JPS6147554A - フラツクス充填率のばらつき検知方法 - Google Patents
フラツクス充填率のばらつき検知方法Info
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- JPS6147554A JPS6147554A JP16973784A JP16973784A JPS6147554A JP S6147554 A JPS6147554 A JP S6147554A JP 16973784 A JP16973784 A JP 16973784A JP 16973784 A JP16973784 A JP 16973784A JP S6147554 A JPS6147554 A JP S6147554A
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- JP
- Japan
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- flux
- wire
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Nonmetallic Welding Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はフラックス入シワイヤのフラックス充填率のば
らつきを検出する方法に関し、特に７シツクス人シワイ
ヤの長手方向におけるフラックス充填率のばらつきを非
破壊的且つ常に安定して高精度に検知する方法に関する
ものである。
らつきを検出する方法に関し、特に７シツクス人シワイ
ヤの長手方向におけるフラックス充填率のばらつきを非
破壊的且つ常に安定して高精度に検知する方法に関する
ものである。
帯鋼等を湾曲して成形される外皮金属内或はシームレス
管内にフラックスを充填して得られる７シツクス人シワ
イヤ（以下単にワイヤということがある）は、フラック
スの外側を外皮金属で覆っているので、フラックスの充
填状態を外側から検査することはできない。従って７シ
ツクスの充填状態を検査するに当たっては、例えば一定
長さのワイヤを切シ取って外皮金属内からフラックスを
抜き出し、単位長さ当たシのワイヤ全重量に対するフラ
ックス重量を実測してフラックスの充填率（以下単にフ
ラックス率というとともある）を計算し、フラックスの
充填状態を推測する破壊的検査手段も考えられるが、こ
の様なバッチ的な検査方法では局所的なフラックス率か
らワイヤ全長にわたるフラックス率を大雑把に知るとい
うだけであって、フラックス率のばらつきを知ることな
どは到底不可能である。特に上記検査方法は破壊的手段
によって行なわれるので、それ自身非能率的でしかも歩
留フを考えればワイヤの途中を切断する訳にもいかず、
どうしても端部側に片寄った検査となシ、精度的にも満
足できないものとなる。
管内にフラックスを充填して得られる７シツクス人シワ
イヤ（以下単にワイヤということがある）は、フラック
スの外側を外皮金属で覆っているので、フラックスの充
填状態を外側から検査することはできない。従って７シ
ツクスの充填状態を検査するに当たっては、例えば一定
長さのワイヤを切シ取って外皮金属内からフラックスを
抜き出し、単位長さ当たシのワイヤ全重量に対するフラ
ックス重量を実測してフラックスの充填率（以下単にフ
ラックス率というとともある）を計算し、フラックスの
充填状態を推測する破壊的検査手段も考えられるが、こ
の様なバッチ的な検査方法では局所的なフラックス率か
らワイヤ全長にわたるフラックス率を大雑把に知るとい
うだけであって、フラックス率のばらつきを知ることな
どは到底不可能である。特に上記検査方法は破壊的手段
によって行なわれるので、それ自身非能率的でしかも歩
留フを考えればワイヤの途中を切断する訳にもいかず、
どうしても端部側に片寄った検査となシ、精度的にも満
足できないものとなる。
そこでワイヤを検査するに際しては連続的にしかも非破
壊的に検査する方法の開発が待ち望まれている。即ち非
破壊検査方法としては例えば特開昭５３−４６４５０号
に示される様に、ワイヤ減径加工中におけるワイヤ引き
抜き速度を連続的に測定し、引き抜き速度がワイヤ肉厚
に反比例することを利用することによってフラックス率
の変化を推定する方法や、特開昭５７−３２８９４号に
