JPS6237178Y2 - - Google Patents

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JPS6237178Y2
JPS6237178Y2 JP16330080U JP16330080U JPS6237178Y2 JP S6237178 Y2 JPS6237178 Y2 JP S6237178Y2 JP 16330080 U JP16330080 U JP 16330080U JP 16330080 U JP16330080 U JP 16330080U JP S6237178 Y2 JPS6237178 Y2 JP S6237178Y2
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circuit
terminals
terminal
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は両端で端子板に接続された多芯ケーブ
ルの芯線間の開放か短絡かをチエツクするため
に、端子板の両端のそれぞれに接続する接続線か
らなる多芯ケーブルチエツク治具に関する。
多芯ケーブルの両端に端子板を誤りなく接続
し、さらにその誤りをチエツクすることは容易で
はない。従来チエツクには回路テスターや発光ダ
イオードを使つたテスター、また近年コンピユー
タも使われている。しかし通常の回路テスターは
チエツクに人手や時間がかかり、発光ダイオード
を使つたものでは部品の数も多く、またコンピユ
ータを使う方法では機械やプログラムなどが高価
なものとなる。
本考案は従来のものに比べて簡単で部品点数も
少く、簡単に誤配線、短絡、開路のチエツクので
きる、1対の接続栓と測定器とよりなるチエツク
治具を提供するものである。
本考案は第1図の実施例に示すように、多芯ケ
ーブル1の短絡開放をチエツクするために、多芯
ケーブル1の両端に接続された端子板2および3
と結合する第1の接続栓4および第2の接続栓5
を用いる。たとえば第1の接続栓4に6端子a,
b,c,d,e,fを用いた場合、第1接続栓4
の始端a,bの2端子を2矩形波入力端子とし、
それに続く端子c,d,e,fを1端子おきにc
とe、およびdとfを短絡する。また多芯ケーブ
ルの他の端子板3と結合する第2の接続栓5の端
子a′,b′,c′,e′,f′においては、始端から1端
子おきにa′とc′、およびb′とd′とをそれぞれ短絡
し、それに続く終端の2端子e′,f′は多芯ケーブ
ルの短絡、開放検出のための論理回路9の入力に
接続する。
第1接続栓4の端子a,bには矩形波発振器6
の出力をたとえば2個のインバータ回路7,8に
よつて極性を変え、端子aおよび端子bに互に極
性の異つたパルスを加える。すなわち端子aに正
極性であると端子bに負極性を加える。また第2
接続栓5の終端の端子e′,f′には論理回路9およ
びその出力、極性を検出して表示する表示回路1
0を接続する。論理回路9の例として図に示すよ
うに、2端子入力のNAND回路11の入力には端
子e′の出力とインバータ回路7の出力を加え、ま
たNAND回路12の入力には端子f′の出力とイン
バータ回路8の出力を加え、NAND回路11,1
2の出力はNAND回路13に入力し、その出力を
表示回路10に供給する。
いまインバータ回路7から正極のパルスが出力
されていて端子aに加わり、インバータ回路8か
らは負極のパルスが出力されて端子bに印加され
ている。多芯ケーブル1の配線が正しければ、正
極パルスは第2接続栓5の端子a′に正極として、
負極パルスは端子b′に負極としてそれぞれ出力さ
れるので、論理回路9の中のNAND回路11の一
つの入力端子には正極、NAND回路12の一つの
入力端子には負極が入力されている。またインバ
ータ回路7の正極出力はNAND回路11の他の入
力端子に、インバータ回路8の負極出力はNAND
回路12の他の入力端子にそれぞれ入力される。
この2入力がNAND回路13に加わるとその出力
から正極が出る。
また多芯ケーブル1の配線の間に短絡があると
きは、インバータ回路7の出力の1つはダイオー
ド14を通じて負極となる。したがつてNAND回
路11への2つの入力は正極と負極となり、
NAND回路12への2つの入力は負極と負極とな
り、それらの出力を入力とするNAND回路13か
らの出力は負極となる。
また多芯ケーブルの1本の配線が切断されてい
るときは、論理回路9のNAND回路11あるいは
12の入力に接続された抵抗15あるいは16に
よつてNAND回路の1つの入力が接地されて負極
となるので、総合的に論理回路9の出力は負極と
なる。
さらに誤配線があつて途中1個所で隣り合つた
端子間で取り違えたときは、論理回路9内の
NAND回路11,12の1つの入力がそれぞれ逆
となるので、論理回路9の出力は負極となる。
したがつて以上に述べたことから、多芯ケーブ
ルの配線が正しければ論理回路9の出力は正極と
なるが、短絡、開放、配線取り違いのときは負極
となり、配線の事故を判定しチエツクすることが
できる。この結果から表示回路10の1例として
はダイオードとランプあるいはブザーを接ぎ、
正、負の差によつてランプの点灯あるいはブザー
の発音で区別することができる。
以上に述べたように、本考案によれば、出力極
性の違いを少い部品を接続栓に接続することによ
つて容易に間違いなく配線の誤りをチエツクする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の多芯ケーブルチエツク治具の
実施例の回路図である。 なお図における記号は下記のものを示す。1…
…多芯ケーブル、2,3……端子板、4,5……
接続栓、6……矩形波発振器、7,8……インバ
ータ回路、9……論理回路、10……表示回路、
11,12,13……NAND回路、14……ダイ
オード、15……抵抗。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. それぞれの端子に多芯ケーブルの両端を接続し
    た2個の端子板のそれぞれと結合し、隣り合つた
    ケーブル間の短絡およびケーブル開放検査用の2
    接続栓よりなるケーブルチエツク治具において、
    始端より隣り合つた2端子のそれぞれを2矩形波
    入力接続用端子とし、それに続く端子を1端子お
    きに短絡して終端に到る第1の接続栓と、前記第
    1の接続栓の端子に相対する始端端子より1端子
    おきに短絡し、終端の隣り合つた2端子を2論理
    回路への入力接続用端子とする第2の接続栓と、
    前記第1の接続栓の始端2端子に接続される互い
    に極性の異なる矩形波を出力する発振回路と、前
    記第2の接続栓の終端2端子に接続される4入力
    2論理積回路と、前記発振回路の他の異つた極性
    出力を前記2論理積回路の他の2端子に入力する
    接続回路、ならびに前記2論理積回路出力の論理
    積回路と、この回路出力により動作する表示回路
    とより構成された多芯ケーブルチエツク治具。
JP16330080U 1980-11-14 1980-11-14 Expired JPS6237178Y2 (ja)

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JP16330080U JPS6237178Y2 (ja) 1980-11-14 1980-11-14

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JP16330080U JPS6237178Y2 (ja) 1980-11-14 1980-11-14

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JPS5786470U JPS5786470U (ja) 1982-05-28
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JP16330080U Expired JPS6237178Y2 (ja) 1980-11-14 1980-11-14

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JP6600107B1 (ja) * 2019-01-07 2019-10-30 株式会社岩崎電機製作所 電線検査装置

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JPS5786470U (ja) 1982-05-28

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