JPS6230638A - ガラス−セラミツク複合基板の製造方法 - Google Patents

ガラス−セラミツク複合基板の製造方法

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JPS6230638A
JPS6230638A JP61154304A JP15430486A JPS6230638A JP S6230638 A JPS6230638 A JP S6230638A JP 61154304 A JP61154304 A JP 61154304A JP 15430486 A JP15430486 A JP 15430486A JP S6230638 A JPS6230638 A JP S6230638A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 本発明は半導体もしくは集積回路チップを取付けるため
のガラス−セラミック基板キャリアの製造方法に関し、
焼成したガラス−セラミック絶縁体及び銅をベースとす
る導体パターンより成る薄膜の相互接続冶金(meta
llurgy)基板に関する。
さらに具体的には本発明は内部の冶金系もしくはガラス
−セラミックを劣化する事なく構造体から樹脂結合剤を
除去出来る高導電性の内部冶金系を含むガラス−セラミ
ック基板を製造する方法に関する。
B、従来技術 多レベル・セラミック(MLC)基板回路構造体は高い
実装密度が達成出来るので、半導体集積装置及び他の素
子を実装するためのエレクトロニクス工業において広く
受入れられる様になった。
これについては例えば米国特許第3379943号、米
国特許第3502520号、米国特許第4080414
号及び米国特許第4234367号を参照されたい。
一般に、この様な通常のセラミック構造体はセラミック
粒子、熱可塑性ポリマ及び溶媒を混合して得たセラミッ
ク・スラリーから調製したセラミック・グリーン・シー
トから形成される。この混合物は次に注型もしくはドク
タ・ブレードによってセラミック・シートもしくはスリ
ップにされ、その後これから溶媒を揮発して合着した自
立型の可撓性グリーン・シートにされる。このグリーン
・セラミック・シートを積層して基板を形成し、これを
焼いて結合剤及び関連する有機材料を駆逐もしくは燃焼
し、焼結してセラミック粒子を互に溶融して稠密なセラ
ミック基板にしている。
多層セラミック基板の製造時には、スプレィ、浸漬、ス
クリーニング等によって電気的導体形成用組成を予じめ
穿孔したグリーン・シート上にパターン状に付着する。
これ等のシートを積層し、全体的に焼結して所望の内部
冶金構造体を形成している。一部分のグリーン・セラミ
ック・シー1−には究極の構造体を層もしくはレベル間
の相互接続を達成するために必要に応じて貫通孔が穿孔
されている。そして必要な数の部分グリーン・シートが
゛必要とされる順序で互に積層される。次にグリーン・
シートのスタックを必要な温度及び圧力で圧縮し、電気
的導体パターンによって離れない様に隣接層間が結合さ
れる。全工程についてはより詳細に1972年5月刊固
体技術第35−40頁のディ・エル・ウィルコックスの
論文「実装のためのセラミックスJ (”Ceraa+
ics For Packaging”by D、 L
、 Vilcox、 5olid 5tata Tec
hnology、 May1972、 P、35−40
)に説明されている。
アルミナ:Ajl、O,は絶縁性、熱的伝導性、安定性
及び強度が優れている、この様なMLC基板の製造のた
めの材料として広く受入れられている。
しかしながら1種々の高パホーマンスの応用においては
