JPS6385489A - 微小時間差計測装置 - Google Patents

微小時間差計測装置

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JPS6385489A
JPS6385489A JP23217486A JP23217486A JPS6385489A JP S6385489 A JPS6385489 A JP S6385489A JP 23217486 A JP23217486 A JP 23217486A JP 23217486 A JP23217486 A JP 23217486A JP S6385489 A JPS6385489 A JP S6385489A
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修作 島田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は微小時間差計測回路に関し、更に許しくはトリ
ガパルスが発生してから1ノ′ンプリングパルスが発生
するまでの時間を正確に11測(1−ることができる微
小時間差計測回路に関する。
(従来の技術) =1− ディジタルオシロスコープ等においては、繰り返し波形
を△/D変換づる時にトリガポイントとサンプリングパ
ルス間の微小時間差を計測することが有用である。この
微小時間差を計測することにより、ランダムサンプルに
より等価サンプリング1へを高<L、7j場合にもブリ
・トリガ(トリガポイント以前の観測)が可能となる。
第7図は種々のサンプルモードを示す図である。
(イ)(、iリアルタイムサンプルを、(ロ)はシーケ
ンシャルサンプルを、(ハ)はランダムサンプルをイれ
ぞれ示す。各サンプルにおいて、波形上の数字はサンプ
ルの順序をそれぞれ示している。
(イ)に示すリアルタイムサンプルの場合には、この数
字が全て■であり、1回の現象の発生時に全点をサンプ
ルすることを示している。これに対し、(0)に示すシ
ーケンシャルサンプルの場合には、繰り返し発生ずる現
象を発生する毎に経時的に所定の間隔でサンプル点をず
らせて■、■。
■・・・とシーケンシャルにサンプルしていく。又、(
ハ)にポリ−ランダムサンプルの場合には、繰り返し発
生する現象を図に示すようにランダムに波形の位置をサ
ンプルしている。従って、ランダムサンプルはリアルタ
イlオリンブルに比較して同一のサンプリング[・の△
/[)変換器を用いてより高速の繰り返し現象を捕捉観
測できることがわかる。
又、通常のサンプリングオシロスコープと比較してトリ
ガポイント以前の現象を観測することができる。このよ
うなランダムリーンプルを実現するためには、△/D変
換器のり゛ンプリングパルスと、トリガポイントとのズ
レの吊つまり微小時間差を計測づる必要がある。
第8図は従来の微小■)間差計測装置の構成例を示す図
、第9図は各部の動作を示づタイミングチャートである
。入力信8とトリガ制御信号を受()て、トリガ発生回
路1は第9図(イ)に示Jようなトリガ信号を発(トす
る。このトリガ信号はコンデンサCの短絡用スイングS
WIを第9図([1)に示すようにオフにする。この時
点では、電流源2に直列接続されるスイツーfS W 
2は第9図(ホ)に示すようにオンになっている。従っ
て、トリガ信号が発生した時刻t1からコンデンサCに
定電流■が注入され、コンデンサCの電圧vaは第9図
(l\)に示すように漸増する。
一方、トリガ信号は第1のDタイプフリップフロップ3
のD入力にも入っており、Ct−K入力に入るΔ/D変
換器のサンプルクロックの最初の立上り(時刻j2、第
9図(ハ)参照)によりD入力データ(この場合は“、
11ルベル)がラッチされ、その6肩−出力は第9図〈
二)に示すようにそれJ:での1′′から“0”に立下
る。このQ1信号によりスイッチS W 2は第9図(
ホ)に示すようにオンからオフになる。この結果、コン
デンサCへの電流Iの注入はストップし、この時までの
電圧状態が第9図(へ)に示tJ:うに保持される。
ここで、コンデンサCの保持電圧Vaはtlから12ま
での微小時間差Δtに比例するから、この電圧Vaを時
間外計測用A/D変換器4でディジタルデータに変換し
、時間差Δ[を泪測することができる。
Δ/D変換器4に入力されるA/Dスタート信号は、第
2のDタイプフリップフロップ5の02出力から与えら
れる。叩ら、第2のフリップフロップ5のD入力には第
1の7リツプフ[lツブ3のσ〒比出力入っており、C
L K入力にはへ/D変換器のサンプルクロックが入・
〕ており、第9図(ハ)に示すように時刻t3における
立−1−りでσ7出力を0″から1″に転じる。そして
、この6]−信号をΔ/D変換器4のΔ/[)スター1
〜信号として用いる。
(発明が解決しようとする問題点) 前述した従来装置の場合、微小時間差の測定精度は主と
してコンデンサC及びスイングSVV+。
S W 2の特性にかかつてくる。一般にコンデンサC
にはもれ抵抗直列インダクタンス、直列抵抗が存在し、
微小時間差が1 n5ec以FのJ:う<r jh4 
Q、直列インダクタンスが大Q”Jインピーダンスとな
り、測定精度を低下させる。又、キ1νバシウンスの容