示す様にワイヤ長手方向の任意の２点間における電気抵
抗を測定された電気抵抗の大小によってフラックス率の
大小を測定する方法等が知られている。
壊的に検査する方法の開発が待ち望まれている。即ち非
破壊検査方法としては例えば特開昭５３−４６４５０号
に示される様に、ワイヤ減径加工中におけるワイヤ引き
抜き速度を連続的に測定し、引き抜き速度がワイヤ肉厚
に反比例することを利用することによってフラックス率
の変化を推定する方法や、特開昭５７−３２８９４号に
示す様にワイヤ長手方向の任意の２点間における電気抵
抗を測定された電気抵抗の大小によってフラックス率の
大小を測定する方法等が知られている。
ところが上記した測定方法では以下に示す様な問題点が
ちる。即ち前者の測定方法では引き抜きダイスの摩耗等
によってワイヤ径が変化することもある為ワイヤ引き抜
き速度からの推定精度が低くなる。しかも引き抜き用駆
動モータの回転むらによっても引き抜き速度が変化して
くるので、単に引き抜き速度の変化だけをとらえて、そ
の速度変化をそのままフラックス充填率のばらつきとし
て判定することには精度上不安がつきまとう。また後者
の測定方法ではワイヤの外皮金属に測定機の測定端子を
直接的に接触させて測定２点間の電気抵抗を測定し、基
準電気抵抗値と実測電気抵抗値の差によってフラックス
充填率を求めているが、外皮金属と測定端子の接触状態
が常に完全であるとは限らないから、電気抵抗値の変化
だけを検出して、そのままフラックス充填率を知）且つ
そのばらつきを判断するのは精度的に問題が残る。また
この測定方法では測定端子をワイヤの外皮金属に直接々
触させなければならないので、連続的に引き抜かれてい
るワイヤをいったん停止させなければ測定できず、生産
の停止を必要とする点でも問題がある。
ちる。即ち前者の測定方法では引き抜きダイスの摩耗等
によってワイヤ径が変化することもある為ワイヤ引き抜
き速度からの推定精度が低くなる。しかも引き抜き用駆
動モータの回転むらによっても引き抜き速度が変化して
くるので、単に引き抜き速度の変化だけをとらえて、そ
の速度変化をそのままフラックス充填率のばらつきとし
て判定することには精度上不安がつきまとう。また後者
の測定方法ではワイヤの外皮金属に測定機の測定端子を
直接的に接触させて測定２点間の電気抵抗を測定し、基
準電気抵抗値と実測電気抵抗値の差によってフラックス
充填率を求めているが、外皮金属と測定端子の接触状態
が常に完全であるとは限らないから、電気抵抗値の変化
だけを検出して、そのままフラックス充填率を知）且つ
そのばらつきを判断するのは精度的に問題が残る。また
この測定方法では測定端子をワイヤの外皮金属に直接々
触させなければならないので、連続的に引き抜かれてい
るワイヤをいったん停止させなければ測定できず、生産
の停止を必要とする点でも問題がある。
この様に従来技術では一定区間毎における平均的なフラ
ックス率を個別に測定して各区間におけるフラックス率
を算出し、これからフラックス充填率のばらつきを大ま
かに判断しているに過ぎず、長手方向に治ってミクロ的
に変動するフラックス充填率のばらつきを連続的且つ高
精度に検知できるものではない。
ックス率を個別に測定して各区間におけるフラックス率
を算出し、これからフラックス充填率のばらつきを大ま
かに判断しているに過ぎず、長手方向に治ってミクロ的
に変動するフラックス充填率のばらつきを連続的且つ高
精度に検知できるものではない。
本発明は以上の様な事情に着目してなされたものであっ
て、フラックス充填率のばらつきを高精度に且つ安定的
に測定できる検知方法を提供しようとするものである。
て、フラックス充填率のばらつきを高精度に且つ安定的
に測定できる検知方法を提供しようとするものである。
即ち問題点を解決するための手段とは、コイルとコンデ
ンサを含む共振回路を、フラックス入シワイヤの走行方
向に沿って２個直列的に配置し、前記各コイル内を通す
様にフラックス入シワイヤを走行させつつ、前記２つの
共振回路によって夫々のインピーダンスを検知し、各々
のインピーダンスの不平衡状態によってフラックス充填
率のばらつき度合いを検知することを要旨とするもので
ある。
ンサを含む共振回路を、フラックス入シワイヤの走行方
向に沿って２個直列的に配置し、前記各コイル内を通す
様にフラックス入シワイヤを走行させつつ、前記２つの