、アルミナの誘電定数が比較的高いので信号の伝搬遅延
及び雑音が著しくなる。アルミナの他の欠点は熱膨張係
数が25乃至30X10−’/℃である単結晶シリコン
と比較して、熱膨張係数が65乃至70 X 10−7
/’Cと比較的高く、成る場合特にシリコン・チップを
はんだ相互接続体によって基板に結合する時に設計及び
信頼性に問題が生ずる。
市販のアルミナの固有の欠点はその焼結及び熟成温度が
高く(約1600’C)、同時に焼結可能な導電性冶金
層がタングステン、モリブデン、白金、パラジウムの様
な耐火金属もしくはその組合せに制限される。高い焼結
温度は金、銀もしくは銅の様な高い導電性金属の使用を
さまたげる。それはこの様な金属がアルミナの焼結温度
に到達する前に溶融するからである。
多層ガラス・セラミック構造体は米国特許第43413
24号に開示されているが、この技術はアルミナ・セラ
ミックの使用及び関連する欠点を避けている。この多層
ガラス−セラミック構造体は誘電定数が低い事を特徴と
し、金、銀、もしくは銅の厚膜と両立可能であり、これ
等と共に同時に焼結出来る。上述の特許には2つの型の
ガラス−セラミツ゛りが開示されているが、そのうちの
1つは主な結晶相としてβ−スポジューメン(リチア輝
石)、Li、0−Afi、03−4SiO2を有し、他
は主な結晶相としてコージライト(キン青石)2Mg0
・2AQ20.・5SiO□を含む。これ等の焼結ガラ
ス−セラミックの共通の特徴は焼成可能性が優れ、結晶
化が1000℃以下で行われる点にある。
銀はこの様なガラス−セラミック材料の金属として使用
出来るが、電気泳動を生ずる可能性がありガラス−セラ
ミック内部に拡散する傾向がある。
約3.75マイクロオ一ム国の固有抵抗を有する金の冶
金を使用してガラス−セラミック基板の製造に成功して
いるが、金は極めて高価である。
又他のより安価な金属と金との合金は固有抵抗を増大す
るという欠点がある。これによって実際的な経済的代替
材料は銅に限定される様になった。
銅の使用は厚膜の技術分野では比較的新しい。
銅の酸化電位のために、多層セラミック基板を還元もし
くは中性雰囲気中で焼結する必要がある。
しかしながら、還元性雰囲気には付着の問題があるので
、中性の雰囲気が好ましい。予じめ加熱したアルミナ基
板上の銅の厚膜を焼結するための代表的工業サイクルは
50乃至75℃/分の割当で温度を900乃至950℃
の範囲の焼結温度迄上昇し、最高温度に15分保持し、
50乃至75℃/分の割合で冷却するものである。
多レベルのガラス−セラミック基板の製造においては、
スラリーを調製するのに使用した樹脂結合剤を除去する
際に困難がある。
ガラス−セラミックス及び銅冶金を使用する場合には、
ガラス粒子の合体によって、結合剤を除去するための最
大温度は約800−875℃の範囲になる。従ってガラ
スが合体した後には結合剤の残渣がガラス基板中に残る
。さらに窒素或いは他の中性もしくは還元雰囲気はガラ
スの合体温度、例えば約800−875℃で結合剤を除
去するのが困難で、完全に焼結していない黒い基板を生
ずる。この黒色は一般にセラミック中に捕獲された炭素
の残留物による。炭素の残留物は固有抵抗を減少し、材
料の誘電定数に悪影響を与えるので結果の基板の電気的
特性が悪くなる。
完全な結合剤の除去を軽減するために種々の努力がなさ
れた。ウェット及びドライ窒素、ウェット及びドライ・
フォーミング気体を含む種々の中性もしくは還元雰囲気
には若干の問題がある。即ちガラス−セラミックの合体
温度以下の温度に長時間保持して揮発性の生成物を捕獲
しない様にしなければならず、酸化銅の形成によって著
しい体積の変化を生じない様に炭素を酸化し、酸化鋼を
銅の形に還元する目的で空気とフォーミング気体を交代
しなければならない、さらに、炭素質の残渣を残す事な
く、成る分別機構(例えば、アンシツピング、加水分解
等)によって燃焼出来るポリマ結合剤系を開発しようと
する試みがなされた。
米国特許第4234367号は銅をベースとする冶金層
を有するガラス−セラミック合成構造体の製造方法を開
示している。
この方法は積層グリーン・セラミック基板をH2/H2
0環境中で焼もどし温度と鋼の融点以下の温度であるガ
ラス−セラミック材料の軟化点の間の燃焼温度に加熱し
ている。この条件は銅の冶金を酸化する事なく結合剤を
除去するのに十分である。結果の結合剤を含まない積層
体は窒素雰囲気中で若干高い温度に迄加熱され、ガラス
粒子を合体している。不活性雰囲気のために、この後の
加熱段階で銅は酸化しない。
この方法は使用可能で有効であるが、結合剤除去の加熱
段階が非常に長く、炭素質の残渣が残る。
さらに、銅の冶金のまわりのセラミック部分が多孔性に
なる。この様な欠陥が表面のパッドの下に生ずる時は極
めて重大である。それはパッドをピンもしくは他の相互
接続体に結合する時に歪んで、強度の低下につながり、
セラミックに欠陥を生ずるからである。
C0発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、ガラスもしくはセラミック粒子或いは
その両方、樹脂結合剤及び樹脂のための溶媒より成るス
ラリーから形成した物体から有機材料を除去することに
ある。
D0問題点を解決するための手段 本発明に従って、内部冶金層を有する積層構造体を形成
する方法は触媒をガラス−セラミック材料に添加し、燃
焼段階中の結合剤樹脂の除去を非常に容易にする。本発
明に従ってCu、CuO1Gu、○、CuCQ、、Cu
、SO2もしくは銅の有機金属の如き触媒をガラスの重
量に対して触媒のCuの成分が0.01乃至3.0重量
%である様にガラス−セラミック材料に加える。スラリ
ーは樹脂結合剤、触媒、溶媒及びガラス−セラミック材
料を混合する事によって調製される。このスラリーを内
部冶金系を備えた構造体を形成するのに使用し、この構
造体を、金属を酸化させる事なく結合剤を除去するのに
適した環境中で加熱する。
結合剤の除去は炭素質の残渣を残す事なく非常に短時間
で達成される。そして、焼結した構造体には局所的な多
孔質の部分がない。
E、実施例 米国特許第4234367号に説明した方法は導電性冶
金層特に銅層を含む積層ガラス−セラミック基板を加熱
してスラリーを造るのに使用した樹脂結合剤及び溶媒を
先ず除去している。加熱はN2 / N20環境で行わ
れるが、これが結合剤樹脂及び溶媒を除去し、しかも銅
冶金のための中性もしくは還元環境を与える。加熱サイ
クル中に、ガラス−セラミック材料は多孔性になって基
板から揮発性の生成物及び樹脂及び溶媒の副生物を逃す
事が出来なくてはならない。多孔性でなくする焼結が結
合剤樹脂を完全に除去する前に始まると、炭素質の残渣
が基板中に残る。銅の使用に′よって課せられる温度の
制約は800℃もしくは800℃の近くでガラスが焼結
し始める事を要求する。
これによって結合剤の炭素の酸化の最大の温度が決まる
。それは基板が依然多孔性である時に炭素を完全に除去
しなければならないからである。これ等の温度では炭素
の酸化速度は極めて遅く、炭素の酸化に10時間を越え
る保持時間が必要になる。保持時間が長い事によって炉
のスループットに影響が生じ、成る基板の性質が劣化す
る。
その後基板が焼結サイクルを受ける時、焼結サイクルは
不活性もしくは還元雰囲気1代表的にはN2、N2もし
゛くはフォーミング気体中で温度を上昇して行われるが
、前の加熱段階でガラス−セラミック基板が吸収したN
20は捕獲される前に逃さなければならない。捕獲され
たN20は基板を多孔性にするので望ましくない。
本発明に従い、炭素の酸化加熱中に、ガラス−セラミッ
ク基板中に非常に少量の触媒、例えばCu、Cub、C
u、O,CuCQ、、Cu2S04もしくは銅の有機金
属材料が存在すると、これが炭素の酸化のための触媒と
して働き1反応速度を著しく進める事がわかった。酸化
速度の増大は保持時間を通常の10乃至12時間から1
乃至4時間にする。この触媒はガラス−セラミック・ス
ラリー中に微細な粉末、溶融塩もしくは有機金属の形で
加える。
この触媒の作用の独自性によってその温度は非常1こ低
くてよく、ガラス−セラミックの重量の10乃至300
00pp閣即ち0.01乃至3.0重量%でよい。
グリーン・セラミック基板中のCu触媒は結合剤の燃焼
中に有機結合剤のための酸化触媒として働く、この触媒
の作用によって、有機結合剤の酸化速度は大いに加速さ
れる。本発明の方法では結合剤の除去速度及び銅の触媒
を加えたガラス−セラミック基板のその後の稠密化は全
体に均一であり、焼結段階が最適化出来る。
本発明で達成出来る樹脂の燃焼速度の増大は一般に焼結
しなければならないすべての型のセラミックに応用出来
る。しかしながら1本発明は比較的低温で焼結するガラ
ス−セラミックにとって特に価値がある。それは結合剤
の除去に著しい問題があるのはこれ等の比較的低温で焼
結するガラス−セラミックスだからである。高い焼結温
度が必要な応用1例えばアルミナの場合には、冶金系に
使用する金属は高温に耐えなければならないので耐火金
属だけに制約される。これ等の高い焼結温度。
例えば1500℃以上では結合剤樹脂の完全な燃焼は一
般に大きな問題にならない。しかしながら、ガラス−セ
ラミックの場合にははるかに低い燃焼温度を使用するの
で樹脂の燃焼は遅く、時々不完全になる0本発明の方法
は任意のセラミック材料に使用出来る。それは燃焼速度
がすべての場合に増大するからである。しかしながら本
発明の実施は特にガラス−セラミックに適している。特
に興味あるのは米国特許第4301324号に説明され
ている、β−スポジューメン型及びコージライト型の相
を含むガラスより成るガラス−セラミックである。β−
スポジューメンは主な結晶相としてLi、CIAn、O
,・4SiO,を有し、他方コージライトは主結晶相と
して2Mg0・2AQ20.・5SiO□を有する。こ
れ等のガラス−セラミックの、優れた1000℃以下の
焼結可能性以外の共通の特徴は高度に結晶性の格子より
成り、格子点間を残留ガラス及び若干の別の2次晶子が
占める微細構造にある。この様な微細構造はバルク・ガ
ラス−セラミックで[129されるものと、後者のガラ
ス相が別の晶子が分散しているマトリックスをなす点で
異なっている。この特許のガラス−セラミックスでII
!察される独特の微細構造は曲げ強度が高いものと考え
られる。上記の型のガラス−セラミックは次の第1表で
特徴付けられる。
第1表 組成の範囲(重量%) β−スポジューメン コージライト Sin、   65乃至75  48乃至55Afi2
03 12乃至17  18乃至23Mg0    O
乃至2   18乃至25CaOO乃至2   −− BaO(単独もしくは組合して) ZnOO乃至2    0乃至2 Li20  3.5乃至11    0乃至INa、0
  1.0乃至3.5    −一に20  (単独も
しくは組合して)−−B、0.   073至2.5 
  0乃至3p、o、    o乃至2.5    0
乃至3Tie、    0乃至3     0乃至2.
5SnO’、             O乃至2.5
ZrO,O乃至2.5 F      O乃至3    −一 (総超過5) 本発明の実施において任意の結合剤樹脂及び溶融の組合
せが使用出来る。又結合剤の燃焼及び焼結の条件は本発
明の実施に使用する特定のガラス−セラミックに適用出
来る6次の実施例は本発明の方法の実施の好ましい実施
例を説明するためのものであって、限定的に解釈しては
ならない。
実施例■ この実施例はCu触媒を使用した積層ガラス−セラミッ
ク材料から低温で結合剤樹脂を除去する効果を端的に示
す。
成る量の微細なガラス−セラミック粉末を−325メツ
シユ粒子寸法のガラスのカレット(層)から調製した。
このガラスのカレットは米国特許第4301324号に
開示されているMgO・AQ、O,・S i O,型の
ガラス・セラミックより成る・カレットを粉砕して平均
粒子寸法を3乃至7μmに減少した。カレットを第1と
第2の部分に分け、第1の部分にCuがガラス・セラミ
ックの重量の1500ppm存在する様にCu、Oの粉
末を加えた。第1及び第2のスラリーをガラス・カレッ
トの第1及び第2の部分の各々から次の組成を有する様
に調製した。
重量% ガラス             55ポリビニル・ブ
チラール樹脂    5ジプロピレン・グリコール・ ジベンゾエイト   1.5 メタノール            9.5メチル・イ
ソブチル・ケトン   29スラリー混合物を注型して
乾燥し、厚さ20゜32X10−3■のシートにした。
このグリーン・セラミック・シートを注意深< 、 C
u==o触媒を含むシートと、含まないシートに分離し
た。複数のグリーン・セラミック・シートからいくつか
の積層基板を造った。基板は触媒を含まないシートを5
枚組合せ、触媒を含むシートを5枚追加し。
この様に続けて全体の厚さが812.8X10−’am
(40シート)の基板を造った。触媒を含む及び含まな
い各101.6X10−3amの厚さの層の交互層を有
する基板を米国特許第4234367号に説明されてい
る方法に従って加熱した。基板はN2の雰囲気中で約3
/2時間かけて予備加熱した。この予備加熱中、温度は
室温から約200℃に上昇した。温度の上昇率は約り℃
/分である。
次に窒素を10−”5の容積比のH2/H,O雰囲気で
置換した。加熱は約450℃の温度迄続けた。
この時点加熱の速度は3℃/分に増大した。さらに加熱
を785℃の保持温度で続けた。この温度には6時間保
持し、次に室温迄降下した。基板が室温になった時に、
検査を行った。基板全体が側面に交代する黒及び略白色
の条帯を示した。黒い条帯は触媒を含まないグリーン・
セラミック材料より成る基板の部分に対応する。これに
対して。
白い条帯はガラス−セラミック材料中にCu20触媒を
含むグリーン・セラミック材料より形成した基板の部分
に対応する。黒褐色の色は加熱の後に残った燃焼してい
ない炭素の残渣によって生ずる。この触媒を含む及び触
媒を含まないグリーン・セラミック・シートの色のコン
トラストはCu触媒を使用した時の結合剤樹脂の除去の
相対的容易さを示している。
実施例■ 全部の多レベル・セラミック基板を実施例Iで説明した
様にCu2O触媒を含むスラリーから形成したシートか
ら形成した。内部の導体冶金パターンはシートを穿孔し
て貫通孔を形成した後、各シート上に適切なパターンを
なす様にスクリーニングした、ビヒクル中に微細なCu
粒子から形成した。この層状シートを実施例Iで説明し
た様に加熱し、その後冷却する事なくN、雰囲気中で、
965℃で3時間焼結した。この最後の加熱段階でガラ
ス・セラミック粒子は稠密に合体したが内部のCu冶金
層に悪影響を与える事はなかった。
冷却後、基板を検査したところ、Cu触媒の発色による
一様なピンク色が認められた。Cuの線は基板を切断し
た時に見る事が出来る。線の色は輝いていて酸化の証拠
は認められなかった。焼結セラミックの固有抵抗は>1
013オームロである事がわかった。このピンクの色は
結合剤樹脂及び関連有機材料が完全に除去される事を示
している。
F8発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、ガラスもしくはセ
ラミック粒子或いはこの両方、結合剤樹脂及び樹脂のた
めの溶媒から形成した物体から有機材料を除去する方法
が与えられる。
出願人  インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人  弁理士  山  本  仁  朗(外1名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  結晶化可能で焼結可能なガラスの粒子、有機樹脂結合
    剤、及び該結合剤のための溶媒を含むスラリーを調製し
    、該スラリーをグリーン・セラミック・シートに形造り
    、該シート中に貫通孔を形成し、該貫通孔中及び上記シ
    ートの表面上に線パターンをなす様に導電性材料を付着
    し、シートを組立て、該シートの組立体を上記樹脂結合
    剤を酸化して除去する環境中で加熱し、その後より高温
    度で組立体を加熱し、上記ガラス粒子を溶融するガラス
    −セラミック複合基板を製造する際に、Cu、Cu_2
    O、Cu_2SO_4、CuCl_2、Cu有機金属化
    合物及びこれ等の混合物の微粒子より成る群から選択し
    た触媒を、上記結晶化可能なガラスの0.01乃至3.
    0重量%の範囲の量上記スラリーに加えて、上記酸化環
    境中ので上記酸化中の上記結合剤の酸化及び炭素質の結
    合剤の残渣の除去を加速する事を特徴とするガラス−セ
    ラミック複合基板の製造方法。
JP61154304A 1985-08-02 1986-07-02 ガラス−セラミツク複合基板の製造方法 Granted JPS6230638A (ja)

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US761713 1985-08-02

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0622402U (ja) * 1992-07-13 1994-03-25 松太郎 大谷 ベランダの覆い装置
WO2014188991A1 (ja) * 2013-05-23 2014-11-27 日本電気硝子株式会社 フィラー粉末及びその製造方法
JP2015127288A (ja) * 2013-05-23 2015-07-09 日本電気硝子株式会社 フィラー粉末および樹脂組成物
JP2015214440A (ja) * 2014-05-09 2015-12-03 日本電気硝子株式会社 フィラー粉末の製造方法
US10023720B2 (en) 2013-05-23 2018-07-17 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Filler powder and method for manufacturing same

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60221358A (ja) * 1984-04-13 1985-11-06 日本碍子株式会社 電気絶縁体用セラミック組成物
JPS6248097A (ja) * 1985-08-28 1987-03-02 日本特殊陶業株式会社 多層回路基板の製造法
US4661315A (en) * 1986-02-14 1987-04-28 Fine Particle Technology Corp. Method for rapidly removing binder from a green body
US4810463A (en) * 1986-09-12 1989-03-07 Syracuse University Process for forming sintered ceramic articles
US4778549A (en) * 1987-04-13 1988-10-18 Corning Glass Works Catalysts for accelerating burnout or organic materials
EP0308851A3 (en) * 1987-09-24 1990-03-21 Air Products And Chemicals, Inc. A process for the manufacture of copper thick-film conductors using an infrared furnace
US4931354A (en) * 1987-11-02 1990-06-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer printed circuit board
US4931323A (en) * 1987-12-10 1990-06-05 Texas Instruments Incorporated Thick film copper conductor patterning by laser
JPH0611018B2 (ja) * 1988-01-07 1994-02-09 株式会社村田製作所 セラミック生シートの積層方法
US5053361A (en) * 1988-07-18 1991-10-01 International Business Machines Corporation Setter tile for use in sintering of ceramic substrate laminates
US4971738A (en) * 1988-07-18 1990-11-20 International Business Machines Corporation Enhanced removal of carbon from ceramic substrate laminates
US5202154A (en) * 1988-09-19 1993-04-13 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Method of producing thick-film gas sensor element having improved stability
US5194294A (en) * 1989-02-20 1993-03-16 L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Process for preparing electrical connection means, in particular interconnection substances of hybrid circuits
FR2644665B1 (fr) * 1989-03-16 1996-05-03 Air Liquide Procede d'elaboration de moyens de connexions electriques, en particulier de substrats d'interconnexion pour circuits hybrides
JP3128130B2 (ja) * 1989-08-16 2001-01-29 ビーエーエスエフ アクチェンゲゼルシャフト 無機焼結成形体の製造方法
DE3935276A1 (de) * 1989-10-24 1991-04-25 Basf Ag Verfahren zur herstellung von formlingen aus keramischen oder metallischen fasern
US5089070A (en) * 1989-12-07 1992-02-18 Pac Polymers Inc. Poly(propylene carbonate)-containing ceramic tape formulations and the green tapes resulting therefrom
DE4007345A1 (de) * 1990-03-08 1991-09-12 Basf Ag Thermoplastische massen fuer die herstellung metallischer formkoerper
US5043121A (en) * 1990-05-03 1991-08-27 Hoechst Celanese Corp. Process for removing polyacetal binder from molded ceramic greenbodies with acid gases
US5064063A (en) * 1990-08-08 1991-11-12 International Business Machines Corporation Tube assembly for pin grid array modules
US5073180A (en) * 1991-03-20 1991-12-17 International Business Machines Corporation Method for forming sealed co-fired glass ceramic structures
US5682018A (en) * 1991-10-18 1997-10-28 International Business Machines Corporation Interface regions between metal and ceramic in a metal/ceramic substrate
US5167913A (en) * 1991-12-23 1992-12-01 International Business Machines Corporation Method of forming an adherent layer of metallurgy on a ceramic substrate
JP2858073B2 (ja) * 1992-12-28 1999-02-17 ティーディーケイ株式会社 多層セラミック部品
JP2943129B2 (ja) * 1992-12-29 1999-08-30 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション セラミック組成物、セラミック・グリーン・シートおよび製造方法
JP3150479B2 (ja) * 1993-03-11 2001-03-26 株式会社日立製作所 多層配線セラミック基板の製造方法
US5662755A (en) * 1993-10-15 1997-09-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of making multi-layered ceramic substrates
TW396350B (en) * 1996-12-04 2000-07-01 Nat Science Council Dielectric composition, slurry for use in the tape casting process, porcess for producing a ceramic product and process for preparing multilayer ceramic package
US6306948B1 (en) * 1999-10-26 2001-10-23 3M Innovative Properties Company Molding composition containing a debinding catalyst for making ceramic microstructures
US7026891B2 (en) * 2002-01-08 2006-04-11 Lamina Ceramics, Inc. Monolithic disc delay line
AU2003205162A1 (en) * 2002-01-08 2003-07-24 Lamina Ceramics, Inc. Monolithic disc delay line and method for making same
US7311889B2 (en) * 2002-06-19 2007-12-25 Fujitsu Limited Carbon nanotubes, process for their production, and catalyst for production of carbon nanotubes
US7722797B2 (en) * 2002-08-02 2010-05-25 Epcos Ag Method for producing a ceramic substrate
US7752870B1 (en) * 2003-10-16 2010-07-13 Baker Hughes Incorporated Hydrogen resistant optical fiber formation technique
CN108136502B (zh) * 2016-01-29 2020-11-17 惠普发展公司有限责任合伙企业 三维(3d)打印方法和系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2993815A (en) * 1959-05-25 1961-07-25 Bell Telephone Labor Inc Metallizing refractory substrates
US4104345A (en) * 1975-06-23 1978-08-01 International Business Machines Corporation Ceramic dielectrics
US4234367A (en) * 1979-03-23 1980-11-18 International Business Machines Corporation Method of making multilayered glass-ceramic structures having an internal distribution of copper-based conductors
DE2942109A1 (de) * 1979-10-18 1981-04-30 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Verfahren zum herstellen von formkoerpern und schichten aus anorganischen stoffen
JPS59995A (ja) * 1982-06-16 1984-01-06 富士通株式会社 銅導体多層構造体の製造方法
JPS599992A (ja) * 1982-07-08 1984-01-19 株式会社日立製作所 多層配線基板の製造方法
US4474731A (en) * 1983-03-28 1984-10-02 International Business Machines Corporation Process for the removal of carbon residues during sintering of ceramics
JPS60250686A (ja) * 1984-05-25 1985-12-11 日本碍子株式会社 セラミツク配線基板の製造方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0622402U (ja) * 1992-07-13 1994-03-25 松太郎 大谷 ベランダの覆い装置
WO2014188991A1 (ja) * 2013-05-23 2014-11-27 日本電気硝子株式会社 フィラー粉末及びその製造方法
JP2015127288A (ja) * 2013-05-23 2015-07-09 日本電気硝子株式会社 フィラー粉末および樹脂組成物
US10023720B2 (en) 2013-05-23 2018-07-17 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Filler powder and method for manufacturing same
JP2015214440A (ja) * 2014-05-09 2015-12-03 日本電気硝子株式会社 フィラー粉末の製造方法

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Publication number Publication date
US4627160A (en) 1986-12-09
CA1222832A (en) 1987-06-09
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DE3678634D1 (de) 1991-05-16
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