JPS6238287A - アルカリ廃液中のレジストの除去法 - Google Patents

アルカリ廃液中のレジストの除去法

Info

Publication number
JPS6238287A
JPS6238287A JP17742285A JP17742285A JPS6238287A JP S6238287 A JPS6238287 A JP S6238287A JP 17742285 A JP17742285 A JP 17742285A JP 17742285 A JP17742285 A JP 17742285A JP S6238287 A JPS6238287 A JP S6238287A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
waste liquid
solubility
alkaline
organic solvent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17742285A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiji Fujita
藤田 瑛二
Toyoji Oshima
大島 外代次
Katsumi Yashiro
矢代 克巳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP17742285A priority Critical patent/JPS6238287A/ja
Publication of JPS6238287A publication Critical patent/JPS6238287A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42Stripping or agents therefor
    • G03F7/422Stripping or agents therefor using liquids only

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Physical Water Treatments (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、アルカリ廃液中のレジストの除去法に関し、
さらに詳しくはアルカリ現像形感光性レジストを用いて
印刷配線板の回路を形成する際に発生するアルカリ廃液
から効率よくレジストを除去する方法に関する。
(従来の技術) 印刷配線板の製造、金属の精密加工等の分野において、
基材にエツチング、めっき等の化学的、電気的手法を施
す際に、感光性樹脂組成物またはこれを使用した感光性
エレメントを射光性レジストとして使用することが知ら
れている。この際感光性エレメントとしては、支持体上
に感光性樹脂組成物を積層したものが広く使用されてい
る。
一方、印刷配線板の製造法としては、テンティング法と
めっき法の2法が知られているがテンティング法は、チ
ップ搭載のための銅スルホールをレジストで保護し、エ
ツチングおよびレジスト剥離を経て、電気回路の形成を
行なう方法である。
この方法においては、レジスト保護膜を形成する際に、
銅張積層板の銅面をレジストで被覆し、原画を通して露
光した後、現像液による現像処理が行なわれ、次いで剥
離液による剥離処理が行なわれる。これらの現像液およ
び剥離液としては、アルカリ水溶液または溶剤が使用さ
れる。アルカリ水溶液を現像液または剥離液として使用
する場合には、使用中液中に感光性レジストが溶解およ
び分散し、次第に現像または剥離能力が低下し、約0.
5rd/lの感光性レジストを処理するごとに液を交換
する必要があり、また多量のアルカリ廃液が発生する。
従来、これらのアルカリ廃液は、COD (化学的酸素
要求量)の値が約5000〜10,000であり、この
まま廃棄できないため、例えばpi(が2〜3になるま
で酸を加え、必要に応じ凝集剤も加えて液中の感光性レ
ジストを凝集分離したり、中和後生物酸化法、活性汚泥
法、電気分解法等によりアルカリ廃液中の感光性レジス
トを除去する方法が行なわれている。しかしながら、こ
れらの方法には、処理後の廃液について各地域で規定さ
れている廃水基準に合格するか否かを確認し、基準に合
格しない場合には、基準に合格するまで清水で希釈した
後に廃棄が行なわれ、このため多量の水を必要とし、し
かも処理装置設置のために広大な場所を必要とする等の
問題点がある。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明の目的は、前記従来技術の欠点を除去してアルカ
リ廃液から効率よくレジストを除去することのできるア
ルカリ廃液中のレジストの除去法を提供することにある
(問題点を解決するための手段) 本発明者らは、アルカリ廃液から感光性レジストを有機
溶剤で抽出処理することを考え、この際抽出後にアルカ
リ水溶液を分離するためにはアルカリ廃液と有機溶剤と
を混合後、アルカリ水溶液層と有機溶剤層とが2層に分
離すること、また廃液中に溶解または分散している感光
性レジストが有機溶剤に十分溶解することが必要であり
、これらの条件を満足する特定の有機溶剤を使用する必
要があることを見出して本発明に到達した。
本発明は、アルカリ現像形感光性レジストを用いて印刷
配線板の回路を形成する際に発生するアルカリ廃液を、
20℃における水に対する溶解度が30重量%以下で、
かつその溶解度パラメータが9.0−11.5である有
機溶剤またはその混合物でアルカリ廃液中のレジストを
抽出して除去するアルカリ廃液中のレジストの除去法に
関する。
現像に用いられるアルカリ現像液としては、例えば1〜
2重量%の炭酸ソーダ水溶液が、またアルカリ剥離液と
しては、例えば1〜7重量%のカセイソーダまたはカセ
イカリ水溶液が使用される。
また感光性レジストは、いずれも成膜性付与ポリマー、
光架橋剤、光重合開始剤を含み、さらに必要に応じて安
定剤、着色剤等の添加剤を含んでいる。成膜性付与ポリ
