JP2000329858A - 同調回路を持った磁気センサー - Google Patents

同調回路を持った磁気センサー

Info

Publication number
JP2000329858A
JP2000329858A JP2000031684A JP2000031684A JP2000329858A JP 2000329858 A JP2000329858 A JP 2000329858A JP 2000031684 A JP2000031684 A JP 2000031684A JP 2000031684 A JP2000031684 A JP 2000031684A JP 2000329858 A JP2000329858 A JP 2000329858A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
circuit
metal
tuning
test object
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000031684A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyuki Matsuda
和幸 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suncorporation
Original Assignee
Sun Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sun Electronics Co Ltd filed Critical Sun Electronics Co Ltd
Priority to JP2000031684A priority Critical patent/JP2000329858A/ja
Publication of JP2000329858A publication Critical patent/JP2000329858A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 センサ−の検出能力をより増大させることに
より、測定精度、分析能力を向上させる。 【解決手段】 センサ−回路に、コンデンサ−を付け、
センサ−回路を発振器の周波数に同調させることによ
り、センサ−回路の“Q”を最大限に大きくする。この
結果センサ−のインピ−ダンス変化に対する、ブリッジ
出力電圧の変化も最大となる。更に、センサ−を被検体
に接触、接近させた状態で再度同調をとる。この点が、
被検体の同調点となり、この被検体に対しては他の金属
と比較して“Q”が高くなる。被検体と一体で同調をと
ったセンサ−回路は、極めて“Q”が高いため、わずか
なインピ−ダンスの変化でも検出でき金属の識別、キ
ズ、破損、疲労の検出、成分の分析までも可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、現在まで単に“金属
探知器”として利用されていた磁気センサ−に、金属の
識別及び、キズ、破損、疲労、成分等、を非接触で検出
可能にした磁気センサ−に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図1参照。本図は現在一般的に利用され
ている金属探知器の構成回路である。基本理論は、2:
抵抗、3:センサ−コイル、から構成されるブリッジ回
路を、5:電圧計の指示が極小になる様にバランスをと
る。このバランス状態で3:センサ−コイルに金属を近
づけると、センサ−コイルのインピ−ダンスが変化し、
ブリッジのバランスが崩れ、5:電圧計が振れ検出信号
を発生する。つまり金属の“有無”の判定を目的とする
性能である。従来の磁気センサ−が産業上での活用が無
かった原因は次の通りである。(イ)被検体の大きさに
よって異なるが、一般的に検出距離が最大2mm程度と
短く、リミットスイッチなどわずかに利用されただけで
ある。(ロ)金属の“有無”の検出のみで、どんな材質
