JPS62296549A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPS62296549A JPS62296549A JP61140815A JP14081586A JPS62296549A JP S62296549 A JPS62296549 A JP S62296549A JP 61140815 A JP61140815 A JP 61140815A JP 14081586 A JP14081586 A JP 14081586A JP S62296549 A JPS62296549 A JP S62296549A
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- light
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 7
- 238000002955 isolation Methods 0.000 abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000012216 screening Methods 0.000 abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
- H01L27/14887—Blooming suppression
Landscapes
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
産業上の利用分野
本発明は、ビデオ撮像装置、電子スチルカメラなどに用
いることができる固体撮像装置に関するものである。
いることができる固体撮像装置に関するものである。
従来の技術
近年、固体撮像装置は、光検出用のホトダイ第2 へ−
/゛ 一ドを生成された信号電荷でホトダイオードの表面に蓄
積し、MOSスイッチで電荷結合素子の転送チャンネル
に転送するものが量産されている。
/゛ 一ドを生成された信号電荷でホトダイオードの表面に蓄
積し、MOSスイッチで電荷結合素子の転送チャンネル
に転送するものが量産されている。
以下、図面を参照しながら、上述したような従来の固体
撮像装置を説明する。第4図は従来の固体撮像装置の断
面図である。
撮像装置を説明する。第4図は従来の固体撮像装置の断
面図である。
n形不純物層1とp形不純物層8とから構成されている
ホトダイオードは、光が照射されると光電変換して信号
電荷を生成する。生成された信号電荷はn形不純物層1
の表面に蓄積される。蓄積された信号電荷をMOSスイ
ッチのゲート電極3に電圧を印加して、n形不純物層4
に転送する。
ホトダイオードは、光が照射されると光電変換して信号
電荷を生成する。生成された信号電荷はn形不純物層1
の表面に蓄積される。蓄積された信号電荷をMOSスイ
ッチのゲート電極3に電圧を印加して、n形不純物層4
に転送する。
n形不純物層4は電荷結合素子のチャンネル層である。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記のような構成では斜め光等の入射によ
って深部で光電変換された信号電荷が、光転送部に入り
、偽信号電荷となる。いわゆるスミア現象と呼ばれるも
のが発生する。
って深部で光電変換された信号電荷が、光転送部に入り
、偽信号電荷となる。いわゆるスミア現象と呼ばれるも
のが発生する。
本発明は、上記欠点に鑑み、スミア現象を抑制3ベー7
1 することのできる固体撮像装置を提供するものである。
1 することのできる固体撮像装置を提供するものである。
問題点を解決するだめの手段
上記問題点を解決するために本発明の固体撮像装置は、
光電変換部と転送部とが電気的光学的に分離され、光電
変換された信号電荷に対するポテンシャルが、信号電荷
蓄積部で低くなるように蓄積した信号電荷は表面方向移
送手段を介して前記転送部に移送するように構成されて
いる。
光電変換部と転送部とが電気的光学的に分離され、光電
変換された信号電荷に対するポテンシャルが、信号電荷
蓄積部で低くなるように蓄積した信号電荷は表面方向移
送手段を介して前記転送部に移送するように構成されて
いる。
作用
この構成によって転送部及び表面方向転送手段の上に遮
光部を設けてあり、半導体基体に入射した光は電気的、
光学的分離部によって転送部に入らないので表面方向転
送手段及び転送部で光電変換されることがなくなる。ま
た半導体基体深部で光電変換された信号電荷は、ポテン
シャルの低い信号電荷蓄積部に蓄積されるので信号電荷
が転送部に入るスミア現象を起さなくなる。
光部を設けてあり、半導体基体に入射した光は電気的、
光学的分離部によって転送部に入らないので表面方向転
送手段及び転送部で光電変換されることがなくなる。ま
た半導体基体深部で光電変換された信号電荷は、ポテン
シャルの低い信号電荷蓄積部に蓄積されるので信号電荷
が転送部に入るスミア現象を起さなくなる。
実施例
以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第1図は、本発明の固体撮像装置の基本構成例を示すも
のであり、光電変換部10と転送部12とが電気的、光
学的に分離されている。また、光電変換された信号電荷
に対するポテンシャルが、信号電荷蓄積部13で低くな
るように蓄積した信号電荷は表面方向移送手段14を介
゛して転送部12に移送するように構成されている。
のであり、光電変換部10と転送部12とが電気的、光
学的に分離されている。また、光電変換された信号電荷
に対するポテンシャルが、信号電荷蓄積部13で低くな
るように蓄積した信号電荷は表面方向移送手段14を介
゛して転送部12に移送するように構成されている。
以下具体的な実施例を説明する。
第2図は、本発明の具体的な実施例における固体撮像装
置の構成図を示すものである。透明電極17に負の電圧
をかけて、真性半導体層18、n形不純物層27、p形
不純物層28からなる光電変換部及び信号電荷蓄積部を
構成している。光電変換で生成された信号電荷の電子は
、n形不純物層27に蓄積され、光電変換で生成された
信号電荷でない正孔は透明電極17と真性半導体層1日
の界面で透明電極からの電子と再結合していく。
置の構成図を示すものである。透明電極17に負の電圧
をかけて、真性半導体層18、n形不純物層27、p形
不純物層28からなる光電変換部及び信号電荷蓄積部を
構成している。光電変換で生成された信号電荷の電子は
、n形不純物層27に蓄積され、光電変換で生成された
信号電荷でない正孔は透明電極17と真性半導体層1日
の界面で透明電極からの電子と再結合していく。
蓄積された信号電荷をゲート電極21に正の電圧を印加
して、n形不純物層23、p形不純物層246ページ 真性半導体層25のポテンシャルを下げてn形半導体層
23に移送する。n形半導体層23は電荷結合素子のチ
ャンネル層であり、ゲート電極13.14に電圧を印加
して、信号電荷を転送する。
して、n形不純物層23、p形不純物層246ページ 真性半導体層25のポテンシャルを下げてn形半導体層
23に移送する。n形半導体層23は電荷結合素子のチ
ャンネル層であり、ゲート電極13.14に電圧を印加
して、信号電荷を転送する。
真性半導体層11と電荷結合素子とは、溝を堀って分離
し溝の中に、遮光用材料を埋め込んである。また電荷結
合素子のチャンネルとなるn形不純物層23の上部はア
ルミニウムで遮光され、下部は電子にとってポテンシャ
ル障壁となるp形不純物層24があるので信号電荷は、
n形不純物層23にはいらず、n形不純物層27に蓄積
される。
し溝の中に、遮光用材料を埋め込んである。また電荷結
合素子のチャンネルとなるn形不純物層23の上部はア
ルミニウムで遮光され、下部は電子にとってポテンシャ
ル障壁となるp形不純物層24があるので信号電荷は、
n形不純物層23にはいらず、n形不純物層27に蓄積
される。
基板深部を、n形不純物層27・、29、p形不純物層
28で構成することで縦型オーバーフロードレイン構造
になっており、ブルーミング現象を抑制する。
28で構成することで縦型オーバーフロードレイン構造
になっており、ブルーミング現象を抑制する。
第3図は、信号電荷蓄積部のn形不純物層27の深さに
おける本実施例の構成図である。画素ごとの分離は素子
間分離用の溝31とP形不純物層32でなされている。
おける本実施例の構成図である。画素ごとの分離は素子
間分離用の溝31とP形不純物層32でなされている。
本実施例では、主に光電変換を行なう18の部6ページ
分を真性半導体としたが、18の部分全体が空乏層とな
る機能をもつ不純物濃度の低いn形不純物層又は不純物
濃度の低いp形不純物層でもよい。
る機能をもつ不純物濃度の低いn形不純物層又は不純物
濃度の低いp形不純物層でもよい。
まだ、光電変換部を、空乏化した真性半導体層18、n
形不純物層27、p形不純物層28の1np−ホトダイ
オードとしているが、光電変換して半導体基体深部に信
号電荷を蓄積できるものならなんでもよく。例えば、p
Lnp−ホトダイオ−ドルnp−ホトダイオードでもよ
い。I)Lnp−ホトダイオ−ドルnp−ホトダイオー
ドの場合は、透明電極にかける電圧は負電圧に限らない
。
形不純物層27、p形不純物層28の1np−ホトダイ
オードとしているが、光電変換して半導体基体深部に信
号電荷を蓄積できるものならなんでもよく。例えば、p
Lnp−ホトダイオ−ドルnp−ホトダイオードでもよ
い。I)Lnp−ホトダイオ−ドルnp−ホトダイオー
ドの場合は、透明電極にかける電圧は負電圧に限らない
。
また、本実施例では、表面方向移送手段を静電誘導トラ
ンジスタを用いたが、表面方向に転送する機能を有する
転送手段なら何でもよく、例えば分離部に電界効果型ト
ランジスタのゲート電極を埋め込んだ表面方向に転送す
るスイッチでもよい。
ンジスタを用いたが、表面方向に転送する機能を有する
転送手段なら何でもよく、例えば分離部に電界効果型ト
ランジスタのゲート電極を埋め込んだ表面方向に転送す
るスイッチでもよい。
また、本実施例では、転送部に電荷結合素子を用いたが
信号電荷を転送する機能を有するものならなんでもよく
、例えば転送部に表面方向移送手段を介して転送されて
きた信号電荷を外部MO8゛7 A−/ トランジスタで読み出してもよい。
信号電荷を転送する機能を有するものならなんでもよく
、例えば転送部に表面方向移送手段を介して転送されて
きた信号電荷を外部MO8゛7 A−/ トランジスタで読み出してもよい。
発明の効果
以上のように本発明は、信号電荷を半導体基体深部に蓄
積し、表面方向移送手段を用いて転送部に信号電荷を転
送し、分離部に遮光材料を埋め込み、光電変換部の表面
以外を遮光材料でおおうことにより、いわゆるスミア現
象を抑制することができ、その実用的効果は大なるもの
がある。さらに、信号電荷蓄積部より深部を縦型オーバ
ーフロードレイン構造にすることによりブルーミング現
象を抑制できるという効果が得られる。
積し、表面方向移送手段を用いて転送部に信号電荷を転
送し、分離部に遮光材料を埋め込み、光電変換部の表面
以外を遮光材料でおおうことにより、いわゆるスミア現
象を抑制することができ、その実用的効果は大なるもの
がある。さらに、信号電荷蓄積部より深部を縦型オーバ
ーフロードレイン構造にすることによりブルーミング現
象を抑制できるという効果が得られる。
第1図は、本発明の固体撮像装置基本断面構成図、第2
図は本発明の実施例における固体撮像装置の断面図、第
3図は本発明の実施例における固体撮像装置の信号電荷
蓄積深さにおける構成図、第4図は従来の固体撮像装置
の断面図である。 1・・・・・・ホトダイオード、2・・・・・・ゲート
電極、3・・・・・ゲート電極、4・・・・・・COD
転送部、5・・・・・・遮光用アルミニウム、6・・・
・・・LOCO5分子i、7・・・・・・チャンネルス
トッパー、8・・団・Pウェル、9・旧・・基板、1o
・・・・・・光電変換部、11・・・・・遮光部、12
・・・・・・転送部、13・・・・・・信号電荷蓄積部
、14・・・・・・表面方向移送手段、16・・・・・
分離部、16・・・・・・基板、17・・・・・・透明
電極、18・・山・真性半導体、19・・・・・・遮光
用アルミニウム、2o・曲・ポリシリコンケート電極、
21・・・・・・ポリシリコア’y’−ト1i、22・
・・・・・遮光分離材料、23・・・・・・n形不純物
層、24・・・・・・P形不純物層、26・・曲真性半
導体層、26・・・・・・酸化シリコン、27・・・・
・・n形不純物層、28・・・・・・P形不純物層、2
9・・・・・・n形半導体基板、30・・・・・・遮光
分離材料、31・曲・素子分離部、32・・・・・・P
形不純物層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名10
−尤電麦挾誰 //−遮光部 /2−転送部 /6−−〜基板 第1図 第2図
図は本発明の実施例における固体撮像装置の断面図、第
3図は本発明の実施例における固体撮像装置の信号電荷
蓄積深さにおける構成図、第4図は従来の固体撮像装置
の断面図である。 1・・・・・・ホトダイオード、2・・・・・・ゲート
電極、3・・・・・ゲート電極、4・・・・・・COD
転送部、5・・・・・・遮光用アルミニウム、6・・・
・・・LOCO5分子i、7・・・・・・チャンネルス
トッパー、8・・団・Pウェル、9・旧・・基板、1o
・・・・・・光電変換部、11・・・・・遮光部、12
・・・・・・転送部、13・・・・・・信号電荷蓄積部
、14・・・・・・表面方向移送手段、16・・・・・
分離部、16・・・・・・基板、17・・・・・・透明
電極、18・・山・真性半導体、19・・・・・・遮光
用アルミニウム、2o・曲・ポリシリコンケート電極、
21・・・・・・ポリシリコア’y’−ト1i、22・
・・・・・遮光分離材料、23・・・・・・n形不純物
層、24・・・・・・P形不純物層、26・・曲真性半
導体層、26・・・・・・酸化シリコン、27・・・・
・・n形不純物層、28・・・・・・P形不純物層、2
9・・・・・・n形半導体基板、30・・・・・・遮光
分離材料、31・曲・素子分離部、32・・・・・・P
形不純物層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名10
−尤電麦挾誰 //−遮光部 /2−転送部 /6−−〜基板 第1図 第2図
Claims (2)
- (1)半導体基体上に光電変換部と転送部が互いに電気
的光学的に分離して形成され、前記光電変換部の基体深
部側に信号電荷蓄積領域が形成されると共に前記信号電
荷蓄積領域と前記転送部との間に表面方向移送手段が形
成されていることを特徴とする固体撮像装置。 - (2)光電変換部が、それぞれ電気的光学的に分離され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の固
体撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61140815A JPS62296549A (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61140815A JPS62296549A (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62296549A true JPS62296549A (ja) | 1987-12-23 |
Family
ID=15277375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61140815A Pending JPS62296549A (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62296549A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1381087A3 (en) * | 2002-07-10 | 2005-09-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Solid-state image pick-up device |
-
1986
- 1986-06-17 JP JP61140815A patent/JPS62296549A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1381087A3 (en) * | 2002-07-10 | 2005-09-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Solid-state image pick-up device |
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