マーとしては、例えばメタクリル酸エステル、アクリル
酸エステル、メタクリル酸、イタコン酸、マレイン酸等
の共重合体で、側鎖にカルボキシル基を有するポリマー
が、光架橋剤としては、例えばアクリロイル基またはメ
タクリロイル基を有する七ツマ−やオリゴマーが、光重
合開始剤としては、例えばアントラキノン類、ベンゾフ
ェノン、ベンゾインエーテル類等が、安定剤としては、
例えばハイドロキノン等が、着色剤としては、例えば青
や縁糸の染料等が使用される。
アルカリ廃液において、前記感光性レジストの成分中、
成膜性付与ポリマーの大部分はアルカリ水溶液中に溶解
し、他の成分はアルカリ水溶液中に一部が溶解し、また
一部が分散している。
このようなアルカリ廃液と混合した後、放置することに
より、2層に分離可能な有機溶剤としては、水に対する
溶解性の少ないものほど良好であり、本発明方法に使用
される有機溶剤は、20℃における水に対する溶解度が
30重量%以下のものとされる。20℃における水に対
する溶解度が30重量%を超える場合には、アルカリ廃
液と有m溶剤とが均一に溶解し合い、その結果両者を分
離することができない。
また感光性レジストの溶解度パラメータは約10〜10
.5であるが、アルカリ廃液と有機溶剤とを混合する際
、感光性レジストを十分に有機溶剤に溶解させるために
は使用する有機溶剤は、感光性レジストと同程度の溶解
度パラメータを有するものほど好ましい。このため本発
明方法に使用される有機溶剤の溶解度パラメータは、9
.0〜11゜5の範囲にされる。この範囲外の溶解度パ
ラメータを有する有機溶剤を使用する場合には、アルカ
リ廃液中の感光性レジストを十分溶解させることができ
ず、その結果処理後の廃液を再使用することができない
20℃における水に対する溶解度が30重量%以下でか
つその溶解度パラメータが9.0〜11.5である有機
溶剤としては、例えば酢酸エチル、酢酸ブチル、メチル
エチルケトン、メチルブチルケトン、塩化メチレン、1
,1.1−トリクロロエタン、トリクロロメタン、ベン
ゼン等が使用される。これらの有機溶剤は単独で、また
は2種以上の混合物として使用される。トルエン、キシ
レン等の単独では20℃における水に対する溶解度およ
び溶解度パラメータが上記の範囲内に入らないものは、
溶解度パラメータの異なる他の溶剤と混合して、溶解度
および同パラメータが上記の範囲に入るように調整して
使用される。溶解度および溶解度パラメータは、例えば
実施例に示されるような文献により容易に求めることが
できる。
本発明になる方法においてアルカリ廃液を前記有機溶剤
を使用して抽出処理するに際しては、例えば1000j
!の槽中で、アルカリ廃液4001および前記有機溶剤
4001を攪拌混合し、次いで、混合液が2層に分離す
るまで放置後レジストが含まれる有機溶剤層を分離する
。伜のようにしてアルカリ廃液から効率よくレジストを
除去することができ、得られるアルカリ水溶液は、pH
を調整して再使用することができる。
(発明の効果) 本発明のアルカリ廃液中のレジストの除去法によれば、
アルカリ廃液を特定の有機溶剤またはその混合物で処理
することにより、廃液中の感光性レジストを効率よく除
去することができ、廃液を再使用することができる。こ
の結果、本発明になる方法によれば、アルカリ廃液を皆
無にすることができ、また多量の水を節約でき、さらに
廃液の処理装置設置のため広大な面積を必要としない等
の効果が得られる。
(実施例) 製造例 アルカリ現像形感光性フィルムとして1.5MのPHT
−865AFT−50(日立化成工業(株)!りを2%
炭酸ソーダ水溶液51に熔解し、アルカリ廃液(A)を
得た。
同様にして、1.5 rrrのPHT−865AFT−
50を銅張積層板の銅面に貼り合わせて全面露光後、5
%カセイソーダ水溶液で剥離し、アルカリ廃液(B)を
得た。
実施例1〜5および比較例1〜7 製造例で得られたアルカリ廃液(A)または(B)の5
0m1に対し、第1表に示す有機溶剤をそれぞれ50m
1ずつ添加し、5分間攪拌混合した後、24時間室温で
放置した。放置復液が水溶液層と有機溶剤層の2Nに分
離しているか、レジストが有機溶剤層に十分溶解してい
るかを目視で調べた。その結果を第1表に示す。
第1表の結果から、比較例である、アセトン、エチルセ
ロソルブ、メチルセロソルブ、テトラヒドロフラン、プ
ロピレングリコールモノメチルエーテル、メタノール等
の20℃における水に対する溶解度が30重量%を超え
る有機溶剤を使用する場合には、アルカリ廃液と混合復
液が分離しないことが示される。また比較例である溶解
度パラメータ(SP値)が9.0未満のトルエンおよび
溶解度パラメータが11.5を超えるメタノールを使用
する場合には、廃液中の感光性レジストが溶解しないこ
とが示される。
一方、本発明の実施例である、20℃における水に対す
る溶解度が30重量%以下でかつ溶解度パラメータが9
.0〜11.5である塩化メチレン、酢酸エチル、メチ
ルエチルケトン、トリクロロエタン、1,1.1−)リ
クロロメタンを使用する場合には、水溶液層と有機溶剤
層とが完全に分離し、しかも廃液中の感光性レジストが
有機溶剤層に十分熔解していることが示される。
以下余白 (註)放置後の液の分離性   ○:分離する×:分離
しない 感光性レジストの溶解性 ○:溶解する×:溶解しない *  水に対する溶解度:「溶剤ポケットブック」 (
有機 合成化学協会編、 昭和42年11 月発行)のデー タによる ** 溶解度パラメータ=「実学高分子」(向井淳二他
著、 講談状サイエン ティフィク、1 981年10月 発行)のデータ による 試験例 実施例1〜5において、有機溶剤で処理して得られたア
ルカリ廃液から水溶液層を取出し、現像液の場合には、
炭酸ソーダでpHが10〜11になるように調整した後
、一方剥離液の場合にはそのままの状態で再使用し、ア
ルカリ現像形感光性フィルムとして、PHT−865A
FT−50を用いて現像性、または剥離性を調べた。そ
の結果を第2表に示す。第2表の結果から、本発明の方
法における有機溶剤で処理した廃液は、全く問題なく再
使用できるものであることが示される。
第   2   表

