JPS6236997B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6236997B2 JPS6236997B2 JP58042579A JP4257983A JPS6236997B2 JP S6236997 B2 JPS6236997 B2 JP S6236997B2 JP 58042579 A JP58042579 A JP 58042579A JP 4257983 A JP4257983 A JP 4257983A JP S6236997 B2 JPS6236997 B2 JP S6236997B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ampoule
- hgcdte
- crystal
- alloy
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 28
- 239000003708 ampul Substances 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 7
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000007711 solidification Methods 0.000 claims description 5
- 230000008023 solidification Effects 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 11
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 6
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910004262 HgTe Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 3
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B33/00—After-treatment of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/46—Sulfur-, selenium- or tellurium-containing compounds
- C30B29/48—AIIBVI compounds wherein A is Zn, Cd or Hg, and B is S, Se or Te
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はブリツジマン法によつてHgCdTeの
単結晶を製造する方法に関するものである。
HgCdTeのバルク単結晶を製造する方法としては
いわゆるブリツジマン法がよく用いられている。
これはHg、Cd、Teの三元素又は化合物HgTeと
CdTeを所望の組成比となるように秤量・混合し
た後、石英などで作られたアンプル中に真空封入
し、これを融点以上に保持し、よく溶解させてか
ら次第にアンプルの温度を下げながらアンプル中
のHgCdTeを固化・単結晶化させる方法である。
HgCdTeは周知のようにHgTeとCdTeの全率固溶
体であるので、HgTeあるいはCdTeのみの場合
と違つて、溶融体から固化する際にCdに対する
Hgの偏析現象がある。このため両者を相互拡散
させることによつて全体の組成均一化をはかる必
要がある。更に一般にはブリツジマン法ではCZ
法のような自由表面状態での結晶化ではないの
で、多結晶化する傾向が強い。従つて特にこの
HgCdTe結晶の製造過程においては、組成の均一
化と多結晶の単結晶化のために、固化温度を通過
してもそのまま徐冷を続けて長時間のアニールを
行なうのが普通である。
単結晶を製造する方法に関するものである。
HgCdTeのバルク単結晶を製造する方法としては
いわゆるブリツジマン法がよく用いられている。
これはHg、Cd、Teの三元素又は化合物HgTeと
CdTeを所望の組成比となるように秤量・混合し
た後、石英などで作られたアンプル中に真空封入
し、これを融点以上に保持し、よく溶解させてか
ら次第にアンプルの温度を下げながらアンプル中
のHgCdTeを固化・単結晶化させる方法である。
HgCdTeは周知のようにHgTeとCdTeの全率固溶
体であるので、HgTeあるいはCdTeのみの場合
と違つて、溶融体から固化する際にCdに対する
Hgの偏析現象がある。このため両者を相互拡散
させることによつて全体の組成均一化をはかる必
要がある。更に一般にはブリツジマン法ではCZ
法のような自由表面状態での結晶化ではないの
で、多結晶化する傾向が強い。従つて特にこの
HgCdTe結晶の製造過程においては、組成の均一
化と多結晶の単結晶化のために、固化温度を通過
してもそのまま徐冷を続けて長時間のアニールを
行なうのが普通である。
ところで、このアニール過程も一般には当然の
ことながら、同一アンプルに入つたままで行なう
ため、多結晶体は自由表面であり得ず、従つても
ともと多結晶体の熱処理による単結晶化が比較的
容易であると言われるHgCdTeもアンプルの管壁
との接触が障害となつてその部分付近の単結晶化
が中心部より遅れるか又は不可能となる恐れがあ
る。
ことながら、同一アンプルに入つたままで行なう
ため、多結晶体は自由表面であり得ず、従つても
ともと多結晶体の熱処理による単結晶化が比較的
容易であると言われるHgCdTeもアンプルの管壁
との接触が障害となつてその部分付近の単結晶化
が中心部より遅れるか又は不可能となる恐れがあ
る。
通常行なわれる従来方法は、まず、結晶原料と
して純度99.999％のHgTe及びCdTe多結晶をモル
比で４：１の組成比になるように30ｇ秤量する。
これを内径10mm、150mmの肉厚の石英アンプルに
真空封入し、防爆のために30気圧の加圧が可能で
ある高圧容器を用いて、この組成物の融点より少
し高い温度（830℃）で24時間溶解したのち、24
時間の徐冷で固化温度より少し低い温度（680
℃）まで降温し、この温度に保つたまま15〜20日
間アニールする。この後、12時間の徐冷で室温ま
で降温してアンプルを回収する。この中から取り
出した結晶体を長さ方向に対して垂直に切断して
円板を切り出し、断面を鏡面研磨して観察する
と、中心部は比較的大きい結晶粒となつている
が、アンプルの管壁に接触していた周辺部分では
いくつかの粒界が残つている。この事実から、先
の推定が正しいことが分かる。即ち、一般に行わ
れているブリツジマン法のアニール過程において
アンプルの管壁との接触が障害となつてその付近
の結晶粒の発達が遅れ、そのため全体としてアニ
ール過程に余分な時間が費され、しばしば結晶粒
界が最後まで除去できないのである。従つて、多
結晶を自由表面状態としてアニールすれば単結晶
化はより早く完了することが推定される。
して純度99.999％のHgTe及びCdTe多結晶をモル
比で４：１の組成比になるように30ｇ秤量する。
これを内径10mm、150mmの肉厚の石英アンプルに
真空封入し、防爆のために30気圧の加圧が可能で
ある高圧容器を用いて、この組成物の融点より少
し高い温度（830℃）で24時間溶解したのち、24
時間の徐冷で固化温度より少し低い温度（680
℃）まで降温し、この温度に保つたまま15〜20日
間アニールする。この後、12時間の徐冷で室温ま
で降温してアンプルを回収する。この中から取り
出した結晶体を長さ方向に対して垂直に切断して
円板を切り出し、断面を鏡面研磨して観察する
と、中心部は比較的大きい結晶粒となつている
が、アンプルの管壁に接触していた周辺部分では
いくつかの粒界が残つている。この事実から、先
の推定が正しいことが分かる。即ち、一般に行わ
れているブリツジマン法のアニール過程において
アンプルの管壁との接触が障害となつてその付近
の結晶粒の発達が遅れ、そのため全体としてアニ
ール過程に余分な時間が費され、しばしば結晶粒
界が最後まで除去できないのである。従つて、多
結晶を自由表面状態としてアニールすれば単結晶
化はより早く完了することが推定される。
この発明は以上述べたような現在一般に行われ
ているブリツジマン法におけるアニール過程にお
ける欠点を除き、単結晶化を短時間で行うことの
出来る方法を提供することを目的とする。
ているブリツジマン法におけるアニール過程にお
ける欠点を除き、単結晶化を短時間で行うことの
出来る方法を提供することを目的とする。
この発明によれば、HgCdTe単結晶をブリツジ
マン法で製造するに際して、石英アンプル内で多
結晶化したHgCdTe合金を、別のより太いアンプ
ル内に再封入した後にこの合金の大部分がアンプ
ルの管壁に接触しないようにしてしかもこの合金
の固化温度より低い温度で熱処理を行うことによ
つて単結晶化することを特徴とするHgCdTe単結
晶の製造方法が得られる。
マン法で製造するに際して、石英アンプル内で多
結晶化したHgCdTe合金を、別のより太いアンプ
ル内に再封入した後にこの合金の大部分がアンプ
ルの管壁に接触しないようにしてしかもこの合金
の固化温度より低い温度で熱処理を行うことによ
つて単結晶化することを特徴とするHgCdTe単結
晶の製造方法が得られる。
次にこの発明の実施例を詳述する。試料の準備
と封入、溶解は先述の通りとし、24時間の溶解後
の徐冷も同様に開始するが、その途中で一定温度
に保持してアニールすることなく、そのままの速
さで室温まで降温した。ここで得られた結晶体
を、アンプルを破壊して取り出し、長さ方向に垂
直に円板を切り出した。断面を鏡面研磨して観察
したところ、中央部分の結晶粒は比較的大きく、
周辺部分は比較的小さい多結晶体であり、結晶粒
の大きさの分布は１〜数mmであつた。この多結晶
体を自由表面の状態で単結晶化のアニールをアン
プルの管壁に、多結晶体のほとんどの部分を接触
させないようにして施すために内径12mmのより太
い石英アンプルに少量の水銀と共に前と同様の条
件で再封入した。これをこの組成の固化温度より
少し低い680℃で８日間アニールした。結晶粒観
察のため円板を切り出して観察した。その結果、
わずか８日間のアニールによつて従来方法による
よりはるかに結晶粒が発達し、従来15〜20日間の
アニールで得られた結晶に近い結晶が得られるこ
とが分つた。11日間アニールした結晶では殆ど結
晶粒界が認められず、全体が単結晶化していた。
と封入、溶解は先述の通りとし、24時間の溶解後
の徐冷も同様に開始するが、その途中で一定温度
に保持してアニールすることなく、そのままの速
さで室温まで降温した。ここで得られた結晶体
を、アンプルを破壊して取り出し、長さ方向に垂
直に円板を切り出した。断面を鏡面研磨して観察
したところ、中央部分の結晶粒は比較的大きく、
周辺部分は比較的小さい多結晶体であり、結晶粒
の大きさの分布は１〜数mmであつた。この多結晶
体を自由表面の状態で単結晶化のアニールをアン
プルの管壁に、多結晶体のほとんどの部分を接触
させないようにして施すために内径12mmのより太
い石英アンプルに少量の水銀と共に前と同様の条
件で再封入した。これをこの組成の固化温度より
少し低い680℃で８日間アニールした。結晶粒観
察のため円板を切り出して観察した。その結果、
わずか８日間のアニールによつて従来方法による
よりはるかに結晶粒が発達し、従来15〜20日間の
アニールで得られた結晶に近い結晶が得られるこ
とが分つた。11日間アニールした結晶では殆ど結
晶粒界が認められず、全体が単結晶化していた。
以上詳述したように従来のブリツジマン法にお
けるアニール過程においては、自由表面状態での
アニールではなく、アンプルの管壁によつて結晶
粒の発達が阻害されるため、長時間アニールによ
つても完全な単結晶体にすることは困難であつた
が、この発明によれば自由表面状態であるため何
の障害もなく結晶粒の発達が促進され、従来より
も短時間で単結晶体を得ることが出来る。
けるアニール過程においては、自由表面状態での
アニールではなく、アンプルの管壁によつて結晶
粒の発達が阻害されるため、長時間アニールによ
つても完全な単結晶体にすることは困難であつた
が、この発明によれば自由表面状態であるため何
の障害もなく結晶粒の発達が促進され、従来より
も短時間で単結晶体を得ることが出来る。
Claims (1)
- １ HgCdTe単結晶をブリツジマン法で製造する
に際して、石英アンプル内で多結晶化した
HgCdTe合金を、別のより太いアンプル内に再封
入した後にこの合金の大部分がアンプルの管壁に
接触しないようにしてしかもこの合金の固化温度
より低い温度で熱処理を行うことによつて単結晶
化することを特徴とするHgCdTe単結晶の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58042579A JPS59169995A (ja) | 1983-03-15 | 1983-03-15 | ＨｇＣｄＴｅ単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58042579A JPS59169995A (ja) | 1983-03-15 | 1983-03-15 | ＨｇＣｄＴｅ単結晶の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59169995A JPS59169995A (ja) | 1984-09-26 |
| JPS6236997B2 true JPS6236997B2 (ja) | 1987-08-10 |
Family
ID=12639976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58042579A Granted JPS59169995A (ja) | 1983-03-15 | 1983-03-15 | ＨｇＣｄＴｅ単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59169995A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01203091A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-15 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 廃品処理装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2593196B1 (fr) * | 1986-01-21 | 1988-04-15 | Telecommunications Sa | Procede de preparation d'un lingot cristallin de hg1-xo cdxo te |
| EP0686711B1 (en) * | 1993-12-22 | 2002-06-05 | Tokin Corporation | Method for manufacturing a magneto-optical device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS534074A (en) * | 1977-07-25 | 1978-01-14 | Mitsubishi Plastics Ind | Process for manufacture of pallet using polyethylene foam |
| JPS54433A (en) * | 1977-06-03 | 1979-01-05 | Mitsubishi Plastics Ind | Method of making joint |
-
1983
- 1983-03-15 JP JP58042579A patent/JPS59169995A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54433A (en) * | 1977-06-03 | 1979-01-05 | Mitsubishi Plastics Ind | Method of making joint |
| JPS534074A (en) * | 1977-07-25 | 1978-01-14 | Mitsubishi Plastics Ind | Process for manufacture of pallet using polyethylene foam |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01203091A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-15 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 廃品処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59169995A (ja) | 1984-09-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6236997B2 (ja) | ||
| JPS58500757A (ja) | テルル化水銀カドミウム結晶の成長方法 | |
| US3622405A (en) | Method for reducing compositional gradients in{11 {11 {11 {11 {11 {11 {11 {11 {11 {11 | |
| Feigelson et al. | Solution growth of CdGeAs2 | |
| EP0187843B1 (en) | Growth of single crystal cadmium-indium-telluride | |
| Patel et al. | Growth of barite group crystals by the flux evaporation method | |
| JPH068237B2 (ja) | シリコン単結晶引上げ用石英ルツボ | |
| JP2787995B2 (ja) | 四ほう酸リチウム単結晶の製造方法 | |
| JP2861640B2 (ja) | ベータバリウムボレイト単結晶の育成方法 | |
| JP2809364B2 (ja) | 四ほう酸リチウム単結晶の製造方法 | |
| JPS58181800A (ja) | ルツボ | |
| JP3132956B2 (ja) | 酸化物単結晶の製造方法 | |
| JPS59152285A (ja) | 単結晶の製造法 | |
| JP2739546B2 (ja) | 硼酸リチウム単結晶の製造方法 | |
| JPH01197382A (ja) | シリコン単結晶引上げ用石英ルツボ | |
| JPH07108837B2 (ja) | ベータバリウムボレイト単結晶の育成方法 | |
| RU1175186C (ru) | Способ получения кристаллов со структурой берилла | |
| JPH0458438B2 (ja) | ||
| JPH0737360B2 (ja) | ベータバリウムボレイト単結晶の育成方法 | |
| JPH02279583A (ja) | 単結晶育成方法 | |
| JPH0725533B2 (ja) | シリコン多結晶インゴツトの製造方法 | |
| JPH02172892A (ja) | 単結晶育成方法 | |
| JPH0859396A (ja) | ベータ・バリウムボレイト単結晶加工表面の改質方法 | |
| JPH09157093A (ja) | ＺｎＳｅ単結晶の成長方法 | |
| JPS62171997A (ja) | ベリル単結晶の再結晶方法 |