量精度とその安定度が必要であるが、一般に高周波特性
が良い高精瓜、高安定の:1ンア゛ンリを得ることは極
めて困ガであり、1.!■性も経時的に変化する。
更に、従来装置の場合、スイッチS W 1をオフにづ
る時と、スイッチS W 2をA−フにするタイミング
が競合してきた時に、スイッチング時の電荷注入にJ、
る測定誤差が生じる。以上の理由により、従来の装置に
よれば、高ji!i度の時間差測定を行うことが困難で
ある。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、
その目的は、高精度の時間差測定を行うことができる微
小時間差計測装置を実現することにある。
(問題点を解決するための手段) 前記した問題点を解決する本発明は、正弦波発振器の出
力をパルス化してA 、/ D変換器用のサンプルク[
]ツクとすると共に、正弦波発振器の出力の位相をずら
して余弦波をつくり、トリガ発生回路からの1−リガパ
ルスにより正弦波及び余弦波の同一時刻にお(プるそれ
ぞれの振幅値或いは正弦波のみの所定時間離れた時刻に
おける2つの振幅値を測定し、これら測定値に基づいて
トリガ時刻とサンプリング時刻との微小部間差を計測り
−るように構成したことを特徴と覆るものである1゜(
作用) クロックパルスをつくるi[弦波発振器から正弦波と余
弦波をつくり同一時刻(トリガポイン[・)にお1プる
ぞれぞれの振幅植成いは所定時間部れた時刻における正
弦波の2つの振幅値からトリガ時刻とサンプリング時刻
までの時間差を計測する。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
第1図は本発明の一実施例を承り構成ブロック図である
。図において、11は基準となる正弦波を発生させる正
弦波発振器、12は該正弦波発振器11の出力を受【プ
て正弦波の純度を向、1させるフィルタ、13は高純曵
の4弦波を受りてOレベルと比較し、A 、/ D変換
器のサンアルク1コツクを発生するコンパレータである
14.15はフィルタ12を通過しIC正弦波信号を受
けるバッファ、16はバッファ14の出力を受(プるバ
ッファ、17はバッファ16の出力をディジタルデータ
に変換する時間差計測用の第1のΔ/Dl器、18はバ
ッファ15の出力を受けて90″位相をずらす移相器、
19は該移相器1Bの出力を受けるバッファ、20はバ
ッファ19出力をディジタルデータに変換する時間差計
測用の第2のA/D変換器である。尚、バッファ14と
16はなくてもよい。即ち、これらバッファ14と16
を通過した信号は同位相であるので、後段回路との整合
性が問題にならない時には省略できる。
移相器18としては、例えばディレィラインが用いられ
る。ディレィラインが用いられた場合、イのH延時間は
正弦波周波数に対して90’の位相になるにうに選択す
る。従って、移相器18の出力は90°遅れることにな
るので90’だけ位相が遅れた正弦波、即ち余弦波が出
力される。21は入力信号及びトリガ制御信号を受けて
トリガパルスを発生するトリガ発生回路で、その出力は
第1($1>及び第2(#2>のΔ/D変換器17.2
0に△/Dスター1−括号として入っている。
このように構成された装置の動作を第2図に示すタイミ
ノグチ1シートを参照して詳細に説明づる。
発振器11から発生された第2図の(ロ)のflに示す
ような正弦波は、フィルタ12にJ、リノイズ成分が除
去された竣、コンパ1ノータ13に入りOレベルと比較
される。この結果、コンパレータ13は第2図・(イ)
に示すようなA/D変換器のサンプルクロックを発生し
、このサンプルクロックはサンプリング用A/1〕変換
器(図示せず)に△/Dスタート信号として与えられる
一方、正弦波信号はバッファ115を経て移相器18に
入り、90°位相を遅らせられる。この結果、正弦波信
号を5in0)t(ω:角周波数)とづると、移相器1
8の出力は sin  (ωt −9Q’ ) =−cos ωtと
なり余弦波信号が得られる。この余弦波信号を第2図(
ロ)の12に示す。移相器18の出力はバッファ19を
経て第2のA/D変換器20に入力される。正弦波信号
はバッファ14.16を杆て第1のA/D変換器17に
入力される。
ここで、時刻1においてトリガ発生回路21から第2図
(ハ)に示すような[・リガパルスが発生したものとす
ると、2つのA/D変換器17,20 G;1時刻1に
おける入力信号をA/D変換してディジタルデータに変
換する。この時の第1のA/D変換器17の変換データ
をY、第2のA/D変換器20の変換データをXとする
とX、Y、ωtの間には、第3図に示すような関係があ
るからコンパレータ13の出力を基準時間として次式が
成立する。
Y=a sin ωt            −(1
)X −−a cos θ)t           
   −= (2)但 1ノ   a −J−)ぐ]薯
−1−]こ=r(1)、(2>式をイれぞれtについて
解くとt = (1/ω)sin −’ (Y/ F■
1−下■]−)・・・(3) t =(1/Q))cos−’(−X/    +  
 )・・・(4) (3)又は(4)式における[は、求めるべき微小時間
