができる。
このように本発明の位置検出方法はセンサ６と被測定物
５のギャップＧの変動による出力変化の影響を無くし、
インレイ材２の僅かな位置ずれを高精度にしかも連続的
に測定できるものであり、まにだ位置ずれによって生ず
る出力変化でインレイ材２の位置決めガイド３を制御す
ることも可能でおる。
５のギャップＧの変動による出力変化の影響を無くし、
インレイ材２の僅かな位置ずれを高精度にしかも連続的
に測定できるものであり、まにだ位置ずれによって生ず
る出力変化でインレイ材２の位置決めガイド３を制御す
ることも可能でおる。
［実施例］
次にこの発明の一実施例を第１〜３図を参照して説明す
る。
る。
第１図はインレイクラツド作業にあける渦電流式センサ
を用いた位置検出方法を実施している状態を示す斜視図
であり、同時に位置ずれによって生じる出力変化をコン
トローラ７を通して記録計８で記録し、インレイクラツ
ド材５の全長にわたってインレイ材２の位置精度を測定
し、かつコントローラ７から出る出力変化を増幅しイン
レイ材テープ位置決めガイド３を制御する機構を示して
いる。図において１はベース材でおって、矢印の方向に
進む。２はインレイ材テープであって、ベース材１に沿
って進み、インレイ材位置決め用テープガイド３により
所定位置にガイドされながらクラッドロール４に入る。
を用いた位置検出方法を実施している状態を示す斜視図
であり、同時に位置ずれによって生じる出力変化をコン
トローラ７を通して記録計８で記録し、インレイクラツ
ド材５の全長にわたってインレイ材２の位置精度を測定
し、かつコントローラ７から出る出力変化を増幅しイン
レイ材テープ位置決めガイド３を制御する機構を示して
いる。図において１はベース材でおって、矢印の方向に
進む。２はインレイ材テープであって、ベース材１に沿
って進み、インレイ材位置決め用テープガイド３により
所定位置にガイドされながらクラッドロール４に入る。
クラッドされたインレイクラッド材５はクラッドロール
のすぐ後ろに設置された位置検出センサ６．６′ を通
る。インレイ材２の位置が所定位置に合致しているとき
センサの出力をＯとし、インレイ材２の位置がずれるこ
とによって生ずる出力変化をコントローラ７を通して記
録計８で記録しておけばインレイ材２の位置精度を全長
にわたって把握することができる。
のすぐ後ろに設置された位置検出センサ６．６′ を通
る。インレイ材２の位置が所定位置に合致しているとき
センサの出力をＯとし、インレイ材２の位置がずれるこ
とによって生ずる出力変化をコントローラ７を通して記
録計８で記録しておけばインレイ材２の位置精度を全長
にわたって把握することができる。
またコントローラ７の出力信号を増幅器９で増幅し、位
置決め用テープガイド３に直結しである制御モータ１０
を動かせば自動制御が可能になり位置ずれのないインレ
イクラツド材が得られる。
置決め用テープガイド３に直結しである制御モータ１０
を動かせば自動制御が可能になり位置ずれのないインレ
イクラツド材が得られる。
第２図は渦電流式センサ６．６′を被測定物（インレイ
クラツド材）５の上に設置した状態を示す要部断面図で
ある。図示するように、センサ６．６′ はベース材１
とインレイ材２の境界面上に設置し、かつギャップ（Ｙ
方向）Ｇは２個のセンサ６．６′に関して一定にしてお
くことが必要でおる。
クラツド材）５の上に設置した状態を示す要部断面図で
ある。図示するように、センサ６．６′ はベース材１
とインレイ材２の境界面上に設置し、かつギャップ（Ｙ
方向）Ｇは２個のセンサ６．６′に関して一定にしてお
くことが必要でおる。
第３図はベース材１として鉄、インレイ材２としてアル
ミニウムを使用して得られるインレイクラツド材５を被
測定物としたときに示される渦電流式センサ６．６′の
特性曲線図である。第３（ａ）図はベース材１とインレ
イ材２の境界にセンサ６．６′を設置したときの位置ず
れ（Ｙ方向）によって生ずる出力変化を単独センサ６又
は６′の場合及び一対のセンサ出力を差動で捕えた場合
について示す特性曲線図く第３（ｂ）はセンサ６．６”
と被測定物５のギャップ（Ｙ方向）Ｇによって生ずる出
力変化を単独センサ６又は６′の場合及び一対のセンサ
出力を差動で捕えた場合について示す特性曲線図である
。これらの図から、渦電流式センサを単独で使用した場
合に比し、一対のセンサ出力を差動で捕えた場合の方が
その特性が優れていることが判する。
ミニウムを使用して得られるインレイクラツド材５を被
