JPS6232337A - 密封包装体のピンホ−ルなどの検査方法 - Google Patents
密封包装体のピンホ−ルなどの検査方法Info
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- JPS6232337A JPS6232337A JP17282985A JP17282985A JPS6232337A JP S6232337 A JPS6232337 A JP S6232337A JP 17282985 A JP17282985 A JP 17282985A JP 17282985 A JP17282985 A JP 17282985A JP S6232337 A JPS6232337 A JP S6232337A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は密封包装体のピンホールなどの検査方法に係り
、例えばガラス、プラスチックなどの電気絶縁性材にＣ
成望された外被部を（ｊ−づ−る審１４包装体の外被部
のピンホールなどの欠陥部のｌｉ無を検査する方法に関
する。
、例えばガラス、プラスチックなどの電気絶縁性材にＣ
成望された外被部を（ｊ−づ−る審１４包装体の外被部
のピンホールなどの欠陥部のｌｉ無を検査する方法に関
する。
従来この種の放電電極間に被検査体の密封包装体を配置
し、この両゛市極間にｔＩＡ電圧を印加し放電により密
封包装体のピンホールなどの欠陥部の存在を検査する方
法は、液密１４包装体を間に配置する電極間の放電を発
生させる空間部を除いて放電検知部を含んだ閉回路が用
いられていた。このような検査方法は例えば、特公昭５
０−６９９８号公報または１！１公昭５７−３７０２７
号公報に記載されている方法が知られている。前記特公
昭５０−６９９８号公報に記載されている方法は、第３
図に示すように高電圧電源部１、回路インピーダンス２
、一方の放電電極と被検査体との間の容量３、包装内容
物インピーダンス４、前記−力の電極に対向サ−る他方
の電極と被−検査体との間の容量５およびｒｌＩ電電電
電用検出部６される電気的等価回路を構成し、放電時の
電流増加のみを検出づるようにしている。また前記特公
昭５７−３７０２７号公報に記載の方法は第４図に示す
ように第３図に示す等価回路において２個の平衡Ｔ５極
を具怖し、平衡回路の平衡インピーダンス７を有する等
価回路を構成し、２個の平衡電極のいずれか一方で発生
する放電電流の変化を検出するもので、第３図に示す方
法に比し、ノイズ／シグナル比が改善されている。
し、この両゛市極間にｔＩＡ電圧を印加し放電により密
封包装体のピンホールなどの欠陥部の存在を検査する方
法は、液密１４包装体を間に配置する電極間の放電を発
生させる空間部を除いて放電検知部を含んだ閉回路が用
いられていた。このような検査方法は例えば、特公昭５
０−６９９８号公報または１！１公昭５７−３７０２７
号公報に記載されている方法が知られている。前記特公
昭５０−６９９８号公報に記載されている方法は、第３
図に示すように高電圧電源部１、回路インピーダンス２
、一方の放電電極と被検査体との間の容量３、包装内容
物インピーダンス４、前記−力の電極に対向サ−る他方
の電極と被−検査体との間の容量５およびｒｌＩ電電電
電用検出部６される電気的等価回路を構成し、放電時の
電流増加のみを検出づるようにしている。また前記特公
昭５７−３７０２７号公報に記載の方法は第４図に示す
ように第３図に示す等価回路において２個の平衡Ｔ５極
を具怖し、平衡回路の平衡インピーダンス７を有する等
価回路を構成し、２個の平衡電極のいずれか一方で発生
する放電電流の変化を検出するもので、第３図に示す方
法に比し、ノイズ／シグナル比が改善されている。
しかしながら被検査体の密封包装体は、形状が多柱多様
なため、強電界中のリーク電流はかなり強く、信号電流
に比してノイズレベルが高いため、放電電流の検出は不
確実になり易く、また第４図に示す方法では被検査体の
寸法形状によっては一対の平衡電極を具備することが困
難なことが多い。
なため、強電界中のリーク電流はかなり強く、信号電流
に比してノイズレベルが高いため、放電電流の検出は不
確実になり易く、また第４図に示す方法では被検査体の
寸法形状によっては一対の平衡電極を具備することが困
難なことが多い。
また一対の平１１ｉ電極を具備することができても電気
的に常時平衡をとることは不可能なことが多い。
的に常時平衡をとることは不可能なことが多い。
従って第４図に示す方法は第３図に示す方法に比して改
善されているが、被検査体の寸法形状に制約を受け、汎
用性に欠ける問題があった。
善されているが、被検査体の寸法形状に制約を受け、汎
用性に欠ける問題があった。
本発明は成る空隙が火花ｔｌｉ電で閃絡されるとき、ｔ
Ｉｉ電雑持電圧【まその部分で数百ボルトの低い値とな
り、火花が直ちにアークにその内容を変えてし同様にア
ーク維持電圧は極めて低いもので、２か所の空隙をイｊ
リ−る高電圧電気回路で１か所の空隙に火花が発生４る
ど高電圧は全部他の空隙に印加されることに４【す、同
様に他の空隙も放電を起ｌノ、火花またはアークで１つ
の開回路が構成されることに着目し、上記放電現争特右
の高電圧理論をピンホールｈどの欠陥部の検出に応用し
て上記従来の検査方法の問題点を解決し、ノイズ／シグ
ナル比が改善され、放電電流検出を確実にして検査の信
頼性を確実にした密封包装体のピンホールなどの検査方
法を捉供するものである。
Ｉｉ電雑持電圧【まその部分で数百ボルトの低い値とな
り、火花が直ちにアークにその内容を変えてし同様にア
ーク維持電圧は極めて低いもので、２か所の空隙をイｊ
リ−る高電圧電気回路で１か所の空隙に火花が発生４る
ど高電圧は全部他の空隙に印加されることに４【す、同
様に他の空隙も放電を起ｌノ、火花またはアークで１つ
の開回路が構成されることに着目し、上記放電現争特右
の高電圧理論をピンホールｈどの欠陥部の検出に応用し
て上記従来の検査方法の問題点を解決し、ノイズ／シグ
ナル比が改善され、放電電流検出を確実にして検査の信
頼性を確実にした密封包装体のピンホールなどの検査方
法を捉供するものである。
本発明の密封包装体のピンホールなどの検査方法は、ｔ
ｌｌ雷電極間に被検査体の密封包装体を配置し、この電
極間に電圧を印加することにより生じた前記密月包装体
トの放電電流を検出してピンホールなどの欠陥部の有無
を検査づる密封包装体のピンホール検査方法において、
前記放電電流を検出する回路上の一部に常時高電圧印加
時においては放電を生ぜず密封包装体のピンホールなど
の欠陥部で前記ｔｌｉ雷電極間の１３！ｉ電が生じると
同時に放電が発生ずる空隙部を形成し、この空隙部の放
電の有無を検知して密封包装体のピンホールを検査する
ことを特徴としたものである。
ｌｌ雷電極間に被検査体の密封包装体を配置し、この電
極間に電圧を印加することにより生じた前記密月包装体
トの放電電流を検出してピンホールなどの欠陥部の有無
を検査づる密封包装体のピンホール検査方法において、
前記放電電流を検出する回路上の一部に常時高電圧印加
時においては放電を生ぜず密封包装体のピンホールなど
の欠陥部で前記ｔｌｉ雷電極間の１３！ｉ電が生じると
同時に放電が発生ずる空隙部を形成し、この空隙部の放
電の有無を検知して密封包装体のピンホールを検査する
ことを特徴としたものである。
本発明の密封包装体のピンホールなどの検査方法は、放
電電極間に密封包装体を配置し、高電圧電源から両電極
間に高電Ｆ［を印加すると、密封包装体にピンホールな
どの欠陥部が存在しない場合には放電電極間の放電が発
生しないが、密封包装体に欠陥部が存在すると、両電極
間で放電が発生し、この両電極間で放電が発生すると、
高電圧は全て放電検知回路の空隙部に印加され、この空
隙部も放電を起し、火花またはアークで閉回路が形成さ
れる。この空隙部の放電を検知することにより密封包装
体のピンホールなどの欠陥部の存在を検知できる。そし
てピンホールなどの欠陥部を検出するための被検査体に
接触または）ｒ接触で対向する放電電極の他にその回路
上の他の箇所に別の空隙部が存在することにより、検知
回路のインピーダンスは無限に近い極端なハイインピー
ダンス回路となり、この回路上に成る部分に形成される
放電電流検出回路はノイズレベルが極麿に低く押え込ま
れることになる。すイにわち放電電極がピンホール部分
で放電を起すまでは、この放電電極と被検査体の間の暗
電流、被検査体の表面に流れようとするリーク電流、検
知電極と対向する他の電極間の容ｂ１を通じて流れよう
とする電流、その細波検査体の周辺以外の電線路の高電
圧漏洩電流など従来の方法では防止できなかった＾電圧
回路特有の漏洩電流がノイズレベルを押し上げることが
全くなくなり、しかも放電電流能力そのものは別に形成
される回路上の空隙が適当な寸法であれば、全く減殺さ
れることはないものである。
電電極間に密封包装体を配置し、高電圧電源から両電極
間に高電Ｆ［を印加すると、密封包装体にピンホールな
どの欠陥部が存在しない場合には放電電極間の放電が発
生しないが、密封包装体に欠陥部が存在すると、両電極
間で放電が発生し、この両電極間で放電が発生すると、
高電圧は全て放電検知回路の空隙部に印加され、この空
隙部も放電を起し、火花またはアークで閉回路が形成さ
れる。この空隙部の放電を検知することにより密封包装
体のピンホールなどの欠陥部の存在を検知できる。そし
てピンホールなどの欠陥部を検出するための被検査体に
接触または）ｒ接触で対向する放電電極の他にその回路
上の他の箇所に別の空隙部が存在することにより、検知
回路のインピーダンスは無限に近い極端なハイインピー
ダンス回路となり、この回路上に成る部分に形成される
放電電流検出回路はノイズレベルが極麿に低く押え込ま
れることになる。すイにわち放電電極がピンホール部分
で放電を起すまでは、この放電電極と被検査体の間の暗
電流、被検査体の表面に流れようとするリーク電流、検
知電極と対向する他の電極間の容ｂ１を通じて流れよう
とする電流、その細波検査体の周辺以外の電線路の高電
圧漏洩電流など従来の方法では防止できなかった＾電圧
回路特有の漏洩電流がノイズレベルを押し上げることが
全くなくなり、しかも放電電流能力そのものは別に形成
される回路上の空隙が適当な寸法であれば、全く減殺さ
れることはないものである。
（実施例〕
本発明の一実施例の方法を第１図について説明する。
この実施例は内部に流体または半流体状のものを封入し
た被検査体の密封包装体のピンホールなどの欠陥部を検
査する方法について説明するもので、高電圧電源１１の
両端子間には被検査体の密封包装体１２を間に配置する
放電電極１３．１４と放電検知回路１５とが直列に接続
されている。そしてこの検知回路１５の一部には空隙部
１６が形成されている。
た被検査体の密封包装体のピンホールなどの欠陥部を検
査する方法について説明するもので、高電圧電源１１の
両端子間には被検査体の密封包装体１２を間に配置する
放電電極１３．１４と放電検知回路１５とが直列に接続
されている。そしてこの検知回路１５の一部には空隙部
１６が形成されている。
なおこの電気回路を等価回路は第２図に示すとおりとな
り、１７は電線路のインピーダンス、１Ｂは一方の放電
電極１３と密封包装体１２との間の容量、１９は密封包
装体１２のインピーダンス、２０は他方の放電電極１４
と密封包装体１２との間の容量、２１は前記放電検知回
路１５と並列に設（プられ適当な値を右づるインピーダ
ンスである。
り、１７は電線路のインピーダンス、１Ｂは一方の放電
電極１３と密封包装体１２との間の容量、１９は密封包
装体１２のインピーダンス、２０は他方の放電電極１４
と密封包装体１２との間の容量、２１は前記放電検知回
路１５と並列に設（プられ適当な値を右づるインピーダ
ンスである。
前記放電検知回路１５の放電検知はこの回路１５の一部
に形成した空隙部１Ｇの放電電流を電流計で測量し、ま
たは放電時の音響をマイクロホンで検知し、さらには放
電時のアークを光センサで検知し、または放電時の温度
変化を温度センサで検知するなどの適宜の方法で検知で
きる。
に形成した空隙部１Ｇの放電電流を電流計で測量し、ま
たは放電時の音響をマイクロホンで検知し、さらには放
電時のアークを光センサで検知し、または放電時の温度
変化を温度センサで検知するなどの適宜の方法で検知で
きる。
次にこの実施例の作用を説明する。
放電電極１３．１４間に密１４包装体１２を配置し、高
電圧電源１１から両電極１３． ｉ４間に高電圧を印加
すると、密封包装体１２にピンホールなどの欠陥部が存
在しない場合には放電が発生しないが、密封包装体１２
に欠陥部が存在すると、両′市極１３．１４間で放電が
発生し、この両電極１３．１４間で放電が発生Ｊると、
高電圧は全て放電検知回路１５の空隙部１６に印加され
、この空隙部１６ら放電を起し、火花また１ま７−りぐ
閉回路が形成される。この空隙部１６の放電を検知りる
ことにより密封包装体１２のピンホールなどの欠陥部の
存在を検知できる。この放電検知回路１５の空隙部１６
によって放電検知回路１５にはほとんど無限大のインピ
ーダンスがあり、ノイズの原因となるｍ ［Ｉ！１電線
路とインピーダンス２１を通して流れる暗電流がなく、
ノイズレベルが零に等しく、放電電極１３．１４間で放
電が発生すると同時に放電検知回路１５の空隙部１６で
放電が生じ、信号は零から瞬時に一定鎮まで立上ること
になる。
電圧電源１１から両電極１３． ｉ４間に高電圧を印加
すると、密封包装体１２にピンホールなどの欠陥部が存
在しない場合には放電が発生しないが、密封包装体１２
に欠陥部が存在すると、両′市極１３．１４間で放電が
発生し、この両電極１３．１４間で放電が発生Ｊると、
高電圧は全て放電検知回路１５の空隙部１６に印加され
、この空隙部１６ら放電を起し、火花また１ま７−りぐ
閉回路が形成される。この空隙部１６の放電を検知りる
ことにより密封包装体１２のピンホールなどの欠陥部の
存在を検知できる。この放電検知回路１５の空隙部１６
によって放電検知回路１５にはほとんど無限大のインピ
ーダンスがあり、ノイズの原因となるｍ ［Ｉ！１電線
路とインピーダンス２１を通して流れる暗電流がなく、
ノイズレベルが零に等しく、放電電極１３．１４間で放
電が発生すると同時に放電検知回路１５の空隙部１６で
放電が生じ、信号は零から瞬時に一定鎮まで立上ること
になる。
本発明によれば、放電検知回路を通過する電流を零にす
ることができるので、検査信号のノイズ／シグナル比を
大幅に高くでき、一般に高電圧回路では電線路の途中、
その他あらゆる部分から容」漏洩、抵抗漏洩の形で回路
に常時電流が流れ、特に密封包装体のピンホールなどの
検査に放電に有効な高調波を含む歪んだ波形、高い周波
数となるとさらに電流の流れが多く、ノイズ／シグナル
比が高くとれないため、被検査体の誘電率、誘電体損、
抵抗値などによっては検査不能、或いは可能であっても
不確実となることが多い密封包装体のピンホールなどの
検査が確実にできるものである。
ることができるので、検査信号のノイズ／シグナル比を
大幅に高くでき、一般に高電圧回路では電線路の途中、
その他あらゆる部分から容」漏洩、抵抗漏洩の形で回路
に常時電流が流れ、特に密封包装体のピンホールなどの
検査に放電に有効な高調波を含む歪んだ波形、高い周波
数となるとさらに電流の流れが多く、ノイズ／シグナル
比が高くとれないため、被検査体の誘電率、誘電体損、
抵抗値などによっては検査不能、或いは可能であっても
不確実となることが多い密封包装体のピンホールなどの
検査が確実にできるものである。
第１図は本発明の方法を実施づ”る密封包装体のピンホ
ールなどの検査装匠の回路図、第２図は同上等価回路図
、第３図および第４図はそれぞれ異なる従来のピンホー
ル検査装置の回路図である。 １１・・ａ電圧電源、１２・・被検査体の密封包装体、
１３．１４・・放電電極、１５・・放電検知回路、１６
・・空隙部。 昭和６０年８月６日
ールなどの検査装匠の回路図、第２図は同上等価回路図
、第３図および第４図はそれぞれ異なる従来のピンホー
ル検査装置の回路図である。 １１・・ａ電圧電源、１２・・被検査体の密封包装体、
１３．１４・・放電電極、１５・・放電検知回路、１６
・・空隙部。 昭和６０年８月６日
Claims (1)
- （１）放電電極間に被検査体の密封包装体を配置し、こ
の電極間に電圧を印加することにより生じた前記密封包
装体上の放電電流を検出してピンホールなどの欠陥部の
有無を検査する密封包装体のピンホール検査方法におい
て、 前記放電電流を検出する回路上の一部に常時高電圧印加
時においては放電を生ぜず密封包装体のピンホールなど
の欠陥部で前記放電電極間の放電が生じると同時に放電
が発生する空隙部を形成し、この空隙部の放電の有無を
検知して密封包装体のピンホールを検査することを特徴
とした密封包装体のピンホールなどの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17282985A JPS6232337A (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 密封包装体のピンホ−ルなどの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17282985A JPS6232337A (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 密封包装体のピンホ−ルなどの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6232337A true JPS6232337A (ja) | 1987-02-12 |
Family
ID=15949126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17282985A Pending JPS6232337A (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 密封包装体のピンホ−ルなどの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6232337A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102288373A (zh) * | 2011-07-06 | 2011-12-21 | 湖南正中制药机械有限公司 | 全自动输液瓶电子微孔检漏机 |
| CN103162921A (zh) * | 2011-12-12 | 2013-06-19 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 密封包装物的针孔检测方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51130286A (en) * | 1975-05-07 | 1976-11-12 | Rikuo Kakumoto | Automatic pinhole detecter by variable electric discharge lamp |
-
1985
- 1985-08-06 JP JP17282985A patent/JPS6232337A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51130286A (en) * | 1975-05-07 | 1976-11-12 | Rikuo Kakumoto | Automatic pinhole detecter by variable electric discharge lamp |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102288373A (zh) * | 2011-07-06 | 2011-12-21 | 湖南正中制药机械有限公司 | 全自动输液瓶电子微孔检漏机 |
| CN103162921A (zh) * | 2011-12-12 | 2013-06-19 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 密封包装物的针孔检测方法 |
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