共振回路によって夫々のインピーダンスを検知し、各々
のインピーダンスの不平衡状態によってフラックス充填
率のばらつき度合いを検知することを要旨とするもので
ある。
即ち本発明のフラックス充填率のばらつき検知方法は外
皮金属内に充填されたフラックス量を外皮金属の肉厚に
よって知ろうとするもので、その基本的な原理は、ワイ
ヤの外径を一定とした場合に訃いて、外皮金属の肉厚と
フラックス充填量の間に以下に示す様な関係があること
を利用するものである。即ち外径側を規制されつつ伸線
されるワイヤは内径側に膨出しようという傾向をもって
いるから、充填されたフラックス量が少ない場合には外
皮金属の肉厚が厚くなろうとし、また逆にフラックス量
が多い場合には外皮金属が厚くなろうとしてもフラック
スが障害となってそれを果すことができず肉厚は薄くな
る。この様に外皮金属の肉厚がフラックスの充填量によ
って厚くなったシ薄くなった勺することを利用するもの
であシ、この関係をグラフに表わすと第１図に示す様に
なる。グラフでは１．２φ、１．６φ、２．４φ（１）
の各外径で形成されるワイヤ（外皮金属：ＪＩＳ Ｚ
３１４１ ５ＰＣＥ 帯鋼サイズ厚さ０．８ｎ＋ｍ＠
１２ｍｍを湾曲加工したものを使用）について、外皮金
属の肉厚とフラックス率の関係を表わした。
皮金属内に充填されたフラックス量を外皮金属の肉厚に
よって知ろうとするもので、その基本的な原理は、ワイ
ヤの外径を一定とした場合に訃いて、外皮金属の肉厚と
フラックス充填量の間に以下に示す様な関係があること
を利用するものである。即ち外径側を規制されつつ伸線
されるワイヤは内径側に膨出しようという傾向をもって
いるから、充填されたフラックス量が少ない場合には外
皮金属の肉厚が厚くなろうとし、また逆にフラックス量
が多い場合には外皮金属が厚くなろうとしてもフラック
スが障害となってそれを果すことができず肉厚は薄くな
る。この様に外皮金属の肉厚がフラックスの充填量によ
って厚くなったシ薄くなった勺することを利用するもの
であシ、この関係をグラフに表わすと第１図に示す様に
なる。グラフでは１．２φ、１．６φ、２．４φ（１）
の各外径で形成されるワイヤ（外皮金属：ＪＩＳ Ｚ
３１４１ ５ＰＣＥ 帯鋼サイズ厚さ０．８ｎ＋ｍ＠
１２ｍｍを湾曲加工したものを使用）について、外皮金
属の肉厚とフラックス率の関係を表わした。
即ちグラフからも明らかな様に外皮金属の肉厚が厚い程
フラックス率が低く逆に肉厚が薄い程フラツクス率が高
くなっておシ、外皮金属の肉厚を測定するだけで容易に
フラックス率を知ることが可能となると共に、核フラッ
クス率を連続的に測定して各フラックス率測定値を比較
することによってフラックス率のばらつきを知ることが
できる。
フラックス率が低く逆に肉厚が薄い程フラツクス率が高
くなっておシ、外皮金属の肉厚を測定するだけで容易に
フラックス率を知ることが可能となると共に、核フラッ
クス率を連続的に測定して各フラックス率測定値を比較
することによってフラックス率のばらつきを知ることが
できる。
一方この様な外皮金属の肉厚を測定するに当たっては電
気的手段によって測定すれば安定的な測定結果が得られ
るということから、コイルとコンデンサを共振回路とし
た発振器のコイル中に金属材料を通過させてコイルと金
属材料の間に生じる電磁誘導作用を利用する方法に着目
した。この方法によると次の様な原理で肉厚が測定でき
る。即ち交流電流を流したコイル中に金属線材を入れる
と交流電流によシ生じた交番磁束ＨｐＫよ）、まず金属
線材中にうず電流と称する一種の誘導電流が発生し、と
のうず電流によって二次的な磁郭Ｓも発生する。この磁
束Ｈｓは先に述べた磁束Ｈｐに対して方向が反対でこれ
を減少させる方向に作用する為、コイルの逆起電力が低
下し見かけ上コイルのインピーダンスが低下する。この
うず電流はコイルに加えられた電流の大小によっても変
化するが、電流を一定にしておけば金属の不連続部分や
試料の形状の変化等によっても変化する。従って上記う
ず電流の性質を利用すると、外皮金属の肉厚の変化をコ
イルに生じたインピーダンスの変化としてとらえること
ができる。即ち外皮金属の肉厚が大きくなるとその分だ
け大きなうず電流が発生するので、コイルのインピーダ
ンスが大巾に低下し逆に肉厚が小さくなるとインピーダ
ンス低下も小さくなる。この様にワイヤの外皮金属部分
の肉厚とコイルインピーダンスの間には密接な関係があ