測定物としたときに示される渦電流式センサ６．６′の
特性曲線図である。第３（ａ）図はベース材１とインレ
イ材２の境界にセンサ６．６′を設置したときの位置ず
れ（Ｙ方向）によって生ずる出力変化を単独センサ６又
は６′の場合及び一対のセンサ出力を差動で捕えた場合
について示す特性曲線図く第３（ｂ）はセンサ６．６”
と被測定物５のギャップ（Ｙ方向）Ｇによって生ずる出
力変化を単独センサ６又は６′の場合及び一対のセンサ
出力を差動で捕えた場合について示す特性曲線図である
。これらの図から、渦電流式センサを単独で使用した場
合に比し、一対のセンサ出力を差動で捕えた場合の方が
その特性が優れていることが判する。
以上この発明の実施例について説明したが、この発明の
位置検出方法はストライプ状のクラッド条又はメッキ条
の位置検出のみならず、２種以上の異種金属境界部の位
置検出にも適用できるものである。
位置検出方法はストライプ状のクラッド条又はメッキ条
の位置検出のみならず、２種以上の異種金属境界部の位
置検出にも適用できるものである。
なお、この発明が適用される好ましいインレイクラツド
材としてはアルミニウム／鉄・ニッケル合金、銀／銅、
半田／ニッケルメッキ銅、銅／ステンレス、銀／ステン
レス等が挙げられ、メッキ条としては銀／ニッケルメッ
キ銅、銀／銅等が挙げられる。
材としてはアルミニウム／鉄・ニッケル合金、銀／銅、
半田／ニッケルメッキ銅、銅／ステンレス、銀／ステン
レス等が挙げられ、メッキ条としては銀／ニッケルメッ
キ銅、銀／銅等が挙げられる。
［発明の効果］
以上説明したようにこの発明によれば、インレイクラツ
ド材やストライプメッキ条のインレイ位置を自動的かつ
高精度に検出できるので、プレス工程に適用した場合等
、加工後の製品の信頼性が向上し、従来行われていた製
品検査等が不要になる。また、作業者の大きな負担であ
った目視による測定作業から解放される。更に、不良部
分が存在する場合には事前にチェックできるのでプレス
作業等の稼動率も従来に比し格段の向上が図れる。
ド材やストライプメッキ条のインレイ位置を自動的かつ
高精度に検出できるので、プレス工程に適用した場合等
、加工後の製品の信頼性が向上し、従来行われていた製
品検査等が不要になる。また、作業者の大きな負担であ
った目視による測定作業から解放される。更に、不良部
分が存在する場合には事前にチェックできるのでプレス
作業等の稼動率も従来に比し格段の向上が図れる。
これらの結果として製品の歩留りを大幅に向上させるこ
とが可能になる。
とが可能になる。
第１図はこの発明に係るインレイクラツド作業を実施し
ている状態を示す斜視図、第２図は被測定物の上に渦電
流式センサを設置した状態を示す要部断面図、第３図は
アルミニウム／鉄インレイクラツド材を被測定物とした
ときに示される渦電流式センサの特性曲線図、第４図は
ストライプメッキ条及びインレイクラツド材の一例を示
す斜視図、第５図はこの発明において用いられる渦電流
式センサの作用を説明するための模式図、第６図は同じ
く被測定物の材質を変えた場合の渦電流式センサの作用
を説明するための模式図である。なあ各図なす、同−又
は相当部分には同一符号を付す。 １・・・・・・ベース材、 ２・・・・・・インレイ材テープ、 ３・・・・・・インレイ材位置決め用テープガイド、４
・・・・・・クラッドロール、 ５・・・・・・インレイクラツド材（被測定物）、６．
６′・・・・・・位置検出センサ、７・・・・・・セン
サ用コントローラ、８・・・・・・記録計、 ９・・・・・・増幅器、 １０・・・・・・制御モータ、 Ｇ・・・・・・ギャップ Ｎ １ 目 猪 ４ 図 両面イシしイ乃、ド余 ２４人トライア
メ、キ奔手続補止貨（自発） ６１．３．２６ 昭和 年 月゛ 日
ている状態を示す斜視図、第２図は被測定物の上に渦電
流式センサを設置した状態を示す要部断面図、第３図は
アルミニウム／鉄インレイクラツド材を被測定物とした
ときに示される渦電流式センサの特性曲線図、第４図は
ストライプメッキ条及びインレイクラツド材の一例を示
す斜視図、第５図はこの発明において用いられる渦電流
式センサの作用を説明するための模式図、第６図は同じ
く被測定物の材質を変えた場合の渦電流式センサの作用
を説明するための模式図である。なあ各図なす、同−又
は相当部分には同一符号を付す。 １・・・・・・ベース材、 ２・・・・・・インレイ材テープ、 ３・・・・・・インレイ材位置決め用テープガイド、４
・・・・・・クラッドロール、 ５・・・・・・インレイクラツド材（被測定物）、６．