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、アルカリ現像形感光性レジストを用いて印刷配線板
    の回路を形成する際に発生するアルカリ廃液を、20℃
    における水に対する溶解度が30重量%以下で、かつそ
    の溶解度パラメータが9.0〜11.5である有機溶剤
    またはその混合物でアルカリ廃液中のレジストを抽出し
    て除去することを特徴とするアルカリ廃液中のレジスト
    の除去法。
JP17742285A 1985-08-12 1985-08-12 アルカリ廃液中のレジストの除去法 Pending JPS6238287A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17742285A JPS6238287A (ja) 1985-08-12 1985-08-12 アルカリ廃液中のレジストの除去法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17742285A JPS6238287A (ja) 1985-08-12 1985-08-12 アルカリ廃液中のレジストの除去法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6238287A true JPS6238287A (ja) 1987-02-19

Family

ID=16030649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17742285A Pending JPS6238287A (ja) 1985-08-12 1985-08-12 アルカリ廃液中のレジストの除去法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6238287A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4576902A (en) Process of making and using a positive working photosensitive film resist material
US5004672A (en) Electrophoretic method for applying photoresist to three dimensional circuit board substrate
JP2553872B2 (ja) ホトレジスト用剥離液
WO2009096438A1 (ja) 導電パターンの作製方法
US5407788A (en) Photoresist stripping method
US5637442A (en) Method for treating photolithographic developer and stripper waste streams containing resist or solder mask and gamma butyrolactone or benzyl alcohol
JP3497188B2 (ja) 両性組成物
US6451498B1 (en) Photosensitive composition
US4087370A (en) Photoresist stripper systems
JPS6238287A (ja) アルカリ廃液中のレジストの除去法
JPH04361265A (ja) 剥離液
JP4431642B2 (ja) 感光性レジスト用現像液組成物
WO2019203529A1 (ko) 드라이필름 레지스트 박리액 조성물
JP3437179B2 (ja) 感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
JP4817824B2 (ja) 感光性樹脂組成物およびそれを用いた感光性樹脂積層体
JPS616827A (ja) フオトレジストのストリツパー
JPH06242603A (ja) 感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
KR100357292B1 (ko) 프린트배선판제조용현상액및프린트배선판의제조방법
JPH0233148A (ja) 感光性樹脂組成物
JPS6234149A (ja) 画像形成材料
JP3238527B2 (ja) 感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
JP3328858B2 (ja) プリント配線板の製造法および現像液
JP2001042522A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法
JPH0922122A (ja) レジストの剥離液及び剥離方法
JP4431641B2 (ja) 感光性レジスト用現像液組成物