る。
気的手段によって測定すれば安定的な測定結果が得られ
るということから、コイルとコンデンサを共振回路とし
た発振器のコイル中に金属材料を通過させてコイルと金
属材料の間に生じる電磁誘導作用を利用する方法に着目
した。この方法によると次の様な原理で肉厚が測定でき
る。即ち交流電流を流したコイル中に金属線材を入れる
と交流電流によシ生じた交番磁束ＨｐＫよ）、まず金属
線材中にうず電流と称する一種の誘導電流が発生し、と
のうず電流によって二次的な磁郭Ｓも発生する。この磁
束Ｈｓは先に述べた磁束Ｈｐに対して方向が反対でこれ
を減少させる方向に作用する為、コイルの逆起電力が低
下し見かけ上コイルのインピーダンスが低下する。この
うず電流はコイルに加えられた電流の大小によっても変
化するが、電流を一定にしておけば金属の不連続部分や
試料の形状の変化等によっても変化する。従って上記う
ず電流の性質を利用すると、外皮金属の肉厚の変化をコ
イルに生じたインピーダンスの変化としてとらえること
ができる。即ち外皮金属の肉厚が大きくなるとその分だ
け大きなうず電流が発生するので、コイルのインピーダ
ンスが大巾に低下し逆に肉厚が小さくなるとインピーダ
ンス低下も小さくなる。この様にワイヤの外皮金属部分
の肉厚とコイルインピーダンスの間には密接な関係があ
る。
そこで上記した共振回路を２個用いると共に、各共振回
路に設けられたコイルを第２図に示す様に直列的に配置
して両コイル１，２の中にワイヤ３を通過させると、外
皮金属Ａ部及びＢ部の夫々に対応する；イル１，２は電
磁誘導作用によるインピーダンス２．．２．が生じる。
路に設けられたコイルを第２図に示す様に直列的に配置
して両コイル１，２の中にワイヤ３を通過させると、外
皮金属Ａ部及びＢ部の夫々に対応する；イル１，２は電
磁誘導作用によるインピーダンス２．．２．が生じる。
そしてインビー 。
ダンス２１．２２の大小は前述した様に外皮金属の肉厚
忙応じて定められるものであるから、測定されたインピ
ーダンス２．．２．の不平衡状態は外皮金属Ａ、Ｂ部分
におけるフラックス充填率のばらつきを示すデータとし
てそのまま判定に供することができる。この様に本発明
の検知方法によればフラックス率のばらつきをワイヤ３
の外側から非接融状態で測定できるので、ワイヤ３の長
手方向全域にわたってインピーダンス２．．２．の不平
衡状態を連続的に検知することができる。例えば検知デ
ータの不平衡度合が大きくなると、フラックス率のばら
つきが大きくなシ、逆に不平衡度合が小さい程フラック
ス率のばらつきが小さい。
忙応じて定められるものであるから、測定されたインピ
ーダンス２．．２．の不平衡状態は外皮金属Ａ、Ｂ部分
におけるフラックス充填率のばらつきを示すデータとし
てそのまま判定に供することができる。この様に本発明
の検知方法によればフラックス率のばらつきをワイヤ３
の外側から非接融状態で測定できるので、ワイヤ３の長
手方向全域にわたってインピーダンス２．．２．の不平
衡状態を連続的に検知することができる。例えば検知デ
ータの不平衡度合が大きくなると、フラックス率のばら
つきが大きくなシ、逆に不平衡度合が小さい程フラック
ス率のばらつきが小さい。
従って検知データが平衡状態である場合はフラックス率
のばらつきがないということになる。尚標準肉厚で形成
されたフラックス人シワイヤを特定コイルに挿入し特定
の周波数でコイルインピーダンスを計測しそのインピー
ダンスを標準インピーダンスとする。そして実際に引き
抜き加工されたワイヤを対象として上記と同じ条件で測
定して得た測定インピーダンスを、上記標準インピーダ
ンスと比較すれば、実測部分の肉厚が標準肉厚に対して
どの程度多いか又は少ないかを判断することができる。
のばらつきがないということになる。尚標準肉厚で形成
されたフラックス人シワイヤを特定コイルに挿入し特定
の周波数でコイルインピーダンスを計測しそのインピー
ダンスを標準インピーダンスとする。そして実際に引き
抜き加工されたワイヤを対象として上記と同じ条件で測
定して得た測定インピーダンスを、上記標準インピーダ
ンスと比較すれば、実測部分の肉厚が標準肉厚に対して
どの程度多いか又は少ないかを判断することができる。
即ち肉厚の変化を相対的に把握するだけでなく標準イン
ピーダンスと実測インピーダンスとの比較によって肉厚
を、絶対的に知ることもできる。また本発明に適用され
