JPS6238596A - サンプリング測定方法 - Google Patents
サンプリング測定方法Info
- Publication number
- JPS6238596A JPS6238596A JP60177382A JP17738285A JPS6238596A JP S6238596 A JPS6238596 A JP S6238596A JP 60177382 A JP60177382 A JP 60177382A JP 17738285 A JP17738285 A JP 17738285A JP S6238596 A JPS6238596 A JP S6238596A
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- JP
- Japan
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- signal
- sampling
- clock
- address
- measurement
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野Ｊ
本発明は高速信号をサンプリングして測定する方法に係
り、特に供試素子に接続されるワード発生器のワード発
生のスタートアドレスを変化させることによりサンプリ
ング点の位相を変化させるようにしたアドレス移動式サ
ンプリング測定方法に関する。
り、特に供試素子に接続されるワード発生器のワード発
生のスタートアドレスを変化させることによりサンプリ
ング点の位相を変化させるようにしたアドレス移動式サ
ンプリング測定方法に関する。
第６図および第７図はサンプリング測定の原理を示した
図である。サンプリング回路の最小サンプル可能間隔Ｔ
ｓ が所望の測定間隔上ｉ よりも大きいとき、被測定
波形が繰返しのものであれば、第７図のようにサンプル
点を選ぶことにより、第６図の波形を再現することがで
きる。第７図では同一点を２回ずつサンプルしているが
、このようにサンプル回数を増やすことによりサンプル
効率を補なったり、平均化したりすることができる。
図である。サンプリング回路の最小サンプル可能間隔Ｔ
ｓ が所望の測定間隔上ｉ よりも大きいとき、被測定
波形が繰返しのものであれば、第７図のようにサンプル
点を選ぶことにより、第６図の波形を再現することがで
きる。第７図では同一点を２回ずつサンプルしているが
、このようにサンプル回数を増やすことによりサンプル
効率を補なったり、平均化したりすることができる。
ここで、従来回路において、サンプリング効率を補なう
ため被測定信号の同一点を複数回サンブルする場合、第
７図に示すように被測定信号に同期したトリガ点を基準
とし、そのトリガ点からサンプル点までのディレィをｔ
：ずつ変化させていた（ｔ、 、 ２ｔ）、 −−
）。既ち、プログラマブル・ディレィラインを使用して
サンプル点を予定時間だけずらすことが行なわれていた
。しかしながら、この方法はｔ； をずらす分解能およ
び精度がプログラマブル・ディレィラインの性能に依存
し、±。
ため被測定信号の同一点を複数回サンブルする場合、第
７図に示すように被測定信号に同期したトリガ点を基準
とし、そのトリガ点からサンプル点までのディレィをｔ
：ずつ変化させていた（ｔ、 、 ２ｔ）、 −−
）。既ち、プログラマブル・ディレィラインを使用して
サンプル点を予定時間だけずらすことが行なわれていた
。しかしながら、この方法はｔ； をずらす分解能およ
び精度がプログラマブル・ディレィラインの性能に依存
し、±。
を所望時間だけ正確にずらすことは困難であり、特開誤
差の入り込む要素があった。さらに、被測定１３号の周
期ｔが長いとき、Ｔ、はｔより十分短いにもかかわらず
、次のサンプル点までの間ｔだけ待たねばならず、測定
時間が増大する欠点があった。
差の入り込む要素があった。さらに、被測定１３号の周
期ｔが長いとき、Ｔ、はｔより十分短いにもかかわらず
、次のサンプル点までの間ｔだけ待たねばならず、測定
時間が増大する欠点があった。
【発明の目的〕
本発明は上述した欠点を除去するためになされたもので
、被測定信号のサンプル点を時間誤差なくサンプルする
ことができ、また被測定信号の周期が長くても被測定信
号全体を高速にサンプルすることができるサンプリング
測定方法を提供することである。
、被測定信号のサンプル点を時間誤差なくサンプルする
ことができ、また被測定信号の周期が長くても被測定信
号全体を高速にサンプルすることができるサンプリング