差そのものである。従って、(3)式又は(4)式を演
算することにより微小■)間差を求めることができる。
本発明によれば、従来装置のようにコンデンサに電流を
注入したり、スイッチで切換えたりする必要がないので
高精度に微小時間差を44測することができる。尚、゛
トリガパルスを発生する時刻は、第2図に示すようにX
、Y共にA/D変換器のフルスケール近辺でA/D変換
が行われるべくヒツトすることにより計測精度を上げる
ことができる。
第4図は本発明の他の実施例を示す構成ブロック図であ
る。第1図と同一のムのは、同一の番号を付して示す。
図に示す実施例は、正弦波は1つで、トリガパルスを移
相器で90°遅らせて、同一正弦波信号の2点の値を測
定し、等価的に正弦波信号と余弦波信号の同時刻におけ
る値を測定するのと同一の効果を奏しめるようにしたも
のである。
図において、フィルタ12の出力(正弦波信号)はコン
パレータ13に入ると共にバッファ30を経て時間差計
測用A/D変換器31に入る。一方、I〜リガ発生回路
21がら出力されたトリガパルスはバッフ132及びオ
アグ−1〜35に入る。オアグー1〜35から出力され
たトリガパルスは△/D変換器31にA/Dスタート信
号として入り、時刻1におりる正弦波信号の値を測定す
る。
一方、ゲート32に入ったトリガパルスは、ディレィ回
路33に入って、ωtの906に相当する時間差だけ遅
らされる。この遅延されたトリガパルスは、バッファ3
4を経てオアゲート35に入る。この結果、オアゲート
35からは図に示すように時間差Tの2個のパルスが出
力されて△/D変換器31に与えられることになる。時
間差Tは、前述したようにディレィ回路33によって遅
らされる遅れ時間でθ)tの906に相当する時間差で
ある。最初のパルスにより、時刻tにおける正弦波信号
の値が測定され、次のパルスで時間T後における正弦波
信号の値が測定される。このT後の正弦波信号の値は、
とりもなおさず時刻tにおける余弦波信号の値と同じで
あるので、最初の測定値をY1次の測定値をXとして(
3)、、(4)式がそのまま適用できる。このようにし
て、第4図に示す実施例では、A/D変換器を1個にす
ることができる。
又、上記の90’の遅延は、270°、450°等の遅
延であっても、同一の原理で<3)″。
(4)式がそのまま適用出来る。
ディジタルオシロスコープを実現覆る場合、第5図に示
すようにアナログ入力を複数個のサンプルホールド回路
と、A/D変換器を用いてシーケンシャルパルスにより
A/D変換器を順次使用して高速サンプルレートを1q
る方法が公知である。
このような構成を用いlζ時、第4図に示す微小時間差
計測装置は図に示す複数個のA/D変換器のうちで“空
いている”1つを用いることにより時間差計測用A/D
変換器を省略することができる。
第6図は、このような考え方に基づいた本発明の他の実
施例を示す構成ブロック図である。第4図と同一のもの
は同一の荷吊を付して示す。フィルタ12を通過した正
弦波信号をバッファ41を介して高速サンプルレート回
路の各チャネル入力に与える。ぞして、スイ□ッチの切
換えにより、アノログ入力と正弦波信号の何れか一方を
サンプルホールド回路に入力するようにしている。オア
ゲート35から出力される2個のトリガパルスは高速サ
ンプルレート回路側の制御回路42に入る。
制御回路42は、空いているチャネルを捜して、空いて
いるチャネルに正弦波信号を入れ、2個の正弦波信号測
定値を1qる。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、サンプル
レート用のクロックパルスをつくる正弦波発振器から正
弦波と余弦波をつくり同一時刻(トリガポイント)にお
ける正弦波、余弦波の値からトリガ時刻とサンプリング
時刻までの時間差を計測することによりサンプルクロッ
ク立上り時からトリガポイントまでの微小時間差を高精
度に計測することができる微小時間差計測装置を実現す
゛ることができる。本発明によれば、コンデンサに注入
される電流量を測定して微小時間差を測定する方法を用
いていないので、」ンデン1ノ、スイッチによる影響を
受けず、又正弦波信Bの振幅の変動の影響を全く受Gフ
ない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成ブロック図、第2
図は各部の動作を示づタイミングチャート、第3図はX
、”111定簡の説明図、第4図は本発明の他の実施例
を示す構成ブロック図、第5図はサンプルレート回路の
構成図、第6図は本発明の他の実施例を示す構成ブ[]
ツク図、第7図は種々のサンプルモードを示す図、第8
図は従来装置の構成ブロック図、第9図は各部の動作を
示JタイミングチIl〜トである。 1.21・・・トリガ発生回路 2・・・定電流源 3.5・・・フリップフロップ 4.17.20.31・・・△/D変換器11・・・発
振器    12・・・フィルタ13・・・コンパレー
タ 14〜16.19,30,32.34.4.1・・・バ
ッファ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 正弦波発振器の出力をパルス化してA/D変換器用のサ