であるかは分析出来ない。(ハ)現在までに磁性体と、
非磁性体とを区別するセンサ−が開発されたが、検出距
離が1〜2mmと短く利用は限られた範囲内である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以下、この磁気センサ
−が検出対象とする金属を〔被検体〕と表現する。本願
はこれらの短所を改善するもので、(イ)現状の磁気セ
ンサ−の検出方法と同じ条件で、検出距離を増加させ非
接触での検出を可能にする。(ロ)単に金属の“有無”
だけでなく、その材質までも識別可能にする。(ハ)特
定の被検体に対してのみ検出能力を向上させ、その被検
体の“変質”“キズ”等も検出可能にする。(ニ)セン
サ−を連続的に、被検体上を移動させながら異常検出を
可能にする。
【0004】
【課題を解決するための手段】請求項1対応。図2参
照。センサ−コイルとブリッジにより構成されている同
調回路において、1:オシレ−タ−の周波数“f”Hz
と、6:VR1、7:VR2を調整することによって回
路の同調をとる。この結果、回路の“Q”が大きくなる
ため、センサ−コイルのインピ−ダンス変化に対する、
ブリッジ出力電圧の変化は非同調時のQ倍になる。この
結果、出力電圧、検出距離共に極めて大きくなり、この
状態は全ての被検体に適用する。3:センサ−コイルを
検出対象とする被検体に接触、又はその条件に合わせて
接近させ再度同調をとる。この点がその被検体の同調点
であり、この付近が最も変化率の大きい点である。故に
この課題を解決するための手段は、従来のブリッジ回路
に、8:“同調コンデンサ−”を追加し、被検体と接
触、または接近させた状態で回路の同調をとる。但し、
その同調点が最良でない場合目的に応じて、その前後で
インピ−ダンスの変化に対する、電圧の変化が最も大き
い点に設定する。
【0005】請求項2対応。図3参照。センサ−回路の
同調曲線に於いて、金属A:鉄 金属B:銅 金属C:
アルミとする。ここで、Za:鉄の同調インピ−ダンス
Zb:銅の同調インピ−ダンス Zc:アルミが同調す
るインピ−ダンスである。この曲線からセンサ−回路の
インピ−ダンスを“Za”点に設定すると、鉄:Va、
銅:Vb、アルミ:Vc、とそれぞれの材質に応じた電
圧を得ることができる。故に、センサ−回路のインピ−
ダンスを複数の被検体を検知出来る値に設定し、その出
力電圧を目的に応じて処理する設定方法とする。
【0006】請求項3対応。請求項1に記載の磁気セン
サ−でセンサ−回路を、請求項1対応の要領で送電線の
正常な材質に同調させることにより、送電線のキズ、素
線切れ、変質などの検出をする送電線検査機とする。
尚、送電線の正常な材質とは、サビ、素線切れ、被覆の
破れ、等がない電線を示す。
【0007】請求項4対応。図4参照。請求項1に記載
の別磁気センサーで、3:センサ−コイルに、15:補
助コイルを追加することにより、センサ−回路のインピ
−ダンス変化率が増加し、従来の金属探知機では検出で
きないSUS316の小片を検出する探知機(図4参
照)。尚、SUS316の小片とは、太さ0.5mm、
長さ20mmの針金状のSUS316を示す。
【0008】
【発明の実施の形態】図2参照。本発明は、図1に示す
現在一般的に知られている金損探知機の基本回路に、
8:同調コンデンサーを追加している。このコンデンサ
−を追加したことにより、1:発振器のf:周波数を調
整して回路の同調をとることができる。この結果、基本
回路を有した金属探知器と比較して20db以上検出能
力が向上した。この様にセンサ−回路の同調をとった
後、16:被検体に接触または接近した状態で再度同調
をとり、その同調点またはその付近にある最も変化率の
大きい点にインピ−ダンスを設定する。この点にセンサ
−回路のインピ−ダンスを設定をすることにより、従来
の金属探知器の能力では考えられなかった機能の大幅な
向上と、これまで得られなかった新しい機能を生み出し
ている。その作用を生む理論を次に説明する。
【0009】図2参照。同調回路については、(イ)図
1のように4:センサーコイルのみであれば、この回路
のQは極小である。(ロ)そこで、8:同調コンデンサ
ーを追加し、1:発振器の周波数に同調させると回路の
“Q”が極めて高くなる。(ハ)回路の“Q”が高くな
った結果センサー回路の出力電圧もQ倍となり、(ニ)
同時に選択度も“Q”倍向上する。(ホ)次に、センサ
−を被検体に接触、又は接近させると“渦電流”の影響
でセンサ−のインピ−ダンスが変化し、(ヘ)同調点が
移動する。(ト)この状態で再度同調をとると、(チ)
この点が“被検体の同調点”である。(リ)被検体にセ
ンサ−を同調させたことにより、センサ−はこの金属に
対してのみ極めて高い“Q”になる。(ヌ)“Q”が極
めて高くなったことにより、金属のわずかな状態変化で
も電圧に変換できる。この結果、金属の識別、キズ、破
損、疲労検出、異質分析等可能である。
【0010】これらの機能を有益に活用する実施形態は
次の通りである。(イ)単にセンサーとして利用する用
途としては、エレベ−タ−用ワイヤ−ロ−プのリアルタ
イムでの異常監視、送電線検査機、金属種の識別、金属
純度の識別、コインセンサー、商品に混入している針な
どの異物検知、溶接部の異常検知、焼き入れの有無。
(ロ)測定器としての用途は、被検体との距離測定、圧
力や重さ測定器。(ハ)金属の配置を情報として処理す
る用途としては、無人搬送機の誘導、盲人用の白杖、
鍵、物の仕分け機。等に応用可能である。
【0011】
【実施例】送電線検査機。図5参照。3:センサ−コイ
ル、9:搬送機、10:被覆電線、11:制御ユニッ
ト。使用方法は、センサ−回路を“電線の材質”に同調
させ、送電上を走行させる。走行中センサ−が検出した
“キズ”“素線切れ”等のデ−タ−をモデムを介して地
上受信機に送信する。3:センサ−コイルは、電線の材
質に同調させ、9:搬送機により、送電線上を移動しな
がら素線切れ、サビ、傷、等を検出する送電線検査機。
【0012】
【発明の効果】(イ)請求項1対応。図6参照。センサ
ー部分に同調回路を追加し、センサ−回路を発信器の周
波数に同調させることによりセンサ−回路の“Q”は最
大となる。Qが大きくなったことにより、センサ−コイ
ルのインピ−ダンス変化に対する、出力電圧の変化は極
めて大きくなる。この結果、金属の材質及び異常状態の
変化を分析する機能を得た。 (ロ)請求項2対応。図7参照。センサ−回路のインピ
−ダンスを“Za”に設定することにより、複数の被検
体を一つのセンサ−で検出できる。これは、そのセンサ
−回路が同調するインピ−ダンスは、金属の種類によっ
て異なるためである。Zaは金属A、Zbは金属B、Z
cは金属C、の同調点である。ここで、“Za”に設定
点をおくと、センサ−回路の出力電圧はそれぞれ金属
A、B、C、に対して“Va”“Vb”“Vc”とな
る。この電圧を、あらかじめ設定してある基準電圧と比
較することで、金属“A、B、C”を識別することがで
きる。 (ハ)請求項3対応。図5は送電線検査機の斜視図であ
る。センサ−回路を送電線の材質に同調させることによ
り、非接触で被覆の上からでも送電線の“サビ”“素線
切れ”を検出可能とした。 (ニ)請求項4対応。センサ−コイルを図4の如く巻き
“SUS316”にセンサ−回路を同調させることによ
り、食品、薬品業界で使用されているSUS316の小
片を検出可能とした。この結果、折損したフィルタ−な
どの小片を製造工程中に発見することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術のブリッジ回路図である。
【図2】従来技術のブリッジ回路に同調コンデンサ−を
追加した回路図である。
【図3】金属の材質が異なれば、センサ−回路が同調す
るインピ−ダンスも異なる例を示したで図である。
【図4】センサ−コイルに補助コイルを追加した図であ
る。
【図5】送電線検査機の斜視図である。
【図6】センサ−回路の同調曲線を示した図である。
【符号の説明】
1 発振器 2 抵抗 3 センサーコイル 4 発振器の周波数f 5 電圧計 6 バランス抵抗 7 バランス抵抗 8 同調コイル 9 搬送機 10 被覆電線 11 制御ユニット 12 補助コイル