る共振回路としては第３図に示す様な並列共振回路であ
ってもよく、或は直列共振回路であってもよい。この様
にコイルとコンデンサを共振回路とした発振器の周波数
につｂてはワイヤの断面形状や肉厚並びにワイヤ径など
に応じて適正な周波数を選択する必要がある。例えば第
４図に示す様なシームレスのワイヤで、且つ外皮金属の
肉厚が０．３ ｍｍ程度の場合では数ＫＨｚの周波数を
利用すればフラックス率の変化を明瞭に知シ得る。また
第５図に示す様なシーム有）のワイヤでは外皮金属が周
方向に開口しているためうず電流が内面にｍｂ込むこと
を考慮し第４図の場合に比べて高い値（１０数ＫＨｚ程
幻を必要とする。また肉厚が厚くなれば低周波数帯で測
定し、逆に肉厚が薄いときは高周波数帯で測定すれば外
皮金属の測定が極めて安定して行なえる。
ピーダンスと実測インピーダンスとの比較によって肉厚
を、絶対的に知ることもできる。また本発明に適用され
る共振回路としては第３図に示す様な並列共振回路であ
ってもよく、或は直列共振回路であってもよい。この様
にコイルとコンデンサを共振回路とした発振器の周波数
につｂてはワイヤの断面形状や肉厚並びにワイヤ径など
に応じて適正な周波数を選択する必要がある。例えば第
４図に示す様なシームレスのワイヤで、且つ外皮金属の
肉厚が０．３ ｍｍ程度の場合では数ＫＨｚの周波数を
利用すればフラックス率の変化を明瞭に知シ得る。また
第５図に示す様なシーム有）のワイヤでは外皮金属が周
方向に開口しているためうず電流が内面にｍｂ込むこと
を考慮し第４図の場合に比べて高い値（１０数ＫＨｚ程
幻を必要とする。また肉厚が厚くなれば低周波数帯で測
定し、逆に肉厚が薄いときは高周波数帯で測定すれば外
皮金属の測定が極めて安定して行なえる。
本発明に係る測定法によってフラックス人シワイヤを測
定すると以下に示す様な結果が得られた。
定すると以下に示す様な結果が得られた。
条件
外皮金属 ＪＩＳ Ｚ３１４１ ５ＰＣＥ（元サイズ
）０．８ｍｍ厚Ｘ１２ｍｍ幅 測定ワイヤ径 １．６肛φ ワイヤ断面形状 第４図 フラックス種類（チタニア系） Ｔｉ０２ ： ４０ Ｆｅ−Ｍｎ： １９Ｚ
ｒ０２： ６．５ Ｆｅ−５ｉ： １０．５Ｓ
ｉｎ□ニア、５ Ｆｅ Ａｌ： ｌＦｃ０
： ４ ＡＪｂＯｓ ： ４ＣａＦ２
： １ 鉄粉：残 （重量％） 上記条件において測定したところ第６図のグラフに示す
様な結果が得られた。
）０．８ｍｍ厚Ｘ１２ｍｍ幅 測定ワイヤ径 １．６肛φ ワイヤ断面形状 第４図 フラックス種類（チタニア系） Ｔｉ０２ ： ４０ Ｆｅ−Ｍｎ： １９Ｚ
ｒ０２： ６．５ Ｆｅ−５ｉ： １０．５Ｓ
ｉｎ□ニア、５ Ｆｅ Ａｌ： ｌＦｃ０
： ４ ＡＪｂＯｓ ： ４ＣａＦ２
： １ 鉄粉：残 （重量％） 上記条件において測定したところ第６図のグラフに示す
様な結果が得られた。
本発明は以上の様に構成されているので、ワイヤを破壊
することなく外部から確実にフラックス率のばらつきを
電気的に測定することができるので、ワイヤと測定端子
とを接触させる必要がなく安定的且つ高精度に検知でき
る。−その結果ワイヤ加工装置を停止させることなく連
続的に検知することが可能となシ、生産性が高まシ歩留
シが良くなる。
することなく外部から確実にフラックス率のばらつきを
電気的に測定することができるので、ワイヤと測定端子
とを接触させる必要がなく安定的且つ高精度に検知でき
る。−その結果ワイヤ加工装置を停止させることなく連
続的に検知することが可能となシ、生産性が高まシ歩留
シが良くなる。
第１図は外皮金属の肉厚とフラックス率との関係を示す
グラフ、第２図は本発明に適用される共振回路のコイル
にワイヤを通過させた状態を示す説明図、第３図は本発
明に適用される共振回路を示す説明図、第４図及び第５
図はフラックス入シワイヤの断面説明図、第６図は実験
結果を示すグラフである。
グラフ、第２図は本発明に適用される共振回路のコイル
にワイヤを通過させた状態を示す説明図、第３図は本発
明に適用される共振回路を示す説明図、第４図及び第５
図はフラックス入シワイヤの断面説明図、第６図は実験
結果を示すグラフである。
Claims (1)
- コイルとコンデンサを含む共振回路を、フラックス入
りワイヤの走行方向に沿つて２個直列的に配置し、前記
各コイル内を通す様にフラックス入力ワイヤを走行させ
つつ、前記２つの共振回路によつて夫々のインピーダン