６′・・・・・・位置検出センサ、７・・・・・・セン
サ用コントローラ、８・・・・・・記録計、 ９・・・・・・増幅器、 １０・・・・・・制御モータ、 Ｇ・・・・・・ギャップ Ｎ １ 目 猪 ４ 図 両面イシしイ乃、ド余 ２４人トライア
メ、キ奔手続補止貨（自発） ６１．３．２６ 昭和 年 月゛ 日
Claims (2)
- （１）ベース材の一部にメッキ又はクラッド法により異
種金属を１条又は数状ストライプ状に接着してなる金属
材上の該異種金属の位置を検出する方法において、該ベ
ース材と該異種金属材の境界面上に渦電流式センサを配
置し、該異種金属材の位置ずれに対応する該センサの出
力変化を測定することを特徴とする金属材上の異種金属
位置検出方法。 - （２）一対の渦電流式センサを使用し、それらのセンサ
の出力の差を出力信号として測定することを特徴とする
特許請求の範囲第１項に記載の金属材上の異種金属板検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1522085A JPS61198001A (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 金属材上の異種金属位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1522085A JPS61198001A (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 金属材上の異種金属位置検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61198001A true JPS61198001A (ja) | 1986-09-02 |
Family
ID=11882782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1522085A Pending JPS61198001A (ja) | 1985-01-29 | 1985-01-29 | 金属材上の異種金属位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61198001A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04365203A (ja) * | 1991-06-13 | 1992-12-17 | Murata Mfg Co Ltd | ストリップライン共振器の特性調整方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5457430A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-09 | Toshiba Corp | Material state detector |
| JPS5766302A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Kobe Steel Ltd | Device for measuring width of moving metal body |
-
1985
- 1985-01-29 JP JP1522085A patent/JPS61198001A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5457430A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-09 | Toshiba Corp | Material state detector |
| JPS5766302A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Kobe Steel Ltd | Device for measuring width of moving metal body |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04365203A (ja) * | 1991-06-13 | 1992-12-17 | Murata Mfg Co Ltd | ストリップライン共振器の特性調整方法 |
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