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】センサ−回路を発振器の周波数に同調さ
    せ、ブリッジ部分とセンサ−コイル部分及び被検体を一
    体として、同調をとることとしたことを特徴とする磁気
    センサ−。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の磁気センサー回路で、回
    路のインピ−ダンスを選択することにより複数の金属を
    一つのセンサ−で検出、識別することとしたことを特徴
    とする磁気センサ−。
  3. 【請求項3】請求項1,2,に記載のセンサ−回路を送
    電線の材質に同調させることにより、裸線は言うまでも
    なく被覆のある電線でも無接触で、素線切れ又はキズ等
    を検出することとしたことを特徴とする磁気センサ−。
  4. 【請求項4】センサ−コイルの巻き方を、図4の如く補
    助コイルを追加することにより、従来の金属探知器では
    検出できない、高品質ステンレスSUS316の小片を
    検出できるることを特徴とする磁気センサ−。
JP2000031684A 1999-03-12 2000-02-09 同調回路を持った磁気センサー Pending JP2000329858A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000031684A JP2000329858A (ja) 1999-03-12 2000-02-09 同調回路を持った磁気センサー

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6643799 1999-03-12
JP11-66437 1999-03-12
JP2000031684A JP2000329858A (ja) 1999-03-12 2000-02-09 同調回路を持った磁気センサー

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000329858A true JP2000329858A (ja) 2000-11-30

Family

ID=26407636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000031684A Pending JP2000329858A (ja) 1999-03-12 2000-02-09 同調回路を持った磁気センサー

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000329858A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6958603B2 (en) 2001-09-21 2005-10-25 Tok Engineering Co., Ltd. Method for detecting metallic foreign matter and system for detecting metallic foreign matter
JP2006294781A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Sony Corp 固体撮像素子
JP2006317387A (ja) * 2005-05-16 2006-11-24 Tokyo Seimitsu Co Ltd 距離測定装置及び工作機械
JP2017130897A (ja) * 2016-01-22 2017-07-27 オムロン株式会社 近接スイッチ

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6958603B2 (en) 2001-09-21 2005-10-25 Tok Engineering Co., Ltd. Method for detecting metallic foreign matter and system for detecting metallic foreign matter
US7102347B2 (en) 2001-09-21 2006-09-05 Tok Engineering Co., Ltd. Metallic contaminant detecting method and apparatus therefor
JP2006294781A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Sony Corp 固体撮像素子
JP2006317387A (ja) * 2005-05-16 2006-11-24 Tokyo Seimitsu Co Ltd 距離測定装置及び工作機械
JP4557792B2 (ja) * 2005-05-16 2010-10-06 株式会社東京精密 距離測定装置及び工作機械
JP2017130897A (ja) * 2016-01-22 2017-07-27 オムロン株式会社 近接スイッチ
US10120095B2 (en) 2016-01-22 2018-11-06 Omron Corporation Proximity switch

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5432444A (en) Inspection device having coaxial induction and exciting coils forming a unitary coil unit
US5548214A (en) Electromagnetic induction inspection apparatus and method employing frequency sweep of excitation current
JP2976985B2 (ja) コイン識別装置
JPS644229B2 (ja)
GB2262346A (en) Detecting defects in steel material
EP0249980B1 (en) Method of detecting conductive material contained in glass fiber and detecting apparatus therefor
EP3109631B1 (en) Surface property inspection and sorting apparatus, system and method
JP2000329858A (ja) 同調回路を持った磁気センサー
EP2963415A1 (en) Apparatus and circuit for an alternatig current field measurement
JPH05149923A (ja) 周波数位相変化による電磁誘導検査装置及びその検査方法
JP2012083247A (ja) 異材検出システム
JPH0465667A (ja) 渦流探傷装置
JP3908473B2 (ja) 複数材料で成る金属片の識別装置
JP2007510145A (ja) 交番電磁界に影響を与える部品を区別するためのプロセスおよび装置
Khazi et al. Real time in-situ quality monitoring of grinding process using microtechnology based sensor fusion
EP0241013B1 (en) Apparatus for detecting surface microdefects in a metal workpiece
JP3743191B2 (ja) 渦流探傷法
JPH10232222A (ja) 異品検出装置
JP2000227422A (ja) 渦流探傷法
US4837510A (en) Device for suppression and/or separation of signals due to magnetic oxide scales in hot cast billets
JPH10111363A (ja) 金属検出装置
JPS6147554A (ja) フラツクス充填率のばらつき検知方法
EP1065529B1 (en) Method and apparatus for detecting foreign matter
JPH0415904B2 (ja)
JP2005201894A (ja) アルミニウム合金欠陥検出装置、アルミニウム合金欠陥検出方法、アルミニウム合金部材の製造方法、およびアルミニウム合金連続鋳造棒の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040213

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040517