JPS62298753A - 半導体化学センサ - Google Patents

半導体化学センサ

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JPS62298753A
JPS62298753A JP61141398A JP14139886A JPS62298753A JP S62298753 A JPS62298753 A JP S62298753A JP 61141398 A JP61141398 A JP 61141398A JP 14139886 A JP14139886 A JP 14139886A JP S62298753 A JPS62298753 A JP S62298753A
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aluminum
oxide film
film
silicon wafer
ion
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Fumio Takei
文雄 武井
Akio Yagishita
柳下 皓男
Ei Yano
映 矢野
Akio Sugama
明夫 菅間
Naomi Nakane
中根 尚美
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔概 要〕 ゲート絶縁膜としてアルミニウムの陽極酸化膜を用いて
半導体化学センサを簡便に製造する。
[産業上の利用分野〕 本発明は半導体化学センサ、特にl5FET (Ion
Sensitive Field Effect Tr
ansistor、イオン感応性電界効果トランジスタ
)のゲート絶縁膜に関する。
〔従来の技術〕
l5FETはMOSFET(Metal−Oxide−
3emiconductorFET)のゲート電極を取
り除き、ゲート絶縁膜が直接水溶液に接して、水溶液中
のイオン(H゛。
Na”、K”、・・・)の濃度を定量するイオンセンサ
の一種である。このrsFETにおいて、ゲート絶縁膜
はイオン感応膜として作用し、このイオン感応膜はl5
FETの特性、性能を決定する重要な要素である。この
ため、このイオン感応膜を安定に、簡便に形成する方法
が必要とされる。
従来のl5FETには、イオン感応膜として二酸化ケイ
素(SiO□)、窒化ケイ素(SiJn) 、酸化タン
タル(tazos)および酸化アルミニウム(^120
3)等が用いられてきた。これらの膜の製造法としては
気相堆積法(CVD法)が多く使用されている。
(例えば、検圧、江刺、表面18 、495(1980
)など)。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のl5FETのイオン感応膜の製造法では、CVD
プロセスのような大がかりで複雑な装置・工程が必要で
ある。すなわち、原料ガスの圧力、温度、反応速度(堆
積速度)等を制御することが重要である。
また、l5FETは、本質的に水溶液中で使用される素
子である。このため、イオン感応膜の作製法として、C
VD法のようなドライなプロセスよりも、水中で行われ
るウェットなプロセスの方が、より水に親しみ易い性質
の表面を形成する点で望ましいと考えられる。
〔問題点を解決するための手段および作用〕本発明は、
上記問題点を解決するために、l5FETのイオン感応
膜すなわちデー1縁膜としてアルミニウムの陽極酸化膜
を用いるものである。
アルミニウムの陽極酸化膜は、従来のCVD法等による
イオン感応膜と較べて、極く簡便に形成できるとともに
、本質的にウェットプロセスで形成されるので水溶液中
で用いられるイオン感応膜として適していると考えられ
る。
アルミニウムの陽極酸化は中性塩、例えば酒石酸アンモ
ニウムやホウ酸アンモニウムのように弱酸と弱塩基より
なる塩の電解液を用いて実施することが望ましい。陽極
酸化膜を緻密にすることができるからである。
〔実施例〕
第1図は本発明の実施例のl5FETを示す。同図中、
1はl5FETを全体として示し、2はアルミニウムの
陽極酸化によるイオン感応膜、3はソース、4はドレイ
ンである。
第2図は上記l5FETを製造する手順を示す。第2図
Aを参照すると、先ず、p形シリコンウェハー(100
cm、 <100 >面)5にホウ素イオンを1XIQ
”/an!、50KeVで打込んでチャンネルストッパ
ー6を形成する。
第2図Bを参照すると、チャンネルストッパ6の内側に
ヒ素イオンを4 X l O”/cnl、 80 Ke
Vで打込んでソース領域3、ドレイン領域4を形成する
。ソース・ドレイン間のチャンネル長は20μm、チャ
ンネル幅は2mmである。
第2図Cを参照すると、シリコンウェハー5を全面熱酸
化して厚さ約3000人の酸化膜7を形成し、リソグラ
フ法でゲート部を選択的にエツチングしてゲート部の酸
化膜8の厚さを約1200人にする。
第2図りを参照すると、アルミニウムの蒸着およびパタ
ーニングによりゲート部酸化膜8上にイオン感応膜とな
るべきアルミニウムパターン9を形成する。このアルミ
ニウムパターン9の厚さは1μm以上とする。次に、こ
のアルミニウムパターンを形成したシリコンウェハを4
%酒石酸アンモニウム溶液中、20℃に浸漬し、アルミ
ニウムを対極とし、電流密度IQmA/cJで陽極酸化
する。電解電圧が40V以上になった時点で電解を止め
る。こうして、アルミニウムの表面は酸化アルミニウム
膜(厚さ約500人)で覆われ、イオン感応膜が形成さ
れる。
こうして得られたl5FETの感度特性を調べた結果を
第3図に示す。
〔発明の効果〕
本発明によれば、陽極酸化という簡単な方法で作成した
良質のイオン感応膜を有するl5FETが提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のl5FETの概略図、第2図
A−Dは第1図のl5FETの製造工程要部における側
断面図、第3図は実施例のl5FETのpH感度特性を
表わすグラフ図である。 ■・・・l5FET、  2・・・アルミニウムの陽極
酸化膜、3・・・ソース、        4・・・ド
レイン、5・・・シリコン基板、 6・・・チャンネル
領域、7・・・SiO□膜、     8・・・ゲート
部SiJ膜、9・・・7)Liミニウム(陽極酸化アル
ミニウム)。 l5FET 2・・・アルミニウム陽極酸化膜 3・・・ソース 410.ドレイン 実施例の製造工程 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、MOSFETのゲート電極の代りに被検査液が直接
    ゲート絶縁膜に接触する構造を有するイオン感応性FE
    Tからなる半導体化学センサにおいて、ゲート絶縁膜と
    してアルミニウムの陽極酸化膜が用いられていることを
    特徴とする半導体化学センサ。
JP61141398A 1986-06-19 1986-06-19 半導体化学センサ Expired - Lifetime JPH07117524B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7166214B2 (en) 2004-09-29 2007-01-23 3Ma Solutions Incorporated Dental amalgam separator
JP2018504612A (ja) * 2014-11-07 2018-02-15 プロテオセンス 検体を検出するためのデバイス、システム、及び方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5837908A (ja) * 1981-08-31 1983-03-05 アンリツ株式会社 陽極酸化アルミ感湿膜の製法
JPS5837907A (ja) * 1981-08-31 1983-03-05 アンリツ株式会社 陽極酸化アルミ感湿膜の製法

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