スを検知し、各々のインピーダンスの不平衡状態によつ
てフラックス充填率のばらつき度合いを検知することを
特徴とするフラックス充填率のばらつき検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16973784A JPS6147554A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | フラツクス充填率のばらつき検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16973784A JPS6147554A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | フラツクス充填率のばらつき検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6147554A true JPS6147554A (ja) | 1986-03-08 |
Family
ID=15891909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16973784A Pending JPS6147554A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | フラツクス充填率のばらつき検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6147554A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63236956A (ja) * | 1987-03-25 | 1988-10-03 | Nippon Steel Weld Prod & Eng Co Ltd | フラツクス充填率検出法 |
| JPS6428065U (ja) * | 1987-08-10 | 1989-02-17 | ||
| NL1008770C2 (nl) * | 1997-03-31 | 2003-09-19 | Kobe Steel Ltd | Inrichting voor het detecteren van de geladen vloeilijnmiddelstatus voor een van een vloeilijnmiddelkern voorziene draad. |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4866884A (ja) * | 1971-12-16 | 1973-09-13 | ||
| JPS5115438A (ja) * | 1974-07-29 | 1976-02-06 | Shimadzu Corp |
-
1984
- 1984-08-13 JP JP16973784A patent/JPS6147554A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4866884A (ja) * | 1971-12-16 | 1973-09-13 | ||
| JPS5115438A (ja) * | 1974-07-29 | 1976-02-06 | Shimadzu Corp |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS63236956A (ja) * | 1987-03-25 | 1988-10-03 | Nippon Steel Weld Prod & Eng Co Ltd | フラツクス充填率検出法 |
| JPS6428065U (ja) * | 1987-08-10 | 1989-02-17 | ||
| NL1008770C2 (nl) * | 1997-03-31 | 2003-09-19 | Kobe Steel Ltd | Inrichting voor het detecteren van de geladen vloeilijnmiddelstatus voor een van een vloeilijnmiddelkern voorziene draad. |
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