    ンプルクロックとすると共に、正弦波発振器の出力の位
    相をずらして余弦波をつくり、トリガ発生回路からのト
    リガパルスにより正弦波及び余弦波の同一時刻或いは所
    定時間離れた時刻における振幅値を測定し、これら測定
    値に基づいてトリガ時刻とサンプリング時刻との微小時
    間差を計測するように構成したことを特徴とする微小時
    間差計測装置。
JP23217486A 1986-09-30 1986-09-30 微小時間差計測装置 Granted JPS6385489A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2678071A1 (fr) * 1991-06-18 1992-12-24 Thomson Csf Dispositif electronique de mesure de retards.
JP2002532704A (ja) * 1998-12-16 2002-10-02 スリーディーヴィー システムズ リミテッド 自己ゲート制御感光面
WO2006038559A1 (ja) * 2004-10-04 2006-04-13 Kabushiki Kaisha Topcon 時間差測定装置および測定方法並びに測距装置および測距方法
WO2006132420A1 (ja) * 2005-06-10 2006-12-14 Kabushiki Kaisha Topcon 時間差測定装置および距離測定装置並びに距離測定方法
WO2007053413A2 (en) * 2005-10-28 2007-05-10 Teradyne, Inc. Dual sine-wave time stamp method and apparatus

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0521742A1 (fr) * 1991-06-18 1993-01-07 Thomson-Csf Dispositif électronique de mesure de retards
US5218289A (en) * 1991-06-18 1993-06-08 Thomson-Csf Electronic device for the measurement of time lags
FR2678071A1 (fr) * 1991-06-18 1992-12-24 Thomson Csf Dispositif electronique de mesure de retards.
JP2002532704A (ja) * 1998-12-16 2002-10-02 スリーディーヴィー システムズ リミテッド 自己ゲート制御感光面
US7777865B2 (en) 2004-10-04 2010-08-17 Kabushiki Kaisha Topcon Time difference measuring device, measuring method, distance measuring device, and distance measuring method
WO2006038559A1 (ja) * 2004-10-04 2006-04-13 Kabushiki Kaisha Topcon 時間差測定装置および測定方法並びに測距装置および測距方法
JP2006133214A (ja) * 2004-10-04 2006-05-25 Topcon Corp 時間差測定装置および測定方法並びに測距装置および測距方法
WO2006132420A1 (ja) * 2005-06-10 2006-12-14 Kabushiki Kaisha Topcon 時間差測定装置および距離測定装置並びに距離測定方法
JP2006343294A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Topcon Corp 時間差測定装置および距離測定装置並びに距離測定方法
US7945821B2 (en) 2005-06-10 2011-05-17 Kabushiki Kaisha Topcon Time lag measuring device, distance measuring apparatus and distance measuring method
WO2007053413A2 (en) * 2005-10-28 2007-05-10 Teradyne, Inc. Dual sine-wave time stamp method and apparatus
WO2007053413A3 (en) * 2005-10-28 2007-09-07 Teradyne Inc Dual sine-wave time stamp method and apparatus
US7378854B2 (en) 2005-10-28 2008-05-27 Teradyne, Inc. Dual sine-wave time stamp method and apparatus

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