測定方法を提供することである。
本発明においては、供試素子に接続される信号源として
ワード発生器が使用され、トリガ点からサンプリング点
までの時間をずらすのではなくて、該ワード発生器のワ
ード発生のスタートアドレスが変化され、これによりサ
ンプル点の位相が変化される。また被測定信号の周期が
サンプリング回路の最小サンプル可能間隔に比べ十分に
長い場合には、ワード発生器中の一部分のワードが繰返
し発生されサンプリングが行なわれる。そして該部分が
順次移動されて被測定信号一周期分のサンプル測定と等
価な測定が行なわれる。
ワード発生器が使用され、トリガ点からサンプリング点
までの時間をずらすのではなくて、該ワード発生器のワ
ード発生のスタートアドレスが変化され、これによりサ
ンプル点の位相が変化される。また被測定信号の周期が
サンプリング回路の最小サンプル可能間隔に比べ十分に
長い場合には、ワード発生器中の一部分のワードが繰返
し発生されサンプリングが行なわれる。そして該部分が
順次移動されて被測定信号一周期分のサンプル測定と等
価な測定が行なわれる。
第１図は本発明による方法を実現するためのサンプリン
グ測定２の一例を示したブロック図である。
グ測定２の一例を示したブロック図である。
以下において、供試素子（ＤＵＴ）３をＤＡＣ（デジタ
ル・アナログ変換器）に例をとり説明する。供試素子３
の入力にはワード発生器ｌが、その出力にはサンプリン
グ回路５が接続される。ワード発生器１は第２図に示す
ように、Ｔの周期をもつ正弦波のＴＩ 毎のｍに対応し
た値をもつ長さＮ＠のメモリで構成される。そしてワー
ド発生器１はワード発生用クロック信号［７からのクロ
ックパルスＡに応答して、順次デジタルワードを発生す
る。ＤＡＣ３は例えばこのデジタルワードに対応した疑
似正弦波を出力する。トリガ発生用クロック信号源９は
カウンタまたは分周器で構成されて、クロック信号！ｉ
７からクロックＡを受信して、 ＮｆｌｉのクロックＡ
で１ｌｉｌのクロックＢを発生するように同期している
。そしてサンプリング回路５にトリガ１８号を与える。
ル・アナログ変換器）に例をとり説明する。供試素子３
の入力にはワード発生器ｌが、その出力にはサンプリン
グ回路５が接続される。ワード発生器１は第２図に示す
ように、Ｔの周期をもつ正弦波のＴＩ 毎のｍに対応し
た値をもつ長さＮ＠のメモリで構成される。そしてワー
ド発生器１はワード発生用クロック信号［７からのクロ
ックパルスＡに応答して、順次デジタルワードを発生す
る。ＤＡＣ３は例えばこのデジタルワードに対応した疑
似正弦波を出力する。トリガ発生用クロック信号源９は
カウンタまたは分周器で構成されて、クロック信号！ｉ
７からクロックＡを受信して、 ＮｆｌｉのクロックＡ
で１ｌｉｌのクロックＢを発生するように同期している
。そしてサンプリング回路５にトリガ１８号を与える。
サンプリング回路５はトリガ信号に応答して、ＤＡＣ３
の出力信号（被測定信号）をサンプルするが、トリガ信
号受信後予足時間遅れてサンプルパルスＳ、を発生する
０例えば、トリガ信号受信後−Ｘ （Ｎ／２）の時間経
過後にＳ、を発生する。この時間遅れはクロック信号源
７のクロックＢを使用し、カウンタ、分周器等で簡単に
得ることができる。サンプリング回路５は従来回路を使
用すればよく、その詳細は省略する。
の出力信号（被測定信号）をサンプルするが、トリガ信
号受信後予足時間遅れてサンプルパルスＳ、を発生する
０例えば、トリガ信号受信後−Ｘ （Ｎ／２）の時間経
過後にＳ、を発生する。この時間遅れはクロック信号源
７のクロックＢを使用し、カウンタ、分周器等で簡単に
得ることができる。サンプリング回路５は従来回路を使
用すればよく、その詳細は省略する。
以下上記実施例の動作を説明する。第３図は動作説明図
である。上述したように、サンプリング回路５はクロッ
ク信号源９よりトリガ信号を受信した後、Ｔ、−Ｘ（Ｎ
／２）後にサンプルパルスＳＰを発生するものとする。
である。上述したように、サンプリング回路５はクロッ
ク信号源９よりトリガ信号を受信した後、Ｔ、−Ｘ（Ｎ
／２）後にサンプルパルスＳＰを発生するものとする。
クロック信号！１９がクロックＢを発生するとき、ワー
ド発生器１はクロック信号［２７のクロックＡに応答し
てアドレス０のワードを出力する〔スタートアドレス二
〇〕、そしてクロックＡに応答して順次１．２．一個・
（Ｎ−１）のワードを出力し、アドレスが（Ｎ−１）ま
で来れば再び０に戻ってこれを繰返す、このとき、サン
プリング回路５はアドレスＮ／２にあるワードに対応す
る被測定信号をサンプリングすることになる。アドレス
Ｎ／２対応する被測定信号が１回または複数回（平均化
〕サンプリングされた後、クロックＢの発生時点のワー
ド発生器１のスタートアドレスが１に変化される（他の
設定条件は同一）。したがって、サンプリング回路５が
サンプリングする被測定信号の値はアドレスが（Ｎ／２
＋１）のときのものとなり、サンプリング時点がクロッ
クＡの時間間隔だけ変化されたことになる。このように
して、クロックＢの発生時点のスタートアドレスは順次
２．３．−−（Ｎ−１）と移動され、サンプリング回路
５はＮ／２からスタートして、（Ｎ／２＋１）、−−−
（Ｎ−１）、０．１．−−− （Ｎ／２−１）のアドレ
スにおけるワードに対する被測定信号の値をサンプリン
グし、被測定信号の一周期をサンプリングする。なお、
スタートアドレスの変化は、例えば被測定信号の同一点
を１０回平均測定する場合には、クロックＢが１０ｍ発
生された後、アドレスポインタを１個だけ増分するよう
にすればよい。
ド発生器１はクロック信号［２７のクロックＡに応答し
てアドレス０のワードを出力する〔スタートアドレス二
〇〕、そしてクロックＡに応答して順次１．２．一個・
（Ｎ−１）のワードを出力し、アドレスが（Ｎ−１）ま
で来れば再び０に戻ってこれを繰返す、このとき、サン
プリング回路５はアドレスＮ／２にあるワードに対応す
る被測定信号をサンプリングすることになる。アドレス
Ｎ／２対応する被測定信号が１回または複数回（平均化
〕サンプリングされた後、クロックＢの発生時点のワー
ド発生器１のスタートアドレスが１に変化される（他の
設定条件は同一）。したがって、サンプリング回路５が
サンプリングする被測定信号の値はアドレスが（Ｎ／２
＋１）のときのものとなり、サンプリング時点がクロッ
クＡの時間間隔だけ変化されたことになる。このように
して、クロックＢの発生時点のスタートアドレスは順次
２．３．−−（Ｎ−１）と移動され、サンプリング回路
５はＮ／２からスタートして、（Ｎ／２＋１）、−−−
（Ｎ−１）、０．１．−−− （Ｎ／２−１）のアドレ
スにおけるワードに対する被測定信号の値をサンプリン
グし、被測定信号の一周期をサンプリングする。なお、
スタートアドレスの変化は、例えば被測定信号の同一点
を１０回平均測定する場合には、クロックＢが１０ｍ発
生された後、アドレスポインタを１個だけ増分するよう
にすればよい。
また、サンプリング点を、クロックＢを受信後ηＸ （
Ｎ／２）に設定したが、これに限定されるものではなく
、任意に設定してよいことは勿論である。
Ｎ／２）に設定したが、これに限定されるものではなく
、任意に設定してよいことは勿論である。
第４図は本発明の他の実施例によるサンプリング測定方
法の動作説明図である。回路構成は第１図に示したもの
と同様である０本実施例は被測定信号の周期Ｔがサンプ
リング回路５の最小サンプル可能間隔Ｔｓ に比べ十分
に長い場合に適用できるものである。例えば、供試素子
３がＤＡＣの場合、その全コード（１０ビツトならＮ−
１０２４個、１２ビツトならＮ−４０９４個）を試験す
る場合である。ＮＷのワードは、Ｔ、−ＸＭがＴ５
に等しいか、少し長くなる程度に、Ｍ個のグループに分
割される。第４図ではＭ−ｇである。測定１においては
アドレス０か６７が選択され、この間でのアドレスのみ
が繰返し選択される。第１図から第３図で説明したと同
様に、クロックＢに応答してアドレス５のワードに対応
する値が繰返しサンプルされる〔矢印１）１１このとき
、繰返し周期はＴ、）Ｘ８（≧ＴＳ）なので、サンプリ
ング回路５のムダ（待ち）時間は茗しく短かくなる。ア
ドレス５に対するサンプリングを必要回数繰返した後、
測定２に挙行する。既ち、スタートアドレスが１に移り
、アドレス１か６８のａｍの繰返しでアドレス６に対す
るサンプリングが行なわれる。
法の動作説明図である。回路構成は第１図に示したもの
と同様である０本実施例は被測定信号の周期Ｔがサンプ
リング回路５の最小サンプル可能間隔Ｔｓ に比べ十分
に長い場合に適用できるものである。例えば、供試素子
３がＤＡＣの場合、その全コード（１０ビツトならＮ−
１０２４個、１２ビツトならＮ−４０９４個）を試験す
る場合である。ＮＷのワードは、Ｔ、−ＸＭがＴ５
に等しいか、少し長くなる程度に、Ｍ個のグループに分
割される。第４図ではＭ−ｇである。測定１においては
アドレス０か６７が選択され、この間でのアドレスのみ
が繰返し選択される。第１図から第３図で説明したと同
様に、クロックＢに応答してアドレス５のワードに対応
する値が繰返しサンプルされる〔矢印１）１１このとき
、繰返し周期はＴ、）Ｘ８（≧ＴＳ）なので、サンプリ
ング回路５のムダ（待ち）時間は茗しく短かくなる。ア
ドレス５に対するサンプリングを必要回数繰返した後、
測定２に挙行する。既ち、スタートアドレスが１に移り
、アドレス１か６８のａｍの繰返しでアドレス６に対す
るサンプリングが行なわれる。
順次スタートアドレスが移動されて、最後はアドレス（
Ｎ−１）から６の繰返しでアドレス４のワードに対する
被測定信号がサンプリングされる。
Ｎ−１）から６の繰返しでアドレス４のワードに対する
被測定信号がサンプリングされる。
なお、例えばアドレス０から７までの繰返しはスタート
およびストップアドレスを指定してクロックＡを用いて
ｖａＪｌｊ！するようにすればよい。なおＮ個のワード
をＭｌｌのグループに分割してサンプリングする場合に
は、Ｎｌ’ｉｉのワードを繰返して発生する場合に比べ
、ＤＵＴ３の入出力に不連続点が（例えばアドレス７か
らＯへの変化）がより多く発生するが、Ｍの値をある程
度大きくとり、またサンプリング点をスタートアドレス
からなるべく後の方とすることで（本実施では６１）目
）、不連続の影響を除去することができる。不連続点直
後にサンプリング点が来ると、その不連続による影響を
受ける可能性があるからである。
およびストップアドレスを指定してクロックＡを用いて
ｖａＪｌｊ！するようにすればよい。なおＮ個のワード
をＭｌｌのグループに分割してサンプリングする場合に
は、Ｎｌ’ｉｉのワードを繰返して発生する場合に比べ
、ＤＵＴ３の入出力に不連続点が（例えばアドレス７か
らＯへの変化）がより多く発生するが、Ｍの値をある程
度大きくとり、またサンプリング点をスタートアドレス
からなるべく後の方とすることで（本実施では６１）目
）、不連続の影響を除去することができる。不連続点直
後にサンプリング点が来ると、その不連続による影響を
受ける可能性があるからである。
上記説明においては供試素子としてＤＡＣを用いたが、
増幅器等アナログ入力のものでもよい。
増幅器等アナログ入力のものでもよい。
この場合には第５図に示すように、ワード発生器１中に
ＤＡＣを内蔵させたもの、またはさらにローパスフィル
タを内蔵させたものを信号源とし、その出力を供試素子
に出力するようにすればよい。
ＤＡＣを内蔵させたもの、またはさらにローパスフィル
タを内蔵させたものを信号源とし、その出力を供試素子
に出力するようにすればよい。
以上説明したように本発明によれば、（υサンプリング
のディレィは固定のままで、ワード発生器のスタートア
ドレスが変化され、その変化量はクロック信号の精度で
定まるので被測定信号の所望点を正確にサンプリング測
定することができる、■被測定信号の周期がサンプリン
グ回路の最小サンプル可能間隔に比べ著しく長い場合で
も、ワード発生器で全ワードのうちの一部分のワードを
繰返し発生し、当該部分を順次移動させることにより、
被測定信号の一周期分のサンプリング測定と等価な測定
を高速に行なうことができる、（３）スタートアドレス
を変化させたとき、被測定信号の連続性が失なわれるが
、その影響を受けないようにサンプリング点を任意の点
に設定できる、α）被測定信号の同一点を複数回、自由
にサンプリングすることができる。
のディレィは固定のままで、ワード発生器のスタートア
ドレスが変化され、その変化量はクロック信号の精度で
定まるので被測定信号の所望点を正確にサンプリング測
定することができる、■被測定信号の周期がサンプリン
グ回路の最小サンプル可能間隔に比べ著しく長い場合で
も、ワード発生器で全ワードのうちの一部分のワードを
繰返し発生し、当該部分を順次移動させることにより、
被測定信号の一周期分のサンプリング測定と等価な測定
を高速に行なうことができる、（３）スタートアドレス
を変化させたとき、被測定信号の連続性が失なわれるが
、その影響を受けないようにサンプリング点を任意の点
に設定できる、α）被測定信号の同一点を複数回、自由
にサンプリングすることができる。
第１図は本発明によるサンプリング測定方法を実現する
ためのサンプリング測定器の一例を示したブロック図、
第２図および第３図は本発明によるサンプリング測定方
法の動作説明図、第４図は本発明の他の実施例によるサ
ンプリング測定方法の動作説明図、第５図は本発明によ
るサンプリング測定方法を実現するための他のサンプリ
ング測定器の一例を示したブロック図、第６図および第
７図はサンプリング測定の原理を示した図である。
ためのサンプリング測定器の一例を示したブロック図、
第２図および第３図は本発明によるサンプリング測定方
法の動作説明図、第４図は本発明の他の実施例によるサ
ンプリング測定方法の動作説明図、第５図は本発明によ
るサンプリング測定方法を実現するための他のサンプリ
ング測定器の一例を示したブロック図、第６図および第
７図はサンプリング測定の原理を示した図である。
Claims (2)
- （１）Ｎ個のアドレスにそれぞれ対応したデジタルワー
ド信号または該デジタルワード信号に対応するアナログ
信号である測定信号を第１クロック信号に応答して供試
素子に与え、そして前記第１クロック信号の１／Ｎの周
波数で発生される第２クロック信号に応答して該第２ク
ロック信号より予定時間だけ遅れてサンプリングパルス
を発生して前記供試素子の出力信号をサンプリングする
と共に、前記デジタルワード信号が発生されるスタート
アドレスを変化することにより前記出力信号の異なる点
をサンプルするようにしたサンプリング測定方法。 - （２）アドレス０からアドレスＭ（Ｍ＜Ｎ）を一つのグ
ループとして前記測定信号を繰返し発生させて前記サン
プリングを行なうと共に、前記スタートアドレスを順次
一個ずらした各グループについて順次サンプリングを行
ない、前記出力信号の一周期にわたつてサンプリングす
るようにした特許請求の範囲第１項記載のサンプリング
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60177382A JPS6238596A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | サンプリング測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60177382A JPS6238596A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | サンプリング測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6238596A true JPS6238596A (ja) | 1987-02-19 |
| JPH0588428B2 JPH0588428B2 (ja) | 1993-12-22 |
Family
ID=16029960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60177382A Granted JPS6238596A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | サンプリング測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6238596A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4888924A (ja) * | 1972-02-22 | 1973-11-21 | ||
| JPS5938999A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-03 | Seiko Instr & Electronics Ltd | アナログ信号記憶装置 |
| JPS5972487A (ja) * | 1982-10-19 | 1984-04-24 | 三洋電機株式会社 | 表示方法 |
-
1985
- 1985-08-12 JP JP60177382A patent/JPS6238596A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4888924A (ja) * | 1972-02-22 | 1973-11-21 | ||
| JPS5938999A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-03 | Seiko Instr & Electronics Ltd | アナログ信号記憶装置 |
| JPS5972487A (ja) * | 1982-10-19 | 1984-04-24 | 三洋電機株式会社 | 表示方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0588428B2 (ja